超大规模集成电路制造:从设计规则到可靠性测试的全方位解析
1. 光刻印刷系统基础组件
光刻印刷系统是集成电路制造的关键环节,其主要组件包括光源、光学系统、掩膜、抗蚀剂和晶圆。光刻印刷系统主要有接触式、接近式和投影式三种类型,其中接近式光刻的间隙约为25mm。
2. 布局与设计规则
集成电路中晶体管、导线等组件的物理设计由一套设计规则所约束,这些规则可分为可扩展规则和绝对规则。可扩展规则以X表示(最小特征尺寸为2X),适用于不同工艺线,但可能无法同时针对不同的X值进行优化;而绝对规则则以长度单位(纳米)表示。一般来说,设计规则可分为以下三类:
|规则类型|规则编号|描述|值|
| ---- | ---- | ---- | ---- |
|最小尺寸|L1|栅极长度/多晶硅宽度|2X|
|L2|多晶硅栅极超出有源区的延伸长度|1X|
|L3|接触窗宽度|2X|
|L4|有源区宽度|3X|
|L5|注入区宽度|3X|
|L6|金属1层宽度|3X|
|L7|金属2层宽度|3X|
|最小间距|D1|多晶硅栅极/导线间距|2X|
|D2|多晶硅栅极与源/漏接触窗间距|2X|
|D3|接触窗间距|2X|
|D4|有源区间距|3X|
|D5|相同类型注入区间距|3X|
|D6|金属1层导线间距|3X|
|D7|金属2层导线间距|4X|
|D8|相反类型注入区间距|5X|
|最小环绕|S1|接触窗周围有源区环绕|1X|
|S2|接触窗周围金属1层环绕|1X|
|S3|接触窗周围金属2层环绕|1X|
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