华为OD机试 - FLASH坏块监测系统 - 并查集(Python/JS/C/C++ 新系统 200分)

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华为OD机试 新系统 统一考试题库清单(持续收录中)以及考点说明(Python/JS/C/C++)

专栏导读

本专栏收录于《华为OD机试真题(Python/JS/C/C++)》

刷的越多,抽中的概率越大,私信哪吒,备注华为OD,加入华为OD刷题交流群,每一题都有详细的答题思路、详细的代码注释、3个测试用例、为什么这道题采用XX算法、XX算法的适用场景,发现新题目,随时更新。

一、题目描述

开发一个 FLASH 坏块监测系统,能够监测 FLASH 中坏块的数量。FLASH 介质以一个大小为 m×n 的二维二进制矩阵表示,其中:0 表示正常,1 表示异常。最初,FLASH 介质中的所有单元格都是正常(即,所有单元格都是 0)。系统运行过程中,FLASH 坏块不断产生:随着系统持续运行,某一个时刻 i,FLASH 介质中的某个单元格 (ri,ci) 由正常变为异常。返回一个整数数组 result,其中 re

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