JIS B 0684-1 : 2019 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）－平面度

B 0684-1：2019

目

次

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 1

3 用語及び定義 ··················································································································· 2

3.1 一般用語 ······················································································································ 2

3.2 曲面に関する用語 ·········································································································· 2

3.3 基準平面に関する用語 ···································································································· 3

3.4 フィルタに関する用語 ···································································································· 5

3.5 パラメータに関する用語 ································································································· 5

4 真直度測定値 ··················································································································· 6

附属書A（参考）用語，パラメータ及びそれらの記号の一覧表······················································ 7

附属書B（参考）GPSマトリックスモデル ················································································ 9

参考文献 ···························································································································· 11

附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 12

（1）

B 0684-1：2019

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工

業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済

産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS B 0684の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS B 0684-1 第1部：用語及びパラメータ

JIS B 0684-2 第2部：仕様オペレータ

（2）

日本工業規格

JIS

B 0684-1：2019

製品の幾何特性仕様（GPS）−平面度−

第1部：用語及びパラメータ

Geometrical product specifications (GPS)-Flatness-

Part 1: Vocabulary and parameters of flatness

序文

この規格は，2011年に第1版として発行されたISO 12781-1を基とし，関連する他の日本工業規格との

整合を図るために，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。

この規格は，製品の幾何特性仕様（GPS）規格の一つであり，GPS基本規格に属し，データムに無関係

な面の形状の規格チェーンのリンク記号Bに関係する。

用語，パラメータ及びそれらの記号の一覧表を，附属書Aに示す。

この規格とGPSマトリックスモデル及び他のGPS規格との詳細な関係を，附属書Bに示す。

注記　リンク記号Bは，ISO/TR 14638:1995ではリンク番号2に対応している。

適用範囲

この規格は，平面度に関する用語及びパラメータについて規定する。

注記　この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

ISO 12781-1:2011，Geometrical product specifications (GPS)−Flatness−Part 1: Vocabulary and

parameters of flatness（MOD）

なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”

ことを示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS B 0672-1 製品の幾何特性仕様（GPS）−形体−第1部：一般用語及び定義

注記1

対応国際規格：ISO 14660-1:1999，Geometrical Product Specifications (GPS)−Geometrical

features−Part 1: General terms and definitions（IDT）

注記2

ISO 14660-1:1999は廃止され，ISO 17450-1:2011，Geometrical product specifications (GPS)

−General concepts−Part 1: Model for geometrical specification and verificationに置き換えられ

た。

JIS B 0672-2 製品の幾何特性仕様（GPS）−形体−第2部：円筒及び円すいの測得中心線，測得中心

B 0684-1：2019

面並びに測得形体の局部寸法

注記1

対応国際規格：ISO 14660-2:1999，Geometrical Product Specifications (GPS)−Geometrical

features−Part 2: Extracted median line of a cylinder and a cone, extracted median surface, local

size of an extracted feature（IDT）

注記2

ISO 14660-2:1999は廃止され，ISO 17450-3:2016，Geometrical product specifications (GPS)

−General concepts−Part 3: Toleranced featuresに置き換えられた。

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS B 0672-1及びJIS B 0672-2によるほか，次による。

3.1

一般用語

3.1.1

平面度に関連するパラメータ（parameters of flatness deviation）

基準平面に依存した平面度曲面から導かれる幾何特性。

3.1.2

図示平面（nominal plane）

設計意図によって指示される数学的に定義された平面形体。

3.2

曲面に関する用語

3.2.1

測得平面度曲面（extracted flatness surface）

実表面を表現する（平面度）測定デジタルデータセット（図1参照）。

注記　測得平面度曲面の測得は，JIS B 0684-2に規定されている。測得平面度曲面は，JIS B 0672-1で

規定する測得外殻形体の一つである。

1 測得平面度曲面

2 実表面

図1−測得平面度曲面

3.2.2

平面度曲面（flatness surface）

測得平面度曲面にローパスフィルタを適用したデータセット。

注記1 この規格に規定する概念及びパラメータは，平面度曲面に対して適用できる。

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注記2 長方形格子状に測定された面領域に対するガウシアンフィルタは，二つの直交する方向にお

ける一次元ガウシアンフィルタで表現できる。

注記3 測得平面度曲面が疎な場合など，フィルタを適用しても効果がないと判断できるときには，

フィルタの適用を省略できる。

3.2.3

平面度曲面の偏差（local flatness deviation）

基準平面から平面度曲面の各データまでの法線方向の距離（図2参照）。

注記1 基準平面に対して実体側に存在するデータ点の距離は，負となる。

注記2 基準平面については，3.3.1を参照。

注記3 平面度曲面の偏差は，各データ点の基準平面に対する偏差のデータセットである。

基準平面

2 基準平面（1）と基準平面に垂直な平面（A）との交線

A 基準平面に垂直な平面

a 負の偏差

b 正の偏差

図2−平面度曲面の偏差

3.3

基準平面に関する用語

3.3.1

基準平面（reference plane）

3.3.1.1〜3.3.1.2に示す基準平面に関する定義を，平面度曲面に当てはめた平面。基準平面に対する偏差

のデータセット（平面度曲面の偏差）に基づいて，平面度及び平面度に関連するパラメータを求める。

3.3.1.1

最小領域基準平面（minimum zone reference planes）

平面度曲面の最大値（外側）及び最小値（内側）に接し，間隔が最小になる二つの平行平面。外側の最

小領域基準平面及び内側の最小領域基準平面で構成される（図3参照）。

注記　最小領域基準要素であることを示すために，略号MZを用いる。

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3.3.1.1.1

外側の最小領域基準平面（outer minimum zone reference plane）

最小領域基準平面の外側の平面（図3参照）。

3.3.1.1.2

内側の最小領域基準平面（inner minimum zone reference plane）

最小領域基準平面の内側の平面（図3参照）。

3.3.1.1.3

平均の最小領域基準平面（mean minimum zone reference plane）

最小領域基準平面の算術平均平面（図3参照）。

注記　最小領域法では平均の基準平面を必要としないが，寸法の算出に利用可能なため，便宜的に基

準平面に含める。

外側の最小領域基準平面

平均の最小領域基準平面

内側の最小領域基準平面

平面度測定値

図3−最小領域基準平面

3.3.1.2

最小二乗基準平面（least squares reference plane）

平面度曲面の最小二乗平面（図4参照）。

注記　最小二乗基準要素であることを示すために，略号LSを用いる。また，最小二乗基準における

パラメータ値であることを示すための略号として，接頭語G（Gaussian）を用いる。

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最小二乗基準平面

2 最小二乗基準平面（1）と最小二乗基準平面に垂直な平面（A）との交線

A 最小二乗基準平面に垂直な平面

a 負の偏差

b 正の偏差

図4−最小二乗基準平面

3.4

フィルタに関する用語

3.4.1

輪郭曲面フィルタ（areal filter）

波長軸の片側又は両側で減衰する伝達特性をもつデジタルフィルタ。

平面状の輪郭曲面に適用する（JIS B 0635参照）。

3.4.2

カットオフ値（cut-off wavelength）

測得平面度曲面に適用するフィルタによって，振幅の50 %が平面度曲面に伝達される正弦波信号の波長。

3.4.3

振幅伝達特性（transmission band for flatness surfaces）

測得平面度曲面に適用するフィルタの通過帯域。上下限のカットオフ波長で規定する。

注記　通常，伝達特性の50 %の位置をフィルタのカットオフ値として指定する。

3.5

パラメータに関する用語

3.5.1

平面度測定値（peak-to-valley flatness deviation）

平面度曲面の偏差における最大値と最小値との差（図3のa）。

注記1 平面度測定値は，あらゆる基準平面に対して適用できる。

注記2 平面度測定値は，最小領域基準平面に対して適用できる唯一のパラメータである。

注記3 最小二乗基準要素に対する平面度測定値に適用する形状公差であることを示すために，指定

条件の略号GTを用いる。

注記4 平面度測定値の“測定値”とは，平面度曲面から求めたパラメータの値をいう。

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3.5.2

平面度曲面の山高さ測定値（peak-to-reference flatness deviation）

最小二乗基準平面に対する平面度曲面の偏差の最大値。

注記1 平面度曲面の山高さ測定値は，最小二乗基準平面だけに適用できる。

注記2 最小二乗基準要素に対する平面度曲面の山高さ測定値に適用する形状公差であることを示す

ために，指定条件の略号GPを用いる。

3.5.3

平面度曲面の谷深さ測定値（reference-to-valley flatness deviation）

最小二乗基準平面に対する平面度曲面の偏差の最小値の絶対値。

注記1 平面度曲面の谷深さ測定値は，最小二乗基準平面だけに適用できる。

注記2 最小二乗基準要素に対する平面度曲面の谷深さ測定値に適用する形状公差であることを示す

ために，指定条件の略号GVを用いる。

3.5.4

二乗平均平方根平面度測定値（root mean square flatness deviation）

最小二乗基準平面に対する平面度曲面の偏差の二乗平均平方根。

注記1 二乗平均平方根平面度測定値は，最小二乗基準平面だけに適用できる。

注記2 最小二乗基準要素に対する二乗平均平方根平面度測定値に適用する形状公差であることを示

すために，指定条件の略号GQを用いる。

真直度測定値

平面形体に関する真直度曲線の偏差は，JIS B 0683-1を参照。

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附属書A

（参考）

用語，パラメータ及びそれらの記号の一覧表

形体の指示は，図面上に簡潔に製品仕様を一意に記載できるように略語と修飾語との組合せによって行

うことが基本である。しかし，例えば，測定報告書又はその他の技術文書のように設計図の図示記号では

実用的ではないところで製品仕様及び検査仕様を記載したいことがあることから，この規格，JIS B 0682-1，

JIS B 0683-1及びISO 12180-1で規定されている用語並びにパラメータに対する記号を，表A.1及び表A.2

に示す。

表A.1−用語及び記号

記号

用語

最小二乗基準円

JIS B 0682-1の3.3.1.2

対応規格

最小二乗基準円筒

ISO 12180-1:2011の3.3.1.2

最小二乗基準直線

JIS B 0683-1の3.3.1.2

最小二乗基準平面

この規格の3.3.1.2

円筒度曲面の偏差

ISO 12180-1:2011の3.2.3

平面度曲面の偏差

この規格の3.2.3

真円度曲線の偏差

JIS B 0682-1の3.2.3

真直度曲線の偏差

JIS B 0683-1の3.2.3

最大内接基準円

JIS B 0682-1の3.3.1.4

最大内接基準円筒

ISO 12180-1:2011の3.3.1.4

最小外接基準円

JIS B 0682-1の3.3.1.3

最小外接基準円筒

ISO 12180-1:2011の3.3.1.3

最小領域基準円

JIS B 0682-1の3.3.1.1

最小領域基準円筒

ISO 12180-1:2011の3.3.1.1

最小領域基準直線

JIS B 0683-1の3.3.1.1

最小領域基準平面

この規格の3.3.1.1

1周当たりの山数

JIS B 0682-1の3.4.1

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表A.2−パラメータ及び記号

記号

パラメータ

対応規格

円筒局所半径幅b)

ISO 12180-1:2011の3.5.2.7

円筒テーパ測定値（LSCY）a)

ISO 12180-1:2011の3.5.2.5

円筒テーパ角b)

ISO 12180-1:2011の3.5.2.8

母線方向の真直度測定値

ISO 12180-1:2011の3.5.2.3

ISO 12180-1:2011の3.5.2.2

母線方向の局部真直度測定値

円筒度曲面の山高さ測定値（LSCY）a)

平面度曲面の山高さ測定値（LSPL）a)

この規格の3.5.2

真円度曲線の山高さ測定値（LSCI）a)

JIS B 0682-1の3.6.1.2

真直度曲線の山高さ測定値（LSLI）a)

ISO 12180-1:2011の3.5.1.2

JIS B 0683-1の3.5.2

円筒度測定値（MZCY），（LSCY），（MICY），（MCCY）a) ISO 12180-1:2011の3.5.1.1

平面度測定値（MZPL），（LSPL）a)

この規格の3.5.1

真円度測定値（MZCI），（LSCI），（MCCI），（MICI）a)

JIS B 0682-1の3.6.1.1

真直度測定値（MZLI），（LSLI）a)

JIS B 0683-1の3.5.1

円筒度曲面の谷深さ測定値（LSCY）a)

ISO 12180-1:2011の3.5.1.3

平面度曲面の谷深さ測定値（LSPL）a)

この規格の3.5.3

真円度曲線の谷深さ測定値（LSCI）a)

JIS B 0682-1の3.6.1.3

真直度曲線の谷深さ測定値（LSLI）a)

JIS B 0683-1の3.5.3

二乗平均平方根円筒度測定値（LSCY）a)

ISO 12180-1:2011の3.5.1.4

二乗平均平方根平面度測定値（LSPL）a)

この規格の3.5.4

二乗平均平方根真円度測定値（LSCI）a)

JIS B 0682-1の3.6.1.4

二乗平均平方根真直度測定値（LSLI）a)

JIS B 0683-1の3.5.4

STRsa 中心軸線の真直度測定値

ISO 12180-1:2011の3.5.2.1

注a) パラメータ名称に続く括弧内の記号は，パラメータが適用可能な基準要素を示している。

b) パラメータの名称は，仮訳。

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附属書B

（参考）

GPSマトリックスモデル

B.1

一般

GPSのマトリックスモデルの詳細については，ISO/TR 14638:1995を参照。

注記1 ISO/TR 14638:1995は廃止され，ISO 14638:2015として発行されている。

注記2 ISO/GPSマスタープランは，ISO 14638:2015ではGPSマトリックスモデルに対応している。

B.2

規格及びその使用に関する情報

この規格は，ISO 17450-2の規定に従って，外殻形体の平面度に関する用語及び概念について規定する。

B.3

GPSマトリックスモデルにおける位置付け

この規格は，図B.1の網掛けに示すように，GPSマトリックスのうち，（旧）リンク番号1〜6（ISO/TR

14638:1995）又は（新）リンク記号A〜G（ISO 14638:2015）のデータムに無関係な面の形状規格に関わる

GPS基本規格である。

注記　（新）リンク記号A，B，C，E，F及びGは，（旧）リンク番号1，2，3，4，5及び6に対応し

ている。

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GPS原理

規格

GPS共通規格

GPS基本規格

リンク記号

サイズ

距離

半径

角度

データムに無関係な線の形状

データムに関係する線の形状

データムに無関係な面の形状

データムに関係する面の形状

姿勢

位置

円周振れ

全振れ

データム

粗さ曲線

うねり曲線

断面曲線

三次元表面性状

表面欠陥

エッジ

リンク記号

A：記号及び指示法

B：形体に対する要求事項

C：形体の性質

D：適合及び不適合

E：測定

F：測定機器

G：校正

図B.1−GPSマトリックスモデルにおける位置付け

B.4