B 7253-1：2019
目
次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 測定項目························································································································· 1
2.1 一般 ···························································································································· 1
2.2 明るさ ························································································································· 1
2.3 均一性 ························································································································· 1
3 測定方法························································································································· 2
3.1 一般 ···························································································································· 2
3.2 絞りのセッティング ······································································································· 2
3.3 明るさ（照度及び放射照度） ··························································································· 2
3.4 均一性 ························································································································· 2
4 使用者への提供情報 ·········································································································· 2
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································· 4
（1）
B 7253-1：2019
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，日本顕微鏡工業会（JMMA）及び一般財団法
人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工
業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
（2）
日本工業規格
JIS
B 7253-1：2019
顕微鏡−照明特性の定義及び測定−
第1部：明視野顕微鏡の像の明るさ及び均一性
Microscopes-Definition and measurement of illumination properties-
Part 1: Image brightness and uniformity in bright field microscopy
序文
この規格は，2015年に第1版として発行されたISO 19056-1を基とし，技術的内容を変更することなく
作成した日本工業規格であるが，一部の構成を変更している。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，明視野顕微鏡の像の明るさ及び明るさの均一性に係る測定の手順について規定する。これ
らの測定は，電子撮像素子による測定に適している像面又は中間像面に適用する。また，この規格は，使
用者に提供すべき情報に関しても規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO 19056-1:2015，Microscopes−Definition and measurement of illumination properties−Part 1:
Image brightness and uniformity in bright field microscopy（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
測定項目
2.1
一般
明視野顕微鏡において，像の明るさ及び明るさの均一性は重要な役割を果たす。これらの2項目につい
て規定する。
2.2
明るさ
像の明るさは，SI単位系に従って表記する。照明光源がフィラメントランプ，白色LEDなど可視域（380
nm〜780 nm）を連続的にカバーしている場合は，照度（lm/m2）を使用する。他の光源（アーク放電ラン
プ，レーザ，単色LEDなど）の場合は，放射照度（W/m2）を使用する。
2.3
均一性
像面における明るさの均一性は，パーセントで表し，次の式による。
u
=
100
×
b
min/
b
max
ここに，
u： 均一性（%）
2
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bmin： 像面の明るさ最小値
bmax： 像面の明るさ最大値
3
測定方法
3.1
一般
像の明るさ及び明るさの均一性の測定は，次による。
3.2
絞りのセッティング
視野絞りは，接眼レンズによる像面範囲又は電子撮像素子の撮像範囲に対し十分な大きさまで開く。こ
れができない場合は，視野絞りを最大に開いたときの像面範囲にて測定を行う。
照明系の開口絞りは，対物レンズの開口数と同等な大きさまで開く。これができない場合は，実際の照
明開口数を箇条4に規定する使用者への提供情報に含めなければならない。
3.3
明るさ（照度及び放射照度）
照度又は放射照度は，積分球を使って像面の中央部で測定し，測定開口は，直径4.0 mm±0.05 mmの円
形とする。積分球の入射開口の直径は，測定開口の少なくとも2倍でなければならない。
顕微鏡の機械設計上，積分球の入射開口を像面に置けない場合，像面を積分球の入射開口に投影する補
助レンズを使用する。
3.4
均一性
像面における明るさの均一性の測定は，像面範囲全体を捉える電子撮像素子を使用することによって行
う。電子撮像素子は，少なくとも縦横50×50の画素がなければならない。さらに，電子撮像素子は，入射
ひとみが無限遠に設計されたものでなければならない。
顕微鏡の機械設計上，電子撮像素子を像面に置けない場合，補助レンズは使用してはならない。
照度と電子撮像素子の出力信号とが線形関係を保つために，電子撮像素子からの信号にガンマ補正をし
てはならない。すなわち，明るさ補正値γ＝1とする。
4
使用者への提供情報
像の明るさ及び明るさの均一性に関する情報を使用者に提供する場合，3.3及び3.4の規定によるが，提
供情報には次のデータを含めなければならない。
a) 像面の寸法及び形状の情報
例1 10 mm幅，8 mm高さの長方形
例2 直径20 mmの円形
例3 像の明るさの均一性は，80 %以上（視野数17）
b) 顕微鏡構成の情報。明るさ測定の場合に使用者によって交換可能及び光路の一部になり得る追加の光
学要素（フィルタ，対物レンズ，コンデンサなど）に関する構成リスト及び型式番号
c) 使用する照明光源及び関係するパラメータ（分光特性，電圧，電流など）
d) 照明開口数の情報。特に対物レンズの開口数を上回らない場合。
e) 像の明るさ及び明るさの均一性を測定した波長帯域の情報。ただし，可視域（380 nm〜780 nm）で連
続的に発光する照明光源（フィラメントランプ，白色LEDなど）を使用する場合は，必須としない。
例4 可視域で150 lm/m2
例5 850 nm〜880 nmの領域で0.8 W/m2
例6 532 nm±10 nmで1.1 W/m2
3
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参考文献 JIS B 7256 顕微鏡−仕様項目
注記 対応国際規格：ISO 12853，Microscopes−Information provided to the user
ISO 10934-1，Optics and optical instruments−Vocabulary for microscopy−Part 1: Light microscopy
ISO 80000（all parts），Quantities and units
4
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JIS B 7253-1:2019 顕微鏡−照明特性の定義及び測定−第1部：明視野顕微鏡の
像の明るさ及び均一性
(I)JISの規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
箇条番号
内容
及び題名
2 測定項目 2.1 一般
箇条
番号
JISとほぼ同じ
箇条ごと
の評価
削除
2.2 明るさ
JISとほぼ同じ
削除
説明部分を削除し，規定部分の記載
とした。技術的差異はない。
2.3 均一性
JISとほぼ同じ
削除
説明部分を削除し，規定部分の記載
とした。技術的差異はない。
JISとほぼ同じ
削除
説明部分を削除し，規定部分の記載
とした。技術的差異はない。
3.2 絞りのセッティ
ング
3.4 均一性
JISとほぼ同じ
削除
説明部分を削除し，規定部分の記載
とした。技術的差異はない。
JISとほぼ同じ
削除
説明部分を削除し，規定部分の記載
とした。技術的差異はない。
4 b) 顕微鏡構成の情
報
JISとほぼ同じ
変更
4 e) 像の明るさ及び
明るさの均一性を測
定した波長帯域の情
報
JISとほぼ同じ
変更
箇条書き部分含めて提供すべき情
報を一文にまとめた。
技術的差異はない。
対応国際規格の3.5の内容を箇条4
e)に記載した。
技術的差異はない。
3 測定方法 3.1 一般
4 使用者へ
の提供情報
(II)国際
(III)国際規格の規定
規格番号
内容
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：ISO 19056-1:2015，MOD
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
技術的差異の内容
説明部分を削除し，規定部分の記載
とした。技術的差異はない。
対応国際規格の見直し時に改正を
提案する。
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
5
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注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
