解説表2 JISと対応する国際規格との対比表
JIS C 2531 : 1999 鉄ニッケル軟質磁性材料
対比項目 (I) JISの規定内容
IEC 60404-8-6 改正案：68/157/CDV（軟質磁性材料）：1996
IEC 60404-6 （等方性鉄ニッケル軟質磁性材料，種類E1，E3及びE4の測定方法）：1986
(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容
号
(IV) JISと国際規格との相違点
規定項目
1. 適用範囲
2. 定義
3. 種類
JISは，鉄ニッケル磁性合 それぞれのJISで整合を
合金成分：軟鉄，けい素鋼，鉄
ニッケル，鉄コバルト合金
金だけに適用。
はかる。
軟鉄，けい素鋼はJIS C
形状：棒，ビレット，薄板，条
及び線
2503，2504，2552，2553で規
定。
鉄コバルト合金の該当JIS
はなし。
（改）
IECにインダクタンス比
インダクタンス比透磁率
60050 (221)，60050 (901) で定義
透磁率の定義なし。
をIECに提案（ʼ97年1月）。
された関連する磁気特性，電気磁
気回路用語及び定義した13用語
を適用。
化学成分，磁気特性によっ
て分類
（改）
ヒステリシスループの形
状と交流透磁率によって更
に磁気等級を規定。
種類記号が異なる。
成分によって種類を規定。
鉄ニッケル合金→E
対応する種類のNi含有量
が異なる (PB，PC，PE)。
ヒステリシスループの形状と
交流透磁率によって更に磁気等
級を規定。
20の用語を定義。
仕上げ良好・均一で，使用
上有害なきず，クラック，そ
（改）
の他欠陥がない。
薄板及び条の表面は均一，清浄
で油汚れ，さびがない。
使用上有害でないきず，膨れは
厚さ許容差内であれば許容され
る。
文章の言い回しの差
JISにIEC種類を併記。
への変更をIECに提案
（ʼ97年1月)。
4. 品質
4.1 外観
合金成分：鉄ニッケル磁性
合金
（改）
形状：棒，ロッド，線，板
及び条
用途：電子機器磁心，磁気
遮へい部品など
(V) JISと国際規格との整合
が困難な理由及び今後の
対策
(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容
号
(IV) JISと国際規格との相違点
規定項目
4.2 磁気特性
a)直流磁気特性，b)交流磁 IEC 60404-8-6
気特性のいずれかによる。 （改）
a) 直流磁気特 ○
種類，磁気等級，板厚ごと
性
に初透磁率の最小値，保磁力
（改）
の最大値，磁束密度の最小値
4 000A/m) を規定。初透磁
率の測定点がPC→0.4A/m，
PB，PC，PDの経時変化を
規定（要求された場合だけ）。
b) 交流磁気特 ○
インダクタンス透磁率
性
PB，PC，PDについて，磁 （改）
気等級，基準板厚，周波数ご
との最小値を規定。
インピーダンス透磁率の
上昇率
（改）
PDについてδ0.4，δ8を規定。
測定磁界は実効値 (rmS)。
インピーダンス透磁率
PB，PC，PDについて，磁 （改）
気等級，.基準板厚，試験片，
周波数ごとの最小値を規定。
(V) JISと国際規格との整合
が困難な理由及び今後の
対策
厚さ0.4mm以下の薄板，条は
JISでは，直流，交流特性 IECに規格の追加，規格値
のいずれかであるが，IECで の変更を提案（ʼ97年11月）。
交流試験によって評価する。厚さ
0.4mmを超える材料は直流試験
は厚さにより直流（0.4mmを
によって評価する。
超える），交流（0.4mm以下）
経時変化の熱処理は100±5℃
試験を適用。
×100h（要求された場合だけ）。
種類，磁気等級，板厚（0.4mm
IECには，JIS PC-10相当 IECに，JIS PC-10相当の
の規格，800A/mおける磁束 1規格，800A/mにおける磁
以上）ごとに初透磁率の最小値，
密度の最小値規格なし。
束
保磁力の最大値，磁束密度の最小
値 (20，50，100，500，4 000A/m)
磁束密度の規格値が異な
1密度の最小値規格追加
を規定。透磁率の測定点がE11・
る。
を提案（ʼ97年1月）。
初透磁率の測定点がPB
初透磁率の測定点，磁束密
PB，PC，PDの経時変化を規定
(E31)，PD (E41)で異なる。 度の規格値変更を提案（'97
（要求された場合だけ）。
年1月）。
規定なし。
透磁率の上昇率
E41δ0.4，δ8を規定。
IECに対応する規格なし。
IECにインダクタンス透
磁率の追加を提案（ʼ97年1
月）。
JISは測定磁界が実効値 IECに実効値 (rms) への
(rms) に対し，IECはピーク 変更を提案（ʼ97年1月）。
値。
厚さ0.05〜0.38mmの薄板，条
IECには，PC-10相当の規 IECに，E11-10 (PC-10に
格なし。
について，種類，磁気等級，板厚
相当）規格の追加，測定磁界
区分，試験片ごとに，50又≡は
IECは，磁界をピーク値で
の実効値への変更を提案
60Hzでの交流透磁率を規定（測
規定（JISはrms）。
（ʼ97年1月）。
定磁界はピーク値）。
対比項目 (I) JISの規定内容
解説表2 JISと対応する国際規格との対比表（続き）
解説表2 JISと対応する国際規格との対比表（続き）
対比項目 (I) JISの規定内容
(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容
号
(IV) JISと国際規格との相違点
規定項目
5. 寸法，形状及 ○
び許容差
5.1 板及び条の ○
冷間圧延薄板及び条につ
厚さの許容差
いて厚さ (0.05≦t＝2.5)，幅 （改）
(50＜) 区分ごとに許容差を
規定。
5.2 幅の許容差 ○
板及び条について，圧延上
がり品，スリツター切断品別
（改）
に，厚さ（圧延品0.30≦t＜
6.0，エッジ切断品0.10≦t＜
6.0），幅 (＜1 200) 区分ごと
に許容差を規定。
5.3 板及び条の ○
受渡当事者間の協定によ
平たん度
る。
（改）
5.4 板及び条の ○
受渡当事者間の協定によ
横曲がり
る。
（改）
5.5 冷間加工に ○
形状（線，捧）別に，外径
区分ごとの許容差を規定。 （改）
よる棒及び線の
寸法，形状及び許
容差
5.6 熱間加工に ○
受渡当事者間の協定によ
る。
（改）
よる棒の寸法，形
状及び許容差
(V) JISと国際規格との整合
が困難な理由及び今後の
対策
冷間圧延薄板及び条について
≠ 規格値が異なる。
厚さ (0.05≦t＜2.5)，幅 (50＜) 区
分ごとに許容差を規定。
IECにJIS規格値への変
更を提案（ʼ97年1月）。
圧延品，エッジ切断品別に，厚
さ（圧延品0.30≦t＜6.0，エッジ
切断品0.10≦t＜6.0），
幅 (＜1 200) 区分ごとに許容差
を規定。
規格値が異なる。
IECにJIS規格値への変
更を提案（ʼ97年1月）。
急しゅん度は2%を超えない。 ≠
JISには規格値なし。
IECにJIS内容への変更
を提案（ʼ97年1月）。
IECにJIS内容への変更
を提案（ʼ97年1月）。
JISには規格値なし。
加工（冷間，熱間），形状（厚
板，板及び条）別に，最大値を規
定。
形状（線，棒）別に，外径区分
棒の許容差規格値が異な
IECにJIS規格値への変
ごとの許容差を規定。
る。
更を提案（ʼ97年1月）。
受渡当事者の合意による。
(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容
号
(IV) JISと国際規格との相違点
規定項目
6. 試験
6.1 試験場所の ○
温度
6.2 磁気試験
6.2.1 試験片
温度23±5℃
巻心形 (SW)，環状積層 IEC 60404-8-6
(LR)，素材 (SR) リングの試 （改）
験片形状を規定。
試験片外径，外径／内径
比，高さ／内径比，内径／板
厚比を規定。
PC-10だけ10×6リングを
規定。
6.2.2 磁界の強 ○
Hの算出式を規定（実効値 IEC 60404-6
さ
6.2.3 直流磁気 ○
消磁後，弾道検流計又は電
特性試験
子式自記磁束計で計る。
6.2.4 インダク ○
消磁後，マックスウェルブ
リッジ又はLCRメータによ （改）
タンス透磁率試
験
りインダクタンスを測定し，
計算式によって算出する。
6.2.5 インピー ○
測定回路を定義。消磁後，
ダンス透磁率試
一次電流，二次電圧を測定
験
し，計算式によって算出す
る。
6.2.6 インピー ○
50又は60Hzにおいて，測 IEC 60404-8-6
ダンス透磁率試
定電流を増やしたときのイ
（改）
験の上昇率試験
ンピーダンス透磁率の上昇
を測定し，算出する。
6.3 寸法試験
厚さ，幅及び径，平たん度，
横曲がり，直線性について測
定器具，方法を規定。
（改）
温度23±5℃
(V) JISと国際規格との整合
が困難な理由及び今後の
対策
細長 (ES)，環状積層 (LR)，固 ≠
巻心形 (SW) 試験片の外 IECに，巻心形 (SW) 試
体 (SR)，巻心形 (SW) リングを
径/内径比，高さ／内径比の規
験片の外径／内径比・高さ／
格値が異なる。
内径比の規格値の変更，10
規定。試験片外径，外径／内径比，
IECに10×6リング（PC-10 ×6リング規定の追加を提
高さ／内径比，内径／板厚比を規
定。
用）規定なし。
案（ʼ97年1月）。
Hの算出式を規定。
測定回路と方法を規定。
文章の言い回しの差
規定なし。
IECに相当する規定なし。
IECにインダクタンス透
磁率の追加を提案（ʼ97年1
月）。
IEC振幅透磁率が相当。
IECに，実効値 (rms) 磁
測定回路及び振幅透磁率を定
IECは磁界をピーク値で 界への変更を提案（ʼ97年1
義。消磁後，一次電流，二次電圧
規定。
月）。
を測定し，計算式により算出す
る。
50又は60Hzにおいて，測定電 ≡
流を増やしたときのインピーダ
ンス透磁率の上昇を測定し，算出
する。
厚さ，幅及び径，平たん度，横
曲がり，直線性について測定器
具，方法を規定。
対比項目 (I) JISの規定内容
解説表2 JISと対応する国際規格との対比表（続き）
解説表2 JISと対応する国際規格との対比表（続き）
対比項目 (I) JISの規定内容
(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容
号
(IV) JISと国際規格との相違点
規定項目
7. 検査
外観検査及び8.による4. IEC 60404-8-6
〜7.の規定に適合したものを （改）
合格とする。
磁気試験の試験片は同一
溶解，同一厚さごとに1個と
る。
8. 包装
運搬中に損傷を受けない
よう適切に行う。
（改）
9. 製品の呼び ○
種類又は記号，厚さ，幅及
方
び長さによる。
（改）
10. 表示
表示する10項目を規定。 IEC 60404-8-6
（改）
要求された場合は，製造業者は
この規格に従い，製造，試験され
たことを証明する。検査成績書に
要求された試験結果を記載する。
規定なし。
(V) JISと国際規格との整合
が困難な理由及び今後の
対策
文章の言い回しの差
種類，ヒステリシスループの形
状，磁気等級によって記号で表
現。
客先の要求による。
文章の言い回しの差
言い回しの差（要求必至）
備考1. 対比項目(I)及び(III)の小欄で，“○”は該当する項目を規定している場合，“−”は規定していない場合を示す。
2. 対比項目(IV)の小欄の記号の意味は，次による。
“≡”：JISと国際規格との技術的内容は同等である。
“＝”：JISと国際規格との技術的内容は同等である。ただし，軽微な技術上の差異がある。
“ADP”（ADOPTIONの略）：JISは，国際規格と対応する部分を国際規格そのまま変更なしで採用している。ただし，採用した部分においてJISとして必
要な規定内容を追加し，又は適用範囲，規定項目及び／又は規定内容の一部を不採用としている。
“≠”：JISは，国際規格と技術的内容が同等でない。ただし“ADP”に該当する場合を除く。
“−”：該当項目がない場合。
