JIS C 2569 : 1998 リング形フェライト磁心

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 2569 : 1998

まえがき

この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が改正した日

本工業規格である。これによってJIS C 2569-1990は改正され，この規格に置き換えられる。

この規格には，次の附属書がある。

附属書1（規定）　磁心の実効定数の計算式

附属書2（参考）　磁心のケースの寸法

附属書3（参考）　絶縁処理したリング形磁心用の絶縁破壊電圧測定技術

この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会

は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。

(1)

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日本工業規格

JIS

C 2569 : 1998

リング形フェライト磁心

Ring cores made of ferromagnetic oxide

序文　この規格は，1976年に第1版として発行されたIEC 60525, Dimensions of toroids made of magnetic

oxides or iron powder及びAmendment 1 (1980) を元に作成した日本工業規格であるが，対応する部分（寸法）

については規定内容を変更したほか，対応国際規格には規定されていない寸法以外の規定項目を追加した。

また，この規格に記載のIEC規格番号は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるもので

ある。これより前に発行された規格については，規格票に記載された規格番号に60000を加えた番号に切

り替える。これは番号だけの切り替えであり，内容は同一である。

1. 適用範囲　この規格は，主に電磁気障害防止用チョークコイル及びパルストランスに使用するリング

形フェライト磁心について規定する。

備考　この規格の対応国際規格を，次に示す。

IEC 60525 : 1976, Dimensions of toroids made of magnetic oxides or iron powder

2. 引用規格　次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 2560 フェライト磁心通則

3. 定義　この規格で用いる主な用語の定義は，JIS C 2560の規定による。

4. 形名

4.1

形名の構成　形名の構成は，次に示す配列による。

例

4.2

記号

4.2.1

フェライト磁心　フェライト磁心を表す記号は，Fの1英大文字とする。

4.2.2

形状　形状を表す記号は，ORの2英大文字とする。

4.2.3

寸法　寸法を表す記号は，表1に規定の寸法d1，h及びd2の公称値の小数点以下を四捨五入した整

数で表す。ただし，h及びd2は省略してもよい。

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4.2.4

材質　材質を表す記号は，受渡当事者間の協定による。

5. 品質

5.1

電気的特性及び磁気的特性　電気的特性及び磁気的特性は，6.1〜6.3によって試験をしたとき，次を

満足しなければならない。

a) インダクタンス係数　インダクタンス係数は，受渡当事者間の協定による。

b) 初透磁率　初透磁率は，受渡当事者間の協定による。

c) 実効パルス透磁率　実効パルス透磁率は，受渡当事者間の協定による。

5.2

外観　外観は，目視によって試験を行ったとき，欠け，ひび及び表面荒れはa)〜c)を満足しなけれ

ばならない。

a) 欠け　磁心の欠けは，欠けが1か所の場合，欠けの面積が片方の断面積(1)の1.5%以下とし，複数箇所

の場合，欠けの合計面積が片方の断面積の2%以下とする。

注(1) 片方の断面積とは，

(

d−

)

をいう。

π：　円周率

ここに，

備考　欠けが二つの面にまたがっている場合は，それぞれ別に判定する。

b) ひび　磁路と直角方向のひびが1か所の場合，ひびの長さが

ひびの長さの合計が

(

d−

)

(

d−

)

の10%以下とし，複数箇所の場合，

の15%以下とする。

磁路に沿った方向のひびは，ひびの長さの合計が実効磁路長の10%以下とする。

c) 表面荒れ　表面荒れ(2)は，表面荒れの発生箇所の面の表面積の20%以下，深さは0.2mm以下とする。

注(2) この項で規定する表面荒れは，磁心製造工程でフェライトの材料粉が成形金型に一部付着した

ため，発生する成形体表面の荒れだけに限定する。

5.3

構造及び寸法　磁心の構造及び寸法は，表1による。

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表1 磁心の構造及び寸法

備考　面取りを行う。

単位mm

5.4

形名(3)

略称

注(3) 形名の材質を表す記号は省略した。

実効定数　磁心の実効定数は，磁心定数（C1及びC2），実効断面積Ae，実効磁路長le及び実効体積

Veで表し，表2による。

なお，その計算式は，附属書1による。

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表2 磁心の実効定数

形名(3)

略称

磁心定数

実効

断面積

実効磁

路長

実効体

積

6. 試験方法

6.1

6.1.1

インダクタンス係数

測定条件　インダクタンス係数の測定条件は，次による。

a) 測定温度は，23±2℃とする。

b) 測定周波数は，受渡当事者間の協定による。

c) 巻線回数は，受渡当事者間の協定による。

d) 交流磁界の強さは，0.4A/m以下とする。

6.1.2

測定方法　インダクタンス測定器によって供試コイルの自己インダクタンスLを求め，次の式によ

ってインダクタンス係数ALを算出する。

( nH)

=NL

ここに， L：　供試コイルの自己インダクタンス (H)

N：　全巻回数（回）

6.2

初透磁率 6.1で求めた自己インダクタンスLを用い，次の式によって初透磁率μ1を算出する。

=μ

ここに，

μ0：　真空の透磁率 4π×10−7 (H/m)

π：　円周率

L：　供試コイルの自己インダクタンス (H)

N：　全巻回数（回）

C1：　磁心定数 (m−1)

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6.3

実効パルス透磁率　図1に示す測定回路で，単極性パルス発生器による供試コイル端子間のパルス

電圧，パルス幅及び繰り返し周期（図2参照）を指定の値に調整した後，パルス幅tでの励磁電流（図3

参照）をオシロスコープによって測定し，次の式によって実効パルス透磁率を算出する。

=μ

ただし，

ここに，

LP：　パルス電圧を印加したときの供試コイルの自己インダクタン

ス (H)

U：　供試コイル端子間のパルス電圧 (V)

t：　パルス幅 (s)

I：　パルス幅tでの励磁電流 (A)

N：　試料のコイル巻数（回）

C1：　磁心定数 (m-1)

μ0：　真空の透磁率4π×10-7 (H/m)

図1 測定回路

備考　抵抗器の値は，これにかかる最大電圧が供試コイルヘの印加電圧の1%以下になるように選ぶ。

図2 印加電圧の波形

図3 励磁電流の波形

7. 包装　磁心は，受渡当事者間の取決めによって輸送中及び保管中に損傷が生じないように包装する。

8. 表示　包装及び磁心の見えやすい所に，次の事項を表示する。ただし，受渡当事者間の取決めによっ

て一部又は全部を省略することができる。

a) 形名

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b) 製造ロット番号

c) 製造業者名又はその略号

d) 数量

関連規格 IEC 60205 : 1996, Calculation of the effective parameters of magnetic piece parts

IEC 60367-1 : 1982, Cores for inductors and transformers for telecommunications. Part 1 : Measuring

methods

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附属書1（規定）　磁心の実効定数の計算式

この附属書は，磁心の実効定数の計算式を規定したもので，原国際規格には，規定がない事項である。

磁心の実効定数の計算式は，次による。

備考　この計算では，面取りの影響は無視した。

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附属書2（参考）　磁心のケースの寸法

この附属書（参考）は，磁心のケースの寸法を記述したもので，原国際規格には規定がなく，規定の一

部ではない。

磁心のケースの寸法は，次による。

単位mm

略称

形名

0.8以上

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附属書3（参考）　絶縁処理したリング形磁心用の絶縁破壊電圧測定技術

この附属書（参考）は，絶縁処理したリング形磁心用の絶縁破壊電圧測定技術を記述したもので，原国

際規格には規定がなく，規定の一部ではない。

1. 方法1 この方法は，内径が6mm以上あるリング形磁心の破壊電圧を試験するときに使用できる。

附属書3図1に標準的な測定装置の原理を示す。

まず試料の準備として，試験を行うリング形磁心に，より導線を磁心の断面に密着させながら少なくと

も1回以上巻いて片側のリード線を作る。そして，前記の位置と対角（180度）に同様の巻き線を施し，

もう一方のリード線を作る。より導線は被覆がない銅線とする（例 0.06mm 100本）。

次に，測定は，このリード線の両端を電源の出力に接続して，所定の試験電圧を印加する（DC又はAC）。

この試験方法は，絶縁被覆の均一性が確認されている場合に推奨される。

附属書3図1 方法1：測定原理

2. 方法2 この方法は，次の3種類がある。二つの電極の間隔は，電極間で放電しないよう注意する必

要がある。

2.1

方法2A 測定装置は，二つのリング形状の電極と試料の中央に位置する二つのシリンダ形状の電極

からなっており，電極は，リング形磁心の縁に沿って接触させる。

この装置での破壊電圧試験は，垂直又は水平方向のどちらでも行うことができる。したがって，電源の

電圧極性は，附属書3図2に示すように切り換える。電極は，リング形磁心の縁と連続して接触するよう

に，電気伝導率の高い柔軟性がある材料とする。また，正確に接触するため及び絶縁を破壊しないように

するため，適切な圧力を加える必要がある。

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附属書3図2 方法2A：測定原理

2.2

方法2B この方法は，方法2Aを簡略化した方法である。

装置は，附属書3図3に示すように，リング形磁心の縁に沿って上下から接触する二つの電気伝導率の

高い電極から構成されている。

二つの電極の間隔は，狭くなって電極間で放電しないように十分注意する必要がある。また，リング形

磁心と電極を均一に確実に接触させるため，適切な圧力を加える必要がある。

この方法は，リング形磁心の厚さ方向でだけ使用できる。

附属書3図3 方法2B：測定原理

備考　附属書3図1，附属書3図2及び附属書3図3に示す寸法は，実際の比率と一致していない。

2.3

方法2C 試験装置は，附属書3図4に示すように，導電性ゴム板又はゴム板付きの銅の金網を金属

板で挟む構造である。

試料を導電性ゴム板間に置いて，リング形磁心の縁まで接触するように適切な圧力を金属板に加える。

この方法は，中形及び大形のリング形磁心の軸方向での破壊電圧試験に使用できる。

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附属書3図4 方法2C：測定原理

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電子材料JIS国際整合化委員会　構成表

（主査）

（委員）

（事務局）

氏名

所属

一ノ瀬　昇

杉　原　真

木　戸　義　勇

永　松　荘　一

兼　谷　明　男

大　島　清　治

山　村　修　蔵

小助川　充　生

濱　村　敦

平　林　康　之

中　村　恭　之

長　崎　潔

大　塚　努

高　安　龍　典

神　山　準

塚　田　潤　二

吉　田　孝　一

北　邦　郎

会　田　洋

丸　山　浩

和　田　忠　造

磯　部　保　明

長谷川　実

佐　藤　秀　樹

後　藤　和　紀

早稲田大学

元神奈川工科大学

科学技術庁金属材料技術研究所

通商産業省機械情報産業局

通商産業省工業技術院標準部

財団法人日本規格協会

日本電気計器検定所

住友特殊金属株式会社

TDK株式会社

住友特殊金属株式会社

株式会社東芝

株式会社トーキン

北陸電気工業株式会社

石塚電子株式会社

社団法人日本電子機械工業会

社団法人日本電機工業会

東英工業株式会社

東光株式会社

株式会社タムラ製作所

松下電器産業株式会社

株式会社デンソー

社団法人日本電子材料工業会

リング形フェライトJIS分科会　構成表

氏名

（主査）

（委員）

（事務局）

杉　原　真

兼　谷　明　男

大　塚　努

前　田　茂　幸

城　崎　琢　司

河　毛　清

田　中　龍　二

会　田　洋

長谷川　実

佐　藤　秀　樹

後　藤　和　紀

所属

元神奈川工科大学

通商産業省工業技術院標準部

株式会社トーキン

TDK株式会社

富士電気化学株式会社

日立金属株式会社

相菱電子化学株式会社

東光株式会社

社団法人日本電子材料工業会