2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5402-1-100：2014
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 試験方法規格一覧 ············································································································· 1
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································· 7
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5402-1-100：2014
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子
情報技術産業協会（JEITA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。これによって，JIS C 5402-1-100:2005は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群の部編成は，この規格による。
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 5402-1-100：2014
電子機器用コネクタ−試験及び測定−
第1-100部：一般−試験方法規格一覧
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 1-100: General-Applicable publications
序文
この規格は，2012年に第3版として発行されたIEC 60512-1-100を基とし，理解を助成するための補足
及び表形式の編集をして作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタの試験規格群の構成について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-1-100:2012，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 1-100:
General−Applicable publications（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
試験方法規格一覧
試験方法規格一覧は，表1による。
注記 表1において，“従来からのJIS”は，JIS C 5402の追補1によって，“新たに制定したJIS”に
順次置き換え，対応する“従来からのJIS”にそれぞれ優先して用いる。また，“新たに制定し
たJIS”を全て制定した後に，従来からのJIS C 5402は廃止する予定である。
表1−試験方法規格一覧
新たなJIS
従来からの
JIS及び箇条番号
試験
番号
試験名称
規格番号
電子機器用コネクタ試験方法
追補1
電子機器用コネクタ試験方法
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1部：一般
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-100部：
一般−試験方法規格一覧
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5402-1-100：2014
表1−試験方法規格一覧（続き）
新たなJIS
従来からの
JIS及び箇条番号
試験
番号
試験名称
規格番号
第1部：一般試験（検査）
C 5402の4.1
外観
C 5402の4.2
寸法及び質量
電気的接触長
コンタクトの保護効果（スクーププルーフ）
第2部：導通及び接触抵抗試験
C 5402の5.4
接触抵抗−ミリボルトレベル法
C 5402の5.3
接触抵抗−規定電流法
C 5402の5.7
接触抵抗の変動
（空き）
C 5402の5.5
コンタクトディスターバンス
C 5402の5.8
ハウジング（シェル）の導通性
（空き）
第3部：絶縁試験
C 5402の5.2
絶縁抵抗
C 5402の5.1
耐電圧
C 5402の5.9
部分放電
耐電圧（絶縁被覆付クリンプバレル）
第4部：電圧ストレス試験
第5部：電流容量試験
C 5402の5.10
温度上昇
C 5402の5.13
電流・温度の軽減
第6部：動的ストレス試験
加速度（定常）
C 5402の6.32
バンプ
C 5402の6.2
衝撃
C 5402の6.1
正弦波振動
ランダム振動
第7部：衝撃試験（可動形コネクタ）
C 5402の6.10
自由落下（繰返し）
機械的強度衝撃
第8部：静的な力試験（固定形コネクタ）
C 5402の6.14
C 5402の6.13
C 5402の6.3
静的な力，水平方向
静的な力，軸方向
操作レバーの強度
機械的動作
第9部：耐久性試験
電気的負荷及び温度
電気的負荷を伴う機械的動作
コンタクト保持機構及びシールの耐久性（メンテナ
ンス，エージング）
電流負荷サイクル
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表1−試験方法規格一覧（続き）
新たなJIS
従来からの
JIS及び箇条番号
試験
番号
試験名称
規格番号
第10部：過負荷試験
廃止
廃止
（空き）
電気的過負荷（コネクタ）
C 5402の5.11
第11部：耐候性試験
C 5402の7.10
一連耐候性
低温・減圧・湿度複合シーケンス
C 5402の7.3
高温高湿（定常）
C 5402の7.2
温度急変
かびの成長
腐食，塩水噴霧
C 5402の7.1
混合ガス流腐食
砂じん
C 5402の7.8
高温
C 5402の7.9
低温
C 5402の7.7
減圧
（使用禁止）
温湿度サイクル
C 5402の7.4
ガスタイト・無はんだラッピング接続
（使用禁止）
単一ガス流腐食
第12部：はんだ付け試験
C 5402の7.11
はんだ付け性，はんだぬれ性（ウェッティング），
はんだ槽法
C 5402の7.11
はんだ付け性，はんだぬれ性（ウェッティング），
はんだごて法
はんだ付け性，はんだはじき（ディウェッティン
グ）
C 5402の7.12
はんだ耐熱性，はんだ槽法
C 5402の7.12
はんだ耐熱性，はんだごて法
自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に
対する封止
はんだ付け性，平衡法
第13部：機械的動作試験
C 5402の6.12
結合力及び離脱力
C 5402の6.6
挿入力及び引抜力
廃止
廃止
極性及びキーイング
C 5402の6.11
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表1−試験方法規格一覧（続き）
新たなJIS
従来からの
JIS及び箇条番号
試験
番号
試験名称
規格番号
第14部：封止（気密性）試験
C 5402の7.6
（空き）
封止（気密性）（微少エアリーク）
（空き）
C 5402の7.5及び
C 5402の7.6
浸せき，減圧
C 5402の7.6
インターフェイシャルシーリング
噴射水
浸せき，防水
第15部：コネクタ試験（機械的試験）
C 5402の6.15
インサート内のコンタクト保持
C 5402の6.17
ハウジング内のインサート保持（軸方向）
C 5402の6.18
ハウジング内のインサート保持（ねじれ方向）
C 5402の6.19
コンタクトの挿入，解放及び引抜力
C 5402の6.31
インサート内のコンタクト保持，ケーブルの回転
C 5402の6.8
コネクタカップリング機構の効果
保護カバーの強度
コンタクト保持機構，工具の使用に対する耐久性
C 5402の6.16
第16部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験
C 5402の6.5
プローブダメージ
C 5402の6.20
リストリクテッドエントリ
C 5402の6.21
コンタクト曲げ強度
C 5402の6.22
引張強度（圧着接続）
C 5402の6.4
ゲージ保持力（弾性コンタクト）
C 5402の6.26
ターミネーション強度
C 5402の6.23
圧着後のコンタクトの変形測定
C 5402の6.24
インシュレーショングリップの有効性（圧着接続）
C 5402の6.25
接地コンタクトスプリングの保持力
（空き）
ストリッピングフォース，無はんだラッピング接
続
ラッピングの巻き戻し，無はんだラッピング接続
曲げ強度，固定形おすタブ
（使用禁止）
ねじれ強度，固定形おすタブ
引張強度及び圧縮強度，固定形おすタブ
シミュレーションによるコネクタインサート内の
おすコンタクトのふれ
（空き）
機械的強度（無はんだ接続のターミネーション）
機械的外部応力によるウイスカの試験
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C 5402-1-100：2014
表1−試験方法規格一覧（続き）
新たなJIS
従来からの
JIS及び箇条番号
試験
番号
試験名称
規格番号
第17部：ケーブルクランプ試験
C 5402の6.27
ケーブルクランプ強度
C 5402の6.28
ケーブルクランプ強度（ケーブルの回転）
ケーブルクランプ強度（ケーブルの引張り）
C 5402の6.29
ケーブルクランプ強度（ケーブルのねじり）
第18部：爆発による危険性試験
第19部：耐化学薬品試験
絶縁被覆付クリンプバレルの耐液性
（空き）
耐液性
第20部：耐火性試験
ニードルフレーム（注射針バーナ）
耐火性
耐火性，グローワイヤ（赤熱棒押付け）
第21部：高周波抵抗試験
高周波シャント抵抗
第22部：静電容量試験
C 5402の5.12
静電容量
第23部：シールド試験及びフィルタリング試験
（空き）
複合フィルタの抑制特性
コネクタ及びアクセサリのシールド効果
時間領域での伝送線路の反射
（空き）
（空き）
伝達インピーダンス
第24部：磁気障害試験
残留磁気
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5402-1-100：2014
表1−試験方法規格一覧（続き）
新たなJIS
試験
番号
従来からのJIS
及び箇条番号
試験名称
規格番号
第25部：シグナルインティグリティ試験
クロストーク比
減衰（挿入損失）
立上り時間劣化
伝搬遅延
リターンロス
アイパターン及びジッタ
インピーダンス，反射係数及び電圧定在波比
C 5402の5.6
（空き）
エイリアンクロストーク
26-100 測定設備，試験及び基準構成並びにIEC 60603-7
によるコネクタの測定−試験26a〜26g b)
500 MHz以下のシグナルインティグリティ試験
500 MHz以下のシグナルインティグリティ試験−
試験27a〜27g b)（IEC 60603-7シリーズコネクタ
用）
1 000 MHz以下のシグナルインティグリティ試験
−試験28a〜28g b)（IEC 60603-7及びIEC 61076-3
シリーズコネクタ用）
29-100 500 MHz以下のシグナルインティグリティ試験−
試験29a〜29g b)（M12形コネクタ用）
99-001 リモート電源と接続したツイストペアケーブルに
使用するコネクタ
注a) これらの規格は，審議中である。
b) 試験a〜gは，次の試験を示す。
a：挿入損失（IL）
b：反射損失（RL）
c：近端クロストーク（NEXT）
d：遠端クロストーク（FEXT）
e：伝達インピーダンス（Zt）
f：横方向変換損失（TCL）
g：横方向伝達変換損失（TCTL）
c) これらの規格は，JISの作成を予定している。
7
C 5402-1-100：2014
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 5402-1-100:2014 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-100部：一般−試
験方法規格一覧
(I)JISの規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条ごと
の評価
削除
規格の経緯などについての記
述は，不要なので削除している
ため，点線の下線を付けてい
る。
表形式を変更しただけで，実質
的に技術的差異はない。
IEC/SC48Bの審議において予
備業務項目（PWI）となってい
るため，実質的に技術的差異は
ない。
箇条番号
及び題名
1 適用範
囲
2 試験方
法規格一
覧
内容
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
箇条番号
内容
この規格は，電子機
器用コネクタの試
験規格群の構成に
ついて規定する。
規格の経緯などについて
記述している。
表1で，電子機器用
コネクタの試験方
法規格一覧を規定
JISと同じ
変更
試験番号25hのIEC規格
番号60512-25-8を削除し
た。
削除
技術的差異の内容
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 60512-1-100:2012，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD…………… 国際規格を修正している。
