2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5402-1-2：2004 (IEC 60512-1-2：2002)
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-1-2:2002，Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-2: General examination - Test 1b: Examination of dimension
and massを基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5402-1-2：2004 (IEC 60512-1-2：2002)
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 一般 ······························································································································ 1
3. 試験する項目 ·················································································································· 1
3.1 外形寸法 ······················································································································ 1
3.2 質量 ···························································································································· 1
3.3 空間距離及び沿面距離 ···································································································· 1
3.4 詳細寸法 ······················································································································ 1
3.5 ゲージによる方法 ·········································································································· 1
3.6 特殊な測定 ··················································································································· 2
4. 試験方法 ························································································································ 2
5. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 2
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 5402-1-2：2004
(IEC 60512-1-2：2002)
電子機器用コネクタ―
試験及び測定―第1-2部：一般試験―
試験1b：寸法及び質量
Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 1-2: General examination -
Test 1b: Examination of dimension and mass
序文 この規格は，2002年に第1版として発行されたIEC 60512-1-2，Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 1-2: General examination - Test 1b: Examination of dimension and massを翻訳し，
技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある“参考”は，原国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲 この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）の寸法及び質量試験のための
試験方法について規定する。この試験方法は，類似の部品に用いてもよい。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60512-1-2:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-2: General
examination - Test 1b: Examination of dimension and mass (IDT)
2. 一般 寸法及び質量試験とは，関連規格に適合する適切な測定工具及び計測器によって実際の部品を
測定することをいう。
3. 試験する項目
3.1
外形寸法 寸法を試験する。その寸法は，個別規格の図面に適合しなければならない。
3.2
質量 質量を試験する。その質量は，個別規格に適合しなければならない。
3.3
空間距離及び沿面距離 個別規格に規定がある場合には，空間距離及び沿面距離を試験する。それ
らの距離は，個別規格に適合しなければならない。
参考 例えばJIS C 0704（制御機器の絶縁距離・絶縁抵抗及び耐電圧）が挙げられる。
3.4
詳細寸法 個別規格に規定がある場合には，詳細寸法を試験する。その寸法は，個別規格の図面に
適合しなければならない。
3.5
ゲージによる方法 個別規格にゲージによる寸法の試験が規定されている場合には，適宜，ゲージ
によって当該試料の合否を判定する。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5402-1-2：2004 (IEC 60512-1-2：2002)
3.6
特殊な測定 この規格は，次のような特殊な測定については規定しない。
−保護の厚さの測定
−表面の粗さ又は不規則性の測定
4. 試験方法 寸法試験及び質量試験は，適切な測定機器で行う。
例：
a)
バーニャゲージ，マイクロメータ及びダイヤルゲージ
b)
ゲージ
c)
適切な線形倍率をもつ投影機
d)
測定顕微鏡
e)
質量計
5. 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試験する事項
b) ゲージによる測定の詳細（適用する場合）
c) 測定器の形式及び倍率
d) この試験方法との相違
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
