2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5402-11-4：2004 (IEC 60512-11-4：2002)
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-11-4:2002，Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-4: Climatic tests - Test 11d: Rapid change of temperature
を基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5402-11-4：2004 (IEC 60512-11-4：2002)
目
次
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序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 準備 ······························································································································ 2
3.1 試料の準備 ··················································································································· 2
3.2 試料の配線 ··················································································································· 2
3.3 前処理 ························································································································· 2
4. 試験方法 ························································································································ 2
4.1 供試条件 ······················································································································ 2
5. 測定 ······························································································································ 2
5.1 初期測定 ······················································································································ 2
5.2 最終測定 ······················································································································ 2
6. 規格に規定する事項 ········································································································· 2
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 5402-11-4：2004
(IEC 60512-11-4：2002)
電子機器用コネクタ―
試験及び測定―第11-4部：耐候性試験―
試験11d：温度急変
Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 11-4: Climatic tests -
Test 11d: Rapid change of temperature
序文 この規格は，2002年に第1版として発行されたIEC 60512-11-4，Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 11-4: Climatic tests - Test 11d: Rapid change of temperature を翻訳し，技術的内容
及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格では点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲 この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）の保存中，輸送中及び使用中
におこる可能性がある大気の急激な温度変化に耐える能力を評価するための試験方法について規定する。
この試験方法は，類似の部品に用いてもよい。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60512-11-4:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-4:
Climatic tests - Test 11d: Rapid change of temperature (IDT)
2. 引用規格 次に掲げる引用規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構
成する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定
を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，
その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0025 環境試験方法−電気・電子−温度変化試験方法
備考 IEC 60068-2-14:1984，Environmental testing - Part 2: Tests - Test N: Change of temperatureが，
この規格と一致している。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
備考 IEC 60512-1-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1:
General examination - Test 1a: Visual examinationが，この規格と一致している。
JIS C 5402-3-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第3-1部：絶縁試験−試験3a：絶縁抵抗
備考 IEC 60512-3-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1:
Insulation tests - Test 3a: Insulation resistance が，この規格と一致している。
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C 5402-11-4：2004 (IEC 60512-11-4：2002)
IEC 60512-4-1:2003 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-1: Voltage stress
tests−Test 4a: Voltage proof
3. 準備
3.1
試料の準備 標準のアクセサリを備えた試料を，個別規格の規定によって取り付ける。
個別規格で要求する場合には，試料を試験前に規定回数，挿入及び引抜きをする。
各試験を行うに当たって，個別規格にはコネクタの条件（例えば，結合又は非結合）を規定する。
3.2
試料の配線 試料は，個別規格の規定によって配線する。
3.3
前処理 前処理は，個別規格に規定がない場合には，少なくとも1時間は行う。
参考 前処理の内容は，JIS C 5401-1 電子機器用コネクタ−第1部：品目別通則−能力認証 4.1.2前
処理の規定による。
4. 試験方法
4.1
供試条件 この試験は，JIS C 0025に従って行う。
暴露時間t1及び高温・低温のサイクル数は，個別規格に規定する。
5. 測定
5.1
初期測定 初期測定は，個別規格の規定による。
5.2
最終測定 試料は，個別規格に規定がない場合には次の試験を行い，個別規格で規定する要求事項
を満足しなければならない。
−絶縁抵抗：JIS C 5402-3-1，試験3a
−耐電圧：IEC 60512-4-1，試験4a
−外観：JIS C 5402-1-1，試験1a
6. 規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料の取付方法及び配線方法
b) 供試条件の厳しさ（サイクル数）
c) 暴露時間t1
d) 初期測定
e) 測定に対する要求事項
f)
この試験方法との相違
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