2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5402-15-3：2014 (IEC 60512-15-3：2008)
目
次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 準備······························································································································· 2
3.1 試料 ···························································································································· 2
3.2 装置 ···························································································································· 2
3.3 取付け ························································································································· 2
4 試験方法························································································································· 2
4.1 手順 ···························································································································· 2
4.2 測定 ···························································································································· 2
5 個別規格に規定する事項 ···································································································· 2
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5402-15-3：2014 (IEC 60512-15-3：2008)
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100（一般−試験方法規格一覧）による。
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 5402-15-3：2014
(IEC 60512-15-3：2008)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−
第15-3部：コネクタ試験（機械的試験）−
試験15c：ハウジング内のインサート保持
（ねじれ方向）
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 15-3: Connector tests (mechanical)-
Test 15c: Insert retention in housing (torsional)
序文
この規格は，2008年に第1版として発行されたIEC 60512-15-3を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に
は，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，通常使用するときに加わる可能性があるねじれ方向のストレスに対して，インサート保持
機構が耐える効果を評価するための試験方法について規定する。
注記1 この規格に規定する試験方法は，JIS C 5402-15-2（参考文献参照）で規定する試験方法と対
になる。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-15-3:2008，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 15-3:
Connector tests (mechanical)−Test 15c: Insert retention in housing (torsional)（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）
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C 5402-15-3：2014 (IEC 60512-15-3：2008)
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準備
3.1
試料
試料は，ターミネーションをもつコネクタとする。個別規格に規定がある場合は，結線する。ケーブル
固定具及びアクセサリは，取り付けてはならない。
個別規格で規定する前処理を適用する。
3.2
装置
ねじれ方向の力を加えるため，トルク（強度，速度，時間）を制御できる装置（例えば，トルク試験機）
を用いる。
注記 個別規格に試料の特別な前処理の要求がある場合には，その処理条件を記述している関連文書
に記載する全ての装置もまた必要である。
3.3
取付け
試料の取付けは，個別規格による。
4
試験方法
個別規格に規定がない場合には，3個のコネクタを試験する。
4.1
手順
コネクタのハウジングは，インサート保持手段に影響しない方法で固定する。
規定するトルクは，個別規格で規定する試験用取付具を用いて加える。トルクは，0.5 Nm/sの速度で規
定トルクに達するまで加え，1分間保持する。
4.2
4.2.1
測定
試験前
JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。
4.2.2
試験中
規定するトルクに起因する変位量を測定する。規定するトルクを取り除いた後，残留変位を測定する。
それらの変位量は，記録する。
インサートに対する角度の変位がある場合，個別規格に規定する値を超えてはならない。
4.2.3
試験後
JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。
5
個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料数（3個以外の場合）
b) 前処理（要求がある場合）
c) コンタクトの組込み及び試料の結線
d) 試料の取付け
e) 適用する試験用取付具
f)
適用するトルク
g) 許容する変位量（試験中及び試験後）
h) この規格で規定する試験方法との相違
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5402-15-3：2014 (IEC 60512-15-3：2008)
参考文献 JIS C 5402-15-2 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第15-2部：コネクタ試験（機械的試験）
−試験15b：ハウジング内のインサート保持（軸方向）
注記 対応国際規格：IEC 60512-15-2，Connectors for electronic equipment−Tests and
measurements−Part 15-2: Connector tests (mechanical)−Test 15b: Insert retention in housing
(axial)（MOD）
