JIS C 5402-16-7 : 2012 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－７部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 5402-16-7：2012 (IEC 60512-16-7：2008)

目

次

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲 ························································································································· 1

2 引用規格 ························································································································· 1

3 準備······························································································································· 2

3.1 試料 ···························································································································· 2

3.2 装置 ···························································································································· 2

4 試験方法 ························································································································· 2

5 測定及び要求事項 ············································································································· 3

5.1 試験前 ························································································································· 3

5.2 試験後 ························································································································· 3

6 個別規格に規定する事項 ···································································································· 3

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 5402-16-7：2012 (IEC 60512-16-7：2008)

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）

及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 5402の規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。

（2）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

JIS

日本工業規格

C 5402-16-7：2012

(IEC 60512-16-7：2008)

電子機器用コネクタ−試験及び測定−

第16-7部：コンタクト及びターミネーションの機械

的試験−試験16g：圧着後のコンタクトの変形測定

Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-

Part 16-7:Mechanical tests on contacts and terminations-

Test 16g:Measurement of contact deformation after crimping

序文

この規格は，2008年に第1版として発行されたIEC 60512-16-7を基に，技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。

適用範囲

この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に

は，類似の部品にも用いてよい。

この規格は，圧着作業によるコンタクトの変形（損傷）に耐える有効性を評価するための試験方法につ

いて規定する。

この試験は，円筒形のコンタクト，特に，機械加工したコンタクトを対象としているが，他の形状及び

構造をもつコンタクトに適用してもよい。その場合には，試験方法（箇条4参照）の詳細を個別規格に規

定する。

注記　この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 60512-16-7:2008，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part16-7:

Mechanical tests on contacts and terminations−Test 16g: Measurement of contact deformation

after crimping（IDT）

なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ

とを示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。この引用

規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観

注記　対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−

Part 1-1:General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）

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C 5402-16-7：2012 (IEC 60512-16-7：2008)

準備

3.1

試料

試料は，圧着する電線導体及びコンタクトとする。電線の長さは，100 mm以上とする。

試料数は，個別規格に規定がない場合には，各バレルサイズごとに10組（最小電線サイズ5組及び最大

電線サイズ5組）とする。

圧着工具は，個別規格の規定による。規定がない場合は，コンタクト製造業者の説明書による。いずれ

の場合も，工具などに関する詳細情報は，この規格に基づいた試験報告書に記載する。

個別規格に規定する前処理を適用する。

3.2

装置

コレットは，規定する位置で測定できるように，コンタクトが長さ方向の軸の周りを回転可能な形状と

する。

コレットの精度は，直径1.5 mm〜2.0 mmのスチールピンゲージの振れが，コレット面から10 mm〜

15 mmの測定位置で，コレット面から測定位置までの長さの0.1 %以下とする。

試験方法

コンタクトは，縦軸方向に回転し，規定する点で測定するため，図1に示すHの範囲をコレットで保持

する。Hの範囲を保持することによって，規定する位置で測定ができるようにコンタクトが長さ方向の軸

の周りを回転することが可能となる。

試験装置の例を図2に示す。

円筒形のコンタクトの場合には，圧着前後にコンタクト位置を測定する（ダイヤルゲージを用いること

が望ましい。）。コンタクトの変形（又は損傷）量は，回転したときの位置の総変位の1/2とする。

非円筒形のコンタクトは，同様の方法で測定する。変形（又は損傷）量も同様に算出してよい。

X：　おすコンタクトの直径の2倍の位置。また，対応するめすコンタクトにも用いる。

円筒形でない場合は，各コンタクトで規定する値とする。

Y：　クリンプバレルの端（又はコンタクトの端）と圧着による圧痕の始まりとの中間点。

M：　コンタクトの変形の測定点

H：　保持範囲

注記　保持範囲は，使用時に保持する範囲が望ましい。

図1−保持範囲及び測定点の例

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 5402-16-7：2012 (IEC 60512-16-7：2008)

図2−変形測定のための代表的な試験装置の構成

測定及び要求事項

5.1

試験前

初期測定は，JIS C 5402-1-1によって10倍の倍率で外観検査を行う。

試験の妥当性を損なうような不適合があってはならない。

5.2

試験後

最終測定は，JIS C 5402-1-1によって10倍の倍率で外観検査を行う。

変形は，個別規格の要求事項を満足しなければならない。

5.1で確認した以外の，部品の正常な機能を損なうような不適合があってはならない。

個別規格に規定する事項

個別規格には，次の事項を規定する。

a) 電線のタイプ及びサイズ

b) 使用する圧着工具の仕様

c) コンタクトの保持範囲

注記　保持範囲は，ハウジング又はインサートのコンタクト位置の長さに相当することが望ましい。

d) コンタクトの測定位置（図1に示す以外の場合）

e) 各測定点に対する変形の許容値

試料数（3.1に規定する以外の場合）

g) この規格で規定する試験方法との相違