2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5402-16-9：2015 (IEC 60512-16-9：2008)
目
次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 準備······························································································································· 2
3.1 試料 ···························································································································· 2
3.2 装置 ···························································································································· 2
3.3 取付け ························································································································· 2
4 試験方法························································································································· 2
4.1 方法A 単芯コンタクトゲージ ························································································· 2
4.2 方法B 多芯コンタクトゲージ ························································································· 2
4.3 測定及び要求事項 ·········································································································· 2
5 個別規格に規定する事項 ···································································································· 2
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5402-16-9：2015 (IEC 60512-16-9：2008)
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100（第1-100部：一般−試験方法規格一覧）による。
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 5402-16-9：2015
(IEC 60512-16-9：2008)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16-9部：
コンタクト及びターミネーションの機械的試験−
試験16i：接地コンタクトスプリングの保持力
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 16-9: Mechanical tests on contacts and terminations-
Test 16i: Grounding contact spring holding force
序文
この規格は，2008年に第1版として発行されたIEC 60512-16-9を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に
は，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，ゲージによって接地コンタクトスプリングの保持力を測定するための標準の試験方法につ
いて規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-16-9:2008，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 16-9:
Mechanical tests on contacts and terminations−Test 16i: Grounding contact spring holding force
（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS B 0031 製品の幾何特性仕様（GPS）−表面性状の図示方法
注記 対応国際規格：ISO 1302，Geometrical Product Specifications (GPS)−Indication of surface texture
in technical product documentation（IDT）
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）
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C 5402-16-9：2015 (IEC 60512-16-9：2008)
3
準備
3.1
試料
試料は，ターミネーションをもつコネクタとし，個別規格に規定がある場合は結線してもよい。個別規
格に潤滑剤使用の規定がある場合には，コンタクトに個別規格に規定する方法で用いる。個別規格に規定
する前処理を行う。
3.2
装置
個別規格に規定するゲージを準備する。
3.3
取付け
適用する場合，試料の取付けは，個別規格による。
4
試験方法
4.1
方法A 単芯コンタクトゲージ
4.1.1
めすコンタクトのスプリング
めすコンタクトは，規定する最大寸法の単芯コンタクトゲージを用いて，挿入及び引抜きを3回行う。
その後，規定する最小寸法の単芯引抜力ゲージで保持力を測定する。
4.1.2
おすコンタクトのスプリング
おすコンタクトは，規定する最小寸法の単芯コンタクトゲージを用いて，挿入及び引抜きを3回行う。
その後，規定する最大寸法の単芯引抜力ゲージで保持力を測定する。
4.2
方法B 多芯コンタクトゲージ
4.2.0A めすコンタクトのスプリング
めすコンタクトは，規定する最大寸法の多芯コンタクトゲージを用いて，挿入及び引抜きを3回行う。
その後，規定する最小寸法の単芯引抜力ゲージで保持力を測定する。
4.2.0B おすコンタクトのスプリング
おすコンタクトは，規定する最小寸法の多芯コンタクトゲージを用いて，挿入及び引抜きを3回行う。
その後，規定する最大寸法の単芯引抜力ゲージで保持力を測定する。
4.3
4.3.1
測定及び要求事項
試験前
試料は，JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。試験の妥当性に影響する不適合があってはならない。
4.3.2
試験中
コンタクトは，垂直方向において個々の保持力測定用のゲージの自重を保持しなければならない。
4.3.3
試験後
試料は，JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。コネクタの通常機能を損なう不適合があってはなら
ない。試料の弾性機構を，特に注視しなければならない。
5
個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 前処理（要求がある場合）
b) 適用する潤滑剤の適用方法及び特性（要求がある場合）
c) 試料の結線（要求がある場合）
d) 試料の取付け（要求がある場合）
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C 5402-16-9：2015 (IEC 60512-16-9：2008)
e) ゲージの詳細（JIS B 0031によるゲージの表面粗さを含む）
f)
試料数
g) この規格に規定する試験方法との相違
