2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5402-4-2：2004 (IEC 60512-4-2：2002)
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-4-2:2002，Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-2: Voltage stress test - Test 4b: Partial dischargeを基礎とし
て用いた。
この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5402-4-2：2004 (IEC 60512-4-2：2002)
目
次
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序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 試験方法 ························································································································ 1
4. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 1
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 5402-4-2：2004
(IEC 60512-4-2：2002)
電子機器用コネクタ―
試験及び測定―
第4-2部：電圧ストレス試験―
試験4b：部分放電
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -
Part 4-2: Voltage stress test - Test 4b: Partial discharge
序文 この規格は，2002年に第1版として発行されたIEC 60512-4-2，Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 4-2: Voltage stress test - Test 4b: Partial dischargeを翻訳し，技術的内容及び規格
票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
1. 適用範囲 この規格は，部分放電を起こさずに，規定する電圧条件下で使用する電子機器用コネクタ
（以下，コネクタという。）の能力を評価するための試験方法について規定する。この試験方法は，類似の
部品にも用いてよい。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60512-4-2:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-2: Voltage
stress test - Test 4b: Partial discharge (IDT)
2. 引用規格 次に掲げる引用規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構
成する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定
を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。
IEC 60270:2000 High-voltage test techniques - Partial discharge measurements
3. 試験方法 試験は，IEC 60270に従って行う。
試験手順及び要求事項は，個別規格による。
4. 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試験手順
b) 要求事項
c) この試験方法との相違
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