2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5402-7-1：2016 (IEC 60512-7-1：2010)
目
次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 試料の準備······················································································································ 2
4 試験方法························································································································· 2
5 装置······························································································································· 2
6 最終測定························································································································· 3
7 要求事項························································································································· 3
8 個別規格に規定する事項 ···································································································· 3
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5402-7-1：2016 (IEC 60512-7-1：2010)
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100（第1-100部：一般−試験方法規格一覧）による。
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 5402-7-1：2016
(IEC 60512-7-1：2010)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−
第7-1部：衝撃試験（可動形コネクタ）−
試験7a：自由落下（繰返し）
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 7-1: Impact tests (free connectors)-
Test 7a: Free fall (repeated)
序文
この規格は，2010年に第1版として発行されたIEC 60512-7-1を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に
は，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，可動形コネクタが繰り返し自由落下したときに受ける衝撃に耐える能力を評価するための
標準の試験方法について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-7-1:2010，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 7-1: Impact
tests (free connectors)−Test 7a: Free fall (repeated)（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）
JIS K 6253-2 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−硬さの求め方−第2部：国際ゴム硬さ（10 IRHD〜100
IRHD）
注記 対応国際規格：ISO 48:2007，Rubber, vulcanized or thermoplastic−Determination of hardness
(hardness between 10 IRHD and 100 IRHD)（MOD）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2
C 5402-7-1：2016 (IEC 60512-7-1：2010)
3
試料の準備
試料は，個別規格に規定がない場合，取付け又は結線しない。ただし，個別規格に規定する通常のアク
セサリ（例えば，フード，ケーブルグランドなど）は，取り付ける。
4
試験方法
試験は，箇条5に規定する回転バレルを用いて行う。試験中，回転バレルの中に試料を二つ以上入れて
はならない。バレルの回転は，毎分5回転とする。
総回転数（落下数は回転数の2倍）は，個別規格による。
注記 個別規格には，質量の違いによって回転数を規定してもよい。
5
装置
装置には，図1に示す回転バレルを用いて，試料を中に入れて試験を行う。
回転バレルは，多数の試料を試験する場合，同時に行うために一つの試料を収容する仕切りを，複数設
けてもよい。
各仕切りの幅（W）は，規定しないが試料の大きさに合わせて200 mm〜300 mmにするのが望ましい。
落下の合間に試料が留まる各小部屋は，JIS K 6253-2で規定する硬度80 IRHD±20 IRHDの弾力性のあ
るくさび形のゴム，及び滑らかな硬質プラスチック積層板で作られた滑り面で構成する。回転軸は，内部
に突き出さないように回転バレルを設計する。
回転バレルには，透明なアクリル製のような蓋が付いた開口部を設ける。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5402-7-1：2016 (IEC 60512-7-1：2010)
単位 mm
1： 木板
2： 鋼鉄
3： ゴム
4： プラスチック積層板
a： 厚さ1.5 mmの鋼鉄板の回転バレルの本体
W： 200 mm〜300 mmを推奨
図1−回転バレル
6
最終測定
試料は，JIS C 5402-1-1の規定によって外観検査を行う。
個別規格に規定がある場合には，動作を確認する。
7
要求事項
正常な動作を損なう破損又は損傷があってはならない。
8
個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料の準備
b) 取り付けるアクセサリ（該当する場合）
c) 結線及び電線長（該当する場合）
d) 総回転数（落下数は回転数の2倍）
e) 動作の要求事項（要求がある場合）
f)
この規格に規定する試験方法との相違
