2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5921：2009
目
次
ページ
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 1
4 定格······························································································································· 1
5 光学特性 ························································································································· 2
6 環境及び耐久性特性 ·········································································································· 3
7 試料······························································································································· 5
8 試験報告書 ······················································································································ 5
9 表示······························································································································· 6
10 包装 ····························································································································· 6
11 安全 ····························································································································· 6
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5921：2009
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及び財
団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工
業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 5921：2009
シングルモード光ファイバピッグテール型
固定光減衰器
Single-mode fiber, pigtailed-style fixed optical attenuators
1
適用範囲
この規格は，屋内環境条件で光ファイバを用いた光伝送に使用するシングルモード光ファイバピッグテ
ール型固定光減衰器の定格，光学特性，環境及び耐久性特性について規定する。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5901 光伝送用受動部品試験方法
JIS C 5920 光減衰器通則
JIS C 61300-2-17 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-17部：低
温試験
JIS C 61300-2-18 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-18部：高
温試験
JIS C 61300-2-19 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-19部：高
温高湿試験（定常状態）
IEC 60793-2-50，Optical fibres−Part 2-50: Product specifications−Sectional specification for class B
single-mode fibres
IEC 61300-2-42，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 2-42: Tests−Static side load for connectors
IEC 61300-2-44，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 2-44: Tests−Flexing of the strain relief of fibre optic devices
IEC 61300-3-7，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 3-7: Examinations and measurements−Wavelength dependence of attenuation and
return loss of single mode components
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5920による。
4
定格
シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の定格は，表1による。
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C 5921：2009
表1−シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の定格
項目
5
記号
条件
最大定格値
単位
使用温度範囲
保存温度範囲
使用波長範囲
1 260〜1 360又は1 460〜1 625
最大入射光パワー
光学特性
シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の光学特性の試験方法，試験条件及び要求性能
は，表2による。各項目の性能値は，すべての偏光状態の入射光及び表1の定格で規定する使用温度範囲，
使用波長範囲に対する最小及び最大値とする。
表2−シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の光学特性
項目
試験方法
減衰量
挿入損失及
び反射減衰
量の波長依
存性測定
試験条件
要求性能
最小値
反射減衰
量
供試品の光ファイバ長は，2 m以上とす 公称値−0.5 dB
る。
（減衰量公称値
波長は，光ファイバの遮断波長より長く，
が5 dB以下の場
かつ，無偏光な広帯域光源を用いる。波
合）
長範囲は，1 260 nm〜1 360 nm及び1 460
nm〜1 625 nmとし，測定時間内で，動作 公称値の90 ％
波長における光源の光出力安定性は，± （減衰量公称値
0.05 dB以内とする。
が5 dBを超える
検出器は，測定波長範囲において十分な
場合）
波長感度をもち，直線性は±0.05 dB以内
とする。
反射減衰量
方法1又は方法2
光源の中心波長は，1 310 nm±30 nm，
5901の6.5） 1 550 nm±30 nm又は1 605 nm±20 nmと
する。
スペクトル幅（半値全幅）は，20 nm以下
とする。
方法2の場合，OTDRパルス幅は，100 ns
以下とする。
標準値
最大値
公称値
公称値＋0.5 dB
（減衰量公称値
が5 dB以下の場
合）
公称値の110 ％
（減衰量公称値
が5 dBを超える
場合）
35 dB（グレード
40 dB（グレード
50 dB（グレード
60 dB（グレード
動作波長における光源の光出力安定性
は，測定時間内で±0.05 dB以内とする。
検出器の最低受光感度は−80 dBm以下と
し，かつ，直線性は±0.05 dB以内とする。
不要な反射が発生しないように，供試品
のすべての不要ポートは適切に終端処理
する。
偏光依存
性損失
光損失の偏
光依存性
5901の6.3）
方法1，オプション1
光源は，中心波長が1 310 nm±30 nm又は
1 550 nm±30 nmのDFBレーザとする。
その他の試験条件は，減衰量と同様とす
る。
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表2−シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の光学特性（続き）
項目
試験方法
試験条件
要求性能
光パワー
損傷しき
い値
最大入力光
パワー（JIS
C 5901の
光源は，波長1 310 nm±30 nm及び1 550
nm±30 nmのレーザダイオードとする。
最大入力パワーは，20 dBmとする。
パワー増分ステップは，減衰量公称値が5
dB以下の場合100 mWとし，減衰量公称
値が5 dBを超える場合10 mWとする。
各パワーレベルで，1時間にわたって入力
光パワーを保持する。
試験後の減衰量は，表2に示す最小値以上，か
つ，最大値以下とする。また，試験後の減衰量
変化は，dB値で初期値の±5 ％以内とする。
試験後の反射減衰量は，表2に示す最小値以上
とする。
最小値
6
標準値
最大値
環境及び耐久性特性
屋内環境条件で使用するための環境及び耐久性特性の試験方法，試験条件及び要求性能は，表3による。
表3−シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の環境及び耐久性特性
項目
試験方法
試験条件
耐寒性
低温試験（JIS C
温度：0 ℃±2 ℃
暴露時間：96時間
耐熱性
高温試験（JIS C
温度：60 ℃±2 ℃
暴露時間：96時間
耐湿性
高温高湿試験
（定常状態）
要求性能
減衰量は，試験中及び試験前後におい
て，表2に示す最小値以上，かつ，最大
値以下とする。さらに，試験中及び試験
減衰量の測定は，試験前後及び試験中は1 後の減衰量変化は，周囲条件下でdB値
時間以下の間隔で実施する。
で初期値の±5 ％以内とする。
反射減衰量の測定は，試験前後に実施する。 反射減衰量は，試験前後において，表2
に示すグレードの最小値以上とする。
減衰量は，試験中及び試験前後におい
て，表2に示す最小値以上，かつ，最大
値以下とする。さらに，試験中及び試験
減衰量の測定は，試験前後及び試験中は1 後の減衰量変化は，周囲条件下でdB値
時間以下の間隔で実施する。
で初期値の±5 ％以内とする。
反射減衰量の測定は，試験前後に実施する。 反射減衰量は，試験前後において，表2
に示すグレードの最小値以上とする。
温度：30 ℃±2 ℃
相対湿度：(85±2) ％
温度：60 ℃±2 ℃
相対湿度：(20±2) ％a)
暴露時間：96時間
減衰量の測定は，試験前後及び試験中は1
時間以下の間隔で実施する。
反射減衰量の測定は，試験前後に実施する。
減衰量は，試験中及び試験前後におい
て，表2に示す最小値以上，かつ，最大
値以下とする。さらに，試験中及び試験
後の減衰量変化は，周囲条件下でdB値
で初期値の±5 ％以内とする。
反射減衰量は，試験前後において，表2
に示すグレードの最小値以上とする。
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表3−シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の環境及び耐久性特性（続き）
項目
試験方法
温度サイ
クル
温度サイクル試
験（JIS C 5901
の8.2）
試験条件
高温：60 ℃±2 ℃
低温：0 ℃±2 ℃
放置時間：1時間以上
温度変化の割合：1 ℃/min
サイクル数：5
減衰量の測定は，試験前後及び試験中は10
分以下の間隔で実施する。
反射減衰量の測定は，試験前後に実施する。
前処理：試験前，供試品は室温環境中に2
時間放置する。
後処理：試験後，供試品は室温環境中に2
時間放置する。
耐振性
耐振性（JIS C
5901の7.1）
振動範囲：10 Hz〜55 Hz
試験時間：1オクターブ／分
振動軸：直交3軸
掃引サイクル数（10 Hz−55 Hz−10 Hz）：15
振動振幅：0.75 mm
減衰量の測定は，試験前後及び試験中は10
分以下の間隔で実施する。
反射減衰量の測定は，試験前後に実施する。
取付方法：供試品は，アセンブリングカセ
ット又はオーガナイザで取付具と強固に固
定する。
光ファイ 光ファイバコー
バクラン
ドクランプ強度
プ強度
（軸方向引張り）
（軸方向
（JIS C 5901の
引張り）
耐衝撃性
耐衝撃性（JIS C
5901の7.2）
引張力：強化ケーブルに対して5 N/sの変化
率で10 N±1 N
セカンダリ光ファイバに対して0.5 N/sの変
化率で5 N±0.5 N
プライマリ光ファイバに対して0.5 N/sの変
化率で2 N±0.2 N
引張力を加える位置：供試品の端から0.3 m
引張力持続時間：10 Nの場合120秒，5 N及
び2 Nの場合60秒
サンプリングレート（測定頻度）：減衰量の
測定は，負荷が最大に達してから30秒以下
の間隔で実施する。
減衰量の測定は，試験前後及び試験中に実
施する。
反射減衰量の測定は，試験前後に実施する。
ピーク加速度：4 900 m/s2 (500 G)
パルス作用時間：1 ms，正弦半波
軸数：3軸各2方向
衝撃回数：2衝撃／軸，総数12
減衰量の測定は，試験前後及び各軸方向に
衝撃を加える前後に実施する。
反射減衰量の測定は，試験前後に実施する。
要求性能
減衰量は，試験中及び試験前後におい
て，表2に示す最小値以上，かつ，最大
値以下とする。さらに，試験中及び試験
後の減衰量変化は，周囲条件下でdB値
で初期値の±5 ％以内とする。
反射減衰量は，試験前後において，表2
に示すグレードの最小値以上とする。
減衰量は，試験中及び試験前後におい
て，表2に示す最小値以上，かつ，最大
値以下とする。さらに，試験中及び試験
後の減衰量変化は，周囲条件下でdB値
で初期値の±5 ％以内とする。
反射減衰量は，試験前後において，表2
に示すグレードの最小値以上とする。
減衰量は，試験中及び試験前後におい
て，表2に示す最小値以上，かつ，最大
値以下とする。さらに，試験中及び試験
後の減衰量変化は，周囲条件下でdB値
で初期値の±5 ％以内とする。
反射減衰量は，試験前後において，表2
に示すグレードの最小値以上とする。
減衰量は，試験前後において，表2に示
す最小値以上，かつ，最大値以下とする。
さらに，減衰量変化は，周囲条件下でdB
値で初期値の±5 ％以内とする。
反射減衰量は，試験前後において，表2
に示すグレードの最小値以上でなけれ
ばならない。
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表3−シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の環境及び耐久性特性（続き）
項目
試験方法
試験条件
要求性能
コネクタ
の横荷重
コネクタの横荷
重試験（IEC
荷重力及び保持時間：強化ケーブルに対し
て1 Nで1時間
セカンダリ光ファイバに対して0.2 Nで5分
間
荷重方向：互いに直交する2方向
減衰量は，試験前後において，表2に示
す最小値以上，かつ，最大値以下とする。
さらに，試験後の減衰量変化は，周囲条
件下でdB値で初期値の±5 ％以内とす
る。
反射減衰量は，試験前後において，表2
に示すグレードの最小値以上でなけれ
ばならない。
減衰量及び反射減衰量は，試験前後に測定
する。
減衰量は，試験前後において，表2に示
す最小値以上，かつ，最大値以下とする。
さらに，試験後の減衰量変化は，周囲条
件下でdB値で初期値の±5 ％以内とす
減衰量及び反射減衰量は，試験前後に測定
る。
する。
反射減衰量は，試験前後において，表2
に示すグレードの最小値以上でなけれ
ばならない。
注a) 温度30 ℃〜60 ℃の相対湿度は，図1の一定水蒸気量曲線で囲まれる範囲とすることが望ましい。
ストレイ
ンリリー
フ強度
光ファイバデバ
イスのストレイ
ンリリーフ曲げ
試験（IEC
荷重力：強化ケーブルに対して2 N
曲げ角度：±90゜
サイクル数：30
一定水蒸気量
乾球温度℃
図1−温度及び湿度を考慮した環境条件
7
試料
試料は，IEC 60793-2-50のタイプB1.1に基づく被覆光ファイバ（プライマリ及びセカンダリ）又は強化
ケーブルで，シングルモード光ファイバに接続できなければならない。
8
試験報告書
試験報告書及びそれを裏付ける証拠を提供しなければならない。また，この試験報告書及びそれを裏付
ける証拠は，実施した試験に適合した証拠として検査に利用する。試験報告書には，光学特性については
試験条件及び性能値を，環境及び耐久性特性については試験条件，試料数及び合格判定数を記載する。
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表示
シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器には，次の項目を表示しなければならない。た
だし，個々の光減衰器に表示することが困難な場合は，包装に表示してもよい。
a) 形名（製造業者の指定による）
b) 製造業者名又はその略号
c) 製造年月若しくは製造ロット番号又はそれらの略号
10 包装
包装は，輸送中及び保管中に，振動，衝撃などによる製品の破損又は品質の低下のおそれがないように
行う。また，短期間に劣化するおそれがある材料を含む場合には，安全管理，保管環境条件に関する注意
及び要求事項とともに，有効期限を包装に表示する。
11 安全
光伝送システム又は装置に用いる場合，人体へ影響を及ぼす出射端子からの光の放射があり得る。その
ため，製造業者は，システム設計者及び使用者に対して，安全性に関する十分な情報及び確実な使用方法
を明示しなければならない。
