JISと対応する国際規格との対比表

JIS C 5951-1997 光伝送用発光ダイオード測定方 IEC 747-5, 747-5 Amd.1-1992，1994 半導体デバイス−個別部品及び集積回路第5部：光エレクトロニクスデバイス，同追補1

法

対比項目 (I) JISの規定内容

(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容

号

(IV) JISと国際規格との相違点

規定項目

(1) 適用範囲

○ 光伝送用発光ダイオードに IEC 747-5

適用。

(2) 試験項目

○ 光伝送用発光ダイオードの IEC 747-5

電気的・光学的特性について

の測定項目を規定。

(V) JISと国際規格との一致

が困難な理由及び今後の

対策

○ 発光ダイオードのほか，半導体レ　＝　国際規格から光伝送用発光

ーザ.フォトダイオードなどの光

ダイオードに適用できるも

半導体デバイス全般に広く適用。

のだけを抽出した。

なお，光伝送用半導体レー

ザはC 5940，C 5941に，再

生・記録用半導体レーザはC

5942，C 5943に，光伝送用半

導体レーザモジュールはC

5944，C 5945に，光伝送用フ

ォトダイオードはC 5990，C

5991に規定。

○ 発光ダイオードのほか，半導体レ　＝　国際規格から光伝送用発光

ーザ，フォトダイオードなどの光

ダイオードに適用できるも

のを抽出した。

半導体デバイス全般についても

規定。

備考1. 表中の(I)及び(III)欄にある“○”は，該当する規定項目を規定していることを示す。

2. 表中の(IV)欄にある“＝”は，JISと国際規格との技術的内容が同等であることを示す。