JISと対応する国際規格との対比表

JIS C 5990：1997 光伝送用フォトダイオード通則 IEC 747-5 (1992)，同Amd.1 (1994) 半導体デバイスー個別部品及び集積回路第5部：光エレクトロニクスデバイス，同追補1

対比項目 (I) JIS(原案)の規定内容

(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容

号

規定項目

(1) 適用範囲

○ 光伝送用フォトダイオード IEC 747-5

に適用。

(2) 用語・記号 ○ 光伝送用フォトダイオード IEC 747-5

に関する用語を規定。

(3) 性能

○ フォトダイオードのほか，半導体　＝　国際規格から光伝送用フォ

レーザ，発光ダイオードなどの光

トダイオードに適用できる

半導体デバイス全般に広く適用。

ものだけを抽出した。

なお，光伝送用半導体レーザ

はJIS C 5940，JIS C 5941に，

再生・記録用半導体レーザは

JIS C 5942，JIS C 5943に，

光伝送用半導体レーザモジ

ュールはJIS C 5944，JIS C

5945に，光伝送用発光ダイオ

ードはJIS C 5950，JIS C

5951に規定。

○ フォトダイオードのほか，半導体　＝　国際規格からフォトダイオ

既に国内では製品の特性評

レーザ，発光ダイオードなどの光

ードに対応する部分を抽出　価項目として一般的に使わ

半導体デバイス全般についても

し，国際規格にない以下の項　れており，市場におけるフォ

規定。

目(動作温度)を追加してい

トダイオードの信頼性確保

る。

のため。

Top(a) 動作温度の定義を追

加

Top(c) 動作温度の定義を追

加

○ フォトダイオードのほか，半導体　＝　国際規格から光伝送用フォ

レーザ，発光ダイオードなどの光

トダイオードに対応する部

分を抽出した。

半導体デバイス全般についても

個別規格の様式を規定。

○ 光伝送用フォトダイオード IEC 747-5

の電気的・光学的特性と環境

及び耐久性に対する性能に

ついて個別規格の様式を規

定。

(IV) JIS(原案)と国際規格との相違 (V) JISと国際規格との一致

点

が困難な理由及び今後の

対策