JISと対応する国際規格との対比表

JIS C 5991 : 1997 光伝送用フォトダイオード測定 IEC 747-5 (1992)，同Amd.1 (1994) 半導体デバイス　個別部品及び集積回路第5部：光エレクトロニクスデバイス，同追補1

方法

対比項目 (I) JIS(原案)の規定内容

(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容

号

規定項目

(1) 適用範囲

○ 光伝送用フォトダイオード IEC 747-5

に適用。

(2) 試験項目

○ 光伝送用フォトダイオード IEC 747-5

に関する測定項目を規定。

(IV) JIS(原案)と国際規格との相違 (V) JISと国際規格との一致

点

が困難な理由及び今後の

対策

○ フォトダイオードの他，半導体レ　＝　国際規格から光伝送用フォ

ーザ，発光ダイオードなどの光半

トダイオードに適用できる

導体デバイス全般に広く適用。

ものだけを抽出した。

なお，光伝送用半導体レーザ

はJIS C 5940，JIS C 5941に，

再生・記録用半導体レーザは

JIS C 5942，JIS C 5943に，

光伝送用半導体レーザモジ

ュールは，JIS C 5944，JIS C

5945に，光伝送用発光ダイオ

ードはJIS C 5950，JIS C

5951に規定。

○ フォトダイオードのほか，半導体　＝　国際規格からフォトダイオ

既に国内では製品の特性評

レーザ，発光ダイオードなどの光

ードに対応する部分を抽出　価項目として一般的に使わ

半導体デバイス全般についても

し，国際規格にない以下の項　れており，市場におけるフォ

規定されている。

目を追加している。

トダイオードの信頼性確保

端子間容量測定

のため。