2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 61083-2：2016
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
3A 雷インパルス電圧パラメータ···························································································· 4
4 試験波形データ発生プログラム ··························································································· 7
4.1 原則 ···························································································································· 7
4.2 データ形式 ··················································································································· 7
5 基準インパルスの波形パラメータの基準値及び解析ソフトウェアにおける
それとのかい（乖）離の許容範囲 ······················································································ 7
6 波形解析ソフトウェアの試験 ······························································································ 8
6.1 一般 ···························································································································· 8
6.2 性能試験 ······················································································································ 8
6.3 IEC 60060-2又はIEC 62475の不確かさの寄与成分 ······························································· 8
7 波形解析ソフトウェアの性能記録 ························································································ 9
附属書A（規定）TDGが出力するインパルスの波形パラメータ基準値及び許容範囲 ························ 10
附属書B（参考）不確かさ評価の代替手法················································································ 23
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 29
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電気学会（IEEJ）及び一般財団
法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本
工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
（2）
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日本工業規格
JIS
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インパルス電圧及び電流試験に用いる
ソフトウェアに関する要求事項
Requirements for software for tests with impulse voltages and currents
序文
この規格は，2013年に第2版として発行されたIEC 61083-2を基とし，我が国の実情に合わせるために
技術的内容を変更せずに規格の構成を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，インパルス電圧及び電流試験に用いるソフトウェア（波形解析ソフトウェア）に関する要
求事項について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61083-2:2013，Instruments and software used for measurement in high-voltage and high-current
tests−Part 2: Requirements for software for tests with impulse voltages and currents（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
ISO/IEC Guide 98-3，Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
measurement (GUM:1995)
IEC 60060-1:2010，High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements
IEC 60060-2:2010，High-voltage test techniques−Part 2: Measuring systems
IEC 60060-3:2006，High-voltage test techniques−Part 3: Definitions and requirements for on-site testing
IEC 61083-1:2001，Instruments and software used for measurement in high-voltage impulse tests−Part 1:
Requirements for instruments
IEC 62475:2010，High-current test techniques−Definitions and requirements for test currents and measuring
systems
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3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
注記 インパルスパラメータの定義は，表1及び表2を参照。この表はIEC 60060-1:2010，IEC
60060-3:2006及びIEC 62475:2010を基にしている。
3.1
生データ（raw data）
デジタルレコーダがアナログ信号をデジタル形式に変換したときに得られる量子化された情報の原記録。
また，変換の際にオフセットの補正又はスケールファクタを乗じることができ，その補正などを行った情
報を含む。
3.2
処理データ（processed data）
生データを処理したデータ（オフセットの補正又はスケールファクタを乗じること以外の処理）。
［IEC 61083-1:2001，定義1.3.3.5を修正（“一定のスケールファクタ”を“スケールファクタ”に置き換
えている。）］
3.3
内部雑音レベル（internal noise level）
デジタルレコーダに一定の電圧を入力したときに記録された信号サンプルの標準偏差。
3.4
基準インパルス（reference impulse）
試験波形データ発生プログラム（TDG）が発生するデジタル基準データファイル。
3.5
サンプリングレート（sampling rate）
サンプリング周波数。
単位時間当たりに得られる信号サンプルの数。
（IEC 60050-704:1993，定義704-23-03参照）
3.6
分解能（デジタル処理における）（resolution）
隣接した二つの信号サンプルの大きさを識別することができるデジタルシステムの精度の単位。
注記 分解能はシステムが認識できる異なった信号レベルの最大数をバイナリ形式で表したビット数
として通常表記される。
（IEC 60050-807:1998，定義807-01-02参照）
3.7
試験波形データ発生プログラム，TDG（test data generator）
インパルスの解析波形及び実測波形の代表的なデジタル基準データファイルを発生することができるコ
ンピュータプログラム。
3.8
記録波形（recorded curve）
インパルス電圧のテストデータをグラフ又は数値で表したもの。
（IEC 60060-1:2010，定義7.1.5参照）
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3
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3.9
基準線（base level）
記録装置への入力がゼロのときにインパルス測定器に記録されるレベル。
（IEC 60060-1:2010，定義7.1.6参照）
3.10
基礎波形（base curve）
重畳振動がないときに推定される全波雷インパルス電圧の波形。
（IEC 60060-1:2010，定義7.1.7参照）
3.11
残差波形，R(t)（residual curve）
記録波形と基礎波形との差の波形。
（IEC 60060-1:2010，定義7.1.8参照）
3.12
基礎波形の最大値，Ub（base curve maximum）
基礎波形の波高点の値。
（IEC 60060-1:2010，定義7.1.10参照）
3.13
試験電圧関数（test voltage function）
オーバシュートを伴う雷インパルス電圧の絶縁に対する影響を表現する振幅−周波数関数で，次の式に
よって与えられる。
k
()
f
=
1
2
1
+
2.2 f
ここに，
f： オーバシュートに含まれる振動の周波数（MHz）
注記1 この試験電圧関数をフィルタとして残差波形に適用すれば，等価な全波雷インパルス電圧の
試験電圧値が算定できる。その手順は次の式に基づいている。
u
t
()
t
=
u
b
()
t
+
[
k
()
f
−
1
[
u
e
()
t
−
u
b
()
t
] ]
ここに，ut(t)は規約試験電圧波形，ub(t)は基礎波形，ue(t)は記録波形とし，それぞれの波形
の最大値をUt，Ub，Ueとする。図0A〜図0Dを参照。
（IEC 60060-1:2010，定義7.1.11及びAnnex B参照）
注記2 IEC 60060-1:2010の式(B.1)に誤りがあるため，この規格では正しい式で表記した。
3.14
処理残差波形，Rf(t)（filtered residual curve）
試験電圧関数で処理した後の残差波形。
（IEC 60060-1:2010，定義7.1.12参照）
3.15
規約試験電圧波形（test voltage curve）
基礎波形に処理残差波形を加えて得られる波形。
注記 これはフィルタ処理の数学的表現であって，物理的な実体又は等価インパルスではない。
（IEC 60060-1:2010，定義7.1.13参照）
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3A 雷インパルス電圧パラメータ
雷インパルス電圧パラメータは，図0A〜図0D並びに表1及び表2による。
図0A−オーバシュートを伴う雷インパルス電圧の記録波形，基礎波形及び残差波形
（β：オーバシュート量，β'：オーバシュート率）
図0B−雷インパルス電圧の規約試験電圧波形，基礎波形及び処理残差波形
図0C−雷インパルス電圧の記録波形及び規約試験電圧波形
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図0D−試験電圧関数
注記 波形の定義は，表1及び表2を参照する。IEC 60060-1:2010及びIEC 60060-3:2006では従来の
波形の定義から考え方が大きく変更されている。変更についての理解を助けるため，この規格
では，IEC 60060-1:2010の定義及びAnnex Bから抜粋して図0A〜図0Dを追記している。
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試験
電圧値
波高点
までの
時間
オーバシ
ュート率
波頭長
裁断
までの
時間
波尾長
最大値
平均
電圧
上昇率
試験
電圧値
波高点
までの
時間
波頭長
波尾長
振動
周波数
全波雷インパルス電
圧（LI）
波頭裁断波雷インパ
ルス電圧
波尾裁断波雷インパ
ルス電圧
開閉インパルス電圧
振動波雷インパルス
電圧
振動波開閉インパル
ス電圧
注記1 IEC 60060-3:2006における（ ）で示したパラメータの定義はIEC 60060-1:2010とは異なっている。
注記2 IEC 60060-3:2006では，振動性雷インパルス及び振動性開閉インパルスのパラメータに対して基準値が規定されている。
注記3 インパルスグループの列の括弧内は，TDGにおけるインパルスグループの記号又はそのグループに属する波形識別記号を示す（6.1参照）。
インパルスグループ
表1−インパルス電圧パラメータの定義
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表2−インパルス電流パラメータの定義
インパルスグループ
電流の
波高値
波頭長
波尾長
継続時間
全継続
時間
減衰振動性及び単極性
インパルス電流
方形波インパルス電流
注記 インパルスグループの列の括弧内は，TDGにおけるインパルスグループの記号又はそ
のグループに属する波形識別記号を示す（6.1参照）。
4
試験波形データ発生プログラム
4.1
原則
試験波形データ発生プログラム（TDG）は，デジタル形式の解析波形及び実測波形の基準インパルス波
形データファイルを発生するコンピュータプログラムである。波形解析ソフトウェアの性能の検証は，こ
のファイルを試験の対象とする波形解析ソフトウェアで処理し，抽出したデータから評価したパラメータ
が，附属書Aに規定する許容範囲内であることを確認することにより行う。
TDGはこの規格に必須のプログラムであり，Windows1)上で実行することが可能なメニュー方式のプロ
グラムである。
注1) Windowsは，マイクロソフト社の商品名である。この情報は，この規格の利用者の利便性のた
めに示したもので，製品名をこの規格で推奨するものではない。同じ結果が得られる場合は同
等品を用いてもよい。
4.2
データ形式
TDGによって発生された波形データファイルは，使用者のデジタルレコーダが出力する生データをシミ
ュレートしている。波形データファイルは，二つの値で構成されるASCII形式で記述されており，その記
録される値は，時間及び電圧（又は電流）である。
なお，試験の対象とする波形解析ソフトウェアの入力データのファイル形式又は範囲が，TDGから出力
される波形データのファイル形式又は範囲に対応していない場合には，適切な変換プログラムを用いても
よい。
注記 TDGの基準インパルス波形データ（変換された形式を含む。）を読み取ることができない波形
解析ソフトウェアは，この規格を適用することができない。
5
基準インパルスの波形パラメータの基準値及び解析ソフトウェアにおけるそれとのかい（乖）離の許
容範囲
幾つかの研究機関が参加した持ち回り（ラウンドロビン）の試験において，基準インパルスの波形パラ
メータ（基準インパルスの波形の形状を定める時間ごとの電圧又は電流の値）をそれぞれ独自に計算して
いる。この持ち回りの試験から得られた統計的平均値を，表1及び表2に示した波形パラメータの基準値
とした。
波形解析ソフトウェアによってTDGの波形データを評価したときのその波形パラメータの値と基準イ
ンパルスの波形パラメータの基準値とのかい（乖）離についての許容範囲は，適用するインパルスグルー
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プごとに設定される。
基準インパルスの波形パラメータの基準値及びそれとのかい（乖）離の許容範囲は，表A.1〜表A.6に
よる。
6
波形解析ソフトウェアの試験
6.1
一般
TDGは，IEC 60060-1，IEC 60060-3及びIEC 62745で規定するインパルス波形パラメータを決定するた
めに用いる波形解析ソフトウェアを検証することを目的としており，デジタルレコーダの出力データをシ
ミュレートする波形データファイルを発生できるように設計されている。
これらに関連する箇条を表1及び表2に記述する。
TDGのインパルス波形を，次の六つのインパルスグループに分類する。
LI：
全波雷インパルス（full lightning impulse）
LIC： 波頭裁断又は波尾裁断雷インパルス（front or tail chopped lightning impulse）
SI：
開閉インパルス（switching impulse）
IC：
インパルス電流（impulse current）
OLI： 振動性雷インパルス（oscillating lightning impulse）
OSI： 振動性開閉インパルス（oscillating switching impulse）
6.2
性能試験
波形解析ソフトウェアの性能試験は，全てのインパルスグループについて実施する必要はなく，試験に
必要なインパルスグループごとに評価すればよい。例えば，LIグループについてのみ評価する。
波形解析ソフトウェアの性能試験は，試験所の所有するデジタルレコーダの性能に応じて，TDGのサン
プリングレート，分解能及び内部雑音レベルを設定して行う。
波形解析ソフトウェアの性能試験で実際に使用するTDGの評価アルゴリズムのバージョンが，この規
格に従って検証されたバージョンと同じであるという証拠を，結果を含めて性能記録に記述する。
波形解析ソフトウェアの性能試験は，表1及び表2で参照している一つ，幾つか，又は全ての評価アル
ゴリズムについて実施することができる。
TDGの設定は，波形解析ソフトウェアを用いようとするデジタルレコーダの設定に合わせる。この設定
にはサンプリングレート，分解能，内部雑音レベルの設定を含む。基準インパルス波形を選択すると，こ
のデジタルレコーダの出力データをシミュレートした波形データがTDGから得られる。基準インパルス
波形は，附属書Aによる。
TDGは使用者が選択した評価アルゴリズムの各基準インパルス波形データを発生し，そのデータは波形
解析ソフトウェアを用いようとするデジタルレコーダの出力の代わりとして，波形解析ソフトウェアの入
力データとなる。試験中の波形解析ソフトウェアによって評価されたパラメータの値を，附属書Aに与え
られた許容範囲と比較する。性能試験の対象となっている波形解析ソフトウェアによって評価された波形
パラメータの値が，そのインパルスグループに属する全てのインパルス波形において許容範囲内である場
合は，性能試験に合格したものと判断する。
6.3
IEC 60060-2又はIEC 62475の不確かさの寄与成分
IEC 62475による大電流測定及びIEC 60060-2による高電圧測定の不確かさの計算には，不確かさへの
寄与成分として波形解析ソフトウェアの不確かさを含んでいる。これは，性能試験における合否の判断に
おいて考慮した許容範囲（附属書A）に由来している。あるパラメータにおける波形解析ソフトウェアの
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標準不確かさは，簡略化された手順として，附属書Aに規定する波形（i＝1...n）の許容範囲の半値から推
定するタイプBを用いてもよい。
u
B 7
=
1
3
n
max （許容範囲の半値）
i
=
1
これらの標準不確かさは表3による。
注記1 ソフトウェアの不確かさの定義については，IEC 60060-2:2010又はIEC 62475:2010の3.6，
4.6，5.9及び附属書Aを参照。シンボルuB7は，両方の規格（5.2.1.3〜5.9）で使用される番
号付けになっている。
注記2 この規格に従って測定したパラメータの許容範囲は，附属書Aに規定する基準値の正負許容
範囲である。
表3−簡略手順による，インパルスグループの総合不確かさに寄与する
波形解析ソフトウェアの標準不確かさ
インパルスグループ
波形解析ソフトウェアを波形（表1及び表2に示す。）の異なるインパルスグループの評価に用いた場合，
異なる標準不確かさをそれぞれのインパルスグループに当てはめる必要がある。
推定した標準不確かさが大きくなりすぎる場合，附属書Bの方法又はISO/IEC Guide 98-3に沿った任意
の方法を用いることができる。
注記3 ISO/IEC Guide 98-3は，国内ではTS Z 0033（測定における不確かさの表現のガイド）とし
て公表されている。
7
波形解析ソフトウェアの性能記録
波形解析ソフトウェアが検証したインパルスグループのリストは，測定システム（IEC 61083-1及びIEC
60060-2を参照）の性能記録に明記する。
性能記録には，次の項目を含む。
− TDGの評価アルゴリズムのバージョン番号及び関連設定内容
− 試験した波形解析ソフトウェアの名称，バージョン番号及びリリース日付
− 試験したインパルスグループのタイプ
− 波形解析ソフトウェアの性能試験において，合格した波形パラメータのリスト
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表A.1−全波雷インパルス電圧（LI）の基準値及び許容範囲
TDGにおける
波形識別記号
基準インパルス
波形の説明
基準値
基準値
許容範囲
Utに対する
比率 %
基準値
許容範囲
T1に対する
比率 %
基準値
許容範囲
許容範囲
T2に対する
比率 %
二つの理想的指
数関数の合成
低周波振動
高周波振動
附属書A
（規定）
TDGが出力するインパルスの波形パラメータ基準値及び許容範囲
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表A.1−全波雷インパルス電圧（LI）の基準値及び許容範囲（続き）
TDGにおける
波形識別記号
波形の説明
基準値
基準値
許容範囲
Utに対する
比率 %
基準値
許容範囲
T1に対する
比率 %
基準値
許容範囲
許容範囲
T2に対する
比率 %
基準インパルス
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基準インパルス
波形の説明
基準値
基準値
許容範囲
Utに対する
比率 %
基準値
許容範囲
T1に対する
比率 %
基準値
許容範囲
許容範囲
T2に対する
比率 %
波頭部に振動が
重畳
長時間のオーバ
シュート
TDGにおける
波形識別記号
表A.1−全波雷インパルス電圧（LI）の基準値及び許容範囲（続き）
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表A.1−全波雷インパルス電圧（LI）の基準値及び許容範囲（続き）
TDGにおける
波形識別記号
基準インパルス
波形の説明
基準値
基準値
許容範囲
Utに対する
比率 %
基準値
許容範囲
T1に対する
比率 %
基準値
許容範囲
許容範囲
T2に対する
比率 %
短時間のオーバ
シュート
変圧器試験実測
波形で振動が重
畳1
変圧器試験実測
波形で振動が重
畳2
変圧器試験実測
波形で振動が重
畳3
変圧器試験実測
波形で振動が重
畳4
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基準インパルス
波形の説明
基準値
基準値
許容範囲
Utに対する
比率 %
基準値
許容範囲
T1に対する
比率 %
基準値
許容範囲
許容範囲
T2に対する
比率 %
長い波頭長で振
動は重畳しない
短い波頭長でオ
ーバシュートが
ある
波頭部に大きな
振動が重畳
波頭部に大きな
振動が重畳
オフセットが変
化し波高点に振
動が重畳
TDGにおける
波形識別記号
表A.1−全波雷インパルス電圧（LI）の基準値及び許容範囲（続き）
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表A.1−全波雷インパルス電圧（LI）の基準値及び許容範囲（続き）
TDGにおける
波形識別記号
基準インパルス
波形の説明
基準値
基準値
許容範囲
Utに対する
比率 %
基準値
許容範囲
T1に対する
比率 %
基準値
許容範囲
許容範囲
T2に対する
比率 %
原点の後に振動
が重畳
原点の後に振動
が重畳しオーバ
シュートがある
原点の後に振動
が重畳しオーバ
シュートがある
波頭部に振動が
重畳
波頭部及び波高
点に大きな振動
が重畳
16
C 61083-2：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
基準インパルス
波形の説明
基準値
許容範囲
Up又はUt
に対する
比率 %
基準値
基準値
許容範囲
T1に対する
比率
基準値
許容範囲
許容範囲
Tcに対する
比率
波頭裁断波雷イ
ンパルス電圧
波頭部に振動が
重畳した波頭裁
断波雷インパル
ス電圧
波頭裁断波雷イ
ンパルス電圧
波頭裁断波雷イ
ンパルス電圧
波尾裁断波雷イ
ンパルス電圧
TDGにおける
波形識別記号
表A.2−裁断波雷インパルス電圧（LIC）の基準値及び許容範囲
17
C 61083-2：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表A.2−裁断波雷インパルス電圧（LIC）の基準値及び許容範囲（続き）
TDGにおける
波形識別記号
基準インパルス
波形の説明
基準値
波尾裁断波雷イ
ンパルス電圧
許容範囲
Up又はUt
に対する
比率 %
基準値
基準値
許容範囲
T1に対する
比率
基準値
許容範囲
許容範囲
Tcに対する
比率
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C 61083-2：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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基準インパルス
波形の説明
基準値
許容範囲
Upに対する
比率 %
基準値
基準値
許容範囲
Tpに対する
比率 %
許容範囲
T2に対する
比率 %
開閉インパルス
開閉インパルス
開閉インパルス
変圧器試験実測
波形
開閉インパルス
実測波形
TDGにおける
波形識別記号
表A.3−開閉インパルス電圧（SI）の基準値及び許容範囲
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C 61083-2：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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表A.4−インパルス電流（IC）の基準値及び許容範囲
TDGにおける
波形識別記号
基準インパルス
波形の説明
基準値
基準値
許容範囲
Ipに対する
比率
基準値
許容範囲
T1又はTdに
対する比率
許容範囲
T2又はTtに
対する比率
インパルス電流
インパルス電流
インパルス電流
インパルス電流
インパルス電流
文字“A”と文
字“h”とを組み
合わせたような
波形
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C 61083-2：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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基準インパルス
波形の説明
基準値
基準値
許容範囲
Ipに対する
比率
基準値
許容範囲
T1又はTdに
対する比率
許容範囲
T2又はTtに
対する比率
インパルス電流
インパルス電流
方形波インパル
ス電流
インパルス電流
TDGにおける
波形識別記号
表A.4−インパルス電流（IC）の基準値及び許容範囲（続き）
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C 61083-2：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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表A.5−振動性雷インパルス電圧（OLI）の基準値及び許容範囲
TDGにおける
波形識別記号
基準インパルス
波形の説明
基準値
振動性雷インパ
ルス電圧
基準値
許容範囲
Ipに対する
比率
基準値
許容範囲
T1又はTdに
対する比率
許容範囲
T2又はTtに
対する比率
振動性雷インパ
ルス電圧
振動性雷インパ
ルス電圧
振動性雷インパ
ルス電圧
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C 61083-2：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
基準インパルス
波形の説明
基準値
許容範囲
Upに対する
比率 %
基準値
基準値
許容範囲
Tpに対する
比率 %
許容範囲
T2に対する
比率 %
振動性開閉イン
パルス電圧
振動性開閉イン
パルス電圧
振動性開閉イン
パルス電圧
振動性開閉イン
パルス電圧
TDGにおける
波形識別記号
表A.6−振動性開閉インパルス電圧（OSI）の基準値及び許容範囲
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 61083-2：2016
附属書B
（参考）
不確かさ評価の代替手法
B.1
基準値の不確かさ
基準値は，持ち回りの試験に参加した者が所有する幾つかの独立したソフトウェアによって計算された
波形パラメータの平均値に基づいている。各ソフトウェアのアルゴリズムはIEC 60060-1，IEC 60060-3及
びIEC 62475に記載されている波形パラメータの定義に従っている。
基準値の拡張不確かさを表B.1〜表B.6に示す。パラメータの基準値は，独立したn個のソフトウェア
でそのパラメータを計算した結果の平均値である。
n
x
=
1
kx
n
k
=
1
∑
n回の独立な測定の実験標準偏差は，次の式によって計算する。
s
()
x
k
=
拡張不確かさは，次の式によって計算する。
U
x
=
t
×
s
()
x
k
n
ここで，t：t-分布で決定される信頼水準約95 %（k＝2）に対する係数。
注記 母平均から偏差が母標準偏差の3倍以上となるソフトウェアは，平均値及び拡張不確かさUx
の評価から除外した。
表A.1〜表A.6の許容範囲は，このようにして評価された標準不確かさより大きく，IEC 60060-2及びIEC
62475の測定システムによる測定の不確かさの規定値より小さくなければならない。表A.1〜表A.6の許容
範囲は，これらの範囲の中にある。
B.2
IEC 60060-2におけるソフトウェアの不確かさ
6.3の許容範囲による不確かさ評価法を用いる代わりに，基準値XREFと試験対象のソフトウェアによる
計算結果との差から不確かさ評価を行うことができる。
試験対象のソフトウェアが解析対象とするn個の波形に対する解析結果と基準値の偏差の最大値とを用
い，標準不確かさの第一の要素を評価する。
u
B71
=
1
n
max
3
i
=
1
x
i
−
x
REF
,
i
X
REF
,
i
オーバシュート率β'の場合は，次の式となる。
u
B 71
=
1
3
n
max
β−
'
i
β
'
REF
,
i
i
=
1
さらに，基準値の不確かさも評価する。この評価に用いる平均値（x），拡張不確かさ（Ux）及びサンプ
ル数（n）を表B.1〜表B.6に示す。表B.1〜表B.6で，拡張不確かさは信頼区間c＝95 %（k＝2）として評
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C 61083-2：2016
価されている。
基準値の標準不確かさは，次の式によって計算する。
u
B72
=
ここに，
n
1
iU
max
,x
i
2
=
1
Ux,i： XREF,iに対する拡張不確かさ
ソフトウェアの標準不確かさは，次の式によって計算する。
u
B7
=
B71
B72
25
C 61083-2：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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表B.1−雷インパルス電圧パラメータ基準値の拡張不確かさ（Ux）
平均電圧上昇率
%,絶対値 %,絶対値
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C 61083-2：2016
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%,絶対値
平均電圧上昇率
表B.2−裁断波雷インパルス電圧パラメータ基準値の拡張不確かさ（Ux）
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C 61083-2：2016
表B.3−開閉インパルス電圧パラメータ基準値の拡張不確かさ（Ux）
表B.4−インパルス電流パラメータ基準値の拡張不確かさ（Ux）
表B.5−振動波雷インパルス電圧パラメータ基準値の拡張不確かさ（Ux）
表B.6−振動波開閉インパルス電圧パラメータ基準値の拡張不確かさ（Ux）
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C 61083-2：2016
B.3
評価例
B.3.1 一般
裁断波雷インパルス電圧の波高値測定の不確かさにおける，波形解析ソフトウェアの寄与分を計算する。
附属書Aにおける関連波形はLIC-A1及びLIC-M1〜LIC-M5である。これらの波形に対する次の項目を表
B.7に示す。
− 附属書Aに示す基準値及び許容範囲
− 附属書Bに示す基準値の拡張不確かさ
− 試験対象の波形解析ソフトウェアによる波高値計算結果及びその基準値からの偏差
表B.7−不確かさ評価例
波形
基準値
（表A.2から）
許容範囲
（表A.2から）
基準値の
拡張不確かさ
（表B.2から）
評価結果
基準値からの
偏差
最大値
B.3.2 6.3の方法に基づく評価
試験対象の波形解析ソフトウェアによるパラメータの計算結果と基準値との差が許容範囲以下の場合，
ソフトウェアの標準不確かさは，次の式によって計算する。
u
B7
=
1
3
×
1 %
=
0.58 %
B.3.3 附属書Bの方法に基づく評価
基準値の不確かさ及び基準値からの偏差を用いて不確かさ評価を行うことで，B.3.2よりも不確かさが小
さくなり得る。B.3.1の例では，次の式で評価できる。
u
B71
=
u
B72
=
1
3
×
0.36 %
=
0.21 %
1
×
0.07 %
=
0.04 %
2
u
B7
=
B71
B72
=
=
0.21 %
参考文献 IEC 60050-704:1993，International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 704: Transmission
IEC 60050-807:1998，International Electrotechnical Vocabulary−Part 807: Digital recording of audio
and video signals
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C 61083-2：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 61083-2:2016 インパルス電圧及び電流試験に用いるソフトウェアに関す
る要求事項
(I)JISの規定
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
箇条番号
箇条ごと
の評価
追加
箇条番号
及び題名
3 用語及び
定義
内容
国際規格
番号
内容
JISとほぼ同じ
3.13 試験電圧関数
注記2
3A 雷イン
パルス電圧
パラメータ
追加
追加
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD…………… 国際規格を修正している。
技術的差異の内容
3.8（記録波形）〜3.15（規約試
験電圧波形）は，IEC 61083-2
にはない試験電圧関数の定義を
追加するとともに，IEC規格の
雷インパルス電圧の試験電圧値
算定の式を修正し，変更した。
IEC 60060-1の数式表示を数学
的に正しい形に変更した。ただ
し，技術的な内容には変更はな
い。
引用規格であるIEC 60060-1の
B.3のFigure B.1〜Figure B.3及
び7.1.11のFigure 6を抜粋・移
植した。
技術的な差異はない。
引用規格であるIEC 60060-1の用語
を，利用者に利用しやすいよう追加
した。
技術的な差異はない。
技術的な差異はない。
引用規格であるIEC 60060-1の雷イ
ンパルス電圧パラメータを，利用者
に利用しやすいよう追加した。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 61083-2:2013，MOD
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
