2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 61300-2-47：2012
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 概要······························································································································· 2
4 装置······························································································································· 2
4.1 試験槽 ························································································································· 2
4.2 供試品搭載ジグ ············································································································· 2
5 手順······························································································································· 2
5.1 一般事項 ······················································································································ 2
5.2 前処理 ························································································································· 2
5.3 初期試験及び初期測定 ···································································································· 3
5.4 試験 ···························································································································· 3
5.5 後処理 ························································································································· 3
5.6 最終試験及び最終測定 ···································································································· 3
6 試験の厳しさの程度 ·········································································································· 4
7 個別規格に規定する事項 ···································································································· 4
附属書A（参考）フィンランドの最低温度 ················································································ 5
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································· 6
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 61300-2-47：2012
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産業技術振興協会（OITDA）
及び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があ
り，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 61300の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 61300-1 第1部：通則
JIS C 61300-2-2 第2-2部：繰返しかん合試験
JIS C 61300-2-12 第2-12部：落下衝撃試験
JIS C 61300-2-14 第2-14部：光パワー損傷のしきい値試験
JIS C 61300-2-17 第2-17部：低温試験
JIS C 61300-2-18 第2-18部：高温試験
JIS C 61300-2-19 第2-19部：高温高湿試験（定常状態）
JIS C 61300-2-22 第2-22部：温度サイクル試験
JIS C 61300-2-45 第2-45部：浸水試験
JIS C 61300-2-46 第2-46部：湿熱サイクル試験
JIS C 61300-2-47 第2-47部：熱衝撃試験
JIS C 61300-2-48 第2-48部：温湿度サイクル試験
JIS C 61300-3-2 第3-2部：シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
JIS C 61300-3-3 第3-3部：挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
JIS C 61300-3-4 第3-4部：損失測定
JIS C 61300-3-6 第3-6部：反射減衰量測定
JIS C 61300-3-20 第3-20部：波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
JIS C 61300-3-26 第3-26部：光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定
JIS C 61300-3-28 第3-28部：過渡損失測定
JIS C 61300-3-30 第3-30部：多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置
測定
JIS C 61300-3-31 第3-31部：光ファイバ光源の結合パワー比測定
（2）
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JIS
日本工業規格
C 61300-2-47：2012
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−
基本試験及び測定手順−第2-47部：熱衝撃試験
Fiber optic interconnecting devices and passive components-
Basic test and measurement procedures-Part 2-47: Tests-Thermal shocks
序文
この規格は，2010年に第3版として発行されたIEC 61300-2-47を基に，対応国際規格を変更して作成し
た日本工業規格である。
なお，この規格で側線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一覧表に
その説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，光ファイバ接続デバイス及び光受動部品の熱衝撃に対する耐久性を測定する試験手順につ
いて規定する。この熱衝撃とは，実際上，二つの温度間の移し換え時間が非常に短いことを意味する。
注記1 関連する基本試験及び測定手順の通則は，JIS C 61300-1に規定する。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61300-2-47:2010，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures−Part 2-47: Tests−Thermal shocks（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 60068-2-14 環境試験方法−電気・電子−第2-14部：温度変化試験方法（試験記号：N）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-14，Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of
temperature（IDT）
JIS C 61300-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第1部：通則
注記 対応国際規格：IEC 61300-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 1: General and guidance（IDT）
IEC 61300-3-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination
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C 61300-2-47：2012
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概要
この試験方法は，JIS C 60068-2-14の試験Naを用いる。最初に，供試品を，規定した時間，一方の温度
に暴露する。次に，もう一方の温度に同じ時間暴露する。
手動試験及び自動試験の二つの方法があり，両方法は同等である。自動試験を推奨する。
4
装置
4.1
試験槽
試験槽は，次による。
a) 二つの槽又は急激な温度変化が可能な一つの槽を用いる。二つの槽を用いる場合は，低温及び高温の
二つの槽とする。二つの槽は，規定の時間内に一方の槽から他方の槽へ供試品を移すことができるよ
うに配置する。移し換えの方法は，手動又は自動のいずれの方法でもよい。
b) 供試品を置く槽内のいかなる場所の温度も，適正な試験温度環境に維持できるものとする。
c) 槽内の水蒸気量は，20 g/m3以下とすることが望ましい。
注記 水蒸気量20 g/m3以下のとき，温度60 ℃の標準大気圧下では，相対湿度は16 %以下に相当
する。
d) 高温槽及び低温槽の内壁温度は，絶対温度で表した規定の試験雰囲気温度に対し高温槽では3 %，低
温槽では8 %を超える差があってはならない。
e) 槽の容積及び風速は，供試品を入れた後，暴露時間の10 %以下の時間に槽内温度が，規定の許容差内
になるように設定する。
f)
槽内の空気は，供試品近傍で測定した気流速度が2 m/s以上となるよう循環させる。
4.2
供試品搭載ジグ
個別規格に規定がない場合，取付具又は支持具は，熱伝導の小さいものを用い，供試品を実質的に熱的
に絶縁する。数個の供試品を同時に試験する場合は，供試品間及び供試品と槽の内壁との間で空気の流れ
を妨げないように供試品を配置する。
5
手順
5.1
一般事項
次の手順に従い試験を行う。
試験中の光学特性の測定に関し，個別規格に規定がない場合，次の事項を適用する。
− 構成部品が光ファイバを含む場合は，試験中にモニタする各ポートについて試験槽内に1.5 mの光フ
ァイバを入れ込む。
− 個別規格に光学特性の試験中測定の規定がある場合は，測定を，高温暴露時間中又は低温暴露時間中
に，10分間以下の間隔で行う。
− 一方の槽から他方の槽へ供試品を移す間に，光ファイバの機械的な動きの影響が試験の記録に現れる
ことは望ましくない。したがって，供試品の移動に伴う光ファイバの曲がりが光伝搬に影響しないよ
うに，光ファイバを配置する。確認のため，供試品に用いている光ファイバと同等の光ファイバを供
試品に沿って配置し，参照用として試験を通してモニタする。
5.2
前処理
別途規定がない場合，供試品を2時間以上JIS C 61300-1に規定の標準的環境条件に放置する。製造業者
の指示に従い，供試品のコネクタなどの光学結合部を清掃する。
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C 61300-2-47：2012
5.3
初期試験及び初期測定
個別規格に規定する初期試験及び初期測定を行う。
5.4
試験
試験の手順は，次による。
a) 供試品を，試験槽の通常の試験位置に置き，測定装置に接続する。
b) 供試品を，図1に示す温度変化サイクル環境におく。
c) 低温槽の槽内温度をTAに調整し，その中に供試品を入れる。低温槽の槽内温度を規定した暴露時間t1
の間，低温TAに維持する［t1は，4.1 e)に規定する槽内温度が安定するまでの時間を含む。］。
d) 供試品を，低温槽から高温槽に3分間以下の移し換え時間t2で移動する。ただし，自動2槽式試験機
の場合は，移し換え時間は30秒間未満とする。この移し換え時間は，供試品を一方の槽から取り出す
時間，移し換えのために試験室の周囲温度にある時間及び他方の槽に入れる時間からなる。
e) 高温槽の槽内温度を規定した暴露時間t1の間，高温TBに維持する。
f)
次のサイクルのために，供試品を移し換え時間t2で低温槽に移す。
注記 暴露時間は，供試品を槽に入れた瞬間からとする。
1サイクルは，二つの暴露時間t1と二つの移し換え時間t2とからなる（図1参照）。
A＝第1サイクルの開始時点
B＝第1サイクルの終了時点及び第2サイクルの開始時点
注記 破線のカーブは，4.1 e)を参照。
図1−温度変化サイクル
5.5
後処理
必要がある場合，供試品を乾燥する。供試品を室温で2時間放置する。
5.6
最終試験及び最終測定
試験後，全ての固定器具を外す。製造業者の指示に従い，供試品のコネクタなどの光学結合部を清掃す
る。個別規格に規定した最終試験及び最終測定を行う。規定がある場合は，IEC 61300-3-1に従い供試品の
外観検査を行い，その他規定する測定を行って，恒久的な損傷がないことを確認する。
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試験の厳しさの程度
試験の厳しさの程度は，低温及び高温の温度，各温度の暴露時間，移し換え時間，並びにサイクル数の
組合せで規定する。
厳しさの程度を，次に示す。
− 高温度及び低温度：
供試品の使用条件によって，次のいずれかを選択する。
a) 供試品使用温度範囲内
− 供試品の使用温度の上限及び下限
ただし，高温度と低温度との差は100 ℃を超えてはならない。
− 供試品の使用温度の上限及び下限を超えない範囲内
ただし，高温度と低温度との差は100 ℃とする。
b) 100 ℃及び0 ℃
注記 対応国際規格の記載が不明瞭であるため，修正した。
− 暴露時間：
t1≧30 min
− 移し換え時間
− 手動試験： t2≦3 min
− 自動試験： t2＜0.5 min
− サイクル数： 20
7
個別規格に規定する事項
次の事項は，それぞれの事項の必要がある場合，個別規格に規定する。
− 手動試験又は自動試験
− 初期試験項目，初期測定項目及び初期性能要求
− 試験中の試験項目，試験中の測定項目及び試験中の性能要求
− 最終試験項目，最終測定項目及び最終性能要求
− この規格で規定する試験手順からの変更点
− 追加合否判定基準
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附属書A
（参考）
フィンランドの最低温度
IEC 61753-1の環境カテゴリ（O，E，A及びG）における最低温度は，フィンランドでの−45 ℃である。
この温度範囲は，屋外にあるキャビネットに設置する光受動部品，及び，マンホール，地上又は電柱に
あるクロージャ内に取り付けた光ファイバ接続デバイスに特に用いる。
参考文献 IEC 61753-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components performance standard−Part
1: General and guidance for performance standards
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
箇条番号
及び題名
6試験の
厳しさの
程度
内容
高温度及び低温度
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
箇条番号
内容
温度範囲で記載
箇条ごと
の評価
変更
JIS C 61300-2-47:2012 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測
定手順−第2-47部：熱衝撃試験
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
技術的差異の内容
IEC規格の温度範囲：ΔT＝
100 ℃を，JISは高温度及び低
温度として，供試品の使用条件
によって場合分けし，記述を明
確にした。
IEC規格の記述が不明瞭であるた
め，実使用状況を考慮し修正した。
今後IECに修正提案する。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 61300-2-47:2010，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD…………… 国際規格を修正している。
