2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 8121-2-2：2009 (IEC 60838-2-2：2006)
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般······························································································································· 1
2 用語及び定義 ··················································································································· 2
3 一般的要求事項 ················································································································ 2
4 試験に対する共通条件 ······································································································· 2
5 標準の定格 ······················································································································ 2
6 分類······························································································································· 3
7 表示······························································································································· 3
8 感電に対する保護 ············································································································· 3
9 端子······························································································································· 3
10 保護接地 ······················································································································· 3
11 構造 ····························································································································· 3
12 耐湿性，絶縁抵抗及び耐電圧 ···························································································· 3
13 機械的強度 ···················································································································· 3
14 ねじ，導電部及び接続 ····································································································· 3
15 沿面距離及び空間距離 ····································································································· 3
16 耐久性 ·························································································································· 3
17 耐熱性及び耐火性 ··········································································································· 4
18 過度の残留ストレス（自然割れ）及びさび（錆）に対する抵抗力············································· 4
19 振動 ····························································································································· 4
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 8121-2-2：2009 (IEC 60838-2-2：2006)
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本照明器具工業会(JLA)及び財団
法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業
標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS C 8121の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 8121-1 第1部：一般要求事項及び試験
JIS C 8121-2-1 第2-1部：S14形ランプソケットに関する安全性要求事項
JIS C 8121-2-2 第2-2部：プリント回路板ベースLEDモジュール用コネクタに関する安全性要求事項
（2）
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JIS
日本工業規格
C 8121-2-2：2009
(IEC 60838-2-2：2006)
ランプソケット類−第2-2部：プリント回路板
ベースLEDモジュール用コネクタに関する
安全性要求事項
Miscellaneous lampholders-Part 2-2: Particular requirements-
Connectors for printed circuit board based LED-modules
序文
この規格は，2006年に第1版として発行されたIEC 60838-2-2を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
一般
1.1
適用範囲
この規格は，プリント回路板（PCB）ベースLEDモジュールに用いられる各種の組込み用コネクタ（LED
モジュール間の接続を含む。以下，LEDモジュール用コネクタという。）に適用する。この規格は，引用
されるJIS C 8121-1の関連する各条項と併せて読まなければならない。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60838-2-2:2006，Miscellaneous lampholders−Part 2-2: Particular requirements−Connectors for
LED-modules (IDT)
なお，対応の程度を表す記号(IDT)は，ISO/IEC Guide 21に基づき，一致していることを示す。
1.2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0025:1988 環境試験方法（電気・電子）温度変化試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-14:1984，Environmental testing−Part 2: Tests. Test N: Change of
temperature (MOD)
JIS C 0664:2003 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部：原理，要求事項及び試験
注記 対応国際規格：IEC 60664-1:1992，Insulation coordination for low-voltage equipment Part 1:
Principles, requirements and tests及びAmendment 1 (2000) (MOD)
JIS C 8105-1 照明器具−第1部：安全性要求事項通則
注記 対応国際規格：IEC 60598-1，Luminaires−Part 1: General requirements and tests (MOD)
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C 8121-2-2：2009 (IEC 60838-2-2：2006)
JIS C 8121-1 ランプソケット類−第1部：一般要求事項及び試験
注記 対応国際規格：IEC 60838-1，Miscellaneous lampholders−Part 1: General requirements and tests
(MOD)
JIS C 60068-2-6:1999 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-6:1995，Environmental testing−Part 2: Tests−Test Fc: Vibration
(sinusoidal) (IDT)
JIS C 60068-2-30:1988 環境試験方法（電気・電子）温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）試験方
法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-30，Environmental testing Part 2-30: Tests−Test Db: Damp heat,
cyclic (12 h + 12 h cycle) (IDT)
IEC 60061，Lamp caps and holders together with gauges for the control of interchangeability and safety
2
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 8121-1によるほか，次による。
2.1
発光ダイオード，LED (light emitting diode)
電子流によって励起されたとき，光放射を放出するp-n接合をもつ固体デバイス。
2.2
LEDモジュール (LED module)
光源として提供されるユニット。1個又は複数のLEDのほかに光学的，機械的，電気的及び電子的構成
要素を含んでもよい（検討中）。
3
一般的要求事項
JIS C 8121-1の3.（一般的要求事項）による。
注記 JIS C 8121-1を引用する場合は，ランプソケットをLEDモジュール用コネクタと読み替える。
以下，同様とする。
4
試験に対する共通条件
JIS C 8121-1の4.（試験に対する共通条件）によるほか，次による。
4.1 16.1，16.2及び箇条19の試験は，各々3個の追加試料で実施する。
5
標準の定格
5.1 最大定格電圧は，交流50 Vとする。
注記 相当する直流120 Vは，検討中である。
5.2 最小定格電流は，10 mA，最大定格電流は，3 Aとする。
5.3 定格動作温度範囲は，−30 ℃〜＋65 ℃とする。
屋内使用に限定する場合を除いて，最低温度は，LED，LEDモジュール，LEDモジュール用コネクタ，
制御装置などを含むシステム全般に適用する。LEDモジュール用コネクタを組み込んだ照明器具の注意事
項及び記号は，JIS C 8105-1の第3章（表示）及び図1（シンボル）による。
注記 自動車工業では，最低温度はほとんどの場合，−40 ℃が要求される。
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C 8121-2-2：2009 (IEC 60838-2-2：2006)
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分類
JIS C 8121-1の5.（分類）による。
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表示
JIS C 8121-1の6.（表示）による。小さい部品では，文字及び記号の高さを小さくしてもよい。
8
感電に対する保護
JIS C 8121-1の7.（感電に対する保護）による。
9
端子
JIS C 8121-1の8.（端子）による。
10 保護接地
JIS C 8121-1の9.（保護接地）による。
11 構造
JIS C 8121-1の10.（構造）によるほか，次による。
11.1 接続線の最小断面積は，0.22 mm2とする。フラットケーブル（リボンケーブルとも呼ばれる。）を
使用する場合は，最小断面積を0.09 mm2とする。5.2の定格電流を考慮して，断面積に許容される最大電
流に注意しなくてはならない。
12 耐湿性，絶縁抵抗及び耐電圧
JIS C 8121-1の11.（耐湿性，絶縁抵抗及び耐電圧）による。
13 機械的強度
JIS C 8121-1の12.（機械的強度）による。
14 ねじ，導電部及び接続
JIS C 8121-1の13.（ねじ，導電部及び接続）による。
15 沿面距離及び空間距離
JIS C 8121-1の14.（沿面距離及び空間距離）によるほか，次による。
定格電圧が50 V未満のLEDモジュール用コネクタにおける沿面距離及び空間距離は，JIS C 0664を適
用することができる。
16 耐久性
JIS C 8121-1の15.（耐久性）によるほか，次による。
16.1 LEDモジュール用コネクタは，急激な温度変化の下でも，モジュールへの良好な電気的接触を維持
しなければならない。適否は，次の試験によって判定する。
商品化されたLEDモジュール，又はIEC 60061によるプリント回路板口金がある場合は，それを挿入し
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C 8121-2-2：2009 (IEC 60838-2-2：2006)
て，コネクタの接触抵抗を16.3によって測定する。接触抵抗には，接続電線の抵抗値及び接触部との接触
抵抗値を含む。以下，同様とする。
次に，コネクタ及びモジュールは，次の内容によるJIS C 0025の2.（試験Na：温度急変）の温度変化
試験Naを実施する。試料は，定格動作温度範囲の最小温度と最大温度間との温度変化を100サイクル加
える試験を実施する。二つの温度にさら（曝）す時間は，各30分ずつとする。
標準の低温と高温との移し替え時間は，2分間以上3分間以内とする。自動試験装置を使用する場合の
移し替え時間(t2)は，30秒以下でもよい。
試験中，コネクタは，特に電気的接触について継続使用を損なうような変化をしてはならない。
温度変化試験後，コネクタは，試験槽から取り出し12時間放置する。この間，LEDモジュールは，挿
入したままとする。その後，そのままの状態でコネクタの接触抵抗を，16.3によって再度測定する。
16.2 LEDモジュール用コネクタは，高湿環境においても，モジュールとの良好な電気的接触を維持しな
ければならない。適否は，次の試験によって判定する。
商品化されたLEDモジュール，又はIEC 60061によるプリント回路板口金がある場合は，それを挿入し
て，コネクタの接触抵抗を16.3によって測定する。
次に，コネクタ及びモジュールは，次の内容によるJIS C 60068-2-30の温湿度サイクル試験を実施する。
試料は，JIS C 60068-2-30の方法2によって最高温度55 ℃で6サイクルの試験を実施する。
試験中，コネクタは，特に電気的接触について継続使用を損なうような変化をしてはならない。
温湿度サイクル試験後，コネクタは試験槽から取り出し12時間放置する。この間，LEDモジュールは
挿入したままとする。その後，そのままの状態でコネクタの接触抵抗を16.3によって再度測定する。
16.3 コネクタの接触抵抗の測定は，次による。
− コネクタの定格電流と同等の電流を，抵抗測定に十分な時間通してもよい。
− 接続線付きのコネクタの場合，コネクタ出口から5 mm離れた位置の接続線間の抵抗を測定する。
− 接続線のないコネクタの場合，適合電線の最小寸法の電線を接続する。コネクタ出口から5 mm離れ
た位置の電線間の抵抗を測定する。
測定は，6 V以下の交流回路で行う。
測定した抵抗値は，次の値を超えてはならない。
0.045 Ω＋(A×n)
ここに，n＝2の場合 A＝0.01 Ω
n＞2の場合 A＝0.015 Ω
nは，測定に含まれるコネクタとプリント回路板間との接点の数
17 耐熱性及び耐火性
JIS C 8121-1の16.（耐熱性及び耐火性）による。
18 過度の残留ストレス（自然割れ）及びさび（錆）に対する抵抗力
JIS C 8121-1の17.［過度の残留ストレス（自然割れ）及びさび（錆）に対する抵抗力］による。
19 振動
19.1 LEDモジュール用コネクタは，通常使用時の振動の影響を受けても，モジュールとの良好な電気的
接触を維持しなければならない。適否は，次の試験によって判定する。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 8121-2-2：2009 (IEC 60838-2-2：2006)
商品化されたLEDモジュール，又はIEC 60061によるプリント回路板口金がある場合は，それを挿入し
て，製造業者の指示に従って固定する。
次に，コネクタ及びモジュールは，次の内容によるJIS C 60068-2-6の振動試験を実施する。
試料は，10 Hz〜500 Hzの振動周波数範囲で5掃引サイクル，各軸2時間の試験を実施する。加速度振
幅は50 m/s2とする。
試験中，コネクタは，特に電気的接触について継続使用を損なうような変化をしてはならない。
振動試験終了後，試料を取り外し，コネクタの接触子と挿入したモジュールとが電気的に接触している
ことを確認する。
注記 対応国際規格では，加速度振幅の単位にgを用いている。この規格では，国際単位系（SI）を
用いるため，1 g＝10 m/s2に丸めて換算した。
