JIS C 8201-5-1 : 2010 低圧開閉装置及び制御装置－第５部：制御回路機器及び開閉素子

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格

JIS

C 8201-5-1：2010

(IEC 60947-5-1：2003/Amd.1：2009)

低圧開閉装置及び制御装置−

第5部：制御回路機器及び開閉素子−

第1節：電気機械式制御回路機器

（追補1）

Low-voltage switchgear and controlgear-

Part 5-1: Control circuit devices and switching elements-

Electromechanical control circuit devices

（Amendment 1）

序文

この追補は，IEC 60947-5-1:2003に対して2009年に発行されたAmendment 1について，技術的内容及び

構成を変更することなくJIS C 8201-5-1:2007の追補1として作成したものである。

JIS C 8201-5-1:2007を次のように改正する。

1.1（適用範囲）の本文の第6段落を，次の文に置き換える。

この規格は，JIS C 4523及びJIS C 4540-1が適用するリレー，又は家庭用及び類似目的の自動電気制御

機器を含まない。

1.2（引用規格）に，次の引用規格を追加する。

JIS C 4540-1 電磁式エレメンタリ　リレー−第1部：一般要求事項

注記　対応国際規格：IEC 61810-1:2008，Electromechanical elementary relays−Part 1: General

requirements（IDT）

JIS C 8201-1を，次に置き換える。

IEC 60947-1:2007，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 1: General rules

注記 JIS C 8201-1:2007の対応国際規格は，IEC 60947-1:2004であり，この規格の対応国際規格で

あるIEC 60947-5-1:2009ではIEC 60947-1:2007を引用規格としているため，IEC規格を引用

する。

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C 8201-5-1：2010 (IEC 60947-5-1：2003/Amd.1：2009)

JIS C 8201-4-1の注記を，次に置き換える。

注記　対応国際規格：IEC 60947-4-1:2000，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 4-1: Contactors

and motor-starters−Electromechanical contactors and motor-starters並びにAmendment 1 (2002) 及

びAmendment 2 (2005)（MOD）

次の引用規格を追加する。

JIS C 8201-5-5 低圧開閉装置及び制御装置−第5部：制御回路機器及び開閉素子−第5節：機械的ラ

ッチング機能をもつ電気的非常停止機器

注記　対応国際規格：IEC 60947-5-5:2005，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-5: Control

circuit devices and switching elements−Electrical emergency stop device with mechanical latching

function（IDT）

JIS C 60068-2-30を，次に置き換える。

IEC 60068-2-30:2005，Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp heat, cyclic (12 h + 12 h

cycle)

JIS C 61000-4-3を，次に置き換える。

IEC 61000-4-3:2008，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and measurement techniques−

Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test

JIS C 61000-4-5を，次に置き換える。

JIS C 61000-4-5:2009 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験

注記　対応国際規格：IEC 61000-4-5:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and

measurement techniques−Surge immunity test（IDT）

JIS C 61000-4-6を，次に置き換える。

IEC 61000-4-6:2008，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and measurement techniques−

Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields

JIS C 61000-4-11を，次に置き換える。

JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性−第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び

電圧変動に対するイミュニティ試験

注記　対応国際規格：IEC 61000-4-11:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing and

measurement techniques−Voltage dips，short interruptions and voltage variations immunity tests

（IDT）

次の引用規格を追加する。

IEC 60417 Graphical symbols for use on equipment

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C 8201-5-1：2010 (IEC 60947-5-1：2003/Amd.1：2009)

IEC 61140を，次に置き換える。

IEC 61140:2001，Protection against electric shock−Common aspects for installation and equipment及び

Amendment 1 (2004)

CISPR 11:1997を，次に置き換える。

CISPR 11:2003，Industrial, scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment−Electromagnetic

disturbance characteristics−Limits and methods of measurement並びにAmendment 1:2004及び

Amendment 2:2006

5.1（情報の種類）のg) を，次に置き換える。

g) 定格インパルス耐電圧（4.3.1.3参照）。

5.1（情報の種類）のl) を，次に置き換える。

条件付短絡電流。

5.2.2（端子の識別及び表示）の本文を，次の文に置き換える。

IEC 60947-1の7.1.8.4による。

5.2.3（機能表示）の本文の最後に，次の文を追加する。

図記号は，IEC 60417に従わなければならない。

5.2.4（非常停止）の本文を，次の文に置き換える。

機械的ラッチング機能をもつ非常停止機器の操作部の形状，色，背景色，及びラッチングを解除するた

めの操作方法表示は，JIS C 8201-5-5の4.2に従わなければならない。

5.2.5.2（動作ダイアグラム用の端子表示）の本文の最後に，次の文を追加する。

附属書Mを参照。

7.1（構造に関する要求事項）の本文を，次の文に置き換える。

IEC 60947-1の7.1によるほか，次による。ただし，IEC 60947-1の7.1.2，7.1.3，7.1.7，7.1.9及び7.1.13

を除く。

7.1.3（空間距離及び沿面距離）の本文を，次の文に置き換える。

空間距離及び沿面距離の最小値は，IEC 60947-1の表13及び表15による。

7.1.4.5（非常停止）の注記を，次に置き換える。

注記　ラッチング機能をもつ非常停止装置についての追加要求は，JIS C 8201-5-5による。

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C 8201-5-1：2010 (IEC 60947-5-1：2003/Amd.1：2009)

7.1.6［断路（アイソレーション）に適した制御スイッチの条件］の本文の第1段落を，次の文に置き換え

る。

断路（アイソレーション）用の制御スイッチは，直接開路動作する手動装置でなければならず（附属書

K参照），開路の位置での断路機能を保有しなければならない（IEC 60947-1の2.1.19及び7.1.7参照）。

8.3.2.1（一般要求事項）の本文の第2段落を，次の文に置き換える。

試験は，リニア動作のスイッチについては8.3.2.1 a) の要求事項，ロータリスイッチについては8.3.2.1 b)

又は8.3.2.1 c) の要求事項に適合した操作試験機によって実施しなければならない。

8.3.2.1（一般要求事項）のb) の後に，次のc) を追加する。

c) 動き制限ロータリスイッチは，1秒間に1〜4回の切換えで操作しなければならない。

8.3.3.5.2（正常条件における開閉素子の投入及び遮断容量）の本文の第2段落の4番目の“−”を，次の

文に置き換える。

− 10秒間隔（又は製造業者が指定する10秒以下の間隔）で5 000回動作

8.3.4.3（試験回路及び試験条件）の本文の第2段落を，次の文に置き換える。

試験回路の負荷インピーダンスは，推定電流が1 000 Aか，又は製造業者が指定する100 A以上の電流

値になるように調整した抵抗器と空心インダクタとを直列につないだ回路とし，力率0.5〜0.7で定格使用

電圧とする。

図4−接点素子の例（模式図）のe)，説明の欄の文の最後に，次の注記を加える。

注記　複数の電気的に分離された接点構成もZbに含まれる。

附属書D（規定）（制御回路機器の空間距離及び沿面距離）の表題及び本文を，次のように置き換える。

附属書D（空欄）

H.7.1.2［最小動作電流（Im）］の注記を，次の文に置き換える。

注記　定格についての最小動作電流を，表A.2で規定している。

表H.1−イミュニティ試験を，次の表に置き換える。

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C 8201-5-1：2010 (IEC 60947-5-1：2003/Amd.1：2009)

表H.1−イミュニティ試験

試験形式

要求試験レベル

受入れ基準

静電気放電

8 kV（気中放電）

又は

4 kV（気中放電）

放射無線周波数電磁界

電気的ファーストトランジェント／バースト

サージ（1.2 / 50 μs - 8 / 20 μs）

2 kV（5 kHz 電源ポート）a)

1 kV（5 kHz 信号ポート）b)

2 kV（対地）

1 kV（線間）

電導性無線周波数妨害（150 kHz〜80 MHz）

電源周波数磁界

電圧ディップ

クラス2 e) f)

0 %で0.5サイクル

クラス2 e) f) g)

0 %で1サイクル

70 %で25 / 30サイクル

電圧遮断

電源高調波

クラス2 e) f) g)

0 %で250 / 300サイクル

要求事項なしh)

クラス3 e) f)

0 %で0.5サイクル

クラス3 e) f) g)

0 %で1サイクル

40 %で10 / 12サイクル

70 %で25 / 30サイクル

80 %で250 / 300サイク

ル

クラス3 e) f) g)

0 %で250 / 300サイクル

注a) 電源ポート：開閉素子又は組み合わされた装置の操作に必要な一次電力を流す導体又はケーブルに接続する

ポイント。

b) 信号ポート：伝送データ又は信号用の情報を搬送する導体又はケーブルを開閉素子に接続するポイント。

c) 定格電圧直流24 V以下のポートには適用しない。

d) 電源周波数磁界に影響されやすい機器を含む設備だけに適用する。

e) クラス2は，共通結合点及び一般的な工業環境における工場内共通結合点の環境に適用する。

クラス3は，工業環境の工場内共通結合点だけに適用する。このクラスは，負荷の主要な部分に電力変換

装置を通じて給電する場合，溶接機がある場合又は大形電動機を頻繁に起動する場合には考慮する。

製造業者は，適切なクラスを指定する。

f) 要求試験レベルの割合は，動作時用の電圧の割合を意味している。例えば，0 %が0 Vを意味する。

g) “/”の表記は，前の値は50 Hzの試験に対し，後ろの値は60 Hzの試験に対しての継続時間を意味している。

h) 要求試験レベルは，検討中である。

J.3（分類）の細別の末尾に，次の細別を追加する。

− 光源の種類（例：フィラメントランプ，LED）

J.7.1.13（レンズの色）の細分箇条を削除する。

K.4.3.1.2（定格絶縁電圧）の本文を，次の文に置き換える。

接点素子の定格絶縁電圧の最小値は，250 Vとする。

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C 8201-5-1：2010 (IEC 60947-5-1：2003/Amd.1：2009)

K.4.3.2.1（開放熱電流）の本文を，次の文に置き換える。

接点素子の開放熱電流の最小値は，2.5 Aとする。

K.5.2.7（直接開路動作機能）の本文の最後に，次を追加する。

図記号は，JIS C 0617-7の07-01-09 (1999)による。

K.8.3.4.2.1（条件付短絡状態の検証）の最初の段落を，次の文に置き換える。

試験は，8.3.4.2によって行う。電流を除いて，付加の開閉機器ではなく直接開路動作機能付接点素子に

よって行い，単相回路の同じ接点素子で3回電流を投入する。

K.8.3.4.4.1（試験後の操作能力）

IEC 60947-5-1 Ed.3のAmendment 1では，この箇条があるが，JIS C 8201-5-1:2007で既に対応済みのた

め，本文に変更はない。

L.8.4（リンクドコンタクトのための特別な試験）のa) 3) の注記を，次に置き換える。

注記　この試験は，IEC 60947-1の表13による最小ギャップの0.6 mmを保証する。

L.8.4（リンクドコンタクトのための特別な試験）のb) 4) の注記を，次に置き換える。

注記　この試験は，IEC 60947-1の表13による最小ギャップの0.6 mmを保証する。

附属書Lの後に，次の附属書Mを追加する。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 8201-5-1：2010 (IEC 60947-5-1：2003/Amd.1：2009)

附属書M

（規定）

端子表示制御回路機器のための識別数字及び識別文字

M.1 適用範囲

この附属書は，構造にかかわりなく制御スイッチ及び接触器形リレーのための端子表示である。

端子表示がこの規格の要求事項，又は通常の使用である場合，この附属書を利用する。

M.2 端子表示方法

M.2.1 一般

この附属書の端子表示は，原則として，2けたの数字を基本とする。

M.2.2 機能数字

IEC 60947-1のL.3.2.1を適用する。

M.2.3 連続数字

10の位の数字は，開閉機能と無関係に（01Eで示す接触器形リレー及び01で示す制御スイッチを除い

て）1から始まる連続番号である。

同じ接点に属している端子は，同じ連続数字を表示する。

10個の接点素子を備えている接触器形リレーは，10の代わりに0を使用する。

製造業者によって追加情報が与えられた場合又は使用者によって明確に数字が付加されている場合だけ，

連続数字は端子から省略してもよい。

装置

ダイヤグラム

ダイアグラム

注記　例で示した機能数字の前の“．”は，単にけた関係を示すだけであり，実際に使う必要はない。

M.2.4 番号の付け方

番号は，装置の左から右に連続して付ける。段状の端子を備えた装置については，最も近い段から始め

る。

例 62 Eを表すいろいろな構造の接触器形リレーに関する接点番号の付け方。

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C 8201-5-1：2010 (IEC 60947-5-1：2003/Amd.1：2009)

上側又は前側の段

下側又は後側の段

遮断接点

投入接点

連続する接点セルの間に空白セルを入れてはならない。

上側又は前側の段

下側又は後側の段

M.3 識別数字及び識別文字

M.3.1 一般

制御スイッチの接点素子の数及び種類は，識別数字によって示す。接触器形リレーの接点は，識別数字

及び識別文字によって示す。

M.3.2 識別数字

識別数字の第1のけたは，投入接点素子の数，及び第2のけたは遮断接点素子の数を規定する。第3の

けたは，制御スイッチにおいて切換接点素子の数を規定する。

M.3.3 識別文字

識別文字は，端子表示と相互に関連する接触器形リレーの接点素子の配置を表す。

識別文字Eで表す接触器形リレーの配置を，M.5に規定する。

識別文字X，Y又はZを，M.6に規定する。

新しい設計では，識別文字Eで表す配置を推奨する。

M.4 一連番号の端子

同一の識別数字をもつ制御スイッチの端子表示を，表M.1に規定する。

制御スイッチの接点素子の配置は，表M.1の図に示したものに対応する必要はない。

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C 8201-5-1：2010 (IEC 60947-5-1：2003/Amd.1：2009)

表M.1−制御スイッチの図

接点素子

識

別

数

字

接点素子

識

別

数

字

接点素子

識

別

数

字

接点素子

識

別

数

字

識

別

数

字

M.5 識別文字Eの接触器形リレー

同一の識別数字及び識別文字Eをもつ接触器形リレーの接点素子の一連番号を，表M.2に規定する。

この結果として，一連番号が配置番号となり，接点を数えることによって接触器形リレーの接点素子端

子を素早く見つけることができる。

接点素子

識

別

数

文

字

接点素子

識

別

数

文

字

接点素子

識

別

数

文

字

接点素子

識

別

数

文

字

接点素子

コ

イ

ル

識

別

数

文

字

コ

イ

ル

識

別

数

文

字

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 8201-5-1：2010 (IEC 60947-5-1：2003/Amd.1：2009)

表M.2−識別文字Eで指定される接触器形リレーのダイアグラム

接点素子

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 8201-5-1：2010 (IEC 60947-5-1：2003/Amd.1：2009)

M.6 識別文字X，Y，Zで指定する接触器形リレー

M.6.1 識別文字Zで指定する接触器形リレー

機器内の接点素子の配置（端子記号は除く。）がM.5の規定と異なる場合，機器は識別文字Eに代わっ

て識別文字Zで指定する。

44Z

M.6.2 識別文字Xで指定する接触器形リレー

機器内の接点素子の位置及び端子記号の両方がM.5の規定と異なる場合，機器は識別文字Eに代わって

識別文字Xで指定する。

そのような機器も，M.2及びM.3の規定を適用する。

44X

M.6.3 識別文字Yで指定する接触器形リレー

表M.3に従った接点素子と端子記号の組合せで構成する機器は，識別文字Eに代わって識別文字Yで

指定する。

表M.3−識別文字Yで指定される接触器形リレーのダイアグラム

接点素子

識　識

別　別

数　文

字　字

接点素子

識　識

別　別

数　文

字　字

識　識

別　別

数　文

字　字