日本産業規格

JIS

H 0615：1996

フォトルミネッセンスによる

シリコン結晶中の不純物濃度測定方法

正　誤　票

区分

本体

位

置

誤

正

6.2 図5

（スペクトルに

付記された左か

ら2番目の記

号）

平成18年4月3日作成