2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
H 1367：2005
白
紙
（4）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
H 1367：2005
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本アルミニウム協会(JAA)／財団
法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業
標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任をもたない。
（1）
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目
次
ページ
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 一般事項 ························································································································ 1
4. 定量方法の区分 ··············································································································· 1
5. アセチルアセトン抽出原子吸光法 ······················································································· 2
5.1 要旨 ···························································································································· 2
5.2 試薬 ···························································································································· 2
5.3 試料はかりとり量 ·········································································································· 2
5.4 操作 ···························································································································· 2
5.5 空試験 ························································································································· 3
5.6 検量線の作成 ················································································································ 3
5.7 計算 ···························································································································· 3
6. ICP発光分光法（A法） ··································································································· 3
6.1 要旨 ···························································································································· 3
6.2 試薬 ···························································································································· 3
6.3 装置及び測定条件 ·········································································································· 3
6.4 試料はかりとり量 ·········································································································· 4
6.5 操作 ···························································································································· 4
6.6 空試験 ························································································································· 4
6.7 検量線の作成 ················································································································ 4
6.8 計算 ···························································································································· 5
6.9 許容差 ························································································································· 5
7. ICP発光分光法（B法） ··································································································· 5
7.1 要旨 ···························································································································· 5
7.2 試薬 ···························································································································· 5
7.3 装置及び測定条件 ·········································································································· 5
7.4 試料はかりとり量 ·········································································································· 6
7.5 操作 ···························································································································· 6
7.6 空試験 ························································································································· 6
7.7 検量線の作成 ················································································································ 6
7.8 計算 ···························································································································· 6
7.9 許容差 ························································································································· 6
8. アセチルアセトン抽出分離ICP発光分光法 ·········································································· 7
8.1 要旨 ···························································································································· 7
8.2 試薬 ···························································································································· 7
（2）
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H 1367：2005
8.3 装置及び測定条件 ·········································································································· 7
8.4 試料はかりとり量 ·········································································································· 8
8.5 操作 ···························································································································· 8
8.6 空試験 ························································································································· 8
8.7 検量線の作成 ················································································································ 8
8.8 計算 ···························································································································· 9
8.9 許容差 ························································································································· 9
（3）
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日本工業規格
JIS
H 1367：2005
アルミニウム及びアルミニウム合金中の
ベリリウム定量方法
Methods for determination of beryllium in aluminium and aluminium alloys
1. 適用範囲 この規格は，アルミニウム及びアルミニウム合金中のベリリウム定量方法について規定す
る。
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS H 1307 アルミニウム及びアルミニウム合金の誘導結合プラズマ発光分光分析方法
JIS H 1351 アルミニウム及びアルミニウム合金の分析方法通則
JIS K 0116 発光分光分析通則
JIS K 0121 原子吸光分析通則
JIS Z 8402-6 測定方法及び測定結果の精確さ（真度及び精度）−第6部：精確さに関する値の実用的
な使い方
3. 一般事項 分析方法に共通な一般事項は，JIS H 1351，JIS K 0116及びJIS K 0121による。
4. 定量方法の区分 ベリリウムの定量方法は，次のいずれかによる。
a) アセチルアセトン抽出原子吸光法 この方法は，ベリリウム含有率0.000 02 ％(質量分率) 以上
0.005 0 ％(質量分率) 以下の試料に適用する。
b) ICP発光分光法（A法）この方法は，アルミニウム含有率99.0 ％(質量分率) 以上で，ベリリウム含
有率0.001 0 ％(質量分率) 以上0.10 ％(質量分率) 以下の試料に適用する。
c) ICP発光分光法（B法）この方法は，アルミニウム含有率99.0 ％(質量分率) 未満で，ベリリウム含
有率0.001 0 ％(質量分率) 以上0.10 ％(質量分率) 以下の試料に適用する。
d) アセチルアセトン抽出分離ICP発光分光法 この方法は，ベリリウム含有率0.000 02 ％(質量分率) 以
上0.001 0 ％(質量分率) 以下の試料に適用する。
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H 1367：2005
5. アセチルアセトン抽出原子吸光法
5.1
要旨 試料を水酸化ナトリウムで分解し，更に塩酸と過酸化水素とを加えて完全に分解する。エチ
レンジアミン四酢酸二水素二ナトリウム二水和物（以下，EDTA2Naという。）を加え，煮沸した後，アセ
チルアセトン及び酢酸ナトリウムを加える。pHを調節した後，4-メチル-2-ペンタノンでベリリウムアセチ
ルアセトン錯体を抽出し，有機相を原子吸光光度計の一酸化二窒素・アセチレンフレーム中に噴霧し，そ
の吸光度を測定する。
5.2
試薬 試薬は，次による。
a) 塩酸 (1＋1)
b) 水酸化ナトリウム溶液 水酸化ナトリウム20 gを水100 mLに溶解し，ポリエチレン瓶に保存し，そ
の上澄み液を使用する。
c) アルミニウム アルミニウム［99.9 ％(質量分率) 以上］で，ベリリウムを含有しないもの又はベリリ
ウムの含有率が低く，既知のもの。
d) 過酸化水素
e) 硫酸ナトリウム（無水）
f)
酢酸ナトリウム溶液 酢酸ナトリウム三水和物30 gを水に溶解し，水で液量を100 mLとする。
g) EDTA2Na溶液 エチレンジアミン四酢酸二水素二ナトリウム二水和物100 gに水300 mLを加え，水
酸化ナトリウム溶液[b)]を1 mL加えた後，約60 ℃に加熱してかき混ぜ，更に，水酸化ナトリウム溶
液[b)]70 mLを加えて溶解し，水で液量を500 mLとする。
h) アセチルアセトン溶液 アセチルアセトン15 mLにエタノール(99.5)を加えて液量を100 mLとする。
i)
4-メチル-2-ペンタノン
j)
標準ベリリウム溶液A (Be,100 μg/mL) ベリリウム[99.9 ％(質量分率) 以上]0.100 gをはかりとってビ
ーカー(200 mL)に移し入れ，時計皿で覆い，塩酸(1＋1)100 mLを加え，穏やかに加熱して分解する。
常温まで冷却した後，時計皿の下面及びビーカーの内壁を少量の塩酸(1＋1)で洗浄し，時計皿を取り
除く。溶液を1 000 mLの全量フラスコに水を用いて移し入れ，水で標線まで薄めて標準ベリリウム溶
液Aとする。
k) 標準ベリリウム溶液B (Be,1 μg/mL) 標準ベリリウム溶液A[j)]から，全量ピペットで 10 mL を 1000
mL の全量フラスコにとり，塩酸(1＋1) 17 mL を加え水で標線まで薄めて標準ベリリウム溶液Bとす
る。
5.3
試料はかりとり量 試料はかりとり量は，ベリリウム量が5 μg以下になるように，0.10〜0.50 gの範
囲で1 mgのけたまではかる。
5.4
5.4.1
操作
試料溶液の調製 試料溶液の調製は，次の手順によって行う。
a) 試料をはかりとって，四ふっ化エチレン樹脂（以下，PTFEという。）製ビーカー(200 mL)に移し入れ
る。
b) 水酸化ナトリウム溶液 [5.2b)]25 mLを加え，PTFE製の時計皿で覆い，加熱して分解する。
c) 塩酸(1＋1)35 mLを加えて酸性とし，過酸化水素を数滴加え，加熱して試料を完全に分解した後，引
続き煮沸して過剰の過酸化水素を分解した後，室温まで冷却する。
d) EDTA2Na溶液 [5.2g)]50 mLを加え，加熱して2〜3分間煮沸した後，室温まで冷却する。
e) アセチルアセトン溶液 [5.2h)]2 mL及び酢酸ナトリウム溶液 [5.2f)]10 mLを加え，塩酸(1＋1)及び／又
は水酸化ナトリウム溶液 [5.2b))を用いてpHを6.8〜7.0に調節し，10分間放置する。溶液を少量の水
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3
H 1367：2005
を用いて分液漏斗(200 mL)に移し入れ，水で液量を150 mLとする。
5.4.2
錯体の抽出分離 5.4.1e)で得た溶液に 4-メチル-2-ペンタノンを全量ピペットで10 mL加え，約2
分間激しく振り混ぜ，静置して二相に分離した後，水相（下層）を捨て，有機相（上層）を漏斗の脚の先
端に詰めた乾燥ろ紙の小片(1)を通して，共栓付試験管(20 mL)に移し入れる(2)。
注(1) ろ紙の代わりに少量の脱脂綿を用いてもよい。
(2) 水滴が確認されたら，硫酸ナトリウム約1 gを加え，振り混ぜて脱水する。
5.4.3
吸光度の測定 5.4.2で得た有機相を，4-メチル-2-ペンタノンを用いてゼロ点を調整した原子吸光
光度計の一酸化二窒素・アセチレンフレーム中に噴霧し，波長234.9 nmにおける吸光度を測定する。
5.5
空試験 PTFE製ビーカー(200 mL)に水酸化ナトリウム溶液[5.2b)]25 mLをとり，時計皿で覆い，試
料分解に要した時間と同じ程度の時間穏やかに加熱する。以下， 5.4.1c)〜5.4.3の手順に従って，試料と
同じ操作を試料と並行して行う。
5.6
検量線の作成 5.4.1 a)ではかりとった試料と同量のアルミニウム[5.2 c)]を数個はかりとり，数個の
PTFE製ビーカー (200 mL)にそれぞれ移し入れ，5.4.1のb)〜d)の手順に従って操作した後，標準ベリリウ
ム溶液B [5.2k)]0〜5.0 mL（ベリリウムとして0〜5 μg）を段階的に加える。以下，5.4.1e)〜5.4.3の手順に
従って，試料と同じ操作を試料と並行して行い，得た吸光度とベリリウム量との関係線を作成し，その関
係線を原点を通るように平行移動して検量線とする。
5.7
計算 5.4.3及び5.5で得た吸光度と5.6で作成した検量線とからベリリウム量を求め，試料中のベリ
リウム含有率を，次の式によって算出する。
Be
=
A
1
−
A
2
×
10
0
m
ここに，
Be： 試料中のベリリウム含有率 [％ (質量分率)]
A1： 試料溶液中のベリリウム検出量 (g)
A2： 空試験液中のベリリウム検出量 (g)
m： 試料はかりとり量 (g)
6. ICP発光分光法（A法）
6.1
要旨 試料を塩酸と過酸化水素とで分解した後，溶液をICP発光分光装置のアルゴンプラズマ中に
噴霧し，その発光強度を測定する。
6.2
試薬 試薬は，次による。
a) 塩酸 (1＋1)
b) ふっ化水素酸
c) 硫酸 (1+1)
d) アルミニウム 5.2c)による。
e) 過酸化水素
f)
イットリウム溶液 (Y,1 mg/mL) 三酸化二イットリウム [99.9 ％(質量分率) 以上] 1.270 gをはかりと
ってビーカー(200 mL)に移し入れ，塩酸(1＋1) 50 mLを加え，加熱して分解する。室温まで冷却した
後，水で液量を1 000 mLとする。
g) 標準ベリリウム溶液A (Be,100 μg/mL) 5.2j)による。
h) 標準ベリリウム溶液B (Be,1 μg/mL) 5.2k)による。
6.3
装置及び測定条件 装置及び測定条件は，次による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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a) ICP発光分光装置 JIS H 1307による。
b) 分析線の選定 JIS H 1307による。
c) 測定条件の選定 測定条件（分析線，溶液噴霧条件，測光条件など）は，次の1)及び2)の再現性基準
を両方とも満足するように設定しなければならない。
1) 定量下限域再現性基準 JIS H 1307の定量下限域再現性基準に従って操作したときに得られる10
個の定量値の標準偏差は，表1の標準偏差上限値以下でなければならない。
表 1 定量下限域再現性基準におけるベリリウム量及び標準偏差上限値
使用する標準ベリ
リウム溶液
標準ベリリウム
溶液添加量
ベリリウム量
ベリリウム換算含有率
質量分率 (％)
標準偏差上限値
質量分率 (％)
2) 定量上限域再現性基準 JIS H 1307の定量上限域再現性基準に従って操作したときに得られる10
個の定量値の標準偏差は，表2の標準偏差上限値以下でなければならない。
表 2 定量上限域再現性基準におけるベリリウム量及び標準偏差上限値
使用する標準ベリ
リウム溶液
標準ベリリウム
溶液添加量
ベリリウム量
ベリリウム換算含有率
質量分率 (％)
標準偏差上限値
質量分率 (％)
6.4
試料はかりとり量 試料はかりとり量は，JIS H 1307による。
6.5
操作 操作は，JIS H 1307による。
6.6
空試験 空試験は，JIS H 1307による。
6.7
検量線の作成 検量線の作成は，次のいずれかの手順によって行う。
a) 強度法によって発光強度を測定する場合
1) アルミニウム[6.2d)]を0.50 gずつはかりとって，5個のビーカー(200 mL)にそれぞれ移し入れる。
2) 時計皿で覆い，塩酸(1+1) 15 mLを加え，穏やかに加熱して試料を分解する。これに過酸化水素1 mL
を加え，引き続き煮沸して試料を完全に分解するとともに過剰の過酸化水素を分解する。
3) 常温まで冷却した後，時計皿の下面及びビーカーの内壁を水で洗浄して，時計皿を取り除き，標準
ベリリウム溶液を表3に従って加える(3)。
注(3) 液量が70 mLを超えた場合には，穏やかに加熱して，液量が約70 mLになるまで濃縮する。
4) 溶液をそれぞれ5個の100 mLの全量フラスコに水を用いて移し入れ，水で標線まで薄める。
5) 溶液の発光強度を試料溶液と並行して測定し，得た発光強度とベリリウム量との関係線を作成し，
その関係線を原点を通るように平行移動して検量線とする。
表 3 標準ベリリウム溶液添加量
使用する標準ベリリウム溶液
標準ベリリウム溶液添加量
ベリリウム量
無添加
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H 1367：2005
b) 内標準法（強度比法）によって発光強度を測定する場合 JIS H 1307による。
6.8
計算 計算は，JIS H 1307による。
6.9
許容差 許容差は，表4による。
表 4 許容差
発光強度測定法
許容差
％ (質量分率)
強度法
内標準法
備考 Be：ベリリウム含有率 [ ％ (質量分率)]
f2：JIS Z 8402-6に規定する許容範囲の係数 2.8
7. ICP発光分光法（B法）
7.1
要旨 試料を塩酸と硝酸とで分解した後， 溶液をICP発光分光装置のアルゴンプラズマ中に噴霧し，
その発光強度を測定する。
7.2
試薬 試薬は，次による。
a) 塩酸 (1＋1)
b) 硝酸 (1＋1)
c) ふっ化水素酸
d) 硫酸 (1+1)
e) アルミニウム 5.2c)による。
f)
過酸化水素
g) イットリウム溶液 (Y,1 mg/mL) 6.2f)による。
h) 標準ベリリウム溶液A (Be,100 μg/mL) 5.2j)による。
i)
標準ベリリウム溶液B (Be,1 μg/mL) 5.2k)による。
7.3
装置及び測定条件 装置及び測定条件は，次による。
a) ICP発光分光装置 JIS H 1307による。
b) 分析線の選定 JIS H 1307による。
c) 測定条件の選定 測定条件（分析線，溶液噴霧条件，測光条件など）は，次の1)及び2)の再現性基準
を両方とも満足するように設定しなければならない。
1) 定量下限域再現性基準 JIS H 1307の定量下限域再現性基準に従って操作したときに得られる10
個の定量値の標準偏差は，表5の標準偏差上限値以下でなければならない。
表 5 定量下限域再現性基準におけるベリリウム量及び標準偏差上限値
使用する標準ベリ
リウム溶液
標準ベリリウム
溶液添加量
ベリリウム量
ベリリウム換算含有率
質量分率 (％)
標準偏差上限値
質量分率 (％)
2) 定量上限域再現性基準 JIS H 1307の定量上限域再現性基準に従って操作したときに得られる10
個の定量値の標準偏差は，表6の標準偏差上限値以下でなければならない。
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H 1367：2005
表 6 定量上限域再現性基準におけるベリリウム量及び標準偏差上限値
使用する標準ベリ
リウム溶液
標準ベリリウム
溶液添加量
ベリリウム量
ベリリウム換算含有率
質量分率 (％)
標準偏差上限値
質量分率 (％)
7.4
試料はかりとり量 試料はかりとり量は，JIS H 1307による。
7.5
操作 操作は，JIS H 1307による。
7.6
空試験 空試験は，JIS H 1307による。
7.7
検量線の作成 検量線の作成は，次のいずれかの手順によって行う。
a) 強度法によって発光強度を測定する場合
1) アルミニウム[7.2e)]を0.20 gずつはかりとって，5個のビーカー(200 mL)にそれぞれ移し入れる。
2) 時計皿で覆い，塩酸(1+1)5 mL及び硝酸(1+1)5 mLを加え，穏かに加熱して試料を分解し，引き続き
加熱して窒素酸化物を追い出す。
3) 常温まで冷却した後，時計皿の下面及びビーカーの内壁を水で洗浄して時計皿を取り除き，標準ベ
リリウム溶液を表7に従って加える(3)。
4) 溶液をそれぞれ5個の100 mLの全量フラスコに水を用いて移し入れ，水で標線まで薄める。
5) 溶液の発光強度を試料溶液と並行して測定し，得た発光強度とベリリウム量との関係線を作成し，
その関係線を原点を通るように平行移動して検量線とする。
表 7 標準ベリリウム溶液添加量
使用する標準ベリリウム溶液
標準ベリリウム溶液添加量
ベリリウム量
無添加
b) 内標準法（強度比法）によって発光強度を測定する場合 JIS H 1307による。
7.8
計算 計算は，JIS H 1307による。
7.9
許容差 許容差は，表8による。
表 8 許容差
発光強度測定法
許容差
％ (質量分率)
強度法
内標準法
備考 Be：ベリリウム含有率 [ ％ (質量分率)]
f2：JIS Z 8402-6に規定する許容範囲の係数 2.8
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H 1367：2005
8. アセチルアセトン抽出分離ICP発光分光法
8.1
要旨 試料を水酸化ナトリウムで分解し，更に塩酸と過酸化水素とを加えて完全に分解する。
EDTA2Naを加え，煮沸した後，アセチルアセトン及び酢酸ナトリウムを加える。pHを調節した後，4-メ
チル-2-ペンタノンでベリリウムアセチルアセトン錯体を抽出し，塩酸で逆抽出する。溶液をICP発光分光
装置のアルゴンプラズマ中に噴霧し，その発光強度を測定する。
8.2
試薬
a) 塩酸（1＋1，1＋9）
b) 水酸化ナトリウム溶液 5.2b)による。
c) アルミニウム 5.2c)による。
d) 過酸化水素
e) 酢酸ナトリウム溶液 5.2f)による。
f)
EDTA2Na溶液 5.2g)による。
g) アセチルアセトン溶液 5.2h)による。
h) 4-メチル-2-ペンタノン
i)
標準ベリリウム溶液A（Be,100 μg/mL） 5.2j)による。
j)
標準ベリリウム溶液B（Be,1 μg/mL） 5.2k)による。
k) 標準ベリリウム溶液C（Be,0.1 μg/mL） 標準ベリリウム溶液B［8.2j)］を使用の都度，塩酸（1+11）
で正確に10倍に薄めて標準ベリリウム溶液Cとする。
8.3
装置及び測定条件 装置及び測定条件は，次による。
a) ICP発光分光装置 JIS H 1307による。
b) 分析線の選定 JIS H 1307による。
c) 測定条件の選定 測定条件（分析線，溶液噴霧条件，測光条件など）は，次の1)及び2)の再現性基準
を両方とも満足するように設定しなければならない。
1) 定量下限域再現性基準 次の1.1)〜1.6)の手順に従って操作したときに得られる10個の定量値の標
準偏差が，表9の標準偏差上限値以下でなければならない。
1.1) アルミニウム[8.2c)]を0.50 gはかりとり，PTFE製ビーカー(200 mL)に移し入れ，以下，8.5.1のb)
〜d)の手順に従って操作した後，標準ベリリウム溶液C[8.2k)]を表9に従って添加する。以下，
8.5.1e)〜8.5.2の手順に従って操作する。
1.2) 1.1)の操作と並行して，8.7 a)，ついで8.5.1 e)〜8.5.2の手順に従って操作する。
1.3) 1.1)で得た溶液の一部をICP発光分光装置のアルゴンプラズマ中に噴霧し，ベリリウムの発光強度
を測定する。
1.4) 1.2)で得た溶液の一部をICP発光分光装置のアルゴンプラズマ中に噴霧し，ベリリウムの発光強度
を1.3)の操作と並行して測定し，得た発光強度とベリリウム量との関係線を作成し，その関係線
を原点を通るように平行移動して検量線とする。
1.5) 1.3)で得た発光強度と1.4)で作成した検量線とからベリリウム量を求め，定量値（ベリリウム含有
率）を，次の式によって小数点以下第6位のけたまで算出する。
Be
=mA
ここに，
×
100
Be： ベリリウムの含有率 [％ (質量分率)]
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8
H 1367：2005
A： 1.3)で得た発光強度と，1.4)で作成した検量線とから求
めたベリリウム量(g)
m： 1.1)ではかりとったアルミニウム [8.2 c)]の量 (g)
1.6) 1.3)〜1.5)の操作を10回繰り返して10個の定量値を求め，その標準偏差を算出する。
表 9 定量下限域再現性基準における標準ベリリウム溶液添加量及び標準偏差上限値
使用する標準ベリ
リウム溶液
標準ベリリウム
溶液添加量
ベリリウム量
ベリリウム換算含有率
質量分率 (％)
標準偏差上限値
質量分率 (％)
2) 定量上限域再現性基準 8.3 c) 1)の1.1)〜1.6)の手順に従って操作して得られる10個の定量値の標準
偏差が，表10の標準偏差上限値以下でなければならない。ただし，8.3 c) 1) 1.1)で添加する標準ベ
リリウム溶液の量は，表10によるものとする。
表 10 定量上限域再現性基準における標準ベリリウム溶液添加量及び標準偏差上限値
使用する標準ベリ
リウム溶液
標準ベリリウム
溶液添加量
ベリリウム量
ベリリウム換算含有率
質量分率 (％)
標準偏差上限値
質量分率 (％)
8.4
試料はかりとり量 試料はかりとり量は，0.50 gとし，1 mgのけたまではかる。
8.5
操作
8.5.1
試料溶液の調製 試料溶液の調製は，次の手順によって行う。
a) 試料をはかりとって，PTFE製ビーカー (200 mL)に移し入れる。
b) 水酸化ナトリウム溶液 [8.2b)]25 mLを加え，PTFE製の時計皿で覆い，加熱して分解する。
c) 塩酸(1＋1)35 mLを加えて酸性とし，過酸化水素を数滴加え，加熱して試料を完全に分解し，引続き
加熱して過剰の過酸化水素を分解した後，室温まで冷却する。
d) EDTA2Na溶液 [8.2f)]50 mLを加え，加熱して2〜3分間煮沸した後，室温まで冷却する。時計皿の下
面及びビーカーの内壁を少量の水で洗浄し，時計皿を取り除く。
e) アセチルアセトン溶液 [8.2g)]2 mL及び酢酸ナトリウム溶液 [8.2e)]10 mLを加え，塩酸(1＋1)及び／又
は水酸化ナトリウム溶液[8.2b)]を用いてpHを6.8〜7.0に調節し，10分間放置する。溶液を少量の水
で分液漏斗 (200 mL)に移し入れ，水で液量を150 mLとする。
8.5.2
錯体の抽出分離 8.5.1e)で得た溶液に，4-メチル-2-ペンタノンを全量ピペットで 10 mL加え，約2
分間激しく振り混ぜ，静置して二相に分離した後，水相（下層）を捨てる。有機相（上層）に塩酸 (1＋9)
20.0 mLを加え，5分間激しく振り混ぜ，静置して二相に分離した後，水相（下層）を共栓付試験管(20 mL)
に移し入れる。
8.5.3
発光強度の測定 8.5.2で得た溶液の一部をICP発光分光装置のアルゴンプラズマ中に噴霧し，8.3
で選定した測定条件によってベリリウムの発光強度を測定する。
8.6
空試験 PTFE製ビーカー(200 mL)に水酸化ナトリウム溶液[8.2b)]25 mLをとり，時計皿で覆い，試
料分解に要した時間と同じ程度の時間穏やかに加熱する。以下，8.5.1c)〜8.5.3の手順に従って，試料と同
じ操作を試料と並行して行う。
8.7
検量線の作成 検量線の作成は，次の手順によって行う。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9
H 1367：2005
a) アルミニウム [8.2 c)]を0.50 gずつはかりとり，5個のPTFE製ビーカー (200 mL)に移し入れ，8.5.1
のb)〜d)の手順に従って操作した後，標準ベリリウム溶液B [8.2j)]及び標準ベリリウム溶液C [8.2k)]
の各種液量(ベリリウムとして0〜5 μg)を段階的に加える。
b) 8.5.1e)〜8.5.3の手順に従って，試料と同じ操作を試料と並行して行い，得た発光強度とベリリウム量
との関係線を作成し，その関係線を原点を通るように平行移動して検量線とする。
8.8
計算 8.5.3及び8.6で得た発光強度と8.7で作成した検量線とからベリリウム量を求め，試料中のベ
リリウム含有率を，次の式によって算出する。
Be
=
A
−
B
×
100
m
ここに，
8.9
Be： 試料中のベリリウム含有率 [％ (質量分率)]
A： 試料溶液中のベリリウム検出量 (g)
B： 空試験液中のベリリウム検出量 (g)
m： 試料はかりとり量 (g)
許容差 許容差は，表11による。
表 11 許容差
発光強度測定法
強度法
許容差
％ (質量分率)
備考 Be：ベリリウム含有率 [ ％ (質量分率 )]
f2：JIS Z 8402-6に規定する許容範囲の係数 2.8
