解説付表1 JISと対応する国際規格との対比表
JIS H 8501 : 1999 めっきの厚さ試験方法
対比項目 (I) JISの規定内容
ISO 1463 : 1982 (金属及び酸化物被覆−皮膜厚さ測定−顕微鏡断面試験方法)
ISO 2064 : 1996 (金属及び無機質被覆−厚さ測定に関する定義と規定)
ISO 2177 : 1985 (金属被覆−皮膜厚さ測定−陽極溶解による電解式試験方法)
ISO 2178 : 1982 (磁性素地上の非磁性被覆−皮膜厚さ測定−磁力式試験方法)
ISO 2360 : 1982 (非磁性金属素地上の非電導性被覆−皮膜厚さ測定−渦電流式試験方法)
ISO 3497 : 1976 金属被覆−皮膜厚さ測定−蛍光X線式試験方法)
ISO 3543 : 1981 (金属及び無機質被覆−皮膜厚さ測定−β線式試験方法)
ISO 3868 : 1976 (金属及び無機質被覆−皮膜厚さ測定−多重干渉式試験方法)
ISO 3882 : 1982 (金属及び無機質被覆−皮膜厚さ測定法 通則)
ISO 4518 : 1980 (金属被覆−皮膜厚さ測定−触針走査試験方法)
ISO 9220 : 1988 (金属被覆−皮膜厚さ測定−走査電子顕微鏡試験方法)
(II) 国際規格番号
(III) 国際規格の規定内容
(IV) JISと国際規格との相違点
規定項目
1. 適用範囲
○ めっき製品の有効面のめっ ISO 2064
き厚さ試験方法について規
定。
(要旨)
6.1 顕微鏡断面試験方法
7.1 電解式試験方法
8.1 渦電流式試験方法
9.1 磁力式試験方法
10.1 蛍光X線式試験方法
11.1 β線式試験方法
○ 厚さ測定に関する用語の定 ＝ 適用範囲としては一致
義等
※ISOでは各試験方法が独
立の規格として規定され
○ 皮膜厚さ測定法（通則）
ている。そのため，めっき
皮膜以外も適用範囲とし
○ 顕微鏡断面試験方法
ているものがある。
○ 陽極溶解による電解式試験 ＝
方法
○ 渦電流式試験方法
○ 磁力式試験方法
○ 蛍光Ｘ線式試験方法
○ β線式試験方法
○ 多重干渉式試験方法
○ 走査電子顕微鏡試験方法
○ 触針走査試験方法
12.1 多重干渉式試験方法
13.1 走査形電子顕微鏡試験 ISO 9220
方法
14.1 測微計による試験方法
(1) めっき破壊法
(2) 素地破壊法
(3) 非破壊法
(4) 触針走査法
(V) JISと国際規格との
整合が困難な理由及
び今後の対策
(II) 国際規格番号
(III) 国際規格の規定内容
(IV) JISと国際規格との相違点
規定項目
2. 引用規格
3. 定義
4.試験方法の種類
5. 試料
15.1 質量計測によるめっき
付着量試験方法
○ JIS H 0400ほか
○ 顕微鏡断面試験方法，電解式
試験方法，渦電流式試験方
法，磁力式試験方法，蛍光X
線式試験方法，β線式試験方
法，多重干渉式試験方法，走
査電子顕微鏡試験，測微計に
よる試験方法，質量計測によ
るめっき，付着量試験方法
○ 試料の採取，代替試験片
○ 有効面積(1cm2未満，以上) ISO 2064
6. 局部厚さの決定
7. 平均厚さの決定
○ 質量計測
8. 顕微鏡断面試験 ○ 要旨，装置，操作
方法
9. 電解式試験方法
○ 要旨，装置，校正，操作
○ 有効面，測定面積 他
○ 有効面積(1cm2未満，以上)
○ 質量計測及び他の方法
○ 原理，測定精度に関する要 ＝ ISOに規定されている内容
を採用。JISとして，必要事
因，断面の調整，測定，要求
項はすべて規定。
される精度，試験報告，附属
書A，附属書B
○ 原理，試験装置，電解液，測 ＝ ISOに規定されている内容
を採用。JISとして，必要事
定精度に影響〜要因，手順，
項はすべて規定。
試験結果の表現，測定の不確
かさ(精度)，試験結果，附属
書A，附属書B
(V) JISと国際規格との
整合が困難な理由及
び今後の対策
対比項目 (I) JISの規定内容
解説付表1 JISと対応する国際規格との対比表（続き）
解説付表1 JISと対応する国際規格との対比表（続き）
対比項目 (I) JISの規定内容
(II) 国際規格番号
(III) 国際規格の規定内容
(IV) JISと国際規格との相違点
○ 原理，測定精度に影響〜要 ＝ ISOに規定されている内容
を採用。JISとして，必要事
因，装置の校正，手順，必要
精度
項はすべて規定。
○ 要旨，装置，校正，操作
測定精度に影響〜因子
附属書2(参考)
12. 蛍光X線式試験 ○ 要旨，装置，操作，測定精度 ISO 3497
方法
に影響〜因子，安全管理
附属書3(参考)
13. β線式試験方法
○ 要旨，装置，校正，操作測定 ISO 3543
○ 原理，測定精度に影響〜要 ＝ ISOに規定されている内容
を採用。JISとして，必要事
因，装置の校正，手順，必要
精度
項はすべて規定。
○ 原理，装置，測定精度に影響 ＝ ISOに規定されている内容
を採用。JISとして，必要事
〜要因，装置の校正，手順，
測定の誤差，試験報告
項はすべて規定。
規定項目
10. 渦電流式試験方 ○ 要旨，装置，校正，操作，
法
測定精度に影響〜因子
附属書1(参考)
11. 磁力式試験方法
精度に影響〜因子
附属書4〈参考)
14. 多重干渉式試験 ○ 要旨，装置，校正，操作
方法
測定精度に影響〜因子
附属書5(参考)
15. 走査電子顕微鏡 ○ 要旨，装置，校正，操作
試験方法
測定精度に影響〜因子
附属書6(参考)
16. 測微器による試 ○ 方法の区分
験方法
○ めっき破壊法
(要旨，装置，はく離液及び
はく離方法，操作)
○ 原理，計測，精度に関する要 ＝ ISOに規定されている内容
を採用。JISとして，必要事
因，装置の校正，測定手順，
項はすべて規定。
測定の正確さ及び精度，試験
報告
○ 原理，定義，装置，測定精度 ＝ ISOに規定されている内容
を採用。JISとして，必要事
に関する要因，装置の校正，
測定手順，測定精度
項はすべて規定。
○ 原理，装置，測定精度に関す ＝ ISOに規定されている内容
を採用。JISとして，必要事
る要因，装置の校正，測定手
項はすべて規定。
順，測定誤差，結果の表現，
試験報告，附属書A
○ 素地破壊法
(要旨，装置，溶解除去液及
び除去方法，操作)
○ 非破壊法
(要旨，装置，測定面のめっ
き防止法，操作)
(V) JISと国際規格との
整合が困難な理由及
び今後の対策
(II) 国際規格番号
(III) 国際規格の規定内容
○ 原理，計測，精度に関する要
因，校正，測定の手順
(IV) JISと国際規格との相違点
規定項目
16. 測微器による試 ○ 触針走査法
験方法
(要旨，装置，操作)
附属書7(参考)
ISOに規定されている内容
を採用。JISとして，必要事
項はすべて規定。
17. 質量計測による ○ 方法の区分
めっき付着量試
○ めっき破壊質量法
験方法
(要旨，装置・器具，はく離
液及びはく離方法，操作)
○ めっき破壊分析法
(要旨，装置及び器具，はく
離液，操作)
○ 素地破壊法
(要旨，装置，器具及びその
精度，溶解除去液及び溶解除
去方法，操作)
○ 非破壊法
(要旨，装置，器具及びその
精度，操作)
備考1. 対比項目(I)及び(III)の小欄で，“○”は該当する項目を規定している場合，“−”は規定していない場合を示す。
2. 対比項目(IV)の小欄の記号の意味は，次による。
“＝”：JISと国際規格との技術的内容は同等である。ただし，軽微な技術上の差異がある。
“−”：該当項目がない場合。
(V) JISと国際規格との
整合が困難な理由及
び今後の対策
対比項目 (I) JISの規定内容
解説付表1 JISと対応する国際規格との対比表（続き）
