JIS H 8619 : 1999 電気すずめっき

解説付表1 JISと対応する国際規格との対比表

対比項目 (I) JISの規定内容

ISO 2093 : 1986 電気すずめっき−規格と試験法

(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容

号

(IV) JISと国際規格との相違

規定項目

1. 適用範囲

2. 引用規格

○ はんだぬれ性，耐食性などの ISO 2093

向上の目的で金属素地上に

行った有効面の電気すずめ

っき

3. 定義

(V) JISと国際規格との整合

が困難な理由及び今後の

対策

○ はんだ付け性及び耐食性の目的　＝

で金属製品に施された電気すず

めっき

○ 有効面，溶融処理，ヒュージング，　＝

溶融光沢化

めっきのは

○ 10.6の試験

んだぬれ性

6. 素地

○ 表面粗さほか

7. 下地めっき ○ 受渡当事者間の協定

○ 分類記号，使用環境

＝ ISOとの整合から，最低膜厚

と使用環境を関連付けて規

定。

○ 外観

○ 厚さ

○ 有孔性

○ 密着性

○ 素地

○ 下地めっきに対する要求事項

（指定された場合）

有効面，リフロ，局部厚さ，

平均厚さ，下地めっき

4. 種類，等級， ○ 等級及び記号，使用環境及び

使用環境条件

記号及び使

用環境

5. 品質

めっきの外

○ 10.2の試験

観

めっきの最

O 10.3の試験

小厚さ

めっきの耐

○ 10.4の試験

食性

めっきの密

○ 10.5の試験

着性

(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容

号

(IV) JISと国際規格との相違

規定項目

8. めっき前の ○ 受渡当事者間の協定

応力除去

○ めっき前の応力除去

（指定された場合，推奨する熱処

理条件）

9. めっき後の ○ 受渡当事者間の協定

加熱処理

○ 電気めっき後の水素ぜい性除去　＝

（指定された場合，推奨する熱処

理条件）

10. 試験

試験片の作

試験片の採取，代替試験片，

製

試験片の清浄

外観試験

厚さ試験

○ 目視

顕微鏡断面試験方法，，渦電

流式試験方法，磁力式試験方

法，蛍光X線式試験方法，β

線式試験方法，質量計測法，

電解式試験方法

耐食性試験 ○ JlS H 8502（中性塩水噴霧試

験方法），JIS C 0024

密着性試験 ○ JIS H 8504

テープ試験方法，曲げ試験方

法，熱衝撃試験方法，研削試

験

はんだぬれ

○ JIS H 8621の9.9の試験

性試験

○ 附属書A 皮膜厚さの決定

顕微鏡的方法，電解式方法，β線

後方散乱方法，蛍光X線分光法，

質量計測法

○ 有孔度

○ 附属書B 密着性試験

研削試験，折り曲げ試験，熱衝撃

試験

○ はんだ付け性

検査項目，試験方法の選択な

どは受渡当事者間の協定。

12. めっきの呼 ○ JIS H 0404

び方

○ サンプリング方法

13. 表示

11. 検査

○ 送り状などの記載事項

(V) JISと国際規格との整合

が困難な理由及び今後の

対策

対比項目 (I) JISの規定内容

解説付表1 JISと対応する国際規格との対比表（続き）

対比項目 (I) JISの規定内容

(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容

号

(IV) JISと国際規格との相違

規定項目

14. 発注書又は ○ (1) 基本事項

(2) 付記事項

加工仕様書

への記載事

項

(V) JISと国際規格との整合

が困難な理由及び今後の

対策

○ 電気めっき業者に購買者が提供　＝

すべき情報

備考1. 対比項目(I)及び(III)の小欄で，“○”は該当する項目を規定している場合，“−”は規定していない場合を示す。

2. 対比項目(IV)の小欄の記号の意味は，次による。

“＝”：JISと国際規格との技術的内容は同等である。ただし，軽微な技術上の差異がある。

“−”：該当項目がない場合。