解説付表1 JISと対応する国際規格との対比表
JlS H 8624 : 1999 電気すず−鉛合金めっき
対比項目 (I) JISの規定内容
ISO 7587 : 1986 電気すず−鉛合金めっき−規格と試験法
(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容
号
(IV) JISと国際規格との相違
規定項目
1. 適用範囲
○ 鉄，銅及びそれらの合金素地 ISO 7587
上の電気・電子部品のはんだ
ぬれ性，電気的特性，防食性
などの向上目的で施したす
ず−鉛合金めっき。
2. 引用規格
3. 定義
○ JlS H 0400のほか，有効面，
下地めっき，リフロ（溶融処
理・ヒュージング・溶融光沢
化）
4. 種類，等級， ○ 使用環境条件
記号及び使
用環境
下地めっき：JIS H 8620溶
融処理：f
(V) JISと国際規格との整合
が困難な理由及び今後
の対策
○ 50%〜70%のすずを含んだ電気す ＝ JISはSn70%以上のものも適
ず−鉛合金めっきについて規定。
用範囲としているが，技術的
に同等である。
○ 有効面（ISO 2064）
溶融処理・ヒュージング・溶融光
沢化・リフロ
○ 分類記号，使用環境
＝ ISOとの整合から，最低膜厚
と使用環境を関連付けて規
定。
(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容
号
(IV) JISと国際規格との相違
規定項目
5. 品質
めっきの外
○ 9.2の試験
観
○ 外観
めっき皮膜
○ 9.3の試験
の化学成
分
めっきの最
○ 9.4の試験
小厚さ
○ 組成（附属書A）
○ 厚さ（附属書B）
めっきの密
○ 9.5の試験
着性
めっきの耐
○ 9.6の試験
食性
○ 密着性（附属書C）
○ 有孔度
○ はんだ付け性
○ 下地めっきに関する要求事項
めっきのは
○ 9.7の試験
んだぬれ
性
6. 素地
7. 下地めっき ○ 受渡当事者間の協定
8. めっき前の ○ 受渡当事者間の協定
応力除去
○ 鋼の処理
（電気めっき前−応力除去，電気
めっき後−水素ぜい性除去）
(V) JISと国際規格との整合
が困難な理由及び今後
の対策
対比項目 (I) JISの規定内容
解説付表1 JISと対応する国際規格との対比表（続き）
解説付表1 JISと対応する国際規格との対比表（続き）
対比項目 (I) JISの規定内容
(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容
号
(IV) JISと国際規格との相違
規定項目
9. 試験
試験片の作
○ 試験片の採取，代替試験片
製
外観試験
分析試験
○ JIS Z 3910及びJlS K 0119
厚さ試験
顕微鏡断面試験方法，渦電流
式試験方法，磁力式試験方
法，蛍光X線式試験方法，β
線式試験方法，質量式試験方
法，電解式試験方法
密着性試験 ○ JlS H 8504
へらしごき試験，テープ試験
方法，曲げ試験方法，熱衝撃
試験方法
耐食性試験 ○ JIS H 8502（中性塩水噴霧試
験方法）又はJIS C 0024
(V) JISと国際規格との整合
が困難な理由及び今後
の対策
○ 附属書A
概要，ダミーカソードの調製，す
ずの定量
○ 附属書B めっき厚さの測定
顕微鏡測定方法，電解式測定方
法，β線後方散乱方法，蛍光X線
式測定方法
○ 附属書C 密着性試験
バニシング試験，折曲げ試験，熱
衝撃試験
はんだぬれ
試験
10. 検査
検査項目，試験方法の選択な
ど，受渡当事者間の協定。
○ はんだ付け性
○ サンプリング方法
11. めっきの呼 ○ JlS H 0404
び方
○ 有孔度
(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容
号
(IV) JISと国際規格との相違
規定項目
12. 表示
○ 送り状などへの記載事項
13. 発注書又は ○ (1) 基本事項
(2) 付記事項
加工仕様書
への記載事
項
○ 発注者によって電気めっき業者 ＝
に提供される情報
備考1. 対比項目(I)及び(III)の小欄で，“○”は該当する項目を規定している場合，“−”は規定していない場合を示す。
2. 対比項目(IV)の小欄の記号の意味は，次による。
“＝”：JISと国際規格との技術的内容は同等である。ただし，軽微な技術上の差異がある。
“−”：該当項目がない場合。
(V) JISと国際規格との整合
が困難な理由及び今後
の対策
対比項目 (I) JISの規定内容
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