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解説付表1 JISと対応する国際規格との対比表

JIS H 8680-2:1998 アルミニウム及びアルミニウム合金の陽極酸化 ISO 2360:1982 非磁性素地金属上の非電導皮膜−皮膜厚さの測定−渦電流方法

皮膜厚さ試験方法 第2部:渦電流式測定法

対比項目 (I) JISの規定内容

(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容

(IV) JISと国際規格との相違点

規定項目

(1) 適用範囲

〇 アルミニウム及びアルミニ

ウム合金の製品に施した陽

極酸化皮膜の皮膜厚さ試験

方法

(2) 用語・記号 〇 陽極酸化皮膜厚さ μm

(6) 装置・器具 〇 測定器

〇 非磁性素地金属上の非亀導皮膜 = ISOの適用範囲が広いが問

題なし。

の非破壊的測定をするための渦

電流測定器を用いた方法

〇 皮膜厚さ μm

〇 渦電流方法

〇 皮膜厚さ

〇 測定器の補正

1) 皮膜処理した標準

皮膜とはくの補正標準を使

うことは,JISと同じ。

補正標準の素地金属の電気的性

= JISに規定がないが意味する

質は,試験片と同じにすること。

ところは同じ。

補正標準の素地金属の臨界厚さ。

2) はく:プラスチック材

○ 測定器の補正回数

1時間当たり少なくとむ1回の補

〇 渦電流測定器

(3) 試験(分析) 〇 渦電流式測定法

の種類

(4) 試験(分析) 〇 皮膜厚さ

の項目

(5) 共通的条件 〇 皮膜厚さ標準板

1) 校正用標準板(陽極酸化

(試験状

皮膜)

態・試験条

件)

原則として試験片と同一材

質で板厚0.8mm以上のもの

に陽極酸化処理を施したも

ので顕微鏡断面測定法によ

って皮膜厚さが明らかにさ

れたものとする。

2) プラスチックフィルム

○ 連続して測定する場合は,

適宜途中で校正する。

(V) JISと国際規格との一致

が困難な理由及び今後の

対策

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(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容

(IV) JISと国際規格との相違点

規定項目

(7) 材料・試料 〇 測定箇所

製品の有効面とする。ただし

製品について試験できない

場合は,製品と同一材料及び

同一皮膜の処理条件で作ら

れた試験片を用いてもよい。

〇 試験片の清浄

試験片は,汚れに応じ適当な

溶剤を浸した柔らかい布な

どを用いて,あらかじめ清浄

にしておく。

(8) 手順・方法 〇 操作

1) 標準板にプロープを当

て,測定器の指定された校正

方法に従って目盛り(表示

値)を調整するプラスチック

フィルムを用いて校正する

場合は,試料と材質・形状の

同じ素地上で行う。

2) 試験片の測定部

測定部(直径約8mmの範囲)

にプロープを当て,目盛りを

読みとる。

3) 読みの回数

5回以上繰り返す。

(9) 記録方法・様 〇 試験結果の表し方

試験結果は,5回以上の測定

値(μm)の平均をJIS Z 8401

によって丸め,小数点以下1

位の数値で表す。

〇 測定箇所

あれている場合は決められた箇

〇 試験片の清浄

皮膜を除かないよう,表面から汚

れ,グリース,腐食生成物のよう

な異物を除く。

〇 操作

1) 製造業者の使用説明書に従 =

い操作する。

2) 試験片の測定部

3) 読みの回数

5回以上

〇 試験結果の表し方

5回以上の平均

(V) JISと国際規格との一致

が困難な理由及び今後の

対策

対比項目 (I) JISの規定内容

解説付表1 JlSと対応する国際規格との対比表(続き)

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解説付表1 JlSと対応する国際規格との対比表(続き)

対比項目 (I) JISの規定内容

(II) 国際規格番 (III) 国際規格の規定内容

規定項目

(IV) JISと国際規格との相違点

(V) JISと国際規格との一致

が困難な理由及び今後の

対策

(10) その他

備考1. 対比項目(I)及び(III)の小欄で,“○”は該当する項目を規定している場合を示す。

2. 対比項目(IV)の小欄の記号の意味は,次による。

“≡”:JISと国際規格との技術的内容は同等である。

“=”:JISと国際規格との技術的内容は同等である。ただし,軽微な技術上の差異がある。