2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
P 8230：2005
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，紙パルプ技術協会（JAPAN TAPPI）／財団法
人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工
業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，ISO 15319:1999，Recycled pulps−
Estimation of visible contraries by instrumental means using reflected light を基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任をもたない。
JIS P 8230には，次に示す附属書がある。
附属書A（参考） 0.04 mm2よりも小さな異物
附属書B（規定） 比較チャート
附属書C（規定） コントラスト及び濃度
附属書1（参考） JISと対応する国際規格との対比表
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
P 8230：2005
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 定義 ······························································································································ 2
4. 原理 ······························································································································ 2
5. 異物の分類 ····················································································································· 2
6. 装置 ······························································································································ 2
6.1 離解機 ························································································································· 2
6.2 手すき機 ······················································································································ 2
6.3 吸取紙 ························································································································· 2
6.4 乾燥プレート ················································································································ 2
6.5 異物自動計測器 ············································································································· 3
6.6 比較チャート ················································································································ 3
7. サンプルの調製 ··············································································································· 3
7.1 サンプリング ················································································································ 3
7.2 試料の前処理 ················································································································ 3
7.3 試験用手すき紙の調製 ···································································································· 3
8. 操作 ······························································································································ 4
8.1 一般事項 ······················································································································ 4
8.2 計測器の校正 ················································································································ 4
8.3 試験用手すき紙の測定 ···································································································· 4
9. 計算 ······························································································································ 4
10. 試験結果の表し方 ·········································································································· 4
11. 精度 ···························································································································· 4
12. 報告 ···························································································································· 5
附属書A（参考）0.04 mm2よりも小さな異物 ············································································· 6
附属書B（規定）比較チャート ······························································································· 7
附属書C（規定）コントラスト及び濃度 ··················································································· 8
参考文献 ····························································································································· 9
附属書1（参考）JISと対応する国際規格との対比表 ·································································· 10
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
P 8230：2005
古紙パルプ−
反射光を用いた計測器による異物の評価方法
Recycled pulps−
Estimation of visible contraries by instrumental means using reflected light
序文 この規格は，1999年に第1版として発行されたISO 15319，Recycled pulps−Estimation of visible
contraries by instrumental means using reflected light を翻訳し，技術的内容を変更して作成した日本工業規格
である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格を変更している事項である。変更の一覧
表をその説明を付けて，附属書1（参考）に示す。
1. 適用範囲 この規格は，反射光を用いた計測器によって古紙パルプ中の目視できる異物を測定する方
法について規定する。
備考1. この規格は明るい異物を含むような，低白色度のパルプの測定には適さない。また，蛍光物
質の影響で周囲よりも明るく観察されるスポットは，この規格の方法では検出できない。
2. 0.04 mm2よりも小さな異物の測定には，この規格を適用しない（附属書A参照）。
3. この規格は，製品品質を評価するものであり，工程検査には適さない。
4. この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
ISO 15319:1999，Recycled pulps−Estimation of visible contraries by instrumental means using
reflected light (MOD)
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS P 0001 紙・板紙及びパルプ用語
JIS P 8201 製紙用パルプの試料採取方法
備考 ISO 7213，Pulps−Sampling for testingからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS P 8203 パルプ−絶乾率の試験方法
備考 ISO 638，Pulps−Determination of dry matter contentからの引用事項は，この規格の該当事項と
同等である。
JIS P 8220 パルプ−離解方法
備考 ISO 5263，Pulps−Laboratory wet disintegrationからの引用事項は，この規格の該当事項と同等
である。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2
P 8230：2005
JIS P 8222 パルプ−試験用手すき紙の調製方法
備考 ISO 5269-1，Pulps−Preparation of laboratory sheets for physical testing−Part 1:Conventional
sheet-former methodからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS P 8225 パルプ−紙料の固形分濃度測定方法
備考 ISO 4119，Pulps−Determination of stock concentrationからの引用事項は，この規格の該当事項
と同等である。
3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS P 0001によるほか，次による。
a) 異物，汚点 (contrary，speck) ちり及び結束繊維を含む，シート表面にある望ましくない微小物質。
周辺部と大きく異なる反射を示すもので，附属書Bの比較チャートにより大きさで分類する。
b) コントラスト (contrast) 異物，汚点と周辺部との反射光の強度比から求める値（附属書C参照）。
4. 原理 古紙パルプから調製した手すき紙を，反射光を用いた計測器によって測定する。任意に定めた
大きさ以上で，かつ，周辺部と大きく異なる反射を示すすべての異物の面積を記録する。個々の面積を加
算し，シート面積当たりの異物の総面積をmm2/m2の単位で報告する。必要に応じて，面積によって分類
した等級別に異物の面積又は個数を報告する。
5. 異物の分類 0.04 mm2以上の面積で表1に示す最小のコントラストをもつ異物を対象とする。附属書
C参照。通常は総面積だけを報告するが，必要に応じて，等級別に面積又は個数を報告する。この場合の
分類は表1による。
表 1 異物の面積による分類
等級
面積
最小のコントラスト
6. 装置
6.1
離解機 JIS P 8220に規定した装置を用いる。試験サンプルがスラリーの場合は必要としない。
6.2
手すき機 例えば，JIS P 8222に規定した，金属線の直径が71 μm，目開きが106 μmのもの，又は
金属線の直径が90 μm，目開きが125 μmの金網を備えた装置を用いる。
6.3
吸取紙 手すき機に合った大きさのものを用いる。
6.4
乾燥プレート 乾燥プレートは，手すき紙と同じ大きさで，表面光沢仕上げを施した，金属又は硬
質プラスチックなどの耐腐食性のある材質で，湿紙がプレートにしっかりと密着するように，膨れ及び湾
曲のない平たんなものとする。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3
P 8230：2005
6.5
異物自動計測器 異物自動計測器は，反射光を用い，表1に示した面積とコントラストをもつ異物
を，評価，計測及び報告できる構成のものとする。装置から照射される光の95 %は380〜750 nmまでの波
長でなければならない。装置は，蛍光の影響で異なる反射を示す微小物質は計測しないものとする。装置
の再現性は，5回繰り返して試料中の異物の総面積を測定したときに，変動係数が15 %を超えないものと
する。
計測器は，最大の画素サイズが0.01 mm2で，最小のグレースケールの解像度が反射率0.5 %を満たす性
能のものとする。また，検出限界を，表1のように段階的に変えられるものとする（附属書C参照）。
6.6
比較チャート 異なる形状，面積及びコントラストをもつ，黒色及び灰色のスポットを配列したも
ので，装置の校正で使用する。比較チャートは，附属書Bに規定する。
備考 スポットの大きさ及びコントラストが変わるため，チャートはコピーを用いてはならない。
7. サンプルの調製
7.1
サンプリング 一つのロットのドライパルプを評価する場合には，ベールごとにJIS P 8201の規定
によって採取する。また，ウェットラップの試料では，ラップの端面及び上下は除いて採取しなければな
らない。1ロットから最低10点の試料を採取する。
試験は個々のサンプルごとに行う。少なくとも4か所の別々の場所から試料を採取する。いずれの試料
もパルプシートの全層から採取する。試験試料は個別に，周囲からのちりの混入を避けて保管する。
試料の絶乾質量は，最低60 gとする。
7.2
試料の前処理 試料の前処理は，次による。
a) ドライシート又はラップ
1) JIS P 8203の規定によって，試料の絶乾率を測定する。
2) ドライシートの試料は，蒸留水又はイオン交換水に4時間以上浸せきする。
3) 絶乾で50〜60 gのパルプに対し2 700 mLの水を加え，離解機(6.1)で試料を離解する。未離解物が
なくなるまで離解する。試料を1分間離解後，一部を取り出して希釈し，未離解物の有無を目視で
確認する。未離解物がなくなるまでこの操作を繰り返す。
備考 試験中にパルプが汚染されないよう注意する。離解機及び手すき機に，汚れ，腐食及び
付着物がないことを確認する。
b) パルプ懸濁液（スラリー）
1) JIS P 8225に従い，試料濃度を測定する。
2) 水を加えて混合し，スラリーを均一にする。次いで，7.3による。
7.3
試験用手すき紙の調製 試験用手すき紙の調製は，次による。
a) 試験用手すき紙の枚数は，絶乾で少なくとも50 g相当か，又は，少なくとも300個の異物が含まれる
枚数とする。
備考 上記の異物の個数は，信頼率90 %で相対誤差約10 %を満たす個数である（参考文献[1]参
照）。
− g/m2に調製する。
b) 試験用手すき紙は，手すき機(6.2)で，坪量8003
c) 乾燥吸取紙の上に，試験用手すき紙を上にして，吸取紙(6.3)を重ね，試験用手すき紙の上に光沢面を
下にして乾燥プレート(6.4)を載せる。さらに，次の吸取紙と試験用手すき紙を載せられるように別の
乾燥用の吸取紙を置く。
− kPaで501
− 分間加圧する。乾燥プレート
d) 試験用手すき紙，吸取紙及びプレートの積み重ねを，410010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4
P 8230：2005
に密着した試験用手すき紙を吸取紙から分離する。
e) 湿った試験用手すき紙を外側にして2枚のプレートを背中合わせにしたものを乾燥リングの間に挟ん
で積み重ね，おもりをかけるか，又は締め金で締める。試験用手すき紙は室温で乾燥する。試験用手
すき紙は収縮を避けるために乾燥終了まで乾燥プレートと接触させておくものとする。
備考 乾燥中の手すき紙を保護する必要がある場合には，手すき紙が乾燥するまで吸取紙を手す
き紙に密着したままにしてもよい。
8. 操作
8.1
一般事項 異物計測器(6.5)の製造業者が作成した説明書による。
8.2
計測器の校正
a) 比較チャート(6.6)を用いて定期的に計測器の校正を行う。85 ％以上の白色度の平たんなタイル又は紙
の上にチャートを置く。比較チャート上に示されたすべての異物を計測器で測定する。測定結果に異
常があれば調整するか，機器製造業者に連絡する。
b) 比較チャートは画像の印刷面を測定しなければならない。ただし，入射角が垂直でない一方向性の光
源を用いる場合には，フィルムの印刷面がタイル及び紙の面に接するようにし，適度のおもりをのせ
て計測面を平らにする。この方法によって，影を最小にする。
c) 比較チャート上の異物の総面積値と測定値とが同じになるように装置を校正する。必要な場合には，
各等級ごとに総面積と測定値とが同じになるように校正する。
8.3
試験用手すき紙の測定 試験用手すき紙を装置にセットする。調製した試験用手すき紙の半数を取
り出し，表面又は光沢面から測定する。同様にして残りのシートについて裏面を測定する。最低50 g相当
のパルプ又は最低300個の異物が計測されたときの測定値を読み取る。測定した手すき紙の総面積を算出
して記録する。
9. 計算 計算は，次による。
X＝bc
ここに，
X： 試験用手すき紙の単位面積当たりの異物の面積 (mm2/m2)
c： 測定した異物の総面積 (mm2)
b： 測定した試験用手すき紙の総面積 (m2)
備考 必要に応じて，等級ごとに異物の面積又は個数を報告してもよい。
10. 試験結果の表し方 試験用手すき紙単位面積当たりの異物の総面積を，有効数字2けたに丸める。
11. 精度 一つの基準で校正した装置を用いた，限られた試験のため，この規格の再現性については規定
しない。
備考 ロット内のばらつきは，異物の面積の測定値から計算した標準偏差で推定する。変動係数は標
準偏差から求めることができる。
参考 幾つかの一般的な情報については文献から参照できる（参考文献[2]，[3]参照）。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5
P 8230：2005
12. 報告 報告書には，必要に応じて次の項目を記録する。
a) 試料を特定するのに必要なすべての情報
b) 規格名称又は規格番号
c) 試験用手すき紙単位面積当たりの異物の総面積(mm2/m2)，必要に応じて，大きさ等級別の面積又は個
数
d) 離解時の回転数
e) 用いた計測器の名称及び形式
f)
試験中に観察された特徴的な事項
g) この規格と異なる条件及び方法で試験した場合，その結果に影響する事項，及びその他の必要とする
事項
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6
P 8230：2005
附属書A（参考）0.04 mm2よりも小さな異物
この附属書は，本体及び附属書（規定）に関連する事柄を補足するもので，規定の一部ではない。
古紙パルプの評価では，0.04 mm2未満の拡大しないと見えないような異物の数が重要となる場合がある。
測定が可能かどうかは，異物の大きさとコントラストとを計測する計測器の感度に依存し，また，試料の
白色度も影響する。この規格では，0.04 mm2未満の異物のコントラスト及び等級については規定しない。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7
P 8230：2005
附属書B（規定）比較チャート
このチャートはISO 15755に附属する比較チャートと同一である。
ここに示すチャート（附属書B図1）を用いるものとする。
附属書B図1 比較チャートのコピー
備考 面積の大きさごとに，最小のコントラストのスポットを示す。最小のコントラストが30 %，50 %
及び80 %の異物は，それぞれ，0.4 mm2，0.15 mm2及び0.04 mm2と同等以上の大きさである。
参考 ISO 15755（比較チャート附属）は，財団法人日本規格協会で購入できる。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8
P 8230：2005
附属書C（規定）コントラスト及び濃度
C.1 異物とそのバックグラウンドとの光の強度差を測定して用いるパラメータを，コントラストという。
これは，異物と周辺部との反射光の物理的な強度の比から求められる。異物がその周辺よりも暗いほどコ
ントラストは高くなる。この規格では，異物の近傍の位置をバックグラウンドとする。
C
=
100
ここに，
×
1
−
Rp
Rs
C： コントラスト (%)
Rp： 異物の反射率 (%)
Rs： 周辺部の反射率 (%)
C.2 異物を明確にするためのコントラストは，異物の大きさに依存する。小さなスポットは周辺のパルプ
よりも高いコントラストの場合にだけ観察され，一方，大きなスポットは低いコントラストでも観察でき
る（参考文献[4]）。
C.3 この規格では，コントラストの値は光学強度と濃度とから計算されるため，異物と周辺パルプの反射
光強度が同じ場合にゼロとなる。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9
P 8230：2005
参考文献
[1] KLEIN，R. et al. Image analysis−An effective tool for quality assessment of secondary fibre furnishes and
waste paper based grads. PTS Deinking Symp.，Munich.15-18 March 1994.
[2] JORDAN，B.D.，NGUYEN，N.G.，BIDMADE，M.L. Dirt counting with image analysis. Pulp Paper Can.
84:6 (1983)，TR60-64.
[3] KLUNGNESS，J.H.，FERNANDEZ，L.E.，PLANTINGA，P.L. Image analysis for measuring adhesive
contaminants in pulp. Tappi J．72:1 (1989)， pp. 89-93.
[4] JORDAN，B.D. The TAPPI Dirt Count as an Index of cleanliness. TAPPI Process and Product Quality
Conference 1993， pp. 25-29.
[5] ISO 2470:1977，Paper and board−Measurement of diffuse blue reflectance factor(ISO brightness).
[6] ISO 15755:1999，Paper and board−Estimation of contraries.
[7] ISO 5350-1:1998，Pulp−Estimation of dirt and shives−Part 1:Inspection of laboratory sheets.
[8] ISO 5350-2:1998，Pulp−Estimation of dirt and shives−Part 2:Inspection of mill sheeted pulp.
[9] ISO 5350-3:1998，Pulp−Estimation of dirt and shives−Part 3:Inspection by reflected light.
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ISO 15319：1999 古紙パルプ−反射光を用いた計測器による異物の評価方法
(Ⅰ) JISの規定
(Ⅲ) 国際規格の規定
(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の項
目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
項目
番号
内容
項目ごとの
評価
技術的差異の内容
パルプについて規
定
MOD/変更
明確化のために変更
実質的な差異はない。
MOD/追加
MOD/削除
JIS 1規格を追加
ISO 1規格を削除
ISOに提案する。
項目
番号
内容
1.適用範
囲
古紙パルプについて規定
2.引用規
格
3.定義
4.原理
(Ⅱ) 国際規
格番号
(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
日本では使用されていない。
異物，汚点
コントラスト
異物，汚点
ISOに規定なし
MOD/追加
明確化のために追加
ISOに提案する。
古紙パルプから調製した
手すき紙
手すき紙
MOD/変更
明確化のために変更
ISOに提案する。
JISと同じ
5.異物の
分類
6.装置
6.2手すき機の金網は，金
属線の径71 μm，目開き
106 μm，又は径90 μm，目
開き125 μm
6.2金網の目開き
は，125 μm
MOD/変更
JISの引用規格に整合さ JISの引用規格のISOへの整合に併せ
せ，2種類の金網を併記。 て変更する。
ISOには，金属線の径の ISOに提案する。
記載はない
7.サンプ
ルの調製
7.3乾燥リングを使用
ISOに規定なし
ISO 5269-2を引用
MOD/追加
MOD/削除
明確化のために追加
ISO 1規格を削除
ISOに提案する。
日本では使用されていない。
JIS P 8230：2005 古紙パルプ−反射光を用いた計測器による異物の評価方法
附属書1（参考）JISと対応する国際規格との対比表
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(Ⅰ) JISの規定
(Ⅲ) 国際規格の規定
(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の項目
ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
項目
番号
内容
項目ごとの
評価
技術的差異の内容
8.操作
JISと同じ
9.計算
JISと同じ
10.試験
結果の表
し方
JISと同じ
11.精度
JISと同じ
12.報告
JISと同じ
附属書A
（参考）
Annex A JISと同じ
附属書B
（規定）
Annex B JISと同じ
附属書C
（規定）
Annex C JISと同じ
参考文献
項目
番号
(Ⅱ) 国際規
格番号
内容
JISと同じ
(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理
由及び今後の対策
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
― IDT………………技術的差異がない。
― MOD/削除………国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
― MOD/追加………国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
― MOD/変更………国際規格の規定内容を変更している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
― MOD……………国際規格を修正している。
