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X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
図1 カートリッジの上側外観（リッドを開いた状態）
図2 カートリッジの下側外観（リッドを閉じた状態）
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X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
目次
ページ
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 適合性 ··························································································································· 1
3. 引用規格 ························································································································ 1
4. 用語の定義 ····················································································································· 1
4.1 交流消去 ······················································································································ 1
4.2 平均信号振幅 ················································································································ 1
4.3 アジマス ······················································································································ 1
4.4 裏面 ···························································································································· 1
4.5 ビットセル ··················································································································· 2
4.6 バイト ························································································································· 2
4.7 カートリッジ ················································································································ 2
4.8 巡回冗長検査文字 ·········································································································· 2
4.9 誤り訂正符号 ················································································································ 2
4.10 磁束反転位置 ··············································································································· 2
4.11 磁束反転間隔 ··············································································································· 2
4.12 磁気テープ ·················································································································· 2
4.13 標準テープ ·················································································································· 2
4.14 PBOT ························································································································· 2
4.15 PEOT ························································································································· 2
4.16 記録密度 ····················································································································· 2
4.17 副標準信号振幅 ············································································································ 2
4.18 副基準磁界 ·················································································································· 2
4.19 副標準テープ ··············································································································· 2
4.20 基準電流 ····················································································································· 2
4.21 テープ基準 ·················································································································· 2
4.22 試験記録電流 ··············································································································· 2
4.23 トーン ························································································································ 2
4.24 トラック ····················································································································· 2
4.25 ティピカル磁界 ············································································································ 2
5. 環境条件及び安全性 ········································································································· 2
5.1 試験環境条件 ················································································································ 2
5.2 使用環境条件 ················································································································ 2
5.3 保存環境条件 ················································································································ 3
5.4 輸送 ···························································································································· 3
5.5 安全性 ························································································································· 3
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ページ
5.6 燃焼性 ························································································································· 3
6. ケースの寸法及び機械的特性 ····························································································· 3
6.1 概要 ···························································································································· 3
6.2 全体の寸法 ··················································································································· 4
6.3 保持領域 ······················································································································ 4
6.4 カートリッジ挿入部 ······································································································· 4
6.5 窓 ······························································································································· 5
6.6 ローディンググリップ····································································································· 5
6.7 ラベル領域 ··················································································································· 5
6.8 基準領域及び基準孔 ······································································································· 5
6.9 支持領域 ······················································································································ 6
6.10 識別孔 ························································································································ 6
6.11 書込禁止孔 ·················································································································· 7
6.12 位置決め面 ·················································································································· 7
6.13 リッド ························································································································ 7
6.14 リールロック ··············································································································· 8
6.15 リール受け孔 ··············································································································· 9
6.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域 ·············································································· 9
6.17 光通過経路 ·················································································································· 9
6.18 ケース内のテープの位置 ······························································································· 10
6.19 テープ走行領域 ··········································································································· 10
6.20 テープ引出し開口部 ····································································································· 10
6.21 テープ引出し開口部の要求事項 ······················································································ 11
7. 材料 ···························································································································· 25
7.1 材料 ··························································································································· 26
7.2 長さ ··························································································································· 26
7.2.1 磁気テープの長さ ······································································································· 26
7.2.2 リーダテープ及びトレーラテープの長さ ········································································· 26
7.2.3 接合テープの長さ ······································································································· 26
7.3 幅 ······························································································································ 26
7.4 連続性 ························································································································ 26
7.5 厚さ ··························································································································· 26
7.5.1 磁気テープの厚さ ······································································································· 26
7.5.2 リーダテープ及びトレーラテープの厚さ ········································································· 26
7.6 長手方向の湾曲 ············································································································ 26
7.7 カッピング ·················································································································· 26
7.8 塗布面の接着強度 ········································································································· 26
7.9 層間の粘着 ·················································································································· 27
7.10 引張強度 ···················································································································· 27
(2)
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7.10.1 破断強度 ·················································································································· 27
7.10.2 降伏強度 ·················································································································· 27
7.11 残留伸び ···················································································································· 27
7.12 表面の電気抵抗 ··········································································································· 27
7.13 テープの巻き方 ··········································································································· 28
7.14 光透過率 ···················································································································· 28
8. 磁気記録特性 ················································································································· 28
8.1 試験条件 ····················································································································· 28
8.2 ティピカル磁界 ············································································································ 28
8.3 平均信号振幅 ··············································································································· 28
8.4 分解能 ························································································································ 28
8.5 狭帯域の信号雑音費（NB-SNR） ····················································································· 28
8.5.1 要求事項 ··················································································································· 28
8.5.2 試験方法 ··················································································································· 29
8.6 消去特性 ····················································································································· 29
8.7 テープの品質 ··············································································································· 29
8.7.1 ミッシングパルス ······································································································· 29
8.7.2 ミッシングパルスゾーン ······························································································ 29
8.8 不良テープ ·················································································································· 29
9. フォーマット ················································································································· 29
9.1 概要 ··························································································································· 29
9.2 情報マトリクス ············································································································ 29
9.2.1 情報マトリクスのロード ······························································································ 30
9.2.1.1 G1グループ············································································································ 30
9.2.1.2 G2グループ············································································································ 30
9.2.1.3 誤り訂正符号（ECG） ······························································································ 31
9.2.1.3.1 G3グループ ········································································································· 32
9.2.1.3.2 G4グループ ········································································································· 32
10. 記録方式 ····················································································································· 33
10.1 記録密度 ···················································································································· 33
10.1.1 長周期平均ビットセル長 ····························································································· 33
10.1.2 短周期平均ビットセル長 ····························································································· 33
10.1.3 短周期平均ビットセル長の変動率 ················································································· 33
10.2 ビットシフト ·············································································································· 33
10.3 情報交換時の再生信号振幅 ···························································································· 33
10.3.1 データ信号の平均信号振幅 ·························································································· 33
10.3.2 サーボ信号の平均信号振幅 ·························································································· 33
10.3.3 アナログテープマーク上の信号振幅 ·············································································· 33
10.4 消去 ·························································································································· 33
(3)
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11. トラック ····················································································································· 33
11.1 トラックの位置 ··········································································································· 34
11.2 トラック間隔 ·············································································································· 34
11.2.1 平均トラック間隔 ······································································································ 34
11.2.2 隣接トラック間隔 ······································································································ 34
11.3 トラック幅 ················································································································· 34
11.4 トラック角 ················································································································· 35
11.5 トラックエッジの直線性 ······························································································· 35
11.6 アジマス角 ················································································································· 35
12. 情報トラックのフォーマット ··························································································· 35
12.1 チャネルビット ··········································································································· 35
12.2 情報セグメント ··········································································································· 35
12.2.1 ビット同期フィールド ································································································ 35
12.2.2 情報セグメント番号 ··································································································· 35
12.2.3 情報セグメントフィールド ·························································································· 36
12.3 情報ブロック ·············································································································· 37
12.4 情報ゾーン ················································································································· 37
12.5 サーボゾーン ·············································································································· 38
12.6 情報トラック ·············································································································· 38
12.6.1 フォーマットIDトラック ··························································································· 39
12.6.2 データトラック ········································································································· 39
12.6.3 テープマークトラック ································································································ 39
12.6.4 スプライストラック ··································································································· 39
13. テープマーク ··············································································································· 39
13.1 テープマークの概要 ····································································································· 39
13.2 ロングテープマーク ····································································································· 40
13.3 ショートテープマーク ·································································································· 40
13.3.1 標準ショートテープマーク ·························································································· 40
13.3.2 代替ショートテープマーク ·························································································· 40
14. ID情報 ······················································································································· 40
14.1 00列00行 ·················································································································· 40
14.1.1 ブロック形式−データブロック ···················································································· 40
14.1.2 ブロック形式−テープマーク ······················································································· 40
14.1.3 ブロック形式−フォーマットID ··················································································· 41
14.1.4 ブロック形式−パッドブロック ···················································································· 41
14.2 00列01行 ·················································································································· 41
14.3 00列02行 ·················································································································· 41
14.4 00列03行 ·················································································································· 41
14.5 00列04行 ·················································································································· 41
(4)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)目次
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14.6 00列05，06行 ············································································································ 41
14.6.1 05行 ······················································································································· 41
14.6.2 06行 ······················································································································· 41
14.7 00列07行 ·················································································································· 41
14.8 00列08，09，10行 ······································································································ 41
14.8.1 ブロック形式−データブロック ···················································································· 41
14.8.2 ブロック形式−非データブロック ················································································· 41
14.9 00列11，12，13行 ······································································································ 41
15. 再書込み情報ブロック···································································································· 42
16. テープのフォーマット···································································································· 42
16.1 初期消去領 ················································································································· 42
16.2 LBOT領域 ················································································································· 42
16.3 テープの使用可能領域 ·································································································· 43
16.4 ポストデータ消去領域 ·································································································· 43
附属書A（規定） 光透過率の測定方法 ·················································································· 44
附属書B（規定） ビットシフトの測定 ··················································································· 46
附属書C（規定） 8ビットバイトから10ビットパターンへの変換 ·············································· 48
附属書D（参考） 輸送条件 ································································································· 52
附属書E（参考） 不良テープ ······························································································· 53
(5)
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日本工業規格
JIS
X 6141-1993
(ISO/IEC 11319 : 1993)
8mm幅，ヘリカル走査記録，情報交換用
磁気テープカートリッジ
8 mm wide magnetic tape cartridge for information
interchange−Helical scan recording
日本工業規格としてのまえがき
この規格は，1993年初版として発行されたISO/IEC 11319 (Information technology-8mm wide magnetic tape
cartridge for information interchange−Helical scan recording) を翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を変更
することなく作成した日本工業規格である。
1. 適用範囲 この規格は，電子計算機，関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換用に用
いる8mm幅，ヘリカル走査記録，磁気テープカートリッジ（以下，カートリッジという。）の構造，寸法，
物理的特性，機械的特性，電気的特性，磁気的特性及び情報の記録様式について規定する。テープマーク
の論理的要求事項は，ISO 1001による。
2. 適合性 磁気テープカートリッジは，この規格のすべてを満たすとき，この規格に適合する。テープ
の要求事項は，テープの全域について適用する。
3. 引用規格 この規格の引用規格は，次による。
ISO 1001 : 1986 Information processing−File structure and labelling of magnetic tapes for information
interchange
備考 JIS X 0601-1990 （情報交換用磁気テープのラベル及びファイル構成）が，この国際規格と
一致している。
ISO/R 527 : 1966 Plastics−Determination of tensile properties
ISO 1302 : 1978 Technical drawings−Method of indicating surface texture on drawings
IEC 950 : 1990 Safety of information technology equipment, including electrical business equipment
4. 用語の定義 この規格で用いる用語の定義は，次による。
4.1
交流消去 (AC erase) 減衰する交流磁界を用いた消去。
4.2
平均信号振幅 (average signal amplitude) 規定の記録密度で記録したテープ上のミッシングパルス
がない部分の長さ1.40mm以上にわたって測定した読取りヘッドの平均ピーク出力電圧 (P−P)。
4.3
アジマス (azimuth) 磁束反転のトラックの中心線に垂直な直線に対する角度の偏差。
4.4
裏面 (back surface) データの記録に使う磁性面の反対側のテープの面。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
4.5
ビットセル (bit cell) トラックに記録するデータの1ビットの領域。
4.6
バイト (byte) 一単位として取り扱われるビット列。
4.7
カートリッジ (cartridge) 一組のリールに巻かれた磁気テープを収納したケース
4.8
巡回冗長検査文字 [cyclic redundacy check (CRC) character] 誤り検出及び誤り訂正のために巡回符
号として用いる文字。
4.9
誤り訂正符号 (error correcting code，ECC) 誤りを自動訂正できるように設計された符号。
4.10 磁束反転位置 (Hux transition position) テープ表面に垂直の方向に磁束密度が最大となる点。
4.11 磁束反転間隔 (Hux transition spacing) 一つのトラックに沿って連続する磁束反転の長さ。
4.12 磁気テープ (magnetic tape) 磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。
4.13 標準テープ (master standard reference tape) 平均信号振幅，ティピカル磁界及び分解能の標準とし
て用いるもので，その特性値を国際標準化機構 (ISO) が規定したテープ。
参考 標準テープは，ソニー株式会社で管理されている。
4.14 PBOT (pbysical beginning of tape) 磁気テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。
4.15 PEOT (pbysical end of tape) 磁気テープ終端での磁気テープとトレーラテープとの接合箇所。
4.16 記録密度 (pbysical recording density) トラックの長さ1mm当たりに記録される磁束反転数
(ftpmm)。
4.17 副標準信号振幅 (secondary reference amplitude) 副標準テープに記録密度2 126 ftpmmの信号を試
験記録電流で記録したときの平均信号振幅。
4.18 副基準磁界 (secondary reference Held) 副標準テープのティピカル磁界。
4.19 副標準テープ (secondary standard reference tape) テープの平均信号振幅，ティピカル磁界及び分解
能を標準テープのそれと比較するために用い，その特性と標準テープの特性との偏差が明示されて，実測
値の偏差を補正することによって，間接的に供試テープと標準テープとの特性の比較を行うことを可能と
するテープ。
参考 副標準テープは，東京都品川区北品川6-7-35 ソニー株式会社記録メディア営業本部データメ
ディア営業部が，部品番号RSE5001で2001年まで供給する。
4.20 基準電流 (standard reference current) 副基準磁界を生じさせる記録電流。
4.21 テープ基準縁 (tape reference edgc) テープの記録面を上側にして水平に置き，繰出しリールが右側
となるように見たときの手前の縁。
4.22 試験記録電流 (test recording current) 基準電流の1.5倍。
4.23 トーン (tonc) 98ftpmmの信号。
4.24 トラック (track) 磁気信号を直列に記録するテープ上の斜めの領域。
4.25 ティピカル磁界 (typical field) 記録密度2 126ftpmmで連続する磁束反転を記録して，これを再生
するとき，その再生出力電圧が最大出力電圧（飽和値）の90%となる最小印加磁界。
5. 環境条件及び安全性
5.1
5.2
試験環境条件 試験環境条件は，規定がない限り次による。
温度
23℃±2℃
相対湿度
40%〜60%
試験前放置時間
24時間
使用環境条件 使用環境条件は，カートリッジの近傍の大気中で測定し，次による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
温度
5℃〜45℃
相対湿度
20%〜80%
湿球温度
26℃以下
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合，使用環境条件以外の環境条件に放置し
た時間と同等以上又は最大24時間，使用環境条件に放置してから使用しなければならない。
参考 急激な温度変化は，避けることが望ましい。
5.3
保存環境条件 保存環境条件は，次による。
温度
5℃〜45℃
相対湿度
20%〜80%
湿球温度
26℃以下
周辺磁界は，カートリッジ面で4 000A/mを超えてはならない。
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
5.4
輸送 カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報は，附属書Dによ
る。
5.5
安全性 カートリッジ及びその構成部品は，IEC 950の規定を満足しなければならない。
5.6
燃焼性 カートリッジ及びその構成部品の材料は，マッチなどの炎によって着火してもよいが，二
酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。
6. ケースの寸法及び機械的特性
6.1
概要 カートリッジのケースは，上ハーフ，下ハーフ及び上ハーフに取り付けた回転式リッドから
なり，具体図は，次による。
図1は，上側から見たカートリッジの外観を示す。
図2は，下側から見たカートリッジの外観を示す。
図3は，リッドが閉じた状態での上面を示す。
図4は，底面，基準領域及び支持領域を示す。
図5は，リッドを開いた状態での底面を示す。
図6は，基準孔及び識別孔の拡大を示す。
図7は，光通過経路孔，識別孔及び書込み禁止孔の断面を示す。
図8は，リッドが閉じたとき，回転しているとき及び開いたときの詳細を示す。
図9は，リッドロック解除用挿入溝の詳細を示す。
図10は，リッドロック解除の要件を示す。
図11は，リールロック解除の要件を示す。
図12は，リールロック解除に要する力の方向を示す。
図13は，リッドロック解除に要する力の方向を示す。
図14は，リッド開放に要する力の方向を示す。
図15は，光通過経路及び光窓を示す。
図16は，テープ走行領域及び光通過経路を示す。
図17は，リール及びその断面を示す。
図18は，リール及び駆動スピンドルの接触領域の断面を示す。
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4
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
図19は，テープ引出し開口部を示す。
寸法は，三つの直交する基準面X，Y及びZに基づく。
6.2
全体の寸法（図3参照） リッドが閉じた状態でのケースの全体の寸法は，次による。
L1＝62.5mm±0.3mm
L2＝95.0mm±0.2mm
L3＝15.0mm±0.2mm
ケースの背面から基準面Xまでの距離は，次による。
L4＝47.35mm±0.15mm
ケースの右側面から基準面Yまでの距離は，次による。
L5＝13.0mm±0.1mm
6.3
保持領域 磁気テープ装置にカートリッジを保持するときの保持領域は，図3の斜線部分とし，そ
の位置及び寸法は，次による。
L6≦12.0mm
L7≧3.0mm
6.4
カートリッジ挿入部 カートリッジは，磁気テープ装置に誤った向きに挿入できないように，溝，
切込み及びこう配面からなる非対称のカートリッジ挿入部を設ける。
溝は，リッドロック解除ピンの挿入領域を妨げないように設け，その位置及び寸法は，図3，図9及び
次による。
L8＝79.7mm±0.2mm
L9＝1.0mm±0.1mm
L10＝0.7mm±0.1mm
L11≧1.0mm
L12＝1.2mm±0.1mm
L13＝0.8mm±0.1mm
L14＝1.2mm±0.1mm
L15＝0.5mm±0.1mm
L16＝1.5mm±0.1mm
L17＝1.0mm±0.1mm
L18＝3.8mm±0.1mm
L19＝0.2mm±0.2mm
L20≧2.3mm
L21＝2.5mm±0.1mm
切込みの寸法は，図3，図5及び次による。
L22≦7.5mm
L23＝11.0mm±0.2mm
L24＝1.5mm±0.1mm
L25＝1.5mm±0.1mm
リッドの一部は，こう配面とし，その寸法は，図8及び次による。
0.0
L26＝7.7mm
−
5.2
mm
+−
05
L27＝0.55mm
.010
.0
mm
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5
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
A1＝17.5°±4.0°
6.5
窓（図1参照） 窓は，リールの一部が見えるように上面に設けてもよいが，カートリッジの高さ
を超えてはならない。
6.6
ローディンググリップ（図3参照） ローディンググリップは，磁気テープ装置にカートリッジを
自動的に装着するために設け，その位置及び寸法は，次による。
L28＝39.35mm±0.20mm
L29＝1.5mm±0.1mm
L30＝5.0mm±0.3mm
L31＝2.0mm±0.2mm
A2＝90°±5°
6.7
ラベル領域（図3参照） ラベル領域は，カートリッジの背面及び上面に設ける。背面のラベルは，
磁気テープ装置に挿入又は積み重ねたときに目視でき，各ラベルの位置及び寸法は，カートリッジの機構
部の要求事項及び動作を妨げてはならない。上面のラベル領域は，L6及びL7で規定した保持領域の内側に
入ってはならない。
背面のラベル領域の位置及び寸法は，次による。
L32≧0.5mm
L33≧1.5mm
L34≦80.0mm
ラベル領域のくぼみの深さは，0.3mm以下とする。
6.8
基準領域及び基準孔（図4図5及び図6参照） 環状の基準領域A，B及びCは，磁気テープ装置
に装着したときのカートリッジの垂直位置決めに用い，基準面Zとする（図4の斜線部参照）。それぞれ
の直径D1は，6.0mm±0.1mmとし，それぞれの基準孔の中心と同心とする。基準孔A及びBの中心は，
基準面X上とする。
円形の基準孔Aの中心は，基準面X及びYの交線とする（図5参照）。
基準孔Bの中心から基準面Yまでの距離は，図4及び次による。
L35＝68.0mm±0.1mm
基準孔Cの中心から基準面Yまでの距離は，図6及び次による。
L36＝10.20mm±0.05mm
基準孔Dの中心から基準面Yまでの距離は，図6及び次による。
L37＝79.2mm±0.1mm
基準孔C及びDの中心から基準面Xまでの距離は，図5及び次による。
L38＝36.35mm±0.08mm
+
05
基準孔A及びCの直径は，3.00mm
.000
.0
mmとし，基準孔A及びCの寸法は，図6及び次による。
+
L39＝1.2mm
0.10.0
mm
L40≧2.6mm
L41≧1.5mm
L42≧4.0mm
L43≦0.3mm
A3＝45°±1°
基準孔B及びDの寸法は，図6及び次による。
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6
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
+
L39＝1.2mm
0.10.0
mm
L40≧2.6mm
L41≧1.5mm
L42≧4.0mm
L43≦0.3mm
+
05
L44＝3.00mm
.000
.0
mm
L45＝3.5mm±0.1mm
L46＝3.00mm±0.05mm
A3＝45°±1°
R1≧1.7mm
6.9
支持領域 カートリッジの支持領域A，B，C及びDは，図4の網掛け部とする。支持領域A，B及
びCは，基準領域A，B及びCからそれぞれ±0.1mm以内で同一の平面上とする。支持領域Dは，基準面
Zから±0.15mm以内の範囲で同一の平面上とする。カートリッジの端からL49の距離の領域は，支持領域
から除かなければならない。支持領域の位置及び寸法は，図4及び次による。
L35＝68.0mm±0.1mm
L47＝10.0mm±0.1mm
L48＝11.0mm±0.1mm
L49＝ 0.5mm±0.1mm
L50＝ 7.0mm±0.1mm
L51＝30.0mm±0.1mm
L52＝ 5.5mm±0.1mm
L53＝64.5mm±0.2mm
6.10 識別孔（図5，図6及び図7参照） 識別孔は，図6に示す番号1から5までの5個を設け，それぞ
れの位置及び寸法は，次による。
L54＝43.35mm±0.15mm
L55＝ 3.7mm±0.1mm
L56＝ 2.3mm±0.1mm
L57＝ 6.4mm±0.1mm
L58＝ 3.7mm±0.1mm
L59＝ 2.3mm±0.1mm
L60＝ 6.4mm±0.1mm
L61＝79.0mm±0.2mm
すべての識別孔は，図7の断面F−Fに示す断面構造をもち，直径は，3.0mm±0.1mmとする。
識別孔の寸法は，次による。
+−
L62＝1.2mm
3.01.0
mm
L63≧5.0mm
断面図の一つは，プラグで閉じた識別孔を示し，他方は，プラグが打ち抜かれた状態を示す。これらの
プラグは，最大0.5Nの力を加えても打ち抜かれてはならない。これらの識別孔の開閉の状態は，次による。
a) 識別孔1は，閉じる。
b) 識別孔2は，公称13μm厚テープの場合，閉じ，公称10μm厚テープの場合，あける。
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7
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c) 識別孔3，4及び5は，閉じる。
6.11 書込み禁止孔（図6及び図7参照） 書込み禁止孔の位置及び寸法は，次による。
L55＝ 3.7mm±0.1mm
+−
L62＝ 1.2mm
3.01.0
mm
L63≧ 5.0mm
L64＝10.0mm±0.1mm
書込み禁止孔の直径は，3.0mm±0.1mmとする。
書込み禁止孔が開いた状態では，書込み禁止，閉じた状態では書込み可能とする。書込み禁止孔は，可
動の機構としてもよい。この場合，書込み禁止孔が目視できなければならない（図3参照）。書込み禁止孔
を閉じたときは，0.5Nの力を加えても開いてはならない。書込み禁止孔の開閉に要する力は，1Nから15N
までとする。
6.12 位置決め面（図3及び図5参照） 位置決め面は，磁気テープ装置に装着したとき，カートリッジ
のY方向の位置決めに用い，その位置及び寸法は，次による。
L25＝ 1.5mm±0.1mm
0.0
L65＝ 2.4mm
−
1.0
mm
0.0
L66＝ 2.4mm
−
1.0
mm
L67＝ 1.0mm±0.1mm
L68＝69.0mm±0.2mm
L69＝14.65mm±0.10mm
L70＝13.15mm±0.10mm
A4＝43°±1°
6.13 リッド（図3及び図8参照） 装着，格納及び輸送のとき，テープを保護するリッドは，主リッド
及び副リッドからなる。主リッドは，ケースに取り付けたピボットAを軸として回転する（図8参照）。
ピボットAの位置は，次による。
+−
05
L27＝0.55mm
.010
.0
mm
L71＝7.5mm±0.1mm
副リッドは，主リッドに取り付け，主リッドとともに動くピボットBを軸として回転する。リッドが閉
じた状態では，ピボットBの位置は，次による。
L72＝7.0mm±0.1mm
L73＝10.1mm±0.1mm
副リッドの回転は，両側のカムによって，図8に示した経路で制御される。リッドは，完全に開いた状
態では，基準面Zと平行でL77に位置する平面より高くなってはならない。
L74≧141.8mm
L75＝11.5mm±0.2mm
L76＝1.2mm±0.1mm
L77≦22.3mm
A5＝85°±2°
リッドは，部分的に開いた状態では，基準面Zと平行でL78に位置する平面より高くなってはならない。
L78≦22.5mm
R2≦141.9mm
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8
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主リッドの位置及び寸法は，図3，図8及び次による。
L71＝7.5mm±0.1mm
L79≦8.4mm
0.0
L80＝15.2mm
−
5.0
mm
0.0
L81＝15.3mm
−
3.0
mm
L82＝13.15mm±0.10mm
0.0
R3＝141.7mm
−
3.0
mm
ここでは，解除ピンによって解除するロック機構の動作についてだけ規定する。リッドが閉じロックし
た位置のとき，リッドロックの解除動作は，図10の斜線部に遮られてはならない。この領域の位置及び寸
法は，図10及び次による。
L83＝2.0mm±0.1mm
L84＝6.3mm±0.2mm
L85＝1.2mm±0.1mm
A6＝45°±1°
A7＝15°±1°
リッドの解除機構は，解除ピンが図10の網掛け部にあるとき，作動しなければならない。この領域の位
置及び寸法は，図10及び次による。
L83＝2.0mm±0.1mm
L86＝8.2mm±0.2mm
L87＝0.7mm±0.2mm
A8＝15°±1°
リッドロックの解除に要する力は，図13に示す方向に0.25N以下とする。リッドを開く力は，図14に
示す方向に1.0N以下とする。
6.14 リールロック（図11参照） リールは，カートリッジを磁気テープ装置から取り外すとき，ロック
されなければならない。
ここでは，解除ピンによって作動するロック機構については規定しない。解除機構は，ケースの孔を通
して作動するとき，その位置及び寸法は，図5及び次による。
L88＝34.5mm±0.1mm
L89＝35.85mm±0.15mm
L90＝40mm±0.1mm
L91≧6.5mm
解除ピンの動作面が基準面XからL95にあるとき，リールは，ロックしてはならない。この位置では，
ロック機構とカートリッジの背面板の内側との間にL96のすき間がなければならない。解除機構の寸法は，
図11及び次による。
L92＝3.2mm
+−
3.0
2.0
mm
L93＝4.0mm±0.1mm
+
.
2
L94＝39.0mm
00
0
.
mm
+
50
L95＝41.75mm
.000
.0
mm
L96≧0.5mm
L97≦7.8mm
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9
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L98＝4.0mm±0.1mm
A9＝60.0°±1.0°
R4≦0.3mm
リールロックの解除に要する力は，図12に示す方向に1.0N以下とする。
6.15 リール受け孔（図5参照） 二つの円形のリール受け孔は，駆動スピンドルを通すために設け，そ
の位置及び寸法は，次による。
L99＝23.00mm±0.05mm
L100＝11.40mm±0.05mm
L101＝46.2mm±0.1mm
D2＝18.80mm±0.05mm
6.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域（図17及び図18参照） 駆動スピンドルは，次の領域でリ
ールとかみ合わなければならない。
L102＝5.4mm±0.1mm
L103＝4.4mm±0.1mm
L104≦0.6mm
L105＝2.4mm±0.1mm
L106≦0.2mm
L107＝2.4mm±0.2mm
A10＝45°±1°
A11＝15°±1°
A12＝60°±1°
R5≦0.2mm
+
08
D3＝6.50mm
.000
.0
mm
+
08
D4＝10.00mm
.000
.0
mm
D5≦16.0mm
0.0
D6＝18.0mm
−
1.0
mm
リール駆動孔の深さL108は，直径D3の部分までとし，次による。
L108≧9.4mm
リールのスプリング力Fは，磁気テープ装置にカートリッジを装着し，支持領域が基準面ZからL110の
位置にあるとき，図18に示す方向に0.6N±0.2Nとする。接触領域の寸法は，次による。
L109＝7.05mm±0.10mm
L110＝0.6mm±0.2mm
L111≦7.5mm
L112≦8.0mm
A13＝60°±1°
6.17 光通過経路（図5，図7，図15及び図16参照） 光通過経路は，リーダテープ及びトレーラテープ
を検出するために設ける。リッドが開いたとき，光通過経路は，直径D7の通過孔から一辺がL116の正方形
の孔及びリッドの光窓を妨げられることなく通過しなければならない。
光通過経路の位置及び寸法は，次による。
L88＝34.55mm±0.10mm
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10
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L113＝8.35mm±0.10mm
L114≦0.5mm
L115＝6.05mm±0.10mm
L116＝2.5mm±0.4mm
L117≧12.5mm
L118＝3.8mm±0.1mm
L119＝2.5mm±0.4mm
L120＝6.05mm±0.10mm
A14＝45°±1°
A15＝5.50°±0.25°
+
D7＝6.5mm
3.00.0
mm
6.18 ケース内のテープの位置（図16参照） テープは，基準面Xに平行な二つのガイドの間を通る。こ
の二つのガイドの間隔は，次による。
L121＝12.46mm±0.10mm
ガイド面は，R6の半径をもち，図16に示すカートリッジの外側の点からリールハブに引いた接線とし
なければならない。ガイドの位置及び寸法は，次による。
L122＝76.28mm±0.30mm
L123＝27.15mm±0.20mm
L124＝31.15mm±0.20mm
L125＝9.67mm±0.10mm
R6≧1.5mm
6.19 テープ走行領域（図16及び図17参照） 磁気テープ装置にカートリッジを挿入すると，テープは，
カートリッジの外側に引き出される。このときテープは，ガイド面に接触してはならない。テープ走行領
域は，テープが自由に走行できることとし，その位置及び寸法は，次による。
L122＝76.28mm±0.30mm
L123＝27.15mm±0.20mm
L124＝31.15mm±0.20mm
L125＝9.67mm±0.10mm
L126＝23.0mm±0.1mm
L127≧0.3mm
L128＝46.2mm±0.2mm
L129＝11.4mm±0.1mm
L130≧0.3mm
.0
00
D8＝16.05mm
−
.0
10
mm
6.20 テープ引出し開口部（図5参照） 磁気テープ装置にカートリッジを装着すると，磁気テープ装置
のテープガイドは，カートリッジからテープを引き出す。このテープガイドのためのテープ引出し開口部
の形状及び寸法は，次による。
R7＝2.3mm±0.1mm
R8＝24.15mm±0.10mm
L67＝1.0mm±0.1mm
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L68＝69.0mm±0.2mm
L131＝3.81mm±0.10mm
なお，二つの半径R7の中心は，基準孔A及びBの中心とし，二つの半径R8の中心は，リール受け孔の
中心とする。
6.21 テープ引出し開口部の要求事項（図19参照） テープ引出し開口部の機構は，次の要求事項を満た
さなければならない。
L132≦1.2mm
+
20
L133＝1.15mm
.000
.0
mm
0.0
L134＝14.0mm
−
2.0
mm
L135≧66.8mm
L136≧10.0mm
A16≦49°
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
12
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
図1 カートリッジの上側外観（リッドを開いた状態）
図2 カートリッジの下側外観（リッドを閉じた状態）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
13
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
図3 上面図（リッドを閉じた状態）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
14
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
図4 底面，基準面及び支持領域
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図5 底面図（リッドを開いた状態）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
16
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
図6 基準孔及び識別孔の拡大図
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図7 光通過径路孔，識別孔及び書込み禁止孔の断面図
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図8 リッド（リッドが閉じたとき，回転しているとき及び開いたとき）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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図9 リッドロック解除用挿入溝の詳細図
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
20
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図10 リッドロック解除の要求条件
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X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
図11 リールロック解除機構
図12 リールロック解除に要する力の方向
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X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
図13 リッドロック解除に要する力の方向
図14 リッド開放に要する力の方向
図15 光通過経路及び光窓
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図16 テープ走行領域及び光通過経路
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図17 リール
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図18 リール及び駆動スピンドルの接触領域
図19 テープ引出し開口部
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7. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法
7.1
材料 テープの記録面は，ベース（延伸したポリエチレンテレフタレート又はこれと同等品）上の
片面に，強固で柔軟性がある磁性材料を塗布しなければならない。テープの裏面は，磁性材又は非磁性材
を塗布してもよい。
リーダテープ及びトレーラテープは，磁性材料の塗布及び裏面に塗布がない半透明な材料とする。
7.2
長さ
7.2.1
磁気テープの長さ テープのPBOTからPEOTまでの長さは，14.72m〜113mとする。
7.2.2
リーダテープ及びトレーラテープの長さ リーダテープ及びトレーラテープの長さは，70mm〜
90mmとする。
7.2.3
7.3
接合テープの長さ 接合テープの長さは，13mm以下とする。
幅 磁気テープの幅は，8.00mm±0.01mmとし，最大幅と最小幅との差は，ピーク対ピークで6μm
以下とする。リーダテープ，トレーラテープ及び接合テープの幅は，8.00mm±0.02mmとする。テープ幅
の測定方法は，次による。
顕微鏡用のスライドグラスを試験片にかぶせる。少なくとも2.5μmの精度の顕微鏡，投影器又はこれと
同等の装置を使用し，張力をかけずに幅を測定する。長さ1m以上のテープについて異なる位置5か所以
上の測定を繰り返す。測定した値の平均をテープの幅とする。
7.4
連続性 テープは，PBOTからPEOTまでに継目があってはならない。
7.5
厚さ
7.5.1
磁気テープの厚さ この規格では，厚さが異なる2形式のテープを規定し，それら磁気テープの厚
さは，全幅にわたり12.0μm〜14.0μm又は9.2μm〜10.8μmとする。
7.5.2
リーダテープ及びトレーラテープの厚さ リーダテープ及びトレーラテープの厚さは，13μm〜
17μmとする。
7.6
長手方向の湾曲 長手方向の湾曲は，曲率半径33m以上とする。試験方法は，次による。
長さ1mのテープを平面上に自然の状態で置く。1mの弦からの偏差を測定する。
偏差は，3.8m以下とする。この偏差は，33mの曲率半径と一致する。
7.7
カッピング カッピングは，平面から磁気テープの幅方向での浮き上がり量とし，0.9mm以下とす
る。試験方法は，次による。
テープを長さ1.0m±0.1mに切り取る。塗布面を露出して，試験環境条件に3時間以上放置する。この
テープの中央部分から，長さ25mmの試験片を切り取る。この試験片を，テープの一方の切断部を下側に
して，高さ25mm以上，内径8mmの円筒内に立てる。この円筒を光学的コンパレータに立てて載せ，試
験片の基準縁と反対側の縁とをコンパレータの十字線にそろえて，十字線から試験片の中心までの距離を
測定する。
7.8
塗布面の接着強度 塗布面をテープのベース材料からはがす力は，0.10N以上とする（図20参照）。
試験方法は，次による。
長さ380mmのテープの試験片を取り，一方の端から125mmの位置でテープの幅方向にけがき線をベー
ス面に達するまで引く。塗布面を下向きにして，両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属
の板に張り付ける。けがき線に平行に，試験片を180°折り曲げ，金属の板と試験片の自由端とを引張試
験機に取り付けて，254mm/minで引っ張る。塗布面のいかなる部分でも，最初にベースからはがれたとき
の力を記録する。この力が0.10Nに達する前に両面接着テープが試験片からはがれる場合，別の種類の両
面接着テープを使用しなければならない。テープの裏面が塗布されている場合，裏面についてもこの試験
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
27
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
を行う。
図20 塗布面の接着強度の試験方法
7.9
層間の粘着 層間の粘着は，試験片の粘着又は塗布面のはがれの徴候があってはならない。試験方
法は，次による。
直径36mmのガラス管の表面に，長さ1mの試験片の端を付ける。1.1Nの張力でガラス管にテープを巻
く。巻かれた試験片を温度45℃±3℃，相対湿度80%の環境の中に4時間放置する。更に，試験環境条件
に24時間放置する。試験片の自由端に0.1Nの力をかけ，ゆっくりとほどく。
7.10 引張強度 引張強度は，ISO/R 527の測定方法によって試験したとき，次による。
なお，試験片の長さは，200mm，引張速度は，100mm/minとする。(ISO/R 527，rate D)
7.10.1 破断強度 破断強度は，試験片が破断するまで負荷をかけたときとし，その値は，17.6N以上とす
る。
7.10.2 降伏強度 降伏強度は，テープが5%伸びるのに要する力とし，その値は，4.9N以上とする。
7.11 残留伸び 残留伸びは，元のテープ長の0.03%未満とする。試験方法は，次による。
0.20N以下の張力で約1mの長さの試験片の初期の長さを測定する。更に，全断面積に対し，20.5N/mm2
の力を10分間加える。加えた力を除き，10分経過後にテープの長さを測定する。
7.12 表面の電気抵抗 表面の電気抵抗は，次による。
裏面が塗布されていないテープの記録面
105Ω〜5×108Ω
裏面が塗布されているテープの記録面
105Ω〜5×1012Ω
裏面が塗布されているテープの裏面
9×108Ω未満
試験方法は，次による（図21参照）。
テープの試験片を試験環境条件に24時間放置する。24カラットの金めっきをした半径R＝10mmで，粗
さをN4（ISO1302参照）で仕上げてある二つの半円の電極に，記録面が接するように置く。これらの電極
は，水平で，かつ，中心間の距離d＝8mmとなるように平行に置く。試験片の両端に5N/mm2の力を加え
る。電極に100V±10Vの直流電圧を加えて，電流を測定する。この値から表面の電気抵抗を算出する。こ
の測定を一つのテープ試験片の5か所について行い，これらの表面の電気抵抗の平均を求める。テープの
裏面が塗布されている場合，裏面についてもこの試験を行う。試験片を電極に置くとき，電極の間にテー
プの試験片以外の導電性の物質があってはならない。
参考 表面は，清浄にするのがよい。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
図21 表面の電気抵抗の試験方法
7.13 テープの巻き方 テープの巻き方は，テープの磁性面を外側とする（図1参照）。
7.14 光透過率 磁気テープの光透過率は，5%以下とし，リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は，
60%以上とする。光透過率の測定方法は，附属書Aによる。
8. 磁気記録特性 磁気記録特性の試験は，次に示す試験項目による。
この試験を行うとき，出力信号又は残留信号の測定は，副標準テープ及び供試テープともに同じ装置上
の同じ走行系（記録同時読取りをするか，記録同時読取り機能がない装置の場合，記録後の1回目の再生
時に読み取る。）を使用する。
8.1
試験条件 磁気記録特性の試験条件は，規定がない限り，次による。
テープの状態
ヘッドとテープの相対速度
トラック幅
アジマス
ギャップ長
テープの張力
記録電流
残留する信号の振幅が記録密度2 126 ftpmmでの平均信号振幅の
2%以下になるように交流消去する。
3.759m/s±0.2%
25μm±1μm
−10.000°±0.133°
0.30μm±0.05μm
0.117 0N±0.009 8N
試験記録電流
8.2
ティピカル磁界 ティピカル磁界は，副基準磁界の80%〜120%とする。
8.3
平均信号振幅 平均信号振幅は，記録密度2 126 ftpmmを記録したとき，標準信号振幅の70%〜130%
とする。ただし，ミッシングパルスを除く。
8.4
分解能 分解能は，記録密度2126 ftpmmの平均信号振幅を記録密度708.67 ftpmmの平均信号振幅で
除した値とし，副標準テープを用いて測定したときの値の80%〜120%とする。
8.5
狭帯域の信号対雑音比 (NB−SNR) 狭帯域の信号対雑音比は，実効電力の平均信号振幅を雑音の
実効電力の積分（側帯波）で除した値とし，デシベル(dB)で表す。
8.5.1
要求事項 トラック幅を25μmとしたとき，34dB以上とする。
なお，次の式によって算出する。
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X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
dB (25) ＝dB (W) ＋10logW25
ここで， W： 測定に用いた磁気ヘッドのトラック幅 (μm)
8.5.2
試験方法 試験方法は，分解能3kHz及びビデオ帯域幅30Hzのスペクトラムアナライザを使用し，
次による。
記録密度2 126ftpmmの再生信号振幅をテープの長さ6m以上にわたり，150か所以上のサンプルについ
て測定する。次の走行（再生時）で，テープ上の同じ箇所の雑音の実効電力を測定し，その雑音の実効電
力を3.59MHzから3.96MHzまで，実際の分解能帯域幅で規準化して積分する。
8.6
消去特性 記録密度2 126ftpmmの試験記録電流と等しい記録電流で，記録密度98ftpmmの信号を記
録した後，テープの長手方向に320 000A/mの均一な磁界中を通過したとき，残留した信号振幅は，標準
信号振幅の2%以下とする。
なお，消去磁界は，ソレノイドの中央部の磁界のように，均一でなければならない。また，測定は，バ
ンドパスフィルタを通し，少なくとも第3高調波まで行う。
8.7
8.7.1
テープの品質
ミッシングパルス ミッシングパルスは，再生信号振幅の欠損であり，再生信号の出力電圧の0V
を規準としたピーク値 (0−P) を記録密度2 126 ftpmmの平均信号振幅の21の25%以下であるとき，これを
ミッシングパルスとする。
8.7.2 ミッシングパルスゾーン ミッシングパルスゾーンは，7個の連続したミッシングパルスで始まり，
28個の連続した磁束反転が読めたとき，又はトラックの0.038mmの長さを検出したとき終了する。それ
以後のミッシングパルスは，次のミッシングパルスゾーンとする。
なお，ミッシングパルスゾーンは，次のトラックに続いてはならない。
平均ミッシングパルスゾーンの発生頻度は，検出したミッシングパルスゾーンの数をテープに記録した
磁束反転数の合計で除して求め，2126ftpmmの密度で記録し，2×10−7未満でなければならない。
8.8
不良テープ 不良テープの規格値は，この規格では規定しない。
なお，不良テープの特性などを附属書Eに示す。
9. フォーマット
9.1
概要 ここでは，ホストコンピュータから受信したデータの誤り検出及び誤り訂正の動作並びにテ
ープ上の記録方法及びテープの記録様式について規定する。
9.2
情報マトリクス ホストコンピュータからの受信データは，情報マトリクスと呼ぶ二次元のグルー
プに配置する。情報マトリクスは，60列×24行に配置した1440セルで構成する。各セルは，データバイ
トで構成し，行及び列によって識別する。情報マトリクスは，次による。
ID情報
ユーザデータバイト及びパッドバイト
CRCバイト
14バイト（14.参照）
1 024バイト（9.2.1.1参照）
2バイト（9.2.1.2参照）
水平ECバイト
160バイト（9.2.1.3.1参照）
垂直ECバイト
240バイト（9.2.1.3.2参照）
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30
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
図22 情報マトリクス
9.2.1
情報マトリクスのロード 各セルは，00列／00行から59列／23行の書式で，列及び行によって
識別する。CRCバイト及びECバイトの全計算データの付加は，EXCLUSIVE-0R演算によって実行する。
9.2.1.1
G1グループ G1グループは，ID情報14バイト並びにユーザデータバイト及びパッドバイトの
1024バイトからなる1038バイトとする。
ユーザデータバイトの数が1 024バイト未満のとき，残りのバイトをパッドバイトとする。パッドバイ
トは，規定せず，情報交換時には無視する。G1グループにユーザデータバイトがない場合もある（12.3
参照）。
ID情報は，00列／00行〜00列／13行の14バイトとし，14.で規定する。
ホストコンピュータからのユーザデータバイトは，00列／14行〜00列／19行に，次に02列／00行〜
02列／19行に，更に50列／19行までの偶数列に順次格納する。その後，01列／00行〜01列／19行に格
納し，以下51列／17行までの奇数列に順次格納する。
9.2.1.2
G2グループ G2グループは，G1グループにCRC1及びCRC2の2バイトを付加する。このCRC
の2バイトは，G1グループの1 038バイトについて計算し，51列／18行及び51列／19行のセルに格納す
る。
このCRCバイトの生成は，次による。
j
=
7
∑
D x
D
k
(
X
)
＝
j
kj
j
=
0
k
=
1
037
D
(
X )
＝
∑
D (
X )
x
k
8
(
1
039
−
k
)
k
=
0
GCRC (X) ＝x16＋x12＋x5＋1
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X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
C(X)＝D(X) mod GCRC (X)
k
=
7
C (x) ＋x14＋x12＋x10＋x8＋x7＋x5＋x3＋x＝∑
++
(
CH
k
x
k 8
CL
k
x
k
)
k
=
0
ここに，
9.2.1.3
Dk： c列とr行のバイトを表す。
k＝ 0〜1 037
k＝ (10c＋r) ：cが偶数のとき
k＝ (10c＋r＋510) ：cが奇数のとき
c＝ 0〜51
r＝ 0〜19
Dk，
0，Dk，1，…，Dk, 7： Dkの8ビットを表し，Dk, 7を最上位ビッ
トとする。
CH0， CH1，…，CH7：第1CRCバイト (CRC1) を表し，CH7を最上
位ビットとする。
CL0， CL1，…，CL7：第2CRCバイト (CRC2) を表し，CL7を最上
位ビットとする。
誤り訂正符号 (ECC) ECCは，リードソロモン符号 (30，26，5) を水平符号，リードソロモン
符号 (24，20，5) を垂直符号とし，水平ECバイトと垂直ECバイトの2種類の検査バイトを生成する。
ECCの変換演算子は，次による。
B＝T [A] ；A＝T-1 [B]
ここに，
T [A] ： 8ビットECバイトの線形変換演算子を表す。
T-1 [B] ： 8ビットECバイトの逆線形変換演算子を表す。
バイトAとバイトBの相互変換は，次による。
B0＝A0＋A2＋A3＋A5＋A7
B1＝A3＋A4＋A6＋A7
B2＝A0＋A6＋A7
B3＝A0＋A1＋A6
B4＝A1
B5＝A0
B6＝A1＋A2＋A3＋A7
B7＝A0＋A1＋A2＋A6
ここに，
A0＝B5
A1＝B4
A2＝B3＋B7
A3＝B2＋B6＋B7
A4＝B1＋B5＋B6＋
B7
A5＝B0＋B4＋B5＋
B6
A6＝B3＋B4＋B5
A7＝B2＋B3＋B4
A0，A1，…，A7： バイトAの8ビットを表し，A7を最上位ビット
とする。
B0，B1，…，B7： バイトBの8ビットを表し，B7を最上位ビット
とする。
ガロア体GF (28) の生成多項式は．次の式による。
Gα (X) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1
Bは，ガロア体GF (28) の任意の元とし，次の式によって算出する。
k
=
7
∑
B
α
B
＝
k
=
0
k
k
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
32
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
ここに， B0，B1，…，B7： バイトBの8ビットを表し，B7を最上位ビット
とする。
G (X) は，次の式によって定義する。
i
=
2
∏
(
X
+
α
)
i
G
(
X
)
＝
i
= −
1
9.2.1.3.1
G3グループ G3グループは，G2グループに水平ECバイトを付加する（図22参照）。
Dc, rは，cを0〜51の列番号，rを0〜19の行番号とし，G2グループのバイトを表す。
DHEr (X) は，r行の偶数列のバイトを変換した値を係数とする多項式，T [CREk, r] は，r行の偶数列の水
平ECバイトの変換，CREk, rは，r行の偶数列の水平ECバイトを表し，それぞれ次の式によって算出する。
k
=
25
DHE
γ
(
X
)
＝
∑
T
[
D
γ
]
kX
29
−
k
2 ,
k
=
0
k
=
4
∑
T
[
CRE
γ
X
,]
k
DHE
γ
(
X
) mod G
(
X
)
＝
4
−
k
k
=
1
CREk, r＝T-1 [T [CREk, r] ]
ここに， r＝0，1，…，19
k＝1，2，3，4
CREk, rは，c＝50＋2kとするc列及びr行のセルに格納する。
DHOk, r (X) は，r行の奇数列のバイトが変換した値を係数とする多項式，T [CROk, r] は，r行の奇数列の
水平ECバイトの変換，CROk, rは，r行の中の奇数列の水平ECバイトを表し，それぞれ次の式によって算
出する。
k
=
25
DHO
γ
(
X
)
＝
∑
T
[
D
2(
k
+
1
),
γ
]
X
29
−
k
k
=
0
k
=
4
∑
T
[
CRO
γ
X
DHO
γ
(
X
) mod G
(
X
)
＝
,]
k
4
−
k
k
=
1
CROk, r＝T-1 [T [CROh, r] ]
ここに， r＝0，1，…，19
k＝1，2，3，4
CROk, rは，c＝51＋2kとするc列及びr行のセルに格納する。
9.2.1.3.2
G4グループ G4グループは，G3グループに垂直ECバイトを付加する（図22参照）。
Dc, rは，cを0〜59の列番号とし，rを0〜19の行番号として，0行〜19行のすべての列で構成するG3
グループの各バイトを表す。
DVc (X) は，c列のバイトを変換した値を係数とする多項式，T [CCc, k] は，c列の垂直ECバイトの変換，
CCc, kは，c列の垂直ECバイトを表し，それぞれは，次の式によって算出する。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
33
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
k
=
19
DV
c
(
X
)
＝
∑
T
[
D X
,]
c
k
23
−
k
k
=
0
k
=
4
∑
−
DV
c
(
X )
mod
G
(
X )
＝
T
[
CC
c
k,
]
X
4 k
k
=
0
CCc, k＝T−1 [T [CCc, k] ]
c＝0，1，…，59
ここに
k＝1，2，3，4
CCc, kは，r＝19＋kとするc列及びr行のセルに格納する。
10. 記録方式 データの記録方式は，データが1のときは，ビットセルの中央で磁化を反転し，データが
0のときは，磁化を反転しないNRZ1方式とする。
10.1 記録密度 最大記録密度は，2 126 ftpmmですべて “1” を記録したときとし，この公称ビットセ
ル長は，0.470μmとする。
10.1.1 長周期平均ビットセル長 各トラックの長周期平均ビットセル長は，連続する133 060個以上のビ
ットセルにわたる平均とし，その値は，0.470μm±0.20%とする。
10.1.2 短周期平均ビットセル長 短周期平均ビットセル長は，任意の16個以上のビットセルの平均とし，
その値は，直前のトラックの長周期平均ビットセル長の0.35%を超えて変化してはならない。
10.1.3 短周期平均ビットセル長の変動率 短周期平均ビットセル長の変動率は，任意の二つの連続する
16ビットセル (STAn，STAn＋1) の長さの変動と一つの連続する16ビットセル (STAn) の長さの比とし，そ
の値は，次の式で算出し，0.05%以下とする。
| STA
n
−
STA
n
+
1×
|
100 %
STA
n
10.2 ビットシフト 任意のビット1の零交差の最大位置誤差は，ミッシングパルスを除いて，短周期平
均ビットセル長による公称位置から25%を超えて偏移してはならない。測定法は，附属書Bによる。
10.3 情報交換時の再生信号振幅
10.3.1 データ信号の平均信号振幅 記録密度2 126 ftpmmで，3 000磁束反転以上にわたるデータ信号の
平均信号振幅は，副標準信号振幅の70%〜130%とする。
10.3.2 サーボ信号の平均信号振幅 任意のサーボフレーム（12.5参照）の平均信号振幅は，試験記録電流
で副標準テープに記録した98ftpmmの信号振幅の70%〜130%とする。
10.3.3 アナログテープマーク上の信号振幅 任意に記録したトラックのアナログテープマークトラック
（13.1参照）の平均信号振幅は，試験記録電流で副標準テープに記録した98 ftpmmの信号振幅の70%〜
130%とする。
10.4 消去 すべての消去領域は，テープの走行方向にテープの全幅を交流消去する。消去の後に残留す
る再生信号振幅は，同じテープ上に2 126 ftpmmで記録したときの平均信号振幅の2%以下とする。
11. トラック
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11.1 トラックの位置 記録したトラックのトラック長Eは，71.673mm±0.144mmとする。テープ基準縁
から各トラックの記録開始までをガードバンドとし，その幅Fは，1.014mm±0.018mmとする。隣接する
トラックとの間に消去したガードバンドを設け，その幅Dは，6.0μm±2.5μmとする。
図23 トラックの構成及び位置（基準面側を示す。）
11.2 トラック間隔
11.2.1 平均トラック間隔 任意の連続した30トラックの平均トラック間隔は，任意の隣接するトラック
の中心線をトラックの方向に垂直に測定したときの距離の平均とし，その値は，0.030 8mm〜0.031 2mmと
する。
備考 テープ基準縁に平行に測定したときの縦方向のトラック間隔Bは，公称0.363mmとする。
11.2.2 隣接トラック間隔 隣接トラック間隔は，任意の隣接するトラックの中心線をトラックの方向に垂
直に測定したときの距離とし，その値Aは，0.029 5mm〜0.032 5mmとする。
11.3 トラック幅 記録したトラック幅Cは，25μm±1μmとする。
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11.4 トラック角 トラック角は，任意の各トラックの中心線とテープ基準縁との角度とし，その値θは，
4.899 1。±0.001 5とする。
11.5 トラックエッジの直線性 記録したトラックエッジは，5μm間隔の2本の平行線の間になければな
らない。
11.6 アジマス角 アジマス角γは，−10.000°±0.133°とする。
12. 情報トラックのフォーマット
12.1 チャネルビット 1個のチャネルビットは，1個のビットセルで構成する。
ビット同期フィールド，サーボゾーン，プリアンブル，ポストアンブル及びアナログテープマークトラ
ックは，チャネルビットで規定する。
各情報セグメント番号は，10チャネルビットのパターンで表す（12.2.2参照）。
情報セグメントフィールドの各8ビットバイトは，附属書Cによって10チャネルビットに変換する。
12.2 情報セグメント 情報セグメントの構成は，図24による。
図24 情報セグメント
12.2.1 ビット同期フィールド ビット同期フィールドは，第1ビット及び第20ビットを “O”，第2〜第
19ビットを “1” とする20ビットパターンからなる。
12.2.2 情報セグメント番号 00〜47の情報セグメント番号は，表1に示すように，10ビットの記録パタ
ーンで表し，情報セグメント番号の最高位のビットから順次記録する。
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X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
表1 情報セグメント番号
情報セグメ
ント番号
00
01
02
03
04
05
06
07
08
09
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
記録パターン
記録パターン
1111111011
1111111101
1111110111
1111110101
1110111011
1110111101
1110110111
1110110101
1101011011
1101011101
1101010111
1101010101
1011111011
1011111101
1011110111
1011110101
1010111011
1010111101
1010110111
1010110101
1111011111
1111011101
1111010111
1111010101
情報セグメ
ント番号
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
37
38
39
40
41
42
43
44
45
46
47
ビット位置
10
ビット位置
10
1
1101111111
1101111101
1101111011
1101110101
1011111111
1011101101
1011010111
1011010101
1110111111
1111101111
1111101101
1111101011
1110101111
1110101111
1110101101
1110101011
1010111111
1011101111
1011101101
1011101011
1011111111
1010101111
1010101011
1101101011
1
12.2.3 情報セグメントフィールド 情報セグメントフィールドは，情報マトリクスから順次読み取った
30データバイトを表す300チャネルビットからなる。
情報マトリクスの各行 (r) は，二つの情報セグメントフィールド00〜29列と30〜59列とに分割する。
これらの情報セグメントフィールドは，図25によって番号付けすることとし，この番号順に読み取らな
ければならない。
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図25 情報セグメントフィールドの分割
12.3 情報ブロック 情報ブロックは，00〜47に番号付けした48情報セグメントで構成し，情報セグメン
ト00を最初に記録する（図26参照）。情報ブロックは，データブロック，パッドブロック，フォーマット
IDブロック及びテープマークブロックの4形式とし，ID情報で識別する（14.参照）。
この規格では，ID情報，パッドブロック，フォーマットIDブロック及びテープマークブロックを除い
たG1グループのバイトは，規定しないこととし，情報交換に使用しない。
図26 情報ブロックの構成
12.4 情報ゾーン 1個の情報ゾーンは，1個のプリアンブル，8個の情報ブロック及び1個のポストアン
ブルで構成し，その長さは，133 328チャネルビット±267チャネルビットとする。
プリアンブルは， “1” の連続した3 304チャネルビット±30チャネルビットとする。
ポストアンブルは，情報ゾーンの長さが133328チャネルビット±267チャネルビットになるまで連続した
“1” を埋める（図27参照）。
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X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
図27 情報ゾーンの構成
12.5 サーボゾーン サーボゾーンは，ヘッドの位置決めに用い，各トラックにF1〜F4の4個のサーボフ
レームを設け，各フレームの長さTの公称値は，2.256mmとする（図28参照）。
4個のサーボフレームのうち1個のサーボフレームは，トーンを記録する。
消去ゾーン後の最初のトラックに記録するサーボフレームの順序は，規定しない。連続するトラックに
記録するサーボフレームの位置は，ヘッドの移動方向に1フレームごとに進めなければならない。あるト
ラックにサーボフレームF4を記録した場合は，次のトラックにサーボフレームF1を記録し，以後この順
序を繰り返す。
図28 サーボゾーンの構成（記録面側を示す。）
12.6 情報トラック すべての情報トラックは，サーボゾーン及びそれに続く情報ゾーンからなる（図29
参照）。情報トラックは，フォーマットIDトラック，データトラック，テープマークトラック及びスプラ
イストラックの4形式とする。
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図29 情報トラック
12.6.1 フォーマットIDトラック フォーマットIDトラックの情報ゾーンは，フォーマットIDブロック
で構成する。物理ブロックID番号は，記録していないトラックを含み，すべてのトラックのすべてのブ
ロックに順番に割り付ける（14.9参照）。
第1フォーマットIDトラックの第1フォーマットIDブロックは，物理ブロックID番号を0としなけ
ればならない。LBOT領域は，160番目のフォーマットIDトラックで終了する。160番目のフォーマット
IDトラックのブロック8は，物理ブロックID番号を (160×8) −1＝1279とする。
12.6.2 データトラック データトラックの情報ゾーンは，データトラック及び／又はパッドブロックで構
成する。
12.6.3 テープマークトラック テープマークトラックの情報ゾーンは，テープマークブロックで構成する。
12.6.4 スプライストラック スプライストラックの情報ゾーンは，パッドブロックで構成する。スプライ
ストラックは，データの記録時にテープの走行が停止したとき記録し，最後のトラックとする。スプライ
ストラックは，データトラック，他のスプライストラック又はテープマークの後に隣接して記録する。
13. テープマーク
13.1 テープマークの概要 テープマークは，記録したユーザデータのグループの境界に用いてもよい。
テープマークは，ロングテープマーク及びショートテープマークの2形式とする。両形式のテープマーク
は，それぞれのテープマークの規定による長さで，直前の情報トラックに続いて，交流消去領域，11アナ
ログテープマークトラック及び10〜18テープマークトラックの順に構成する。
アナログテープマークは，サーボゾーン及びそれに続くトーンを記録した情報ゾーンで構成する。
第1テープマークトラックの第1ブロックは，最終の情報ブロックの物理ブロックID番号にテープマ
ークオフセットを加えた物理ブロックID番号を記録する。
消去領域の公称距離Rは，消去した領域に隣接する2トラックの中心線間をテープ基準縁に平行に測定
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した距離とする。
図30 テープマーク構成（テープ記録面側を示す。）
13.2 ロングテープマーク ロングテープマークの消去領域は，249個の消去トラックの領域に相当する公
称90.75mmまで拡張できる。そのオフセットは，(249＋11)×8＋1＝2 081とする。
13.3 ショートテープマーク ショートテープマークは，標準ショートテープマーク及び代替ショートテ
ープマークの2形式とする。
13.3.1 標準ショートテープマーク 標準ショートテープマークの消去領域は，消去した39個の消去トラ
ックの領域に相当する公称14.52mmまで拡張できる。そのオフセットは，(39＋11)×8＋1＝401とする。
13.3.2 代替ショートテープマーク 代替ショートテープマークの消去領域は，消去した2個の消去トラッ
クの領域に相当する公称1.089mmまで拡張できる。そのオフセットは，(2＋11)×8＋1＝105とする。
14. ID情報 情報トラックの8個の物理ブロックは，それぞれ14バイトのID情報を含む。これらのバイ
トは，サブシステムの管理のためにテープサブシステムが供給し，使用する。情報マトリクスフィールド
の00列の00〜13行は，ユーザデータブロックの論理的分割及び物理的分割に関する情報，ブロック形式，
再書込み回数の計数，スタート／エンド物理ブロックフラグ並びにその他のサブシステム制御情報を含ま
なければならない。
14.1 00列00行 このバイトは，00列03行で規定するブロック形式による。
14.1.1 ブロック形式−データブロック ブロック形式がデータブロックのとき，このバイトの各ビットの
意味は，次による。
ビット7
ビット6
ビット5
ビット4
ビット3，2，1，0
： “1”とする。
： 物理ブロックへの論理ブロックの写像として用い，物理ブロック内での論理
ブロックの始まりを示す。このビットは，論理ブロックの第1バイトが物理
ブロックの中にある場合“1”とし，ない場合"0"とする。
： 物理ブロックへの論理ブロックの写像として用い，物理ブロック内での論理
ブロックの終わりを示す。このビットは，論理ブロックの最終バイトが物理
ブロックの中にある場合“1”とし，ない場合“0”とする。
： “0”とする。
： これらのビットは，16を法とする2進数とし，その論理ブロックの再書込み
回数を表す。その値は，その論理ブロックに最初に書き込むとき，“0”とし，
以後再書込みを行うごとに“1”を加算する。
14.1.2 ブロック形式−テープマーク ブロック形式がテープマークのとき，このバイトは，現在のテープ
マーク以前にテープ上に記録したテープマークの数を256を法とする数とし，2進数で表す。
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14.1.3 ブロック形式−フォーマットID ブロック形式がフォーマットIDブロックのとき，このバイトの
内容は，(00) とする。
14.1.4 ブロック形式−パッドブロック ブロック形式がパッドブロックのとき，このバイトの内容は，規
定せず，情報交換時には無視する。
14.2 00列01行 このバイトは，すべてのブロック形式について (00) とする。
14.3 00列02行 このバイトは，すべてのブロック形式について (00) とする。
14.4 00列03行 このバイトは，ブロック形式を規定する。そのブロック形式IDは，次による。
(00)
〜 (F7) ：データブロック
(F8) ：将来使用のため確保
(F9) ：将来使用のため確保
(FA) ：ロングテープマーク
(FB) ：ショートテープマーク
(FC) ：フォーマットID
(FD) ：将来使用のため確保
(FE) ：パッドブロック
(FF) ：将来使用のため確保
LBOT又はテープマーク後の第1データブロックのブロック形式1Dは，(00) とする。
ブロック形式IDは，(00) から順次 (F7) まで増加し，その後これを繰り返す。ブロック形式IDは，テ
ープマークの後でリセットしなければならない。
14.5 00列04行 このバイトは，すべてのブロック形式について (00) とする。
14.6 00列05，06行 これらのバイトは，00列03行で規定するブロック形式による。ブロック形式がデ
ータブロックでないとき，これらのバイトの内容は，規定せず，情報交換時には無視する。
14.6.1 05行 ブロック形式がデータブロックのとき，このバイトは，物理ブロックに含まれるユーザデ
ータバイト数を2バイト計数表示している上位バイトを表す。このバイトの内容は，(00) 〜 (03) とする。
14.6.2 06行 ブロック形式がデータブロックのとき，このバイトは，物理ブロックに含まれるユーザデ
ータバイト数を2バイト計数表示している下位バイトを表す。このバイトの内容は，(00) 〜 (FF) とする。
上位バイト及び下位バイトの内容がいずれも (00) の場合は，1バイトの論理バイト数を表す。
14.7 00列07行 このバイトは，すべてのブロック形式について (00) とする。
14.8 00列08，09，10行 これらのバイトは，00列03行で規定するブロック形式による。
14.8.1 ブロック形式−データブロック ブロック形式がデータブロックのとき，これらのバイトは，この
論理ブロックの論理ブロックID番号を表し，それぞれ上位バイト，中位バイト及び下位バイトの3バイ
トとし，それぞれを(00)〜(FF)とする。論理ブロッヌID番号は，LBOT又はテープマーク後の第1論理ブ
ロックを00とし，引き続く論理ブロックについて順次1を加算する。
1個の論理ブロックを1個以上のデータブロックに拡張する場合，それらのデータブロックは，同一の
論理プロッタID番号をもってもよい。
14.8.2 ブロック形式−非データブロック ブロック形式がデータブロックでないとき，これらのバイトの
内容は，規定せず，情報交換時には無視する。
14.9 00列11，12，13行 これらのバイトは，すべてのブロック形式について，物理ブロックID番号を
示す上位バイト，中位バイト及び下位バイトの3バイトを表し，各バイトの内容は，(00) 〜 (FF) とする。
第1フォーマットIDトラックの第1ブロックは，物理ブロックID番号を0とする。この番号は，情報ブ
ロックについては，順次1を加算し，消去したトラック及びアナログテープマークトラックについて，そ
れぞれ8を加算する。
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15. 再書込み情報ブロック 情報ブロックの再書込み時，再書込みしたブロックのID情報は，再書込み
数と再書込みした実際の場所を示す物理ブロックID番号を除いて，本来のものと同じとする（14.1.1及び
14.9参照）。
再書込みした情報ブロックのずれは，最初の位置から121情報ブロックを超えてはならない。記録済み
のデータの信頼性を保証するため，ミッシングパルスゾーンを含む情報セグメントは，1ブロック当たり2
個未満とする。
16. テープのフォーマット テープのフォーマットは，図31による。
図31 テープのフォーマット（記録面側を示す）
16.1 初期消去領域（図31及び図32参照） 初期消去領域は，PBOTからLBOT領域の始まりまでとし，
その長さMは，725.0mm〜745.0mmとする。
図32 LBOTの構成（記録面側を示す）
16.2 LBOT領域 LBOT領域は，11アナログテープマークトラック及びそれに続く160フォーマットID
トラックからなる。
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16.3 テープの使用可能領域 テープの使用可能領域は，LBOT領域の終わりからPBOTの検出までとす
る。
16.4 ポストデータ消去領域 ポストデータの消去領域は，最終トラックの後に消去領域を設け，その長
さPは，119mm以上とする。
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附属書A（規定） 光透過率の測定方法
A.1 概要 この附属書は，テープの光透過率の測定装置及び測定方法についての概略を示す。
光透過率は，光学系にテープ試験片を入れないときの読取り値と入れたときの読取り値との比を百分比
で表す。
A.2 測定装置 装置構成は，次による。
光源
光検出部
測定用マスク
光学系
測定回路
A.2.1 光源 光源は，次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。
波長
半値幅
：
：
850nm±50nm
±50nm
A.2.2 光検出部 光検出部は，平らなシリコンフォトダイオードを用い，回路を閉じた状態で動作する。
A.2.3 測定用マスク 測定用マスクの厚さは，2mmとし，円形の孔の直径 (d) は，シリコンフォトダイオ
ードの受光領域の80%〜100%とする。マスクの表面は，黒のつや消し仕上げとする。
試験片は，マスクの孔を覆い，かつ，周りの光が漏れないように，マスクに固定する。
A.2.4 光学系（附属書A図1参照） 光学系は，マスクに垂直に入射し，光源からマスクまでの距離 (L)
は，次の式による。
L＝
d
2 tan
α
角度αは，光軸上の最大強度の95%以上の光の強度がある角度とする。
A.2.5 追捕 装置全体は，つや消しの黒いケースで覆う。
A.2.6 測定回路（附属書A図2参照） 測定回路は，次によって構成する。
E
R
LED
Di
A
Rf0，Rf1
S
V
：
：
：
：
：
：
：
：
出力電圧を変える定電圧電源
電流を制限する抵抗器
赤外線発光ダイオード
シリコンフォトダイオード
演算増幅器
帰還用の抵抗器
増幅率切代用スイッチ
電圧計
LEDに流す電流（照射力）は，供給電圧 (E) によって変化させる。
Diは，回路を閉じて動作させる。
演算増幅器の出力は，V0＝Ik×Rfで与えられる。ここで，Ikは，回路を閉じているときの電流値とする。
出力電圧は，光の強度の一次関数である。
Rf0及びRf1は，許容差1%の温度変化特性がよい抵抗器とする。
これらの抵抗値の比は，次の式による。
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X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
R
f 0＝
1
R
f
1
20
A.3 測定方法 スイッチ (S) を位置 (0) に設定する。試験片を取り付けないで，電圧計 (V) がフルスケ
ール (100%) になるように供給電圧 (E) を変化させる。リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り
付ける。電圧計は，60%〜100%を示す。
スイッチ (S) を位置 (1) に設定し，テープの試験片をマスクに取り付ける。電圧計のフルスケールは，
光透過率5%を示す。
附属書A図1 光学系の配置
附属書A図2 測定回路
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X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
附属書B（規定） ビットシフトの測定
ビットシフトの試験で用いる書込み装置は，通常の情報交換用に用いる装置とする。
なお，テープは，システム動作と同様の起動停止方式で書き込む。
B.1 読取り装置 読取り装置は，次による。
トラックの直線性が5μmの範囲内に保持されている磁気テープ装置によってテープを読み取る。読取り
ヘッドの出力電圧の絶対値は，規定しない。
なお，ヘッドの性能，回転トランス，プリアンプ及びヘッドとテープとの相対速度は，信号対雑音比を
低くするために選択する。
ヘッド，回転トランス，プリアンプ及び関連する回路の周波数特性は，次による。
読取りヘッド
ギャップ長
共振周波数
トラック幅
アジマス
：
：
：
：
0.30μm±0.05μm
“1”パターンの周波数の15倍以上
25μm±1μm
−10.000°±0.133。
回転トランス
バンド幅
：
fhigh(−3dB)は，“1”パターンの周波数の4倍以上
1以下
flow (−3dB)は，“1”パターンの周波数の400
：
：
：
100以上
プリアンプ
増幅率
入力雑音
バンド幅
2以下
nV
H
Z
fhigh (−3dB)は，“1”パターンの周波数の3倍以上
1以下
flow (−3dB)は，“1”パターンの周波数の400
読取りフィルタ
ローパスフィルタ
：
ハイパスフィルタ
：
“1”パターンの周波数の少なくとも2倍のカットオフ周波数をもつ3次のバタ
ーワース特性とする。
“1”パターンの周波数の401の点でQを0.7とする2個の極以上をもつ（すべて
1に存在しなければならない。）。
の他の交流対極は，“1”パターンの周波数の800
イコライザ
：
イコライザの伝達関数は，次の式による。
G
(
s
)
＝
ここに，
K
(
s
+
ω
z
()
s
−
ω
z
)
()
s
2
+
s
ω
0
)
(
s
+
ω
p
2
(
Q
+
ω
0
)
K≧ 1
ωi＝ 2πfi
fz＝ “1”パターンの周波数の41
fp＝ “1”パターンの周波数の401
f0＝ “1”パターンの周波数の2倍
Q＝ 0.7
B.2 測定 測定は，次による。
平均ビットセルの長さ (L) は，試験ゼロ交差点 (TZC) の両側にある二つの基準ゼロ交差点 (RZC) の間
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
47
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
隔から得る。基準ゼロ交差点は，少なくとも両側にそれぞれ2個以上のビット“1”のゼロ交差点をもつよ
うなビット“1”のゼロ交差点とし，その変化率を2%未満に保つため，40ビットセル以下とする。
また，本体の10.2に規定したビットシフト値は，ユーザデータが本体の9.〜16.の規定によって記録した
場合に適用する。
B.3 データ分析 データ分析は，附属書B図1及び次による。
二つの基準ゼロ交差点の間にあるビットセルの数をnとしたとき，平均ビットセル長(L)は，次の式によ
る。
L
＝
P
3−
P
1
n
最初の基準ゼロ交差点と試験ゼロ交差点との間にmビットの間隔がある場合，ビットシフトは，次の式
による。
BS＝
| mL
−
(
P
2
−
P
1
|)
×
100
L
ここに， BS： ビットシフト (%)
L： 平均ビットセル長
Pn： n番目の“1”パターンのゼロ交差点
附属書B図1 波形の測定
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
48
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
附属書C（規定） 8ビットバイトから10ビットパターンへの変換
8ビットバイトは，左側を最上位ビットとし，右側を最下位ビットとする。
10ビットパターンは，左側を最初の記録ビットとし，右側を最後の記録ビットとする。
括弧で示した数は，16進数で表す。
(00)
(01)
(02)
(03)
(04)
(05)
(06)
(07)
(08)
(09)
(0A)
(0B)
(0C)
(0D)
(0E)
(0F)
(10)
(11)
(12)
(13)
(14)
(15)
(16)
(17)
(18)
(19)
(1A)
(1B)
(1C)
(1D)
(1E)
(1F)
(20)
(21)
(22)
(23)
(24)
(25)
(26)
(27)
(28)
(29)
(2A)
8ビットバイト
00000000
00000001
00000010
00000011
00000100
00000101
00000110
00000111
00001000
00001001
00001010
00001011
00001100
00001101
00001110
00001111
00010000
00010001
00010010
00010011
00010100
00010101
00010110
00010111
00011000
00011001
00011010
00011011
00011100
00011101
00011110
00011111
00100000
00100001
00100010
00100011
00100100
00100101
00100110
00100111
00101000
00101001
00101010
10ビットパターン
0100100101
0100100111
0100101010
0100101101
0100101111
0100111001
0100111011
0100111110
0101001001
0101001011
0101001110
0101010010
0101010101
0101010111
0101011010
0101011101
0101101001
0101101011
0101101110
0101110010
0101110101
0101110111
0101111010
0101111101
0110100101
0110100111
0110101010
0110101101
0110101111
0110111001
0110111011
0110111110
0111001001
0111001011
0111001110
0111010010
0111010101
0111010111
0111011010
0111011101
0111101001
0111101011
0111101110
(2B)
(2C)
(2D)
(2E)
(2F)
(30)
(31)
(32)
(33)
(34)
(35)
(36)
(37)
(38)
(39)
(3A)
(3B)
(3C)
(3D)
(3E)
(3F)
(40)
(41)
(42)
(43)
(44)
(45)
(46)
(47)
(48)
(49)
(4A)
(4B)
(4C)
(4D)
(4E)
(4F)
(50)
(51)
(52)
(53)
(54)
(55)
8ビットバイト
00101011
00101100
00101101
00101110
00101111
00110000
00110001
00110010
00110011
00110100
00110101
00110110
00110111
00111000
00111001
00111010
00111011
00111100
00111101
00111110
00111111
01000000
01000001
01000010
01000011
01000100
01000101
01000110
01000111
01001000
01001001
01001010
01001011
01001100
01001101
01001110
01001111
01010000
01010001
01010010
01010011
01010100
01010101
10ビットパターン
0111110010
0111110101
0111110111
0111111010
0111111101
1001110011
1001110110
1001001010
1001001101
1001001111
1001011001
1001011011
1001011110
0110010011
0110010110
1010011111
1010010010
1010010101
1010010111
1010011010
1010011101
1010101001
1010101011
1010101110
1010110010
1010110101
1010110111
1010111010
1010111101
1011100101
1011100111
1011101010
1011101101
1011101111
1011111001
1011111011
1011111110
1100100101
1100100111
1100101010
1100101101
1100101111
1100111001
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
49
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
(56)
(57)
(58)
(59)
(5A)
(5B)
(5C)
(5D)
(5E)
(5F)
(60)
(61)
(62)
(63)
(64)
(65)
(66)
(67)
(68)
(69)
(6A)
(6B)
(6C)
(6D)
(6E)
(6F)
(70)
(71)
(72)
(73)
(74)
(75)
(76)
(77)
(78)
(79)
(7A)
(7B)
(7C)
(7D)
(7E)
(7F)
(80)
(81)
(82)
(83)
(84)
(85)
(86)
(87)
(88)
8ビットバイト
01010110
01010111
01011000
01011001
01011010
01011011
01011100
01011101
01011110
01011111
01100000
01100001
01100010
01100011
01100100
01100101
01100110
01100111
01101000
01101001
01101010
01101011
01101100
01101101
01101110
01101111
01110000
01110001
01110010
01110011
01110100
01110101
01110110
01110111
01111000
01111001
01111010
01111011
01111100
01111101
01111110
01111111
10000000
10000001
10000010
10000011
10000100
10000101
10000110
10000111
10001000
10ビットパターン
1100111011
1100111110
1101001001
1101001011
1101001110
1101010010
1101010101
1101010111
1101011010
1101011101
1101101001
1101101011
1101101110
1101110010
1101110101
1101110111
1101111010
1101111101
1110100101
1110100111
1110101010
1110101101
1110101111
1110111001
1110111011
1110111110
1111001001
1111001011
1111001110
1111010010
1111010101
1111010111
1111011010
1111011101
1111101001
1111101011
1111101110
1111110010
1111110101
1111110111
1111111010
1111111101
0100101011
0100101110
0100110101
0100111010
0101101010
0101101111
0101111011
0101111110
0111001010
(89)
(8A)
(8B)
(8C)
(8D)
(8E)
(8F)
(90)
(91)
(92)
(93)
(94)
(95)
(96)
(97)
(98)
(99)
(9A)
(9B)
(9C)
(9D)
(9E)
(9F)
(A0)
(A1)
(A2)
(A3)
(A4)
(A5)
(A6)
(A7)
(A8)
(A9)
(AA)
(AB)
(AC)
(AD)
(AE)
(AF)
(B0)
(B1)
(B2)
(B3)
(B4)
(B5)
(B6)
(B7)
(B8)
(B9)
(BA)
(BB)
8ビットバイト
10001001
10001010
10001011
10001100
10001101
10001110
10001111
10010000
10010001
10010010
10010011
10010100
10010101
10010110
10010111
10011000
10011001
10011010
10011011
10011100
10011101
10011110
10011111
10100000
10100001
10100010
10100011
10100100
10100101
10100110
10100111
10101000
10101001
10101010
10101011
10101100
10101101
10101110
10101111
10110000
10110001
10110010
10110011
10110100
10110101
10110110
10110111
10111000
10111001
10111010
10111011
10ビットパターン
0111001111
0111011011
0111011110
1001001011
1001001110
1001010101
1001011010
1001101001
1001110010
1001110111
1001111101
1010101010
1010101111
1010111011
1010111110
1011001001
1011010010
1011010111
1011011101
1011101011
1011101110
1011110101
1011111010
1101001010
1101001111
1101011011
1101011110
1010100101
1110010010
1110010111
1110011101
1110101011
1110101110
1110110101
1110111010
1111100101
1111101010
1111101111
1111111011
0100111111
1001011111
1011111111
1110111111
0101100101
0110100110
1111010011
1111010110
0101010011
0111110011
1010010011
1101110011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
50
X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
(BC)
(BD)
(BE)
(BF)
(C0)
(C1)
(C2)
(C3)
(C4)
(C5)
(C6)
(C7)
(C8)
(C9)
(CA)
(CB)
(CC)
(CD)
(CE)
(CF)
(D0)
(D1)
(D2)
(D3)
(D4)
(D5)
(D6)
(D7)
(D8)
(D9)
(DA)
(DB)
(DC)
(DD)
8ビットバイト
10111100
10111101
10111110
10111111
11000000
11000001
11000010
11000011
11000100
11000101
11000110
11000111
11001000
11001001
11001010
11001011
11001100
11001101
11001110
11001111
11010000
11010001
11010010
11010011
11010100
11010101
11010110
11010111
11011000
11011001
11011010
11011011
11011100
11011101
10ビットパターン
0101010110
0111110110
1010010110
1101110110
0101001101
1011010011
1011010110
0101011001
0110010101
1010011001
0110011010
0110011111
0110101001
0110110010
0110110111
0110111101
0111100111
0111101101
0111111001
0101111111
1100101001
1100110010
1100110111
1100111101
1101100111
1101101101
1101111001
1101111111
1111001101
1110010011
1110010110
1111011001
0101011111
0111011111
(DE)
(DF)
(E0)
(E1)
(E2)
(E3)
(E4)
(E5)
(E6)
(E7)
(E8)
(E9)
(EA)
(EB)
(EC)
(ED)
(EE)
(EF)
(F0)
(F1)
(F2)
(F3)
(F4)
(F5)
(F6)
(F7)
(F8)
(F9)
(FA)
(FB)
(FC)
(FD)
(FE)
(FF)
8ビットバイト
11011110
11011111
11100000
11100001
11100010
11100011
11100100
11100101
11100110
11100111
11101000
11101001
11101010
11101011
11101100
11101101
11101110
11101111
11110000
11110001
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
附属書D（参考） 輸送条件
D.1 環境条件 カートリッジの輸送の場合は，次の環境条件とすることが望ましい。
温度
相対湿度
湿球温度
：
：
：
−40℃〜45℃
5%〜80%
26℃以下
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
D.2 危険 カートリッジの輸送には，次の3種類の危険がある。
D.2.1 衝撃及び振動 輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために，次の対策をとることが望ま
しい。
a) カートリッジを変形させるおそれのある機械的な荷重を加えてはならない。
b) カートリッジは，1mを超える高さから落下させてはならない。
c) カートリッジは，十分な衝撃吸収材がある堅い箱の中に収容する。
d) カートリッジの収容箱は，内部が清浄で，かつ，じんあい（塵埃）や水の浸入防止が十分可能な構造
とする。
e) カートリッジの収容方向は，カートリッジの収容箱内でテープリールの中心軸を水平にする。
f)
カートリッジの収容箱は，正しい位置方向（天地）に置くように明確な表示をする。
D.2.2 温度及び湿度の極端な変化 温度及び湿度の極端な変化は，いかなる場合でも可能な限り回避する。
輸送されたカートリッジは，必ず使用環境条件に最低24時間放置する。
D.2.3 誘導磁界の影響 カートリッジとカートリッジの収容箱の最外壁との距離は，外部磁界の影響によ
る信号破壊の危険性を最小限にするため80mm以上とする。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)
附属書E（参考） 不良テープ
テープ装置又は他のテープの性能を低下させるテープを不良テープとよぶ。テープの特性には，テープ
装置の性能を低下させる次のものがある。このような不良テープを使用するとき，テープ装置の性能が低
下し，かつ，誤りが多く発生するので不良テープは，使用しない方がよい。
E.1 不良特性 テープの不良特性を，次に示す。
a) 高い研磨性
b) テープ走行部に対する高い摩擦力
c) テープエッジの不良な状態
d) テープ又はテープ走行部への帯電
e) テープの層間の滑り
f)
テープの裏面への記録表面塗膜の移転
g) テープのスティッキング又は他のテープの特性を低下させるようなテープ組成物の浸み出し
JIS磁気テープ原案作成委員会 構成表
（敬称略，順不同）
氏名
（委員長）
（幹事）
（幹事）
（委員）
（事務局）
大 石 完 一
多羅尾 悌 三
富 田 正 典
徳 永 賢 次
横 山 克 哉
平 川 卓
竹 内 正
今 井 伸 二
中川原 一 彦
新 井 清
安 藤 晴 夫
三 瓶 徹
堀 川 憲 一
三 宅 信 弘
栗 原 史 郎
丸 川 章
東 條 喜 義
所属
パルステック工業株式会社
富士通株式会社
日本電信工業株式会社
住友スリーエム株式会社
日本ビクター株式会社
富士写真フイルム株式会社
株式会社トリム・アソシエイツ
日本電気株式会社
ティアック株式会社
日本システムハウス株式会社
日立マクセル株式会社
株式会社日立製作所
ソニー株式会社
通商産業省
工業技術院標準部
工業技術院標準部
社団法人日本電子工業振興協会
