2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 適合性···························································································································· 1
3 引用規格························································································································· 2
4 用語及び定義 ··················································································································· 2
5 カード特性 ······················································································································ 3
5.1 カードの反り ················································································································ 3
5.2 表面のわい（歪）曲 ······································································································· 3
5.3 カードの幅及び高さ ······································································································· 3
6 機械読取り用文字 ············································································································· 4
6.1 文字集合及び字体 ·········································································································· 4
6.2 文字間隔 ······················································································································ 4
6.3 文字縦幅 ······················································································································ 4
6.4 エンボスの凸部の高さ ···································································································· 4
7 目視読取り用文字 ············································································································· 5
7.1 文字集合及び字体 ·········································································································· 5
7.2 文字間隔 ······················································································································ 5
7.3 エンボスの凸部の高さ ···································································································· 5
8 エンボス領域の文字位置 ···································································································· 5
8.1 識別番号領域 ················································································································ 6
8.2 氏名及び住所領域 ·········································································································· 6
附属書A（参考）数字データの字形 ························································································· 8
附属書B（規定）7B字体の印字仕様（インプリント仕様） ·························································· 9
附属書C（参考）耐衝撃性試験 ······························································································ 21
附属書D（規定）非接触ICカードのエンボス加工 ····································································· 23
（1）
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人ビジ
ネス機械・情報システム産業協会（JBMIA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案
を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が
改正した日本工業規格である。
これによって，JIS X 6302-1:2005は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS X 6302の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS X 6302-1 第1部：エンボス
JIS X 6302-2 第2部：磁気ストライプ−低保磁力
JIS X 6302-6 第6部：磁気ストライプ−高保磁力
JIS X 6302-9 第9部：触ってカードを区別するための凸記号
（2）
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日本工業規格
JIS
X 6302-1：2016
(ISO/IEC 7811-1：2014)
識別カード−記録技術−第1部：エンボス
Identification cards-Recording technique-Part 1: Embossing
序文
この規格は，2014年に第4版として発行されたISO/IEC 7811-1を基に，技術的内容及び構成を変更す
ることなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，識別カード（以下，IDカード又は単にカードという。）の特性及び国際的な互換性のため
のカードの用法について規定するJIS X 6302規格群の第1部である。この規格は，IDカード上のエンボス
文字の要件を規定する。エンボス文字は，インプリンタを用いた情報転送及び目視読取り又は機械読取り
による情報転送に利用される。人間的側面及び機械的側面の両方に考慮し，必要最小限の要求仕様につい
て規定する。
カードが満たすべき基準を規定することが，この規格の目的である。試験に先立ってカードがどの程度
使われた後であるかについては，この規格では考慮しない。規格の基準に不適合の場合は，関係する組織
と協議することが望ましい。
この規格で規定するパラメタに対する供試カードなどの試験方法は，JIS X 6305-1で規定している。
注記1 ［対応国際規格では，SI単位とヤード・ポンド法単位とを“0.51 mm（0.020 in）”といった形
で併用している。このため，この注記1で両者の関係について説明しているが，この規格で
はSI単位だけを使用するため，対応国際規格の注記1は不必要と判断し削除した。］
注記2 JIS X 6302-9で規定するTIM（Tactile Identifier Mark）を，この規格で規定する氏名及び住所
領域に入れることができる。この領域でのエンボス文字の配置は，TIMへの干渉を意図して
いない。
注記3 インプリンタとは，エンボス加工したカードに用紙を押し付けて，エンボス加工した文字を
用紙に写し取る機器。
注記4 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO/IEC 7811-1:2014，Identification cards−Recording technique−Part 1: Embossing（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
適合性
この規格に適合するためには，ID-1カードに関するJIS X 6301の規定を満足している必要がある。ID
カードは，この規格で規定する全ての要件を満足するときに，この規格に適合する。もし，規定されてい
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
ない値がある場合には，既定値を適用する。
3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS X 6301 識別カード−物理的特性
注記 対応国際規格：ISO/IEC 7810，Identification cards−Physical characteristics（IDT）
JIS X 6302-9 識別カード−記録技術−第9部：触ってカードを区別するための凸記号
注記 対応国際規格：ISO/IEC 7811-9，Identification cards−Recording technique−Part 9: Tactile
identifier mark（IDT）
JIS X 6305-1 識別カードの試験方法−第1部：一般的特性
注記 対応国際規格：ISO/IEC 10373-1，Identification cards−Test methods−Part 1: General
characteristics（IDT）
JIS X 9004 光学式文字認識のための印字仕様
注記 対応国際規格：ISO 1831，Printing specifications for optical character recognition（IDT）
ISO 1073-1，Alphanumeric character sets for optical recognition−Part 1: Character set OCR-A−Shapes and
dimensions of the printed image
ISO 1073-2，Alphanumeric character sets for optical recognition−Part 2: Character set OCR-B−Shapes and
dimensions of the printed image
ISO/IEC 7812-1，Identification cards−Identification of issuers−Part 1: Numbering system
ISO/IEC 7812-2，Identification cards−Identification of issuers−Part 2: Application and registration
procedures
4
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS X 6301によるほか，次による。
4.1
エンボス（embossing）
カードのおもて面から凸状に文字を浮き上がらせたもの。
4.2
未使用カード（unused card）
使用目的のために必要とする全ての文字をエンボス加工したカードであって，発行前のもの。
4.3
返却カード（returned card）
エンボス加工したカードであって，カード保有者に発行された後に，試験のために返却されたもの。
4.4
識別番号（identification number）
カード保有者を識別するための番号。
注記 現在の運用では“カード保有者”には法人など，直接人を表さない場合があることに留意する
ことが望ましい。
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
5
カード特性
カード材質のエンボス加工に対する適合性について，特にインプリンタを使用する場合にエンボス部分
の割れ及びつぶれに対する耐性に関しては，格別に注意しなければならない。
カード基材は，ポリ塩化ビニル（PVC）及び／又はポリ塩化酢酸ビニル（PVCA）と同等か又はそれ以
上の特性をもつ材質（ポリエステル，ポリエチレン，ポリカーボネイトなど）で作らなければならない。
注記 エンボス加工した文字の凸部の高さをこの規格に適合させるためには，カード構造に関するエ
ンボス加工機器製造業者の説明書を参照することが望ましい。対応国際規格発行時点ではエン
ボスに対するカード構造の適性を検証するための試験方法について合意できていない（附属書
C参照）。
5.1
カードの反り
発行前のエンボス加工したカードの凸側を上にして定盤に置いたとき，定盤の平面から凸面の中でエン
ボス加工されていないあらゆる部分までの最大値が，そのカードの厚みを含めて2.5 mmを超えてはなら
ない。
注記 多くのカードの反りは，カード材質及び使用したエンボス加工技術に依存する。
5.2
表面のわい（歪）曲
図1の領域Aにおいてカードおもて面の突起が，0.51 mmを超えてはならない。
単位 mm
幅
高さ
最大値
最小値
最大値
最小値
図1−エンボス加工したカードの寸法
5.3
カードの幅及び高さ
図1に示す最大高さ及び最大幅をもつ長方形（最大寸法長方形）と，図1に示す最小高さ及び最小幅を
もつ長方形（最小寸法長方形）とを，中心軸を合わせて配置したものを考える。このとき，カードは，仕
上げられた状態で，四隅を除きその全ての端部がこの最大寸法長方形と最小寸法長方形との間に入らなけ
ればならない（図1A参照）。
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
注記1 ここで規定するカードの幅及び高さの許容値は，エンボス加工によってカード寸法が変化す
るため，JIS X 6301で規定している未使用カードの幅及び高さの許容値とは異なっている。
注記2 全てのIDカードの規格は，カードの上端基準辺を寸法の基準辺として用いるが，このエン
ボス加工規格においては過去の経過によってカードの下端辺を基準として用いる。
図1A−カードの幅及び高さ
6
機械読取り用文字
6.1
文字集合及び字体
直接カードから，又はカードをインプリントしたものから，機械で読み取ることを目的としてエンボス
加工する文字には，次のいずれかの字体の数字を用いなければならない（附属書A参照）。
− ISO 1073-1，OCR-A，サイズI及びIV
− ISO 1073-2，OCR-B，サイズI及びIV
− 附属書BのFarrington 7B字体
注記1 字体の選択において，システムの互換性を確保するために，カードの発行者は，情報交換の
可能性のある相手先との同意が必要になることに注意がいる。
注記2 インプリントとは，エンボス加工したカードに用紙を押し付けて，エンボス加工した文字を
用紙に写し取る行為。
印字仕様は，JIS X 9004による。
6.2
文字間隔
文字の中心線と隣の文字の中心線との間隔は，3.63 mm±0.15 mmとする。
6.3
文字縦幅
中心線の傾きと文字配列の位置ずれとを含んだエンボスの印字面の最大縦幅は，4.32 mmとする。
6.4
エンボスの凸部の高さ
未使用カード及び返却カードについて，カード表面からのインプリントする文字の凸部の高さ（カード
のエンボスのない表面からエンボスの最高点まで測った文字の凸部の高さ）を，表1に示す。
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
7
目視読取り用文字
7.1
文字集合及び字体
直接カードから，又はカードをインプリントしたものを目視で読み取ることだけを目的としてエンボス
加工する文字には，ISO 1073-2のOCR-BのサイズIに示す大文字の字体を用いることが望ましい。
7.2
文字間隔
文字の中心線と隣の文字の中心線との間隔は，2.54 mm±0.15 mmとする。
7.3
エンボスの凸部の高さ
未使用カード及び返却カードについて，カード表面からのインプリントする文字の凸部の高さ（カード
のエンボスのない表面からエンボスの最高点まで測った文字の凸部の高さ）を，表1に示す。
表1−エンボスの凸部の高さ
単位 mm
カード種別
機械読取り用文字
目視読取り用文字
最大値
最小値
最大値
最小値
未使用カード
返却カード
注記 表中の値は，それ以内の値ならばカードが通常に機能することを示しているだけで，
発行したカードの有効期間中の凸部の高さがそれ以内の値であることを保証していな
い。
8
エンボス領域の文字位置
図2に示すとおり，エンボス加工のために二つの領域をカードに割り当てる。
領域1：ISO/IEC 7812シリーズに従った識別番号のための領域。
この領域の文字及びこれらをインプリントしたものは，目視及び機械読取りに使用される。
領域2：カード保有者識別用エンボス加工データ（氏名，住所及びその他必要とされるデータ）のため
の領域。
この領域は，“氏名及び住所領域”と呼ぶ。カードのこの領域に含まれるデータ及びこの領域
をインプリントしたものは，目視だけに使用される。
機械的加工によってカード基材を物理的に変形させる突起形成技術を用いる場合，カードへの加工がIC
チップ，アンテナ，配線など実装する構成部品に悪影響を与えないように細心の注意をしなければならな
い。内蔵する構成部品とカードの加工部分との最小間隔は，3 mmを推奨する（附属書D参照）。
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
単位 mm
識別番号領域（領域1）
氏名及び住所領域（領域2）
最大14.53
最小2.54
最大3.30
最大24.03
図2−割り当てられたエンボス領域の位置及び許容差
8.1
識別番号領域
識別番号領域は，6.1で規定する字体の文字を1行入れることができ，25.4 mm当たり7文字の公称文字
間隔の場合，最大19文字からなる。
利用する（エンボス加工する）文字数は，実際の使用に必要な数とする。
エンボス領域の位置及び許容差については，図2に示す。
発行者は，使い勝手のよいエンボスのデザインをすることが望ましい。
例えば，
− エンボス加工する識別番号を左詰めとする。
− 識別番号の最大長さに余裕を設ける。
− 金融上の適用においては，文字が規定の位置に収まる範囲で，識別番号の発行者IDと個人識別IDと
の間に空白を挿入することが望ましい（ISO/IEC 7812シリーズ参照）。
8.2
氏名及び住所領域
氏名及び住所領域は4行分とする。7.1で規定する25.4 mm当たり10文字の公称文字間隔の場合，1行
当たり最大27文字が入る。
氏名及び住所領域にエンボス加工するどの文字も，識別番号からできる限り離してエンボス加工するこ
とが望ましい。
エンボス領域の位置及び許容差については，図2に示す。
警告 氏名及び住所領域の4行ともエンボス加工を必要とする場合，それらのカードからインプリン
トされたものは，JIS X 9004の6.6（クリアエリア）の規定を満足できないため，ある種のOCR
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
では読み取れないことがある。
注記 氏名及び住所領域の最初の文字は，左詰めにする必要はないが，27文字のそれぞれの位置は，
図2に示したカード左端辺から7.65 mmの位置を基準にして設定する。
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
附属書A
（参考）
数字データの字形
数字データの字形を，図A.1〜図A.3に示す。
図A.1−OCR-A
図A.2−OCR-B
図A.3−Farrington 7B
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
附属書B
（規定）
7B字体の印字仕様（インプリント仕様）
B.1
文字集合
7B字体は，0から9までの数字からなる。
B.2
文字寸法及び許容差−印字像
文字の印字像を図B.1〜図B.10に示す。全ての文字に共通な寸法及び許容差を表B.1に示す。文字は，
印字されたものを示し，エンボスそのものではない。
表B.1−7B字体の寸法
単位 mm
項目
寸法・許容差
文字縦幅の公称値
文字幅の公称値
文字線の太さ
文字の整形半径
全ての文字の文字幅に対する
中心線の許容差
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
単位 mm
番号
Y−Yからの距離X
X−Xからの距離Y
図B.1−7B字体の数字1の印字像及び寸法
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
単位 mm
番号
Y−Yからの距離X
X−Xからの距離Y
中心線の半径
a（3か所）
図B.2−7B字体の数字2の印字像及び寸法
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
単位 mm
番号
Y−Yからの距離X
X−Xからの距離Y
中心線の半径
a（4か所）
b（2か所）
図B.3−7B字体の数字3の印字像及び寸法
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
単位 mm
番号
Y−Yからの距離X
X−Xからの距離Y
図B.4−7B字体の数字4の印字像及び寸法
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14
X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
単位 mm
番号
Y−Yからの距離X
X−Xからの距離Y
中心線の半径
a（2か所）
b（1か所）
図B.5−7B字体の数字5の印字像及び寸法
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15
X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
単位 mm
番号
Y−Yからの距離X
X−Xからの距離Y
中心線の半径
a（4か所）
図B.6−7B字体の数字6の印字像及び寸法
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16
X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
単位 mm
番号
Y−Yからの距離X
X−Xからの距離Y
図B.7−7B字体の数字7の印字像及び寸法
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17
X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
単位 mm
番号
Y−Yからの距離X
X−Xからの距離Y
中心線の半径
a（8か所）
図B.8−7B字体の数字8の印字像及び寸法
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18
X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
単位 mm
番号
Y−Yからの距離X
X−Xからの距離Y
中心線の半径
a（4か所）
図B.9−7B字体の数字9の印字像及び寸法
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19
X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
単位 mm
番号
Y−Yからの距離X
X−Xからの距離Y
中心線の半径
a（4か所）
図B.10−7B字体の数字0の印字像及び寸法
B.3
文字間隔及び位置ずれ
表B.2に文字間隔及び位置ずれを規定する。
表B.2−文字間隔及び位置ずれ
項目
文字間隔
寸法・許容差
“25.4 mm当たり7文字”の文字間隔値以上
隣り合った文字の間の水平方向の余白
最小0.38 mm
隣り合った文字の間の垂直方向の位置ずれ
最大2.03 mm
文字の傾き
最大 3°
文字列全体の傾きは，箇条8に規定されたエンボス領域の限界を越えてはならない。
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
B.4
インプリントした文字の特性（JIS X 9004参照）
B.4.1 インキ濃度
インプリントした文字を活用するためには，インプリントした文字のインキ（カーボン）の反射率が，
文字をインプリントした用紙の平均反射率の20 %を超えてはならない。最悪の状態でも，インプリントし
た文字のインキ（カーボン）の反射率が，文字をインプリントした用紙の平均反射率の60 %を超えてはな
らない。
反射率の測定は，用紙表面に45°の入射光を当て，用紙表面に対して90°方向から，用紙上で0.20 mm2
になる測定開口を用いて行う。
B.4.2及びB.4.3に規定している許容されるボイド及びスポットは，インキ濃度に要求される条件から除
外する。
B.4.2 ボイド
ボイドとは，インプリントした文字の文字線の太さの最大寸法以内で，文字をインプリントした用紙の
平均反射率の60 %を超えた濃度の領域である。ボイドは，それらが直径0.25 mmの円内に完全に含まれて
いるか，又はそれぞれのボイドの中心の間が最小で0.71 mmの間隔であって，かつ，結果として文字線の
太さの最小実効寸法が0.20 mm以上である場合に許容する。許容できないボイドがあってはならない。
B.4.3 スポット
スポットとは，エンボス領域又はクリアエリアにある用紙の平均反射率60 %未満の汚れである。ただし，
インプリントされた文字を除く。スポットは，それらが直径0.25 mmの円内に完全に含まれており，かつ，
スポットの中心の間が最小で0.71 mmの間隔がある場合に許容する。許容できないスポットがあってはな
らない。
B.4.4 インプリント後の用紙表面の凹凸
インプリントした後の用紙表面の凹凸は，0.13 mmを超えてはならない。
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21
X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
附属書C
（参考）
耐衝撃性試験
この附属書の試験方法は，JIS X 6305-1が次の版に移行することによって無効となる。
C.1 適用範囲
この試験の目的は，エンボス加工（この規格の本体参照）に適していないカードを判定するためのもの
である。
C.2 試験装置
衝撃試験装置を図C.1に示す。また，次のような構成とする。
a) カードを支持するための鉄でつくられた金床を，定盤に固定した装置。衝撃の際，空気を逃すために
金床の下部に直径が5 mm以上の通気孔を設けなければならない。
b) 軸受けで支持された鉄製の円筒状のジグ。
c) 摩擦力が0.45 N以下の軸受けに支持された鉄製のおもり。
d) 装置の一部分であって，硬度Rc＝50〜55（Hv＝513〜595）（Hb＝481〜560）及び表面粗さRa＝0.2±
0.06 μmをもつカードとの接触部。表面粗さの測定パラメタは，JIS B 0651参照。
e) 少なくとも50 mm2の表面領域の測定プローブをもつ精度0.01 mmの高さ測定器。
C.3 試験手順
試験の24時間前に，JIS X 6305-1で規定された環境に供試カードを前もって放置しておく。
高さゲージを使用して，衝撃試験が実施される領域内の試験カードの厚さを測定する。
注記 衝撃領域の付近にICチップ，署名部領域，磁気ストライプなどが存在する場合，試験結果に影
響を与えることがある。
注意 衝撃装置を操作する際には，けがをしないように注意する。目のけがを防ぐために，試験中は
保護眼鏡を着用することを推奨する。指及び手を試験エリアから離すことが望ましい。
供試カードの全ての端又は前の衝撃試験領域から円筒状のジグの中心線まで20 mm以上離して供試カ
ードを固定する。供試カードの上にある円筒状ジグにおもりを落とす。衝撃のあった領域のひび割れを点
検する。通常，ひび割れは，衝撃によって生じたくぼみのスロープ肩部に発生する。少なくとも二つの領
域を試験し，ひび割れが生じるかどうかを判定しなければならない。
変形した凸側を上にして供試カードを定盤の上に置き，カードを定盤に向かって平らにする方向に変形
の頂上に4.5 N±0.5 Nの力を加える。
高さ測定器を用いて，カードの表面を基準として変形した領域の高さを測る。
C.4 試験報告書
試験報告書には落下高さ，変形高さ及びひび割れが発生したかどうかを記録する。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
図C.1−衝撃試験装置
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6302-1：2016 (ISO/IEC 7811-1：2014)
附属書D
（規定）
非接触ICカードのエンボス加工
D.1 適用範囲
この附属書の目的は，JIS X 6301で規定するID-1サイズの非接触ICカードにエンボス加工を行うに当
たり，カード内部のアンテナ及びIC部品の損傷を避けるため，エンボス加工の位置を助言することである。
エンボス文字を，カード本体の変形及びストレスによらずカードの表面に樹脂などの材料を付加するこ
とによって形成する場合，ここで指定する制限は適用しない。
D.2 引用規格
次に掲げる規格は，この附属書を適用するために不可欠である。これらの引用規格は，その最新版（追
補を含む。）を適用する。
JIS X 6302-9 識別カード−記録技術−第9部：触ってカードを区別するための凸記号
注記 対応国際規格：ISO/IEC 7811-9，Identification cards−Recording technique−Part 9: Tactile
identifier mark（IDT）
JIS X 6323-1 識別カード−非接触（外部端子なし）ICカード−近傍型−第1部：物理的特性
注記 対応国際規格：ISO/IEC 15693-1，Identification cards−Contactless integrated circuit cards−
Vicinity cards−Part 1: Physical characteristics（IDT）
ISO/IEC 14443-1，Identification cards−Contactless integrated circuit cards−Proximity cards−Part 1:
Physical characteristics
注記 JIS X 6322-1:2011は対応国際規格のISO/IEC 14443-1:2008/Amendment 1:2012に対応しておら
ず，D.3に示すクラス2が規定されていないためISO/IEC 14443-1を引用した。
D.3 エンボス加工領域
ISO/IEC 14443-1に規定するクラス2アンテナをID-1サイズのカードに組み込む場合，ISO/IEC 14443-1
の附属書Aで規定するクラス2アンテナ領域は，この規格及びJIS X 6302-9で規定するエンボス加工領域
外に配置することが望ましい。使用するアンテナの種類（例えば，ISO/IEC 14443-1，JIS X 6323-1に準拠
したカードを作るために使用するアンテナ）にかかわらず，アンテナがエンボス加工領域内に配置されて
いる場合，後に実施するエンボス加工領域へのエンボス加工は，アンテナ性能に悪影響を与えないように
特に注意しなければならない。
参考文献 JIS B 0651 製品の幾何特性仕様（GPS）−表面性状：輪郭曲線方式−触針式表面粗さ測定機の
特性
注記 対応国際規格：ISO 3274，Geometrical Product Specifications (GPS)−Surface texture:
Profile method−Nominal characteristics of contact (stylus) instruments（IDT）
