2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
Z 4916-1997
X線用解像力テストチャート
Test charts for resolution characteristics of X-ray equipment
1. 適用範囲 この規格は，X線装置及びX線映像装置の解像力を測定するときに用いるX線吸収体（以
下，吸収体という。）を材料とするX線用解像力テストチャート（以下，テストチャートという。）につい
て規定する。
備考 この規格の引用規格を，次に示す。
JIS B 7502 マイクロメータ
JIS B 7507 ノギス
JIS K 6718 メタクリル樹脂板
2. 用語の定義 この規格で用いる主な用語の定義は，次による。
(1) 解像力 (resolution) X線写真やX線映像装置などの画像の描写能力を表す量。等しい幅をもつ明暗
の線対の像において，分解していると認められる最小線対の幅の逆数で表す。単位は，一般にLP/mm
を用いる。
(2) 空間周波数 (spatial frequency) 像又は物体を構成する周期的な構造の細かさを表す量。単位長さ当
たりの周期の数で表す。単位は，一般にLP/mmを用いる。
3. 種類及び用途 テストチャートの種類は，吸収体の材質及び厚さ並びに形状，寸法及び配列によって
表1のとおりとする。空間周波数の変化は，等比数列を原則とする。
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Z 4916-1997
表1 テストチャートの種類及び用途
種類
空間周波数範囲
公比
用途
一般用
高解像力用
間接撮影用
連続的
焦点確認用
備考 表1に示す種類は，次の意味をもつ文字と数字との組合せで示
す。
1項
2項
3項
4項
“アルファベット文字”−“数字” “材料の記号” “数字”
(1) 1項は，解像力測定用を示すアルファベット文字，R
(2) 2項は，用途を示す数字で次による。
1：一般用
2：高解像力用
3：欠番とする。
4：間接撮影用
5：焦点確認用
(3) 3項は，吸収体の材料を示す記号（表2参照）
(4) 4項は，吸収体の厚さを示す数字（単位 μm）
例 用途が一般用(1)で，吸収体の材料がタングステン，その厚さが
100μmの場合：R-1W100
4. 材料・構造及び形状・寸法
4.1
材料・構造 材料及び構造は，次による。
(1) 吸収体の材料は，表2を用い，通常の取扱いで破損しないように，図1に示す2枚の透明な保護板で
挟んだ構造とする。保護板の厚さ (t) は1mm以下とし，図1のa及びbは，特に指定しない限り10mm
以下とする。
なお，接着剤を使用する場合には，解像力の測定結果に影響を与えないようにする。
表2 吸収体の材料
記号
材料
タングステン（純度99.5%以上）
鉛
（純度99.5%以上）
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Z 4916-1997
図1 テストチャートの構造
(2) 保護板は，JIS K 6718に規定する無色透明なメタクリル樹脂板とする。
4.2
形状・寸法 吸収体の形状及び寸法は，図2〜5に示すとおりとし、各空間周波数の吸収体の線数は
焦点確認用を除き，すべて3本とする。
空間周波数の表示値に対する許容差は，±8%，吸収体の厚さ及び外形寸法の許容差は±10%とする。
備考1. 吸収体の厚さの測定は，JIS B 7502によるマイクロメータ，寸法測定には，JIS B 7507による
ノギス又はこれらと同等以上の精度をもつ測定器を用いる。
2. 空間周波数の測定は，テストチャートを寸法確認用スケールとともに，拡大鏡で見るか，又
は拡大投影機で観察して，規定の許容差内にあるかどうかを調べる。
図2 R-1W100，R-1Pb100（一般用）
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Z 4916-1997
図3 R-2W50，R2Pb50（高解像力用）
図4 R-4W100，R-4Pb100（間接撮影用）
備考 保護板外周の目盛線は，テストチャート
の縦及び横方向に一致するよう90°等
分割の位置に置く。
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Z 4916-1997
図5 R-5W50，R-5Pb50（焦点確認用）
備考 目盛なしで，全周をパターンで埋めたものも可とする。
参考 直径57.3mmの場合，円周が約180mmとなり，角度2°の弧の長さが約1mmとなる。
5. 空間周波数 空間周波数は，表3による。
なお，空間周波数と線幅及び線間の関係は，次の式に示すとおりである。
u
=
1
2
d
ここに， u： 空間周波数 (LP/mm)
d： 線幅及び線間の寸法 (mm)
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Z 4916-1997
表3 空間周波数
種類
空間周波数 (LP/mm)
0.5〜5.0（連続的）
6. 表示及び附属資料
6.1
表示 テストチャートには，次の事項を表示する。
(1) 種類の記号
(2) 空間周波数
(3) 製造番号
(4) 製造業者名若しくは販売業者名又はその略号
6.2
附属資料 テストチャートには，次の附属資料を添付する。
(1) 仕様書
(2) 取扱説明書
(3) 形状，寸法及び厚さの検査成績書
(4) 製造年月日及び製造番号
なお，これらの資料は，包装に表示してもよい。
7. 包装 テストチャートは適当なクッションをもつ容器に収納し，輸送中に損傷が生じないようにする。
関連規格 JIS Z 4704 医用X線管装置
JIS Z 4917 X線変調度伝達関数測定用テストチャート
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JIS Z 4916改正原案作成委員会 構成表
（委員長）
（委員）
（事務局）
氏名
所属
野辺地 篤 郎
矢 野 周 作
永 松 荘 一
藤 井 隆 宏
加 山 英 男
尾 内 能 夫
鹿 沼 成 美
多 田 信 平
竹 中 栄 一
浜 田 政 彦
平 林 久 枝
平 松 慶 博
宗 近 宏 次
山 田 和 美
青 木 久 敏
幾 瀬 純 一
三田村 正 義
村 上 文 男
矢 野 太
山 口 尚二郎
伊 東 厚
椎 名 光 男
聖路加国際病院
厚生省薬務局
通商産業省機械情報産業局
工業技術院標準部
財団法人日本規格協会技術部
癌研究会癌研究所
日本大学医学部付属練馬光が丘病院
東京慈恵会医科大学
関東労災病院
東京都老人医療センター
東京女子医科大学病院
東邦大学医学部
昭和大学医学部
東京日立病院
株式会社東芝那須工場
東芝メディカル株式会社技術本部
ジーイー横河メディカルシステム株式会社品質保証部門
株式会社日立メディコ設計支援センター
ジーイー田中メディカルシステム株式会社
株式会社島津製作所医用機器事業部
社団法人日本放射線機器工業会
社団法人日本放射線機器工業会
JIS Z 4916改正原案作成委員会分科会 構成表
氏名
（主査）
（事務局）
青 木 久 敏
加 山 英 男
小 林 宏 之
萩 原 明
村 西 久 幸
小 幡 義 治
酒 井 光 明
鈴 木 優二郎
平 垣 圭 一
矢 野 太
湯 口 直 樹
和 田 裕
椎 名 光 男
所属
株式会社東芝那須工場
財団法人日本規格協会技術部
日本医科大学附属病院
財団法人神奈川県予防医学協会中央診断所
神奈川県立厚木病院
株式会社東芝那須電子管工場
株式会社ミクロメディカル
化成オプトニクス株式会社技術本部
株式会社島津製作所医用機器工場
ジーイー田中メディカルシステム株式会社
キャノン株式会社光学機器事業本部
株式会社日立メディコ京都工場
社団法人日本放射線機器工業会
