BIST（build_in selftest）介绍

BIST

Created: January 20, 2022 1:53 PM

参考文章如下：

BIST介绍

可能是DFT最全面的介绍–BIST

基础名词扫盲篇

葵花宝典：DFT问答第二篇

scan_chain 测试基本原理

一文看懂scan测试的基本原理和过程-面包板社区

Question & answer

• MBIST Memory 内建自测试：

  A：MBIST是指在电路中加入针对Memory的自测试电路。在测试模式下，它会接管功能逻辑对memory的控制，依据特定算法，对memory进行读写测试操作，判断Memory是否有制造缺陷。至于面临的挑战，从以下几个方面来探讨：

  • 对于Memory Vendor来说， 在新工艺下，memory可能会有新的失效机制，如何设计有效的MBIST 算法是一项重要的研究课题。
  • 从EDA角度看，目前业界工具对常规memory (SRAM, ROM, Register File等)的支持已相对成熟。芯片公司对EDA 提供针对特殊类型的memory （如TCAM， DRAM ）的测试方案的需求正日渐迫切。
  • 从芯片实现的角度看，设计者需要考虑如何使得MBIST逻辑对芯片PPA的影响最小。对于使用带Redundacy Memory的design来说，要考虑自修复(self-repair)，也会增加设计和验证的难度。
    

• Boundary Scan：

  A：Boundary scan 顾名思义，是附加在芯片I/O 周边的扫描测试链，它通过专门的测试端口(TAP)访问。在测试模式下，边界扫描链会接管功能逻辑，对I/O进行灵活访问。边界扫描链的结构，测试端口，以及其控制器(TAP Controller)，被IEEE定为标准协议(IEEE 1149), 也称做JTAG. 边界扫描链最早应用于印刷电路板上芯片间的互联测试, 后来也广泛应用于生产测试中对芯片管脚的测试。

• Logic Bist:

  A：LBIST （Logic Built-In Self Test）是针对逻辑电路的自测试。测试激励由片上 PRPG (Pseudo-randompattern generation) 来产生。输出响应通过 MISR（Multiple Input Signature Register）来压缩，最后对得到的特征值进行比对。LBIST 多应用于对可靠性要求较高的芯片（如汽车电子，工业级应用）的系统自检测试。LBIST产生的激励是随机的，所以天生的缺陷是测试覆盖率不充分，通过在设计中增加测试点(Test Point Insertion)可以在一定程度上得到改善。

• 为什么bist测试只能跑网表测试？

  因为DFT加SCAN 扫描都是在网表加，不会加在rtl级别

• dft中要求所有的寄存器都是scan寄存器吗？

  基本都要求是，除了寄存器输出直连寄存器输入。或者一些func 表明no_dft

• ac和dc的区别？

  dc: stuck at的测试 用的ATE的clk，比较慢

  ac: trasition check strat up的clk较慢 capture较快 模拟真实芯片工作频率