2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
B 7139-2：2008
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 1
4 試験条件 ························································································································· 2
5 試験手順 ························································································································· 3
附属書JA（参考）JISと対応する国際規格との対比表 ································································· 7
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
B 7139-2：2008
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，日本顕微鏡工業会(JMMA)及び財団法人日本
規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査
会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
これによって，JIS B 7139:1997は廃止され，その一部を分割して制定したこの規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は
もたない。
JIS B 7139の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS B 7139-1 第1部：一般要求事項
JIS B 7139-2 第2部：試験
JIS B 7139-3 第3部：仕様項目
JIS B 7139-4 第4部：表示
（2）
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日本工業規格
JIS
B 7139-2：2008
双眼実体顕微鏡−第2部：試験
Stereomicroscopes-Part 2: Testing of stereomicroscopes
序文
この規格は，2000年に第1版として発行されたISO 15227を基に作成した日本工業規格であるが，JIS B
7139:1997との整合及び使用者の便宜を図るため，類似する項目は統合するなど技術的内容を変更して作
成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，左右の独立した結像光学系をもち，立体視観察ができる双眼実体顕微鏡（以下，実体顕微
鏡という。）の性能を試験するための条件及び推奨する方法について規定する。ただし，手術用顕微鏡には
適用しない。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO 15227:2000，Optics and optical instruments−Microscopes−Testing of stereomicroscopes (MOD)
なお，対応の程度を表す記号(MOD)は，ISO/IEC Guide 21に基づき，修正していることを示
す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS B 7139-1 双眼実体顕微鏡−第1部：一般要求事項
注記 対応国際規格：ISO 11884-1，Optics and photonics−Minimum requirements for stereomicroscopes
−Part 1: Stereomicroscopes for general use及びISO 11884-2，Optics and photonics−Minimum
requirements for stereomicroscopes−Part 2: High performance microscopes（全体評価：MOD）
JIS Z 8120 光学用語
JIS Z 8720 測色用標準イルミナント（標準の光）及び標準光源
注記 対応国際規格：ISO/CIE 10526:1999，CIE standard illuminants for colorimetry (MOD)
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用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 8120による。
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試験条件
4.1
試験精度
試験は，JIS B 7139-1の表1及び表2に示す許容値の10 ％以下の測定精度で，JIS B 7139-1の表3に示
す温度及び相対湿度で行う。
4.2
4.2.1
試験装置
双望遠鏡 双望遠鏡は，倍率が2倍〜4倍の二つの望遠鏡が機械的に結合され，間隔及び内向角が
調整でき，定める値に固定できる装置で，その両光軸は同一平面内に配置される。双望遠鏡の概略図を，
図1に示す。
望遠鏡の中間像面にある十字線焦点板，測長目盛焦点板及び角度目盛焦点板は交換できる。
図1−双望遠鏡
4.2.2
視度望遠鏡 視度望遠鏡は，試験する実体顕微鏡の接眼レンズの最上面に置く。
4.2.3
心出し望遠鏡 心出し望遠鏡は，双望遠鏡の接眼レンズと入れ換え，実体顕微鏡の射出ひとみの心
出しに用いる。
4.2.4
試験に用いる試料 試験に用いる試料（以下，試料という。）は，次による。
a) 十字線（測長目盛付）試料
b) 角度目盛試料
c) 解像力チャート
4.2.5
焦点板 焦点板は，次による。
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a) 十字線焦点板
b) 0.4 mm円焦点板
c) 測長目盛焦点板
d) 角度目盛焦点板
4.3
装置の配置
5.1〜5.3及び5.9で双望遠鏡（4.2.1及び図1）を使用する場合，双望遠鏡は実体顕微鏡の仕様に一致する
よう固定し，倍率10の接眼レンズは視度目盛0 m−1に合わせる。他の場合（5.4〜5.8及び5.10〜5.13）に
おいては，使用説明書の指示に従い視度調節を行う。
5
試験手順
5.1
総合倍率（MTOT VIS）
総合倍率は，最高倍率及び最低倍率で，垂直方向の中心線上で測定する。試験手順は，次による。
a) 測長目盛付試料を物体面に置き，最高倍率（又は最低倍率）で焦点を合わせる。
b) 物体面上のyの距離を，望遠鏡の中間像面に置いた測長目盛焦点板によって，像の大きさy"を読む。
c) 総合倍率を次の式によって求める。
M
TOT VIS
＝
250
×
y"
f
OT
×
y
ここに， MTOT VIS： 総合倍率
fOT： 望遠鏡の対物レンズの焦点距離 (mm)
d) 総合倍率の許容差は，次の式による。
M
−
M
TOT VIS
×
100
m
=
M
ここに， m： 総合倍率の許容差（％）
M： 呼び総合倍率
5.2
左右等倍差
左右等倍差は，最高倍率及び最低倍率で，垂直方向の中心線上で測定する。試験手順は，次による。
a) 測長目盛付試料を物体面に置き，最高倍率（又は最低倍率）で焦点を合わせる。
b) 物体面上のyの距離を，右の望遠鏡の像面位置に置いた測長目盛焦点板によって，像の大きさy"Rを
読む。
c) 同様に，物体面上のyの距離を，左の望遠鏡の像面位置に置いた測長目盛焦点板によって，像の大き
さy"Lを読む。
d) 左右の総合倍率MTOT VIS L及びMTOT VIS R間の差（左右等倍差）を，次の式によって計算する。
Δ
M
TOT VIS
=
200
×
y
"
R
−
y
"
L
y
"
R
+
y
"
L
ここに， ∆MTOT VIS： 左右等倍差（％）
5.3
左右光軸のずれ
左右光軸のずれは，最高倍率及び最低倍率で，眼幅65 mmで測定する。試験手順は，次による。
a) 実体顕微鏡の接眼レンズの光軸に沿う角度に双望遠鏡を設置する。
b) 十字線試料を物体面に置き，最高倍率（最低倍率）で実体顕微鏡の焦準装置を用い焦点を合わせる。
c) 十字線試料を移動させ，十字線の中心を一次像面の十字線焦点板の中心に合わせる。
d) 心出し望遠鏡を用い，左（又は右）側の望遠鏡と実体顕微鏡の左（又は右）側の光路の射出ひとみの
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中心とを合わせる。
e) 左（又は右）側の望遠鏡の十字線焦点板が，十字線試料の中心に一致するように，双望遠鏡の左右方
向（x）及び上下方向（y）を調整する。
f)
心出し望遠鏡を用いて，右（又は左）側の望遠鏡と実体顕微鏡の右（又は左）側の光路の射出ひとみ
を一致させる。
g) 望遠鏡内の十字線焦点板のx 軸線が十字線試料像の中心を横切るように，右（又は左）側の望遠鏡の
方向を調整する。
h) 右（又は左）側の望遠鏡の測長目盛で，望遠鏡の十字線焦点板のy 軸線と十字線試料の中心との左右
方向の距離∆x"を読む。
左右の光学系の左右方向の光軸のずれδ xを，次の式によって計算する。
δ
x
=
arctan Δ
x
′′
/ f
OT
i)
ここに， ∆x"： 左右方向についての左右光軸のずれ
j)
望遠鏡内の十字線焦点板のy"軸線が十字線試料像の中心を横切るように，右（又は左）側の望遠鏡の
方向を調整する。
k) 右（又は左）側の望遠鏡の測長目盛で，望遠鏡の十字線焦点板のx"軸線と十字線試料の中心との上下
方向の距離∆y"を読む。
左右の光学系の上下方向の光軸のずれδ yを，次の式によって計算する。
δ
y
=
arctan Δ
y
′′
/ f
OT
l)
ここに， ∆y"： 上下方向についての左右光軸のずれ
5.4
左右視野中心のずれ
左右視野中心のずれは，最高倍率及び最低倍率で，また眼幅65 mmで測定する。試験手順は，次による。
a) 十字線試料を物体面の中心に置き，最高倍率（最低倍率）で焦点を合わせる。
b) 実体顕微鏡の左（又は右）光路の接眼レンズの視野環の中心と十字線試料の中心とを合わせる。
c) 実体顕微鏡の右（又は左）光路の接眼レンズの視野環の中心から，十字線試料の中心の左右方向のず
れ∆x′及び上下方向のずれ∆y′を読む。
5.5
変倍による物体側焦点のずれ
変倍による焦点のずれは，実体顕微鏡の最高倍率，最低倍率及び倍率変換途中で測定する。試験手順は，
次による。
a) 十字線試料を物体面に置き，実体顕微鏡の焦点合わせ機構を用い，最高倍率で焦点を合わせる。
b) 最低倍率まで倍率を変えながら最大の焦点ずれが観察される倍率位置を見つける。
c) 焦点を合わせ直したときの実体顕微鏡の移動量を測定する。
5.6
変倍による像面の横ずれ
変倍による像面の横ずれは，実体顕微鏡の最高倍率から最低倍率への変換途中で測定する。試験手順
は，次による。
a) 十字線試料を物体面の中心に置き，実体顕微鏡の一次像面に測長目盛焦点板又は0.4 mm円焦点板を
備えた接眼レンズを用いる。
b) 実体顕微鏡の焦点合わせ機構を用い，最高倍率で焦点を合わせる。
c) 十字線試料の像の中心を，接眼レンズの測長目盛焦点板又は0.4 mm円焦点板の中心に合わせる。
d) 倍率を最低倍率まで変える間における各々左右の光路の十字線試料の中心の像の移動量を，接眼レン
ズの測長目盛で読むか，又は中心の像が0.4 mm円焦点板の規定の円からはみ出さないかを確認する。
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5.7
左右同焦点差
左右同焦点差は，視度望遠鏡を用いて測定する。試験手順は，次による。
a) 十字線試料を物体面に置き，実体顕微鏡の焦点合わせ機構を用い，左（又は右）光路で焦点を合わせ
る。
b) 十字線試料に右（又は左）光路で視度望遠鏡を用い，焦点を合わせ直したときの視度望遠鏡の視度目
盛の移動量を読む。
5.8
最高倍率での解像力
実体顕微鏡の対物レンズより大きな開口数（NA）をもつJIS Z 8720の標準光源を使用する透過照明を用
い，等間隔の白黒しま模様が段階的に並んだ解像力チャートを観察して検査する。解像力チャートの一部
の例を，図2に示す。試験手順は，次による。
a) 解像力チャートを実体顕微鏡の物体面に置く。
b) 実体顕微鏡の倍率を最高倍率とし，焦点を合わせた後，左右の接眼レンズを通して視野中心の等間隔
の白黒しま模様が分離して観察できる（解像している）チャートの記号を読み取るか，又は解像力チ
ャートによっては直接，1 mm当たりの解像本数を読み取る。
c) チャートの記号を読み取った場合は，解像力チャート換算表を用いて1 mm当たりの解像本数を求め
る。
図2−解像力チャートの一部の例
5.9
左右像の回転差
左右像の回転は，眼幅55 mm〜75 mmの範囲で測定する。試験手順は，次による。
a) 双望遠鏡の中間像位置に角度目盛焦点板を入れ，左右光路の垂直線を合わせる。
b) 十字線試料を物体面の中心に置き，任意の倍率で焦点を合わせる。
c) 十字線試料の垂直線を，実体顕微鏡の左（又は右）光路の望遠鏡の角度目盛焦点板の垂直線に合わせ
る。
d) 実体顕微鏡の右（又は左）光路の望遠鏡の角度目盛焦点板の垂直線と十字線試料の垂直線の角度との
ずれを読む。
5.10 左右接眼レンズの突出差
左右の接眼レンズの突出差は，視度目盛0 m−1位置で，また眼幅65 mmで測定する。試験手順は，次に
よる。
a) 視度目盛を0 m−1に合わせる。
b) 左の接眼スリーブの基準面と接眼レンズの端面との距離を測る。
c) 右の接眼スリーブの対応する基準面と接眼レンズの端面との距離を測る。
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d) 二つの測定値の差を計算する。
5.11 眼幅調整の最小範囲
眼幅調整の最小範囲は，視度目盛0 m−1位置で10×接眼レンズの射出ひとみの間隔を測定する。試験手
順は，次による。
a) 左右の接眼レンズが最も近づいた状態で，右及び左の接眼レンズの射出ひとみの中心間距離を測る。
b) 左右の接眼レンズが最も離れた状態で，右及び左の接眼レンズの射出ひとみの中心間距離を測る。
5.12 視度目盛0 m−1位置の調整誤差
視度目盛0 m−1位置の調整誤差は，接眼レンズ又は接眼スリーブの視度目盛を測定する。試験手順は，
次による。
a) 一方の接眼レンズ又は接眼スリーブの視度目盛を0 m−1に合わせた後，接眼レンズの端面に0 m−1に
調整された視度望遠鏡を載せ，実体顕微鏡の焦点合わせ機構で焦点を合わせる。
b) 視度望遠鏡を他方の接眼レンズの端面に移動し，接眼レンズ又は接眼スリーブの視度目盛を0 m−1に
合わせる。
c) 視度望遠鏡の視度調整機構で，試験試料に再び焦点を合わせ直したときの視度望遠鏡の視度目盛を読
む。
5.13 視度調整の最小範囲
視度調整の最小範囲は，眼幅65 mmで接眼レンズ又は接眼スリーブの視度目盛を測定する。試験手順は，
次による。
a) 一方の接眼レンズは，接眼レンズの視度目盛を0 m−1に合わせた後，接眼レンズの端面に0 m−1に調
整された視度望遠鏡を載せ，実体顕微鏡の焦点合わせ機構で焦点を合わせる。
b) 視度望遠鏡を他方の接眼レンズの端面に移し，実体顕微鏡の接眼レンズの視度目盛又は接眼スリーブ
の視度目盛を正側の最大位置に合わせる。
c) 視度望遠鏡の視度調整機構で再び焦点を合わせ直したときの視度望遠鏡の視度目盛を読む。
d) そのままの配置で，実体顕微鏡の接眼レンズの視度目盛又は接眼スリーブの視度目盛を負側の最大位
置に合わせる。
e) 視度望遠鏡の視度調整機構で，試験試料に再び焦点を合わせ直したときの視度望遠鏡の視度目盛を読
む。
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JIS B 7139-2:2008 双眼実体顕微鏡−第2部：試験
(Ⅰ)JISの規定
(Ⅲ)国際規格の規定
(Ⅳ)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
箇条
番号
箇条ごと
の評価
箇条番号
及び名称
(Ⅱ)国際
規格番号
内容
内容
附属書JA
（参考）
JISと対応する国際規格との対比表
(Ⅴ)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
技術的差異の内容
2引用規格
3用語及び
定義
変更
ISO 10934-1をJIS Z 8120
光学用語に置き換えた。
技術的差異はない。
4試験条件
4.1 試験精度
4.2 試験装置
4.3 装置の配置
4 試験精度
6.1 装置
6.2 装置形状
変更
ISO 15227の4，6.1，6.2を，
項目ごとの試験条件と試験方法を同一項に
JISの箇条4としてまとめ し，分かりやすくした。技術的差異はない。
た。
5試験手順
試験条件及び試
験方法
5 試験状態
6.3 試験手順
変更
ISO 15227の5，6.3を，JIS
の箇条5としてまとめ，内
容を一部変更した。
左右光軸のずれは，ISO 15227では接眼レ
ンズが平行な場合，平行でない場合で別項
目になっているが，試験方法及び得られる
結果は全く同じため統一した。左右射出ひ
とみの高さの差は測定結果に大差がないた
め，試験が容易な方法とした。ISO 15227
の見直し時に改訂を提案する。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：ISO 15227:2000，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 変更 ··············· 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD··············· 国際規格を修正している。
