2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 3215-0-1：2014
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義，試験における一般事項並びに外観 ··································································· 2
4 寸法······························································································································· 3
5 導体抵抗························································································································· 7
6 伸び······························································································································· 8
7 軟らかさ························································································································· 8
8 可とう性及び密着性 ·········································································································· 9
9 耐熱衝撃························································································································ 10
10 耐軟化 ························································································································· 11
11 耐摩耗 ························································································································· 11
12 耐溶剤 ························································································································· 11
13 絶縁破壊 ······················································································································ 11
14 均一性（公称導体径1.600 mm以下のもの） ······································································· 14
15 温度指数 ······················································································································ 14
16 耐冷媒 ························································································································· 14
17 はんだ付け性 ················································································································ 14
18 融着性 ························································································································· 14
19 誘電正接 ······················································································································ 14
20 耐トランス油 ················································································································ 14
21 加熱減量 ······················································································································ 14
22 ピンホール試験 ············································································································· 15
23 包装 ···························································································································· 15
附属書A（参考）中間サイズの寸法（R40） ············································································· 16
附属書B（参考）導体抵抗の算出方法······················································································ 19
附属書C（参考）導体抵抗 ···································································································· 21
附属書JA（規定）代替特性 ··································································································· 24
附属書JB（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 29
（1）
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C 3215-0-1：2014
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本
電線工業会（JCMA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を
改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格で
ある。これによって，JIS C 3215-0-1:1999は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 3215の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 3215-0-1 巻線共通規格−第0-1部：一般特性−エナメル銅線
JIS C 3215-0-2 巻線共通規格−第0-2部：一般特性−エナメル平角銅線
JIS C 3215-0-3 巻線共通規格−第0-3部：一般特性−エナメルアルミニウム線
JIS C 3215-0-4 巻線共通規格−第0-4部：一般特性−ガラス巻平角銅線及びエナメルガラス巻平角銅
線
JIS C 3215-1 巻線個別規格−第1部：クラス105のポリビニルアセタール銅線
JIS C 3215-8 巻線個別規格−第8部：クラス180のポリエステルイミド銅線
JIS C 3215-14 巻線個別規格−第14部：クラス105のポリビニルアセタールアルミニウム線
JIS C 3215-17 巻線個別規格−第17部：クラス105のポリビニルアセタール平角銅線
JIS C 3215-31 巻線個別規格−第31部：温度指数180のポリエステル（イミド）塗料焼付ガラス巻平
角銅線及びエナメルガラス巻平角銅線
JIS C 3215-32 巻線個別規格−第32部：温度指数155のポリエステル（イミド）塗料焼付ガラス巻平
角銅線及びエナメルガラス巻平角銅線
（2）
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日本工業規格
JIS
C 3215-0-1：2014
巻線共通規格−第0-1部：一般特性−エナメル銅線
Specifications for particular types of winding wires-
Part 0-1: General requirements-Enamelled round copper wire
序文
この規格は，2008年に第3版として発行されたIEC 60317-0-1を基とし，JIS C 3202:1994との整合化を
図るために，技術的内容を追加及び変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JBに示す。また，附属書JAは対応国際規格にはない事項であ
る。
1
適用範囲
この規格は，エナメル銅線の一般特性について規定する。
なお，公称導体径の範囲は，個別規格による。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60317-0-1:2008，Specifications for particular types of winding wires−Part 0-1: General
requirements−Enamelled round copper wire（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 3215（規格群） “巻線共通規格”及び“巻線個別規格”
注記 対応国際規格：IEC 60317 (all parts)，Specifications for particular types of winding wires（MOD）
JIS C 3216-2 巻線試験方法−第2部：寸法
注記 対応国際規格：IEC 60851 (all parts)，Winding wires−Test methods（MOD）
JIS C 3216-3 巻線試験方法−第3部：機械的特性
注記 対応国際規格：IEC 60851 (all parts)，Winding wires−Test methods（MOD）
JIS C 3216-4 巻線試験方法−第4部：化学的特性
注記 対応国際規格：IEC 60851 (all parts)，Winding wires−Test methods（MOD）
JIS C 3216-5 巻線試験方法−第5部：電気的特性
注記 対応国際規格：IEC 60851 (all parts)，Winding wires−Test methods（MOD）
JIS C 3216-6 巻線試験方法−第6部：熱的特性
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注記 対応国際規格：IEC 60851 (all parts)，Winding wires−Test methods（MOD）
JIS Z 8703 試験場所の標準状態
ISO 3，Preferred numbers−Series of preferred numbers
注記 標準数を規定する規格としてJIS Z 8601があり，この規格で用いる標準数と一致している。
3
用語及び定義，試験における一般事項並びに外観
3.1
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
3.1.1
融着層（bonding layer）
エナメル線の上に形成した，エナメル線どうしを融着させる機能をもつ層。
3.1.2
クラス（class）
温度指数と耐熱衝撃温度とで表される耐熱特性の指標。
3.1.3
皮膜（coating）
導体上又は線の上に，適切な手段で乾燥又は硬化させて形成したもの。
3.1.4
導体（conductor）
絶縁を取り除いた後の裸の金属。
3.1.5
亀裂（crack）
指定する拡大率で，導体が露出して見える絶縁物の開口部。
3.1.6
二重皮膜（dual coating）
下層と上層とからなる2層の異種材料で形成した絶縁物。
3.1.7
エナメル線（enamelled wire）
熱硬化樹脂を塗装した線。
3.1.8
グレード（grade）
絶縁の厚さによる区分。
3.1.9
絶縁（insulation）
特定の耐電圧機能をもつ，導体上の皮膜又は被覆。
3.1.10
公称導体寸法（nominal conductor dimension）
JIS C 3215の規格群による導体寸法の公称値。
3.1.11
通常視力（normal vision）
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裸眼視力又は矯正視力が1.0以上の視力。
3.1.12
［対応国際規格では，“sole coating”（単一皮膜）の用語及び定義があるが，本文中で用いておらず，この
規格では不採用とした。］
3.1.13
巻線（winding wire）
磁界を与えるコイル用の線。
3.1.14
線（wire）
絶縁被覆又は絶縁塗装した導体。
3.2
試験における一般事項
全ての試験方法は，JIS C 3216-2〜JIS C 3216-6による。適用する試験方法を規定している規格番号及び
箇条番号を各箇条の名称の後に角括弧“［ ］”書きで示す。
試験方法に関する規格とこの規格との間に相違のある場合は，この規格の規定を優先する。
試験項目に，適用する公称導体径の規定がない場合，全ての公称導体径に適用する。
特に指定のない限り，全ての試験は，JIS Z 8703に規定する温度20±15 ℃及び相対湿度（65±20）%
の標準条件で実施する。試験を行う前に，試験片はこの標準条件に安定するまであらかじめ放置しておく。
試験片は巻枠から採取する。このときに，線に張力を与えたり，不必要な曲げを与えたりしてはならな
い。試験片に損傷部分が含まれないことを確実にするため，各試験前に十分な長さの線を廃棄した後，試
験片を採取する。
3.3
外観
巻枠に巻かれた状態で通常視力で検査したとき，滑らかで一様の光沢があり，かつ，膨れ又は異物があ
ってはならない。
公称導体径が0.100 mm以下の場合は，受渡当事者間の協定によって6〜10倍の拡大鏡を用いてもよい。
4
寸法［JIS C 3216-2の箇条3又はJIS C 3216-2のJA.3］
寸法は，次による。ただし，受渡当事者間の協定によって附属書JAを選択してもよい。
4.1
導体径
公称導体径の値及び許容差は，表1及び表2による。表1及び表2の値は，ISO 3の標準数R20に従っ
ており，JIS C 3202:1994の公称導体径を追加している。技術的理由によって中間公称導体径を選ぶ場合は，
附属書Aによる。附属書Aの値は，ISO 3の標準数R40に従っている。
注記 公称導体径0.063 mm以下のものについては，導体径の許容差は規定せず，表3の導体抵抗で
規定している。
表1−融着層のないエナメル線の寸法
単位 mm
公称導体径
導体径許容差
最小両側皮膜厚さ
最大仕上り外径
グレード 1 グレード 2 グレード 3 グレード 1 グレード 2 グレード 3
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表1−融着層のないエナメル線の寸法（続き）
単位 mm
公称導体径
導体径許容差
最小両側皮膜厚さ
最大仕上り外径
グレード 1 グレード 2 グレード 3 グレード 1 グレード 2 グレード 3
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表1−融着層のないエナメル線の寸法（続き）
単位 mm
公称導体径
導体径許容差
最小両側皮膜厚さ
最大仕上り外径
グレード 1 グレード 2 グレード 3 グレード 1 グレード 2 グレード 3
注記 0.060 mm以上のサイズの最小仕上り外径は，表3の最大導体抵抗相当の導体径に最小両側皮膜厚さを加えて
算出する。
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表2−融着層をもつエナメル線の寸法
単位 mm
公称導体径
導体径許容差
下層最小両側皮膜厚さ
グレード 2B
融着層最小
両側皮膜厚さ
グレード 1B
最大仕上り外径
グレード 1B
グレード 2B
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表2−融着層をもつエナメル線の寸法（続き）
単位 mm
公称導体径
導体径許容差
下層最小両側皮膜厚さ
グレード 2B
融着層最小
両側皮膜厚さ
グレード 1B
最大仕上り外径
グレード 1B
グレード 2B
注記 0.060 mm 以上のサイズの最小仕上り外径は，表3の最大導体抵抗相当の導体径に下層最小両側皮膜厚さ及び
融着層最小両側厚さを加えて算出する。
4.2
導体の真円度（公称導体径0.063 mmを超えるもの）
最大値と最小値との差は，導体径のどの点をとっても表1及び表2の導体径許容差の値以下でなければ
ならない。
4.3
4.3.1
最小両側皮膜厚さ（公称導体径0.063 mmを超えるもの）
融着層のないエナメル線
最小両側皮膜厚さは，表1に適合しなければならない。
4.3.2
融着層をもつエナメル線
融着層を含む最小両側皮膜厚さは，表2に適合しなければならない。
4.4
4.4.1
最大仕上り外径
融着層のないエナメル線
最大仕上り外径は，表1に適合しなければならない。
4.4.2
融着層をもつエナメル線
最大仕上り外径は，表2に適合しなければならない。
5
導体抵抗［JIS C 3216-5の箇条3］
公称導体径0.063 mm以下のエナメル銅線の20 ℃における導体抵抗は，表3に適合しなければならない。
公称導体径0.063 mmを超えるものの導体抵抗は，規定しない。
公称導体径0.063 mmを超え，1.000 mm以下のものの導体抵抗は，受渡当事者間の協定によって測定し
てもよい。この場合，20 ℃における導体抵抗は，附属書Cに記載する導体抵抗（参考値）以内とするの
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がよい。
表3−導体抵抗
公称導体径
導体抵抗
公称導体径
導体抵抗
最小
最大
最小
最大
注記1 最小値及び最大値の算出方法は，附属書Bに記載がある。
注記2 標準導体抵抗は，附属書Cに記載がある。
6
伸び［JIS C 3216-3の3.1］
伸びは，表4に適合しなければならない。
表4−伸び
公称導体径
最小伸び
公称導体径
最小伸び
公称導体径
最小伸び
この表に記載のない中間公称導体径の場合，より大きく最も近い公称導体径の伸びを
適用する。
7
軟らかさ［JIS C 3216-3の箇条4又はJIS C 3216-3のJA.4］
軟らかさは，次による。ただし，受渡当事者間の協定によって附属書JAを選択してもよい。
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7.1
公称導体径0.080 mm以上，1.600 mm以下のもの
線を表5に規定する張力でマンドレルに巻き付けたとき，最大戻り角度は表5に適合しなければならな
い。
表5−軟らかさ
公称導体径
マンドレル
径
張力
最大戻り角度
度（°）
グレード 1
グレード 2
グレード 1B
グレード 3
グレード 2B
この表に記載のない中間公称導体径の場合，より大きく最も近い公称導体径の最大戻
り角度を適用する。
7.2
公称導体径1.600 mmを超えるもの
最大戻り角度は，5°を超えてはならない。
8
可とう性及び密着性［JIS C 3216-3の箇条5又はJIS C 3216-3のJA.5］
可とう性及び密着性は，次による。ただし，受渡当事者間の協定によって附属書JAを選択してもよい。
8.1
巻付け試験（公称導体径1.600 mm以下のもの）
表6に規定する伸長率で伸長した後，丸棒に巻き付けたとき，皮膜に亀裂があってはならない。
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表6−巻付け
公称導体径
を超え
以下
巻付け前の
伸長率
丸棒の径
注記1 公称導体径0.063 mm以下は，規定伸長率に満た
ない場合は，切断するまで伸長する。
注記2 dは，公称導体径である。
8.2
伸長試験（公称導体径1.600 mmを超えるもの）
32 %まで伸長したとき，皮膜に亀裂があってはならない。
8.3
急激伸長試験（公称導体径1.000 mm以下のもの）
皮膜に亀裂又は浮きがあってはならない。
8.4
剝離試験（公称導体径1.000 mmを超えるもの）
公称導体径に従った回転数で線をねじったとき，皮膜に浮きがあってはならない。
回転数は，次の式によって算出し，端数は切り捨てる。
R=
K
d
ここに，
d： 公称導体径
R： 回転数
K： 定数
計算に用いる定数Kは，個別規格による。
9
耐熱衝撃［JIS C 3216-6の箇条3又はJIS C 3216-6のJA.3］
9.1
公称導体径1.600 mm以下のもの
皮膜に亀裂があってはならない。丸棒の径は，表7による。最低試験温度は，個別規格による。
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表7−耐熱衝撃
単位 mm
公称導体径
丸棒の径
この表に記載のない中間公称導体径の場合，より
大きく最も近い公称導体径の丸棒の径を適用する。
注記 公称導体径0.140 mm以下は，表6による。
9.2
公称導体径1.600 mmを超えるもの
25 %まで伸長したとき，皮膜に亀裂があってはならない。最低試験温度は，個別規格による。
10 耐軟化［JIS C 3216-6の箇条4又はJIS C 3216-6のJA.4］
耐軟化は，個別規格による。
11 耐摩耗［JIS C 3216-3の箇条6］
耐摩耗は，個別規格による。
12 耐溶剤［JIS C 3216-4の箇条3］
標準溶剤を用いて試験を行ったとき，硬度“H”の鉛筆で，皮膜に剝がれがあってはならない。
13 絶縁破壊［JIS C 3216-5の箇条4又はJIS C 3216-5のJA.4］
絶縁破壊電圧は，次による。ただし，受渡当事者間の協定によって附属書JAを選択してもよい。
13.1 概要
線は，常温で又は個別規格に規定がある場合は規定する高温で試験したとき，13.2〜13.4のいずれかに
適合しなければならない。
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12
C 3215-0-1：2014
13.2 公称導体径0.100 mm以下のもの
試験片5本のうち，4本以上は表8に適合しなければならない。
表8−絶縁破壊電圧
公称導体径
最小絶縁破壊電圧（実効値）
グレード 1
グレード 1B
グレード 2
グレード 2B
グレード 3
常温
この表に記載のない中間公称導体径の場合，より大きく
最も近い公称導体径の最小破壊電圧を適用する。
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13
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13.3 公称導体径0.100 mmを超え，2.500 mm以下のもの
試験片5本のうち，4本以上は表9に適合しなければならない。
表9−絶縁破壊電圧
公称導体径
最小絶縁破壊電圧（実効値）
グレード 1，グレード 1B
グレード 2，グレード 2B
グレード 3
常温
高温
常温
高温
常温
高温
この表に記載のない中間公称導体径の場合，より大きく最も近い公称導体径の最小破壊電圧を適用す
る。
13.4 公称導体径2.500 mmを超えるもの
試験片5本のうち，4本以上は表10に適合しなければならない。
表10−絶縁破壊電圧
公称導体径
最小絶縁破壊電圧（実効値）
グレード 1，グレード 1B
グレード 2，グレード 2B
グレード 3
常温
高温
常温
高温
常温
高温
2.500を超え
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14
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14 均一性（公称導体径1.600 mm以下のもの）［JIS C 3216-5の箇条5又はJIS C 3216-5のJA.5］
線30 m当たりの欠陥数は，表11に適合しなければならない。
表11−均一性
公称導体径
30 m当たりの最大欠陥数
を超え
以下
グレード 1
グレード 1B
1種
2種
グレード 2
グレード 2B
0種
グレード 3
15 温度指数［JIS C 3216-6の箇条5又はJIS C 3216-6のJA.5］
特に受渡当事者間の協定のない限り，試験はグレード 2の公称導体径1.000 mmの未含浸の試験片で行
う。20 000時間の外挿値に対応する温度は，個別規格に規定する温度以上であって，最も低い試験温度に
おける平均寿命は5 000時間以上でなければならない。要求があれば，エナメル線の供給業者は線が要求
温度指数を満足することを明らかにしなければならない。
なお，受渡当事者間の協定によってJIS C 3216-6のJA.5の試験方法を用いてもよい。
注記 温度指数は，ワニス含浸していないエナメル線での20 000時間外挿による寿命であり，絶縁シ
ステムの一部としての温度指数ではない。温度指数は相当する温度（℃）での線の使用を必ず
しも推奨するものではない。使用温度は，使用機器に含まれる多くの要因に依存する。
16 耐冷媒［JIS C 3216-4の箇条4又はJIS C 3216-4のJA.4］
耐冷媒は，個別規格による。
17 はんだ付け性［JIS C 3216-4の箇条5又はJIS C 3216-4のJA.5］
はんだ付け性は，個別規格による。
18 融着性［JIS C 3216-3の箇条7又はJIS C 3216-3のJA.7］
融着性は，個別規格による。
19 誘電正接［JIS C 3216-5の箇条6］
誘電正接は，個別規格による。
20 耐トランス油［JIS C 3216-4の箇条6］
耐トランス油は，個別規格による。
21 加熱減量［JIS C 3216-6の箇条6］
加熱減量は，個別規格による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
15
C 3215-0-1：2014
22 ピンホール試験［JIS C 3216-5の箇条7］
ピンホール試験は，個別規格による。
23 包装
包装の種類は線の特性（例えば，軟らかさ）に影響を与える可能性がある。したがって，包装（例えば，
スプールのタイプ）は，受渡当事者間の協定による。
線は，スプール又は容器に緩み及び／又はほつれがないように巻くものとし，受渡当事者間の協定のな
い限り，1条を限度とする。1条を超えるとき，容器中の継ぎ目位置のラベル表示は受渡当事者間の協定に
よる。
線を納入する場合，体積及び最大質量は，受渡当事者間の協定による。線の保護も受渡当事者間の協定
による。
ラベルは，次の内容を含み，受渡当事者間の協定によって，個々の包装に表示する。
a) 製造社名及び／又は商標
b) 線及び絶縁の種類（例えば，製品名，記号及び／又はJIS個別規格番号）
c) 線の質量
d) 線の公称導体寸法及び絶縁のグレード
e) 製造年月
f)
製造番号
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
16
C 3215-0-1：2014
附属書A
（参考）
中間サイズの寸法（R40）
この附属書は，使用者の技術的な理由によって選ばれる中間サイズを網羅した中間サイズの導体寸法
（R40）について記載したものである。
A.1 融着層のないエナメル線
融着層のないエナメル線の中間サイズの導体寸法は，表A.1から選択する。
表A.1−融着層のないエナメル線の寸法（R40）
単位 mm
公称導体径
導体径許容差
最小両側皮膜厚さ
最大仕上り外径
グレード 1 グレード 2 グレード 3 グレード 1 グレード 2 グレード 3
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
17
C 3215-0-1：2014
表A.1−融着層のないエナメル線の寸法（R40）（続き）
単位 mm
公称導体径
導体径許容差
最小両側皮膜厚さ
最大仕上り外径
グレード 1 グレード 2 グレード 3 グレード 1 グレード 2 グレード 3
注記 0.060 mm以上のサイズの最小仕上り外径は，表3の最大導体抵抗相当の導体径に最小両側皮膜厚さを加えて
算出する。
A.2 融着層をもつエナメル線
融着層をもつエナメル線の中間サイズの導体寸法は，表A.2から選択する。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
18
C 3215-0-1：2014
表A.2−融着層をもつエナメル線の寸法（R40）
単位 mm
公称導体径
導体径許容差
下層最小両側皮膜厚さ
グレード 2B
融着層最小
両側皮膜厚さ
グレード 1B
最大仕上り外径
グレード 1B
グレード 2B
注記 0.060 mm以上のサイズの最小仕上り外径は，表3の最大導体抵抗相当の導体径に下層最小両側皮膜厚さ及び
融着層最小両側皮膜厚さを加えて算出する。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
19
C 3215-0-1：2014
附属書B
（参考）
導体抵抗の算出方法
この附属書は，導体抵抗の算出方法について記載したものである。
導体抵抗の上下限値は，次の方法によって算出する。
B.1
公称導体径0.063 mm以下のもの
係数は，公称導体断面積ごとに与えられ，次による。
Kmin： 最小導体抵抗を公称導体抵抗で除した値
Kmax： 最大導体抵抗を公称導体抵抗で除した値
単位長さ当たりの導体抵抗は，次の式によって算出する。
R
min
=
K
min
×
ρ
nom
（Ω･m−1）
q
nom
R
max
=
K
max
×
ρ
nom
（Ω･m−1）
q
nom
ここに，
Rmin： 単位長さ当たりの最小導体抵抗（Ω･m−1）
Rmax： 単位長さ当たりの最大導体抵抗（Ω･m−1）
Kmin，Kmax： 係数 表B.1による。
ρnom： 抵抗率，1/58.5 Ω･mm2･m−1
qnom： 公称導体断面積（mm2） 次の式によって公称導体径
（dnom）から算出する。
π
q
nom
= ×
d
2nom
4
表B.1−係数
B.2
公称導体径
公称導体径0.063 mmを超え，1.000 mm以下のもの
導体抵抗の最小値及び最大値は，導体径許容差を考慮し抵抗率の最小値及び最大値から算出する。
単位長さ当たりの導体抵抗は，次の式によって算出する。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
20
C 3215-0-1：2014
R
min
=
ρ
nom
（Ω･m−1）
q
max
R
max
=
ρ
nom
（Ω･m−1）
q
min
ここに， Rmin： 単位長さ当たりの最小導体抵抗（Ω･m−1）
Rmax： 単位長さ当たりの最大導体抵抗（Ω･m−1）
ρnom： 抵抗率 1/58.5 Ω･mm2･m−1
qmax： 導体径許容差最大値での導体断面積（mm2）
qmin： 導体径許容差最小値での導体断面積（mm2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
21
C 3215-0-1：2014
附属書C
（参考）
導体抵抗
導体抵抗の標準値は，参考とする。これらの値は，公称導体径及び標準導体抵抗率1/58.5 Ω･mm2･m−1
を用いて算出した。公称導体径が，0.063 mm以下及び1.000 mmを超える導体抵抗の最小値及び最大値は，
附属書Bに従って算出した。算出値を表C.1に示す。
表C.1−導体抵抗値
公称導体径
単位長さ当たりの導体抵抗
最小
標準
最大
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
22
C 3215-0-1：2014
表C.1−導体抵抗値（続き）
公称導体径
単位長さ当たりの導体抵抗
最小
標準
最大
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
23
C 3215-0-1：2014
表C.1−導体抵抗値（続き）
公称導体径
単位長さ当たりの導体抵抗
最小
標準
最大
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
24
C 3215-0-1：2014
附属書JA
（規定）
代替特性
この附属書は，本体の対応する箇条を補足するものであり，本体で規定する箇条に対し，置き換えて適
用が可能な箇条について規定する。
注記 この附属書で規定する規格値は，この規格をIEC 60317-0-1に整合させるに当たり，この内容
によって大きな変更となり市場の混乱が予想される事項について，完全整合化に向けた経過措
置として，JIS C 3202:1994に従った規格値を併記したものである。
JA.4 寸法［JIS C 3216-2のJA.3］
寸法（公称導体径，導体径許容差，最小皮膜厚さ，最小絶縁皮膜厚さ及び最大仕上り外径）は，表JA.1
及び表JA.2による。
表JA.1−融着層のないエナメル線の寸法
単位 mm
公称
導体径
導体径
許容差
最小皮膜厚さ
最大仕上り外径
0種
1種
2種
3種
0種
1種
2種
3種
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
25
C 3215-0-1：2014
表JA.1−融着層のないエナメル線の寸法（続き）
単位 mm
公称
導体径
導体径
許容差
最小皮膜厚さ
最大仕上り外径
0種
1種
2種
3種
0種
1種
2種
3種
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
26
C 3215-0-1：2014
表JA.2−融着層をもつエナメル線の寸法
単位 mm
公称
導体径
導体径
許容差
最小絶縁皮膜厚さ
最小皮膜厚さ
最大仕上り外径
0種
1種
2種
0種
1種
2種
0種
1種
2種
JA.7 軟らかさ［JIS C 3216-3のJA.4］
必要な値は，受渡当事者間の協定によって決定するものとし，この規格では規定しない。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
27
C 3215-0-1：2014
JA.8 可とう性及び密着性［JIS C 3216-3のJA.5］
JA.8.1
巻付け試験（公称導体径0.370 mm以上のもの）
附属書に規定した径に巻き付けたとき，皮膜に亀裂があってはならない。
JA.8.2
伸長試験（公称導体径0.370 mm未満のもの）
個別規格に規定した伸長率まで伸長したとき，皮膜に亀裂があってはならない。
JA.13 絶縁破壊［JIS C 3216-5のJA.4］
JA.13.1 金属シリンダー法（公称導体径0.04 mm以下のもの）
試験片は3本とし，表JA.3に適合しなければならない。
表JA.3−絶縁破壊電圧
公称導体径
最小絶縁破壊電圧（実効値）
0種
1種
2種
3種
JA.13.2 2個より法（公称導体径0.04 mmを超え，3.20 mm以下のもの）
試験片は3本とし，表JA.4に適合しなければならない。
表JA.4−絶縁破壊電圧
公称導体径
最小絶縁破壊電圧（実効値）
0種
1種
2種
3種
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
28
C 3215-0-1：2014
表JA.4−絶縁破壊電圧（続き）
公称導体径
最小絶縁破壊電圧（実効値）
0種
1種
2種
3種
参考文献 JIS C 3202:1994 エナメル線
JIS Z 8601 標準数
29
C 3215-0-1：2014
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附属書JB
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 3215-0-1:2014 巻線共通規格−第0-1部：一般特性−エナメル銅線
(I)JISの規定
箇条番号
及び題名
3 用語及び定
義，試験にお
ける一般事項
並びに外観
内容
3.2 試験におけ
る一般事項
4 寸法
(III)国際規格の規定
箇条
番号
表1 エナメル線
の寸法
7 軟らかさ
8.1 巻付け試験
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価
及びその内容
内容
箇条ごと
の評価
温度15〜35 ℃， 変更
相対湿度45〜
(V)JISと国際規格との技術的差異の理
由及び今後の対策
技術的差異の内容
JIS Z 8703に従って温度20±15 ℃，相対
湿度(65±20) %とした。
国内の環境条件に合わせた。
選択
受渡当事者間の協定によって，附属書JA
を選択してもよいこととした。
標準数R20だけ 追加
従来使用していたJIS C 3202:1994の公称
導体径を追加した。
国内のIEC規格対応状況を勘案し，経過
処置としてJIS C 3216-2のJA.3の試験
方法を用いてもよいこととした。
次回見直し時，IEC規格整合化を図る。
国内のIEC規格対応状況を勘案し，従来
使用していた公称導体径が使用できる
ようにした。
国内のIEC規格対応状況を勘案し，経過
処置としてJIS C 3216-3のJA.4の試験
方法を用いてもよいこととした。ただ
し，規格値に関しては，用途によって範
囲が異なるため，受渡当事者間の協定に
よるものとし規定しない。
次回見直し時，IEC規格整合化を図る。
国内のIEC規格対応状況を勘案し，経過
処置としてJIS C 3216-3のJA.5の試験
方法を用いてもよいこととした。
次回見直し時，IEC規格整合化を図る。
選択
受渡当事者間の協定によって，JIS C
3216-3のJA.4の試験方法を用いてもよい
とした。
選択
受渡当事者間の協定により，JIS C 3216-3
のJA.5の試験方法を用いてもよいとした。
8 可とう性及
び密着性
国際
規格
番号
30
C 3215-0-1：2014
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
14 均一性
内容
表11 均一性
15 温度指数
22 ピンホー
ル試験
23 包装
箇条番号
箇条番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価
及びその内容
箇条
番号
箇条ごと
の評価
選択
内容
表11
技術的差異の内容
受渡当事者間の協定によってJIS C 3216-5
のJA.4を適用する場合は，表JA.3又は表
JA.4を用いてもよいとした。
追加
0種，1種及び2種を表に記載した。
受渡当事者間の協定によって，JIS C
3216-6のJA.5の試験方法を用いてもよい
とした。
箇条番号はこの規格内の順列に合わせ，22
に変更した。
個別規格によるとした。
追加
ピンホール試験
変更
本文は検討中と
なっている。
箇条番号は30
変更
変更
箇条番号はこの規格内の順列に合わせ，23
に変更した。
表示例はIEC規
格番号
変更
表示例のIEC規格番号をJIS番号に変更し
た。
“f) 製造番号”を追加した。
追加
(V)JISと国際規格との技術的差異の理
由及び今後の対策
国内のIEC規格対応状況を勘案し，経過
処置としてJIS C 3216-5のJA.4を適用
する場合は，表JA.3又は表JA.4を用い
てもよいこととした。
次回見直し時，IEC規格整合化を図る。
国内のIEC規格対応状況を勘案し，経過
処置として，0種，1種及び2種を追加
した。
次回見直し時，IEC規格整合化を図る。
JIS C 3216-6の5.1.1（丸線）の記載と整
合した。
箇条番号変更は文書内整合のため。
関連するJIS規格群と整合できるように
した。
関連するJIS規格群と整合できるように
した。
箇条番号変更は文書内整合のため。
JIS 様式。
JIS C 3202:1994に規定する表示事項を
追加した。
附属書B
（参考）
導体抵抗の算出
方法
附属
書B
（参
考）
導体抵抗の計算
式
変更
IEC 60317-0-1:2008の計算式でなく，2009
年にIEC/TC55 WG1で合意された計算式を
適用した。
IECにおいて改訂版が発行される予定。
附属書C
（参考）
導体抵抗
附属
書C
（参
考）
表C.1 導体抵抗 変更
附属書Bの導体抵抗の計算方法で示した計
算式と表C.1 導体抵抗値とが整合してい
ないため，2009年にIEC/TC55 WG1で合意
された計算式を適用して算出した。
IECにおいて改訂版が発行される予定。
箇条番号
及び題名
13 絶縁破壊
国際
規格
番号
(I)JISの規定
31
C 3215-0-1：2014
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
箇条番号
及び題名
附属書JA
（規定）
内容
代替特性
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価
及びその内容
箇条
番号
箇条ごと
の評価
追加
内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理
由及び今後の対策
技術的差異の内容
国内のIEC規格対応状況を勘案し，経過
処置としてJIS C 3202:1994の附属書3
に準じた規格値を追加した。
次回見直し時，IEC規格整合化を図る。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 60317-0-1:2008，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
− 選択 ················ 国際規格の規定内容とは異なる規定内容を追加し，それらのいずれかを選択するとしている。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
