2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5260-3-1 : 2000
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電子機械工業会 (EIAJ) から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，通
商産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権（平成5年12月31
日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。）又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す
る可能性があることに注意を喚起する。
通商産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，
実用新案権，又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5260-3-1には，次に示す附属書がある。
附属書（参考） JISと対応する国際規格の対比表
部編成規格 この規格の部編成規格は，次による。
JIS C 5260群 電子機器用可変抵抗器
JIS C 5260-1 第1部：品目別通則
JIS C 5260-2 第2部：品種別通則：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
JIS C 5260-2-1 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-2-2 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-3 第3部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器
JIS C 5260-3-1 第3部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-4 第4部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器
JIS C 5260-4-1 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-4-2 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-5 第5部：品種別通則：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
JIS C 5260-5-1 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-5-2 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5260-3-1 : 2000
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
ブランク個別規格 ·············································································································· 1
個別規格の識別 ················································································································· 1
可変抵抗器の識別 ·············································································································· 1
第1章 一般事項
1. 一般事項 ························································································································ 3
1.0 適用範囲 ······················································································································ 3
1.1 推奨する取付方法（挿入用） ···························································································· 3
1.2 寸法 ···························································································································· 3
1.3 定格及び特性 ················································································································ 3
1.3.1 負荷軽減 ···················································································································· 3
1.4 引用規格 ······················································································································ 4
1.5 表示 ···························································································································· 4
1.6 発注時の情報 ················································································································ 4
1.7 出荷対象ロットの成績証明書 ···························································································· 4
1.8 追加事 ························································································································· 4
1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加，又はより厳しい要求事項 ······································ 4
第2章 検査要求事項
2. 検査及び要求事項 ············································································································ 4
2.1 手順 ···························································································································· 4
附属書（参考） JISと対応する国際規格との対比表 ·································································· 14
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日本工業規格
JIS
C 5260-3-1 : 2000
電子機器用可変抵抗器−
第3部：ブランク個別規格：
回転形精密級可変抵抗器
評価水準 E
Potentiometers for use in electronic equipment−
Part 3 : Blank detail specification :
Rotary precision potentiometers
Assessment level E
序文 この規格は，1992年に第1版として発行されたIEC 60393-3-1, Potentiometers for use in electronic
equipment−Part3 : Blank detail specification : Rotary precision potentiometers, Assessment level Eを元に，規格票
の様式を変更することなく作成した日本工業規格であるが，技術的内容については，製品の現状に即して
変更している。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。また，IEC規格番号
は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであり，これより前に発行された規格に
ついても，規格番号に60000を加えた番号に切り替えた。これは，番号だけの切替えであり，内容は同一
である。
ブランク個別規格 この規格は，品種別通則 (JIS C 5260-3) の補足規格で，個別規格の様式，配列及び最
小限必要な要求事項を規定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は，日本工業規格に
基づいていないとみなす。
個別規格を作成する場合には，JIS C 5260-3の1.4（個別規格に規定する事項）の内容を考慮に入れる。
個別規格の最初のページとなるこの規格の次の表の括弧内の数字は，指定の位置に記入する次の事項と対
応する。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC : International electrotechnical
commission) の名称。
(2) 個別規格の日本工業規格番号，発効年及び国内制度で要求される事項，又はIEC規格の番号，版及び
発行年。
(3) 品目別通則の日本工業規格の名称，番号及び発効年又はIEC規格の番号，版及び発行年。
(4) ブランク個別規格の日本工業規格番号又はIEC規格番号。
可変抵抗器の識別
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C 5260-3-1 : 2000
(5) 可変抵抗器の品種についての要約説明。
(6) 代表的な構造の説明（適用する場合）。例えば，非巻線，単回転形。
備考 可変抵抗器がプリント配線板用に設計されていない場合には，個別規格のこの欄にそのことを
明記する。
(7) 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関する国内又は国際規格の引用。こ
の図は，個別規格の附属書としてもよい。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び／又は評価水準。
備考 個別規格に規定する評価水準は，JIS C 5260-3の3.3.3（評価水準）から選択する。このブラン
ク個別規格の試験の群構成と同じであれば，個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。
(9) 異なる品種の可変抵抗器について，対比できる重要な特性に関する参照データ。
（例 日本工業標準調査会）
(1) 個別規格の番号
電子機器用可変抵抗器
第1部：品目別通則
例 JIS C 5260-3-1
（ブランク個別規格番号）
回転形精密級可変抵抗器
外形図（表1参照）
（第三角法）
（必要がある場合，寸法を個別規格の附属書と
してもよい。）
端子の接続
代表的な構造：
例 非巻線，単回転形
評価水準：E
安定性クラス：...%
この個別規格で認証された可変抵抗器の詳しい内容は，品
質認証電子部品一覧表 (QPL) に示されている。
参考 この記載は，IEC品質認証制度 (IECQ) の場合に適用す
る。
(9)
表1 定格及び特性
形状
定格電力 (70℃) W
素子最高電圧 V
（直流又は交流の
実効値）
アイソレーション電圧 V
直流又は交流ピーク値
大気圧下
減圧下
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C 5260-3-1 : 2000
第1章 一般事項
1. 一般事項
1.0
適用範囲 この規格は，JIS C 5260-3を品種別通則とするブランク個別規格で，回転形精密級可変抵
抗器 評価水準E（以下，可変抵抗器という。）について規定する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60393-3-1 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 3 : Blank detail
specifica-tion : Rotary precision potentiometers, Assessment level E (MOD)
1.1
推奨する取付方法（挿入用） ［JIS C 5260-3の1.4.2（取付け）を参照］
1.2
寸法 （必要がある場合には，寸法は，個別規格の附属書に規定してもよい。）
すべての寸法は，ミリメートル (mm) で示す。
1.3
定格及び特性
定格抵抗値範囲*
各抵抗変化特性ごと及び各形状ごとの範囲，IECQの場
は，品質認証電子部品一覧表 (QPL) で示す。
定格抵抗値の許容差
±...%
抵抗変化特性及び一致性
...
抵抗温度特性
≦...%
(20℃〜70℃) (∆R/R)
温度係数
≦...×10-6/℃
耐候性カテゴリ
−/−/−
減圧
8kPa
抵抗値の許容変化（端子aとcとの間）
± (...%R＋...Ω)
（電気的耐久性試験1 000h後）
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
駆動機構の回転数
...
全機械的操作範囲
≧...゜
有効電気的操作範囲
≧...゜
無効操作範囲（時計方向）
≦...゜
無効操作範囲（反時計方向）
≦...゜
しゅう動接点許容電流
...mA
端子間抵抗値
...Ω
終端残留抵抗値（適用する場合）
...Ω
最小有効抵抗値
...Ω
注*
定格抵抗値の推奨値は，JIS C 5063のEシリーズ及び／又は1，2，5シリーズである。
参考 ∆R/Rは，抵抗値変化の定格抵抗値に対する百分率 (%) を示す。減圧の8kPaはJIS C 5260-1で
引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。%Rは，定格抵抗値に対する百分率を示す。
1.3.1
負荷軽減 この規格を適用する可変抵抗器は，次の軽減曲線によって負荷を軽減する。
（適切な軽減曲線は，個別規格に規定する。）
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C 5260-3-1 : 2000
備考 JIS C 5260-3の2.2.3（定格電力）を参照。
1.4
引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格のうちで，発効年又は発行年を付記してあるものは，記載の版だけがこの規格を
構成するものであって，その後の改正版・追補・Amendmentには適用しない。発効年又は発行年を付記し
ていない引用規格は，その最新版（追補・Amendmentを含む。）を適用する。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
備考 IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors並びにAmendment 1 : 1967
及びAmendment 2 : 1977が，この規格と一致している。
JIS C 5260-1 電子機器用可変抵抗器−第1部：品目別通則
備考 IEC 60393-1 : 1989, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1 : General specification
及びAmendment 1 : 1992からの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5260-3 電子機器用可変抵抗器−第3部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器
備考 IEC 60393-3 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 3 : Sectional specification :
Rotary precision potentiometersからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
備考 IEC 60410 : 1973 Sampling plans and procedures for inspection by attributesからの引用事項は，こ
の規格の該当事項と同等である。
1.5
表示 可変抵抗器及び包装への表示は，JIS C 5260-3の1.5（表示）による。
備考 可変抵抗器及び包装への表示の詳細は，個別規格による。
1.6
発注時の情報 この規格を適用する可変抵抗器を発注する場合には，少なくとも次の事項を明確に
示すか，又は記号の形で示す。
a) 定格抵抗値及びその許容差
b) 抵抗変化特性（直線形以外の場合）及び一致性
c) 個別規格の番号，発効年及び形状
d) 形状の情報で分からない場合には，操作軸及び取付ねじの寸法
1.7
出荷対象ロットの成績証明書 要求する，又は要求しない。
1.8
追加事項（検査目的以外のもの） （個別規格には，内容をよく理解させるために回路図，軽減曲
線，図面及び備考による情報を含めてもよい。）
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加，又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合だけに規定する。
第2章 検査要求事項
2. 検査及び要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証のための手順は，JIS C 5260-3の3.2（品質認証）による。
2.1.2
品質確認検査のための試験計画（表2）には，サンプリング，周期，厳しさ及び要求事項を規定す
る。検査ロットの構成は，JIS C 5260-3の3.3.1（検査ロットの構成）による。
品質確認検査では，承認された抵抗値範囲を代表するものを1年以内に検査する（群A，群B及び群C
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だけ）。
備考 乾燥が要求される場合には，JIS C 5260-1の4.3（乾燥）の手順Iによる。
表2 品質確認検査のための試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は，JIS C 5260-1による。ただし，環境試験の厳しさ及び抵抗値
又は出力電圧比の許容限界は，JIS C 5260-3の関連項目から選択する。
2. 検査水準及び合格品質水準は，JIS Z 9015-1から選択する。
3. この表2で
U
ab
参考 表中の
⊿
U
ac
は，全印加電圧に対する百分率 (%) で表した出力電圧比の変化を表す。“∆R”は抵
抗値の変化量を示す。“%R”は，定格抵抗値に対する百分率を示す。
表2 品質確認検査のための試験計画（続き）
項目番号及び試験
（備考1.参照）
試験条件
又は
（備考1.参照）
要求性能
（備考1.参照）
（備考2.参照）
群A検査（ロットごと）
副群A1
4.6 素子抵抗値
副群A2
4.6.3による。
4.4.1 外観
4.4.1による。
表示が明りょうで，この規格の
1.5による。
4.4.2 寸法（ゲージ法）
個別規格の規定による。
4.18 始動トルク
個別規格の規定による。
4.4.4 全機械的操作範囲
副群A3
個別規格の規定による。
4.4.4 全機械的操作範囲
4.4.6 有効電気的操作範囲
個別規格の規定による。
有効電気的操作角度
無効操作角度（反時計方向）
無効操作角度（時計方向）
4.9 抵抗変化特性
（品種別通則の2.1.5から選択
した適切な試験方法及び性能
要求事項を個別規格に規定す
る。）
4.15 しゅう動雑音
方法B（巻線可変抵抗器だけに
適用）
4.29 出力平滑性
（非巻線抵抗器だけに適用）
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
試験条件
又は
（備考1.参照）
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
4.12 耐電圧
4.12.5による。
（絶縁形可変抵抗器だけに適
用）
（取付方法は，この規格の1.1
及び備考11.による。）
大気圧下
副群A4
4.32 はんだ付け性（適用する
はんだ槽方式
場合）
端子は，はんだが良好に付着し
温度：235℃±5℃
ている。
時間：2s±0.5s
又は
方法2：はんだこて法
はんだこて：サイズB
温度：350℃±10℃
時間：2s±0.5s
4.45 表示の耐溶剤性（適用す
溶剤：...
る場合）
表示が，明りょうである。
溶剤の温度：...
方法1
ラビング材質：脱脂綿
後処理：...
副群A5
（この副群が適用されないような可変抵抗器の設計の場合は，個別規格ではこの副群は除く。）
4.23 操作軸の偏心（シャフト
ランアウト）
半径方向の荷重：...N
全指示値 (l) ：≦...mm
取付面からの操作軸の長さ
4.24 取付面の平たん度（ラテ
ラルランアウト）
半径方向の荷重：…N
操作軸方向の荷重：...N
4.25 取付ガイド円面の真円度
（スピゴットダイヤメータラ
ンアウト）
4.26 操作軸の軸方向がた（シ
ャフトエンドプレイ）
取付面の半径 (r) ：...mm
全指示値 (r) ：≦...mm
半径方向の荷重：...N
全指示値：≦...mm
A方向
全指示値：≦...mm
B方向
全指示値：≦...mm
項目番号及び試験
試験条件
試料数及び
要求性能
（備考1.参照）
又は
（備考1.参照）
合格判定個数
（備考1.参照）
（備考3.参照）
副群B検査：適用しない
群C検査
（定期的）
副群C1
4.20 回転止め強度
（全回転形可変抵抗器には適用
しない。）
外観
4.20.1による。
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C 5260-3-1 : 2000
項目番号及び試験
（備考1.参照）
試験条件
試料数及び
要求性能
又は
（備考1.参照）
合格判定個数
（備考1.参照）
（備考3.参照）
4.22 操作軸の押し及び引張
り（試験が副群A5で実施
− 試料数3個
4.22.2を適用
されている場合は適用しな
連続性
い）
− 試料数2個
4.22.2による。
4.22.3を適用
出力電圧比
副群C2A
副群C2の試料の一部
4.30 端子強度
端子の種類に適応した試験を行
う。
4.33はんだ耐熱性（適用する
外観
4.30.8による。
素子抵抗値
試験Tb,方法1B
場合）
温度：350℃±10℃
時間：3.5s±0.5s
又は
方法2
はんだこて：サイズB
温度：350℃±10℃
時間：10s±1s
素子抵抗値
端子間抵抗値
端子aとbとの間の抵抗値
端子bとcとの間の抵抗値
適用する場合は，端子bと各
タップ端子間の抵抗値
4.4.4 本体の耐溶剤性
溶剤：...
（適用する場合）
溶剤の温度：...
方法2
個別規格に規定する
後処理：...
副群C2B
副群C2の残りの部分
4.34 温度変化
備考5.による。
TA(1)＝カテゴリ下限温度
TB(1)＝カテゴリ上限温度
放置時間t1＝30min
外観
4.34.5による。
出力電圧比（半固定可変抵抗器
だけに適用）
4.36 バンプ（又は4.37衝撃）
素子抵抗値
（備考6.参照）
取付方法：この規格の1.1によ
る。
ピーク加速度：400 m/s2(2)
バンプ回数：4 000
外観
4.36.3による。
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C 5260-3-1 : 2000
項目番号及び試験
（備考1.参照）
試験条件
試料数及び
要求性能
又は
（備考1.参照）
合格判定個数
（備考1.参照）
（備考3.参照）
4.37 衝撃（又は4.36バンプ）
素子抵抗値
（備考6.参照）
取付方法：この規格の1.1によ
る。
パルス波形：正弦半波
ピーク加速度：...m/s2
作用時間：11ms
4.35 振動（正弦波）
外観
4.37.3による。
素子抵抗値
取付方法：この規格の1.1によ
（備考7.参照）
る。
掃引耐久試験
振動数範囲：
振幅：0.75mm又は加速度
98m/s2（いずれかゆるい方を
適用）
総試験時間：6h
備考5.による。
試験中の測定
100μsを超える不連続がない。
電気的連続性
（4.35.4を適用）
最終測定
外観
4.35.5による。
出力電圧比（半固定可変抵抗
器だけに適用）
素子抵抗値
副群C2
副群C2A及びC2Bの全試
料
4.38 一連耐候性
− 高温（耐熱性）
外観
4.38.2.2による。
始動トルク
− 温湿度サイクル（12＋12
時間サイクル）の最初の
サイクル
− 低温（耐寒性）
− 減圧
（備考8.参照）
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だ
けに適用）（取付方法は，こ
の規格の1.1及び備考11.
による。）
− 温湿度サイクル（12＋12
時間サイクル）の残りの
サイクル
− 直流負荷
備考9.による。
4.38.5.3による。
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C 5260-3-1 : 2000
項目番号及び試験
（備考1.参照）
試験条件
試料数及び
要求性能
又は
（備考1.参照）
合格判定個数
（備考1.参照）
（備考3.参照）
− アイソレーション電圧最
備考9.による。
終測定
4.38.8による。
外観
4.38.10.1による。
素子抵抗値
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は，この
規格の1.1及び備考11. によ
る。）
連続性
適用する場合4.5.1及び4.5.2に
始動トルク
よる。
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）（取付方法は，この規
4.38.10.7による。
格の1.1及び備考11.による。）
副群C3
4.43.2 70℃での電気的耐久
試験時間：1 000h
性
− 試料数3個
端子aとcとの間に負荷
48h，500h及び1 000hでの検
査：
外観
4.43.2.6a)による。
素子抵抗値
− 試料数2個
端子aとbとの間に負荷
48h，500h及び1 000hでの検
査：
外観
4.43.2.6a)による。
素子抵抗値
− 全試料
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は，
この規格の1.1及び備考11.
による。）
しゅう動雑音
方法B（巻線可変抵抗器だけに
適用），
出力平滑性（非巻線可変抵抗
器だけに適用）
別規格に要求がある場合に
は，試験時間を8 000hまで
延長する。
2 000h，4 000h及び8 000hで
の検査：
素子抵抗値
測定結果は情報としてだけ扱
う。
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C 5260-3-1 : 2000
項目番号及び試験
（備考1.参照）
試験条件
試料数及び
要求性能
又は
（備考1.参照）
合格判定個数
（備考1.参照）
副群C4
4.40 機械的耐久性
（備考4参照）
（備考3.参照）
操作サイクル数：...
操作軸回転速度：...min−1
外観
40.6による。
素子抵抗値
端子間抵抗値（最小抵抗値）
端子aとbとの間の抵抗値
端子bとcとの間の抵抗値
適用する場合は，端子bと各
タップ端子間の抵抗値
絶縁抵抗値（絶縁形可変抵抗器
だけに適用），（取付方法は，
この規格の1.1及び備考11.
による。）
始動トルク
連続性
4.5.1による。
操作軸の押し及び引き（備考4.
による。）
A方向
全指示値：≦...mm
B方向
全指示値：≦...mm
操作軸の押し及び引き（備考4.
による。）
− 試料数3個
4.22.2連続性の規定による。
4.22.2による。
− 試料数2個
4.22.3出力電圧比の規定によ
る。
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけ
4.40.6による。（備考8.参照）
に適用），（取付方法は，この
規格の1.1及び備考11. によ
る。）
しゅう動雑音
方法B（巻線可変抵抗器だけに
適用），
出力平滑性（非巻線可変抵抗器
だけに適用）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
11
C 5260-3-1 : 2000
項目番号及び試験
（備考1.参照）
試験条件
試料数及び
要求性能
又は
（備考1.参照）
合格判定個数
（備考1.参照）
（備考3.参照）
群D検査
（定期的）
副群D1
4.39 高温高湿
（定常）
第1のグループ：試料数2個
第2のグループ：試料数2個
第3のグループ：試料数1個
第1のグループ：試料数3個
第2のグループ：試料数2個
直流負荷（備考9.による。）
アイソレーション電圧
4.39.4による。
（備考9.による。）
（取付方法は，この規格の1.1
及び備考11.による。）
最終測定
外観
4.39.6.1による。
素子抵抗値
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）
（取付方法は，この規格の1.1
及び備考11.による。）
始動トルク
しゅう動雑音
方法B（巻線可変抵抗器だけ
に適用），
出力平滑性（非巻線可変抵抗
器だけに適用）
副群D2
4.14 抵抗温度特性
（備考10.参照）
副群D3
4.28 ディザ（非巻線可変抵抗
器だけに適用）
カテゴリ下限温度/20℃
20℃/カテゴリ上限温度
サイクル数：...
接続時間：...h
外観
4.28.3による。
素子抵抗値
出力平滑性（非巻線可変抵抗器
だけに適用）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5260-3-1 : 2000
項目番号及び試験
（備考1.参照）
試験条件
試料数及び
要求性能
又は
（備考1.参照）
合格判定個数
（備考1.参照）
副群D4
（備考3.参照）
4.43 寸法（詳細）
個別規格の規定による。
4.43.3 カテゴリ上限温度で
試験時間：1 000h
の電気的耐久性
− 試料数3個
端子aとcとの間に負荷：
48h，500h及び1000hでの検
査：
外観
4.43.3.7a)による。
素子抵抗値
− 試料数2個
端子aとbとの間の負荷
48h，500h及び1 000hでの検
査：
外観
4.43.3.7a)による。
端子aとbとの間の抵抗値
素子抵抗値
− すべての試料
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は，
この規格の1.1及び備考11.
による。）
副群D5
（この副群は，この規格の2.2.3
4.4.3 70℃以外の温度での耐
に示した以外の軽減曲線を規定
久性（適用する場合）
した場合だけに適用する。）
試験時間：1 000h
− 試料数3個
端子aとcとの間に負荷：
48h，500h及び1 000hでの検
査：
外観
4.43.1.6a)による。
素子抵抗値
（副群C3と同じ）
− 試料数2個
端子aとbとの間の負荷
48h，500h及び1 000hでの検
査：
外観
4.43.1.6a)による。
端子aとbとの間の抵抗値
素子抵抗値
（副群C3と同じ）
− すべての試料
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は，
この規格の1.1及び備考11.
による。）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5260-3-1 : 2000
注(1) 原国際規格では，温度を表す記号としてθA及びθBを用いているが，JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0025に
合わせてTA及びTBに変更した。
(2) JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて変更した。
注(3) JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。
備考4. 副群A5が試験計画に含まれている場合は，操作軸の軸方向がた試験を，操作軸の押し及び引
張試験の代わりに実施する。
5. 適用できる場合は，半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。
6. バンプ試験及び衝撃試験は，いずれか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格に
規定する。
7. この試験は，耐候性カテゴリが25/−/−，40/−/−，55/−/−及び65/−/−の可変抵抗器に適
用する。
8. この試験は，JIS C 5260-1の4.38.5.1に規定した事項を追加して，65/−/−の可変抵抗器に適
用する。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5260-3-1 : 2000
附属書（参考） JISと対応する国際規格との対比表
電子機器用可変抵抗器−第3部： IEC 60393-3-1 : 1992
電子機器用可変抵抗器−第3
ブランク個別規格：回転形精密級
部：ブランク個別規格：回転形精
可変抵抗器 評価水準 E
密級可変抵抗器 評価水準 E
対比項目
(I) JISの規定内容
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格と
(V) JISと国際規格との整合が困
規定項目
内容
(1)一般事項
1.3 定格及び特性
の相違点
難な理由及び今後の対策
Eシリーズ及び
Eシリーズとす MOD/ 1，2，5シリー
理由：市場で多く使用されてい
／又は1，2，5
る。
追加
ズを追加。
る。今後の対策：改正提案予定
対応国際規格が引用している
変更
IEC 60415の改正によって，JIS
シリーズとす
る。
1.4 引用規格
Z 9015が廃止され新たに，JIS Z
9015-0〜3が制定された。整合
させるため内容的に類似のJIS
Z 9015-1を採用した。
(2)検査要求事項
バンプ
ピーク加速度：
ピーク加速度：
390m/s2を400
理由：IEC 60115-1及びIEC
変更
m/s2に変更
60384-1が改正され，また引用
しているJISも改正されてお
り，整合させるため改正内容を
採用した。
今後の対策：改正提案予定
減圧
減圧下：8kPa
(3)品質評価手順
減圧下：8.5kPa
MOD/ 8.5kPaを8kPa
変更
に変更。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− IDT ················技術的差異がない。
− MOD/追加 ·······国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− MOD/変更 ·······国際規格の規定内容を変更している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− MOD ··············国際規格を修正している。
電子部品JIS原案作成委員会 構成表
氏名
（委員長）
（委員）
平 山 宏 之
吉 田 裕 道
寺 岡 憲 吾
藤 倉 秀 美
岩 田 武
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
町 野 俊 明
橋 本 進
窪 田 明
所属
東京都立科学技術大学名誉教授
東京都立産業技術研究所
防衛庁装備局
財団法人電気安全環境研究所
富士テクノサーベイ株式会社
財団法人日本規格協会
通商産業省
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5260-3-1 : 2000
（事務局）
橋 爪 邦 隆
福 原 隆
村 上 昭 次
山 本 克 巳
西 村 和 男
新 井 謙 一
中 野 武
三 宅 敏 明
伊 高 篤 己
松 本 眞 弓
中 村 之 大
三 宅 邦 彦
江 口 正 則
高 木 祐 司
石 井 勝
秦 考 生
山 本 圭 一
山 名 法 明
尾 村 博 幸
佐 藤 広 志
塚 田 潤 二
中 山 正 美
通商産業省
沖電気工業株式会社
株式会社ケンウッド
ソニー株式会社
株式会社東芝
日本電気株式会社
松下通信工業株式会社
松下電器産業株式会社
三菱電機株式会社
セイデンテクノ株式会社
株式会社緑測器
松尾電機株式会社
東京コスモス電機株式会社
アルプス電気株式会社
第一電子工業株式会社
松下電子部品株式会社
進工業株式会社
株式会社村田製作所
日本ケミコン株式会社
TDK株式会社
社団法人日本電子機械工業会
社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5260-3分科会 構成表
氏名
（主査）
（委員）
（客員）
（事務局）
中 村 之 大
江 口 正 則
吉 田 實
本 田 義 夫
山 本 圭 一
山 本 克 巳
林 里 志
野 原 明
三 本 久 明
中 山 孝 之
佐 藤 幸 治
吉 田 松 二
一 木 義 和
松 本 眞 弓
曽我部 浩 二
塚 田 潤 二
中 山 正 美
所属
株式会社緑測器
東京コスモス電機株式会社
アルプス電気株式会社
KOA株式会社
進工業株式会社
ソニー株式会社
ツバメ無線株式会社
帝国通信工業株式会社
日本電気株式会社
北陸電気工業株式会社
松下電子部品株式会社
福井松下電器株式会社
株式会社村田製作所
セイデンテクノ株式会社
社団法人日本電子機械工業会
社団法人日本電子機械工業会
