2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5260-4 : 2000
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電子機械工業会 (EIAJ) から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，通
商産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権（平成5年12月31
日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。），又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触
する可能性があることに注意を喚起する。
通商産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，
実用新案権，又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5260-4には，次に示す附属書がある。
附属書（参考） JISと対応する国際規格の対比表
部編成規格 この規格の部編成規格は，次による。
JIS C 5260群 電子機器用可変抵抗器
JIS C 5260-1 第1部：品目別通則
JIS C 5260-2 第2部：品種別通則：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
JIS C 5260-2-1 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-2-2 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-3 第3部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器
JIS C 5260-3-1 第3部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-4 第4部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器
JIS C 5260-4-1 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-4-2 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-5 第5部：品種別通則：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
JIS C 5260-5-1 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-5-2 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5260-4 : 2000
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
第1章 一般事項
1. 一般事項 ························································································································ 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 1
1.3 引用規格 ······················································································································ 1
1.4 個別規格に規定する事項·································································································· 2
1.4.1 外形図及び寸法 ··········································································································· 2
1.4.2 取付け ······················································································································· 3
1.4.3 形 ····························································································································· 3
1.4.4 抵抗変化特性 ·············································································································· 3
1.4.5 定格及び特性 ·············································································································· 3
1.4.5.1 定格抵抗値の範囲 ······································································································ 3
1.4.5.2 バンプ及び衝撃 ········································································································· 3
1.4.6 表示 ·························································································································· 3
1.4.7 発注時の情報 ·············································································································· 3
1.4.8 追加情報（非検査目的） ······························································································· 3
1.5 表示 ···························································································································· 3
1.5.1 一般事項 ···················································································································· 4
1.5.2 ··································································································································· 4
1.5.3 ··································································································································· 4
1.5.4 ··································································································································· 4
第2章 推奨定格、特性及び試験の厳しさ
2. 推奨定格，特性及び試験の厳しさ ······················································································· 4
2.1 推奨特性 ······················································································································ 4
2.1.1 推奨耐候性カテゴリ ····································································································· 4
2.1.2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性 ······················································································ 4
2.1.3 抵抗値又は出力電圧比変化の限界 ··················································································· 4
2.1.4 絶縁抵抗 ···················································································································· 5
2.1.5 抵抗変化特性 ·············································································································· 5
2.2 推奨定格値 ··················································································································· 5
2.2.1 定格抵抗値 ················································································································· 5
2.2.2 定格抵抗値の許容差 ····································································································· 5
2.2.3 定格電力 ···················································································································· 5
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C 5260-4 : 2000 目次
2.2.4 素子最高電圧（最高使用電圧） ······················································································ 6
2.2.5 アイソレーション電圧 ·································································································· 6
2.3 推奨する試験の厳しさ····································································································· 6
2.3.1 乾燥 ·························································································································· 6
2.3.2 振動（正弦波） ··········································································································· 6
2.3.3 バンプ ······················································································································· 7
2.3.4 衝撃 ·························································································································· 7
第3章 品質評価手順
3. 品質評価手順 ·················································································································· 7
3.1 構造的に類似な可変抵抗器······························································································· 7
3.2 品質認証 ······················································································································ 7
3.2.1 定数抜取手順に基づく品質認証 ······················································································ 7
3.2.2 試験 ·························································································································· 7
3.3 品質確認検査 ··············································································································· 14
3.3.1 検査ロットの構成 ······································································································· 14
3.3.2 試験計画 ··················································································································· 14
3.3.3 評価水準 ··················································································································· 14
3.4 長期保管後の出荷 ········································································································· 15
附属書（参考） JISと対応する国際規格と ·············································································· 16
(2)
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日本工業規格
JIS
C 5260-4 : 2000
電子機器用可変抵抗器−
第4部：品種別通則：
単回転電力形可変抵抗器
Potentiometers for use in electronic equipment−
Part 4 : Sectional specification : Single-turn rotary power potentiometers
序文 この規格は，1992年に第2版として発行されたIEC 60393-4，Potentiometers for use in electronic
equipment−Part 4 : Sectional specification : Single-turn rotary power potentiometersを元に，規格票の様式を変
更することなく作成した日本工業規格であるが，技術的内容については，製品の現状に即して変更してい
る。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。また，IEC規格番号
は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであり，これより前に発行された規格に
ついても，規格番号に60000を加えた番号に切り替えた。これは，番号だけの切替えであり，内容は同一
である。
第1章 一般事項
1. 一般事項
1.1
適用範囲 この規格は，JIS C 5260-1を品目別通則とする電子機器用可変抵抗器の品種別通則で，単
回転電力形の可変抵抗器（以下，可変抵抗器という。）について規定する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60393-4 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 4 : Sectional specification:
Single-turn rotary power potentiometers (MOD)
1.2
目的 この規格の目的は，推奨定格及び推奨特性を規定し，JIS C 5260-1から適切な品質評価手順・
試験及び測定方法を選択し，この規格の可変抵抗器の一般的要求性能を規定することである。この規格に
基づく個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は，この規格の要求性能と同等又はそれ以上の水準
とする。
1.3
引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格のうちで，発効年又は発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規
格の規定を構成するものであって，その後の改正版・追補・Amendmentには適用しない。発効年を付記し
ていない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
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2
C 5260-4 : 2000
JIS C 0010〜JIS C 0095 試験規格群 環境試験方法−電気・電子
備考 IEC 60068 Basic Environmental Testing Procedureからの引用事項は，この規格の該当事項と
同等である。
JIS C 0010 環境試験方法−電気・電子−通則
備考 IEC 60068-1 : 1988 Basic environmental testing procedure−Part 1 : Generalがこの規格と一致
している。
なお，JIS C 0010 : 1993は，IEC 60068-1 : 1988及びAmendment 1 : 1992と一致している。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
備考 IEC 60063 : 1963 Preferred number series for resistors and capacitors並びにAmendment 1 : 1967
及びAmendment 2 : 1997が，この規格と一致している。
JIS C 5260-1 電子機器用可変抵抗器−第1部：品目別通則
備考 IEC 60393-1 : 1989 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1 : Generic specification
及びAmendment 1 : 1992からの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
IEC QC 001001 : 1986 Basic rules of the IEC Quality assessment system for electronic
components (IECQ)
Amendment 2 : 1994
IEC QC 001002 : 1986 Rules of Procedures of the IEC Quality assessment system for electronic
components (IECQ)
Amendment 2 : 1994
1.4
個別規格に規定する事項 個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。
個別規格は，JIS C 5260-1及びこの規格又はブランク個別規格の要求事項よりも緩い要求事項を規定し
てはならない。より厳しい要求事項を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9に規定し，例えば，ア
ステリスク(*)を付けて試験計画の中に明示する。
備考 この規格の1.4.1及び1.4.3に規定する事項は，一覧表で示してもよい。
個別規格には，次の事項を規定し，それぞれの規定値をこの規格の該当する項目から選択する。
1.4.1
外形図及び寸法 個別規格には，規定する可変抵抗器を図示する。検査に必要な詳細寸法を示すの
に紙面が不足する場合は，附属書を設けて，そこに図面及び寸法を示す（図1参照）。
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3
C 5260-4 : 2000
図1 外形図及び寸法
図面には，次の事項を規定する。
− 操作軸及び取付ねじの寸法。これらは外形図で示すか，又はJIS C 5260-1附属書2を引用して示す。
− 位置決め装置
− 全機械的操作範囲
− 有効電気的操作範囲
− 寸法及び端子の位置
− JIS C 5260-1の4.4.2［寸法（ゲージ法）］によって測定する寸法
− 可変抵抗器を的確に表すためのその他の寸法
すべての寸法は，ミリメートル (mm) で示す。
可変抵抗器がプリント配線板用として設計されていない場合には，そのことを個別規格の中に明記する。
1.4.2
取付け 個別規格には，耐電圧及び絶縁抵抗の試験に適用する取付方法並びに振動（正弦波）及び
バンプ（又は衝撃）の試験に適用する取付方法を規定する。可変抵抗器は，通常の状態で取り付ける。可
変抵抗器の設計上，特別な取付具が必要な場合には，個別規格にその取付具を規定する。この取付具は，
耐電圧及び絶縁抵抗の試験並びに振動（正弦波）及びバンプ（又は衝撃）の試験に使用する。試験中に寄
生振動がないように取り付ける。
1.4.3
形状［JIS C 5260-1の2.2.3（形状）参照］ 形状は，それぞれの個別規格ごとに任意に選択した二
つの文字，例えば，ABなど2英文字で表す。したがって，この形状記号は，個別規格の番号が与えられ
なければ意味をなさない。
備考 形状の記号は，JIS C 5260-1の附属書1で規定する形名を用いてもよい。
1.4.4
抵抗変化特性 抵抗変化特性は，2.1.5による。
1.4.5
定格及び特性 定格及び特性は，次の事項を含めてこの規格の関連する項目による。
1.4.5.1
定格抵抗値の範囲 定格抵抗値の範囲は，2.2.1による。定格抵抗値の推奨値は，JIS C 5063に規
定するEシリーズ及び／又は1，2，5シリーズとする。
備考 IECQの場合は，IECQの品質認証制度によって認定された個別規格の製品と，この規格の定
格抵抗値の範囲が異なる場合には，次の記述を追加する。
“各形状に有効な抵抗値範囲は，品質認証電子部品一覧表 (QPL) による。”
1.4.5.2
バンプ及び衝撃 バンプ及び衝撃の試験は，そのどちらの試験を適用するかを個別規格に規定す
る。
1.4.6
表示 個別規格には，可変抵抗器本体及び包装への表示内容を規定する。
なお，この規格の1.5と相違する点があれば，それらを明記する。
1.4.7
発注時の情報 個別規格には，発注時に次の事項を明確に示すか，又は記号の形で示す。
a) 定格抵抗値及びその許容差
b) 抵抗変化特性（直線形以外の場合）
c) 個別規格の番号及び版に関する情報並びに形状に関する事項
d) 形状の情報で分からないときは，操作軸及び取付ねじの寸法。
1.4.8
追加情報（非検査目的） 個別規格には，内容をよく理解させるために回路図，軽減曲線，図面及
び備考による情報を含めてもよい。この情報は，検査する必要はない。
1.5
表示
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4
C 5260-4 : 2000
1.5.1
一般事項 可変抵抗器に表示する内容は，次の項目から選択するか，JIS C 5260-1の附属書1によ
ってもよい。表示の優先順位は，記載の順とする。
a) 定格抵抗値
b) 定格抵抗値の許容差
c) 抵抗変化特性（直線形以外の場合）
d) 定格電力
e) 引用する個別規格及び形状
f)
製造年月又は製造年週
g) 操作軸及び取付ねじの詳細［上記のe)に含まれない場合］ この場合コード化してもよい。
h) 製造業者名又はその商標
1.5.2
可変抵抗器には，少なくとも1.5.1のa)及びb)を表示し，その他の項目をできるだけ多く明りょう
に表示する。可変抵抗器に表示する項目は，重複を避ける。
1.5.3
可変抵抗器の包装には，1.5.1のすべての内容を表示する。
1.5.4
表示項目を追加する場合は，混乱しないようにする。
第2章 推奨定格，特性及び試験の厳しさ
2. 推奨定格，特性及び試験の厳しさ
2.1
2.1.1
推奨特性 個別規格に規定する値は，次の中から選択することが望ましい。
推奨耐候性カテゴリ この規格に含まれる可変抵抗器は，JIS C 0010の附属書Aに規定する一般
原則に基づいた耐候性カテゴリによって分類する。
カテゴリ下限温度，カテゴリ上限温度及び高温高湿（定常）の試験期間は，次の中から選択する。
カテゴリ下限温度：−65℃，−55℃，−40℃，−25℃及び−10℃
カテゴリ上限温度：＋70℃，＋85℃，＋l00℃，＋125℃，＋155℃，＋175℃及び＋200℃
高温高湿（定常）の試験期間：4日間，10日間，21日間及び56日間
低温（耐寒性）及び高温（耐熱性）試験の厳しさは，それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度
である。ある品種の可変抵抗器は，その構造のため，これらの温度がJIS C 00試験規格群に規定する二つ
の推奨温度と一致しないことがある。この場合には，可変抵抗器の実用温度範囲内の最も近い推奨温度を
その厳しさとして選択する。
2.1.2
抵抗温度係数及び抵抗温度特性 この品種の可変抵抗器には，抵抗温度係数又は抵抗温度特性の測
定は適用しない。
2.1.3
抵抗値又は出力電圧比変化の限界 表1に各試験での抵抗値変化又は出力電圧比変化の推奨限界
を示す。
備考 表1の項目番号は，JIS C 5260-1による。
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C 5260-4 : 2000
表1 安定性クラス
安
定
性
ク
ラ
ス
4.38 一連耐候性
4.30 端子強度
4.22 操作軸の押し及び
引張り
4.39 高温高湿（定常）
4.33 はんだ耐熱性
4.34 温度変化
4.35 振動（正弦波）
4.36 バンプ
4.34 温度変化
4.40 機械的耐久性
4.43.1 室温での電気的
耐久性
4.43.3 カテゴリ上限温
度での電気的耐久
性
4.43 70℃以外での電気
的耐久性
端子aとcとの間の∆R
4.35 振動（正弦波）（適
用する場合，備考
2.参照）
4.37 衝撃
（備考1.参照）
（備考1.参照）
U
ab
備考1. 出力電圧比変化
⊿
U
は，全印加電圧に対する百分率で表す。
2. 操作軸固定機構付可変抵抗器に対しては，出力電圧比変化率は2%とする。
参考 表中の∆Rは，抵抗値変化を表す。
ac
表中の%Rは，定格抵抗値に対する百分率である。
原国際規格では，∆R/Rと記載されているが，∆Rの誤りであり訂正した。
2.1.4
絶縁抵抗 絶縁抵抗は，1GΩ以上とする。ただし，耐湿性試験後は，100MΩ以上とする。
2.1.5
抵抗変化特性 抵抗変化特性の推奨測定位置及び出力電圧比を次に示す。
抵抗変化特性
有効電気的操作範囲の割合
出力電圧比
B（直線的特性）
参考 原国際規格IEC 60393-4では，直線的特性を記号“A”と規定
しているが，JISの関連規格及び個別規格では，従来から上記
の記号“B”を使用していて，取引上の混乱を避けるためJIS C
5260-1と同様に記号“B”とした。
2.2
推奨定格値 個別規格に規定する値は，次の各項の中から選択することが望ましい。
2.2.1
定格抵抗値 JIS C 5260-1の2.3.2（定格抵抗値の推奨値）による。
2.2.2
定格抵抗値の許容差 定格抵抗値の許容差の推奨値は，次による。
±20%,±10%及び±5%
2.2.3
定格電力 70℃での定格電力の推奨値は，次による。
10W，16W，25W，40W，50W，63W，80W，100W，125W，160W，250W，315W，400W，500W，
630W，800W及び1 000W
70℃を超える温度での電力の軽減値は，次の曲線による（図2参照）。
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C 5260-4 : 2000
図2 定格電力の軽減曲線
上記の軽減曲線に示す推奨動作領域の全部が含まれている場合には，より広い動作領域を個別規格に規
定してもよい。この場合には，個別規格に70℃を超える温度での最高許容電力を規定する。ただし，曲線
上の折れ点を試験によって確認しなければならない（図3参照）。
図3 動作領域が広げられた軽減曲線の例
2.2.4
素子最高電圧（最高使用電圧） 素子最高電圧の推奨値は，次による。
160V，250V，400V，630V，1 000V及び1 600V（直流又は交流実効値）
2.2.5
アイソレーション電圧 アイソレーション電圧は，丸めて10V単位の値とし，個別規格に規定す
る。アイソレーション電圧の値は，次による。
大気圧下：最高使用電圧の1.42倍以上
参考 JIS C 5260-1に合わせて変更した。
減圧下：8kPa，大気圧下でのアイソレーション電圧の2/3倍
参考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。
2.3
推奨する試験の厳しさ 個別規格に規定する試験の厳しさは，次の中から選択することが望ましい。
2.3.1
乾燥 JIS C 5260-1の4.3（乾燥）の手順Iによる。
2.3.2
振動（正弦波） JIS C 5260-1の4.35［振動（正弦波）］及び次の条件を適用する。
振動数範囲
：次のどれかとする。
10Hz〜55Hz又は
10Hz〜500Hz
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7
C 5260-4 : 2000
振幅
：0.75mm又は加速度98m/s2（いずれかゆるい方）
掃引耐久試験
：総試験時間：6h
適用する取付方法を個別規格に規定する（1.4.2参照）。
2.3.3
バンプ JIS C 5260-1の4.36（バンプ）及び次の条件を適用する。
参考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて変更した。
適用する取付方法を個別規格に規定する（1.4.2参照）。
2.3.4
衝撃 JIS C 5260-1の4.37（衝撃）及び次の条件を適用する。
パルス波形：正弦半波
ピーク加速度：500m/s2
参考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0041に合わせて変更した。
作用時間：11 ms
厳しさ：試料の方向当たり3連続。各方向ごとに別の試料を用いる。
適用する取付方法を個別規格に規定する（1.4.2参照）。
第3章 品質評価手順
3. 品質評価手順
3.1
構造的に類似な可変抵抗器 構造的に類似な可変抵抗器とは，抵抗値が異なっていても，同一又は
類似な工程及び材料で製造され，同一の形状，構造であり，同一又は類似の操作軸及び取付ねじをもつ可
変抵抗器とする。
3.2
品質認証 品質認証試験の手順は，JIS C 5260-1の3.4（品質認証手順）による。
ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証試験の計画は，この規格の3.3による。定数抜取の
計画を用いた手順は，次の3.2.1及び3.2.2による。
3.2.1
定数抜取手順に基づく品質認証 定数抜取手順は，JIS C 5260-1の3.4.2のb)による。試料は，認
証を得ようとする抵抗値範囲を代表できるものとする。これは，個別規格に規定している全範囲でなくて
もよい。
試料は，認証を得ようとする定格抵抗値の最高値及び最低値をもつ試料で構成する。臨界抵抗値が認証
を受けようとする範囲の中にある場合には，その試料も含める。同様に，認証を受けようとする最も狭い
許容差の異なる抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は，製造業者の
管理責任者が提案する。IECQの場合は，国内監督検査機関 (NSI) の承認を必要とする。
予備の試料は，次の場合に使用する。
a) 群“0”で許容不良品と入れ替えるために，抵抗値ごとに1個。
b) 製造業者の責任でない事故による不良品と入れ替えるために，抵抗値ごとに1個。
品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には，追加した試験群に必要な試料数を群“0”に追
加する。
3.2.2
試験 個別規格に規定する可変抵抗器の認証のために，表2に規定する一連の試験を必要とする。
各群の試験は，記載の順で行う。
全試料について，群“0”の試験を行い，その後にその他の群に分割する。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8
C 5260-4 : 2000
群“0”の試験での不良品は，他の群に使用してはならない。
1個の可変抵抗器が一つの群のすべて又は一部を満足しなかった場合には，“1個の不良”として数える。
不良品が各群又は各副群ごとに規定の合格判定個数及び総合格判定個数を超えなければ認証される。
備考 表2に定数抜取りの試験計画を示す。これは，各試験群ごとの抜取方法，合格判定個数及び総
合格判定個数の個別規定を含み，また，JIS C 5260-1の第4章（試験及び測定方法）及びこの
規格の第2章に規定する個々の試験とともに試験条件の全体及び要求性能を示す。
表2は，試験方法，試験条件及び／又は要求性能について個別規格に規定するための選択内
容を示す。
定数抜取りの試験計画のための試験条件及び要求性能は，品質確認検査のために個別規格に
規定する内容と同一とする。
表2 品質認証の試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は，JIS C 5260-1による。ただし，環境試験の厳しさの一部及び
抵抗値変化又は出力電圧比変化の許容限界は，この規格の関連項目による。
2. この表2で：
n＝試料数
c＝合格判定個数（群当たりの許容不良数）。群2では，(1)，(2)及び(3)でそれぞれ1個の不良は
許容されるが，群合計では2個以内とする。
t＝総合格判定個数（一つ又は幾つかの連結された群，例えば，群0，群1〜7に対する許容不良
数。）
D＝破壊試験
ND＝非破壊試験
参考 表中
⊿
U
ab
は，全印加電圧に対する百分率で表した出力電圧比の変化を表す。
U
ac
表中の∆Rは，抵抗値の変化量を示す。
表中の“%R”は，定格抵抗値に対する百分率を示す。
表2 品質認証の試験計画（続き）
項目番号及び試験
試験条件
（備考1.参照）
又は
（備考1.参照）
群0
要求性能
試料数及び総合
格判定個数
（備考1.参照）
（備考2.参照）
4.41 外観
（備考
4.4.1による。
7.参照）
表示が明りょうで，個別規格の規
定による。
4.6 素子抵抗値
4.4.2 寸法（ゲージ法）
4.7 端子間抵抗値（最小抵抗値）
4.6.3による。
個別規格の規定による。
端子aとbとの間の抵抗値
端子bとcとの間の抵抗値
4.5 連続性
適用する場合は，4.5.1及び4.5.2
による。
4.12 耐電圧
（絶縁形可変抵抗器だけに適用）
（取付方法は備考8.による。）
4.12.5による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9
C 5260-4 : 2000
項目番号及び試験
（備考1.参照）
試験条件
又は
（備考1.参照）
要求性能
試料数及び総合
格判定個数
（備考1.参照）
（備考2.参照）
大気圧下
群1
4.18 始動トルク
4.32 はんだ付け性
個別規格の規定による。
（適用する場合）
はんだこて：サイズA
端子には，はんだが良好に付着し
温度：350℃±10℃
ている。
時間：2s±0.5s
4.45 表示の耐溶剤性
溶剤：...
表示が明りょうである。
（適用する場合）
溶剤の温度：...
方法1
ラビング材料：脱脂綿
後処理：...
4.21 操作軸固定トルク
出力電圧比
（適用する場合）
4.20 回転止め強度
4.22 操作軸の押し及び引張り
外観
4.21.2による(1)。
外観
4.20.1による。
試料数3個
4.22.2を適用
連続性
4.22.2による。
試料数3個
4.22.3を適用
出力電圧比
試料数2個
4.22.4を適用
外観
4.40 機械的耐久性
4.22.4による。
操作サイクル数：5 000
操作速度：5サイクル／min〜10サ
イクル／min又はしゅう動接点の
移動範囲を最大80mm/min
外観
4.40.6による。
素子抵抗値
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）
始動トルク
連続性
4.5.1による。
操作軸の押し及び引張り
試料数4個
4.22.2を適用
連続性
4.22.2による。
試料数4個
4.22.3を適用
出力電圧比
4.40.6 h）による。
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけに
適用）（取付方法は，備考8.参照。）
群2
(1) 試料数3個
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5260-4 : 2000
項目番号及び試験
（備考1.参照）
試験条件
又は
（備考1.参照）
格判定個数
（備考1.参照）
（備考2.参照）
4.30 端子強度
要求性能
試料数及び総合
端子の種類に適応した試験を行
う。
4.33 はんだ耐熱性（適用する場合）
外観
4.30.8による。
素子抵抗値
試験Tb，方法2
はんだこて：サイズA
温度：350℃±10℃
時間：10s±1s
4.44 本体の耐溶剤性（適用する場
合）
素子抵抗値
溶剤：...
個別規格の規定による。
溶剤温度：...
方法2
後処理：...
(2) 試料数3個
4.34 温度変化
備考3.参照
TA＝カテゴリ下限温度(2)
TB＝カテゴリ上限温度(2)
放置時間 t1＝30min
定格電力≦100W 試験Na
定格電力>100W 試験Nb
温度変化速度：5℃/min±1℃/min
外観
出力電圧比
4.34.5による。
（半固定可変抵抗器だけに適用）
4.36 バンプ（又は4.37衝撃）（備
考4.参照）
素子抵抗値
取付方法：個別規格の規定による。
ピーク加速度：...m/s2
バンプ回数：...
4.37 衝撃（又は4.36バンプ）（備
考4.参照）
外観
4.36.3による。
素子抵抗値
取付方法：個別規格の規定による。
パルス波形：正弦半波
ピーク加速度：500m/s2(3)
作用時間：11ms
4.35 振動（正弦波）（備考5.参照）
外観
4.37.3による。
素子抵抗値
取付方法：個別規格の規定による。
周波数：...Hz〜...Hz
振幅：0.75mm又は加速度
98mm/s2（いずれかゆるい方の条件
で行う。）
総試験時間：6h
備考3.参照
試験中の測定
電気的連続性
...μsを超える不連続があってはな
4.35.4による。
らない。
最終測定
4.35.5による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5260-4 : 2000
項目番号及び試験
（備考1.参照）
試験条件
又は
（備考1.参照）
要求性能
試料数及び総合
格判定個数
（備考1.参照）
（備考2.参照）
外観
出力電圧比（半固定可変抵抗器だ
(3) すべての供試品
4.38 一連耐候性
高温
温湿度サイクル（第1サイク
けに適用）
素子抵抗値
外観
4.38.2.2による。
始動トルク
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけに
4.38.5.3による。
ル）
試験Db
低温
減圧
適用）
（取付方法は，備考8.参照。）
温湿度サイクル（残りのサイ
クル）
直流負荷
備考6.参照
アイソレーション電圧
備考6.参照
最終測定
4.38.8による。
外観
4.38.10.1による。
素子抵抗値
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）（取付方法は，備考8.によ
る。）
連続性
適用する場合は，4.5.1及び4.5.2
による。
始動トルク
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけに
4.38.10.7による。
適用）（取付方法は，備考8.によ
る。）
群3
4.43.1 室温での電気的耐久性（定
（取付方法は，備考9.参照。）
格負荷）
試験時間：1 000h
48h，500h及び1 000hでの検査：
外観
4.43.1.6のa)による。
素子抵抗値
1 000hでの検査
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）（取付方法は，備考8.参
照。）
個別規格で要求がある場合は，8
000hまで延長する。
2 000h，4 000h及び8 000hでの検
個別規格の規定による。
査：
素子抵抗値
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5260-4 : 2000
項目番号及び試験
（備考1.参照）
試験条件
又は
（備考1.参照）
要求性能
試料数及び総合
格判定個数
（備考1.参照）
（備考2.参照）
結果は，情報としてだけ扱う。
4.18 始動トルク
室温での電気的耐久性の測定終了
後4時間以内
室温
群4
4.4.4 全機械的操作範囲
4.4.6 有効電気的操作範囲
個別規格の規定による。
4.9 抵抗変化特性
有効電気的操作角度
無効操作角度（反時計方向）
無効操作角度（時計方向）
（直線的変化特性以外の場合に
は，個別規格に試験条件と要求性
能とを規定する。）
直線的変化特性
有効電気的操作範囲の割合： (50
出力電圧比
4.43 寸法（詳細）
群5
個別規格の規定による。
4.39 高温高湿（定常）
第1グループ：試料数2個
第2グループ：試料数3個
第3グループ：試料数3個
第1グループ：試料数4個
第2グループ：試料数4個
直流負荷（備考6.参照。）
アイソレーション電圧（備考
4.39.4による。
6.及び取付方法は，備考8.参
照。）
最終測定
外観
4.39.6.1による。
素子抵抗値
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）
始動トルク
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけに
4.39.6.8による。
適用）
群6
4.43.3 カテゴリ上限温度での電気
的耐久性（適用する場合，備
考7.参照）
（取付方法は，備考9.参照。）
試験時間：1 000h
48h，500h及び1 000hでの
検査：
外観
4.43.3.7のa)による。
素子抵抗値
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5260-4 : 2000
項目番号及び試験
（備考1.参照）
試験条件
又は
（備考1.参照）
要求性能
試料数及び総合
格判定個数
（備考1.参照）
（備考2.参照）
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）（取付方法は，備考8.によ
る。）
群7
4.43 70℃以外の温度での電気的耐
（取付方法は，備考9.参照。）
久性（適用する場合，備考7.
参照）
（この群は，この規格の2.2.3に規
定するものと異なる軽減曲線を個
別規格で規定する場合だけに適用
する。）
試験時間：1 000h
48h，500h及び1 000hでの検査：
外観
4.43.1.6のa)による。
素子抵抗値
（群3と同じ）
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）（取付方法は，備考8.参
照。）
注(1) 原国際規格では，4.21.3と記載されているが，4.21.2の誤りであり訂正した。
注(2) 原国際規格では，温度を表す記号としてθA及びθBを用いているが，JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0025に合わ
せてTA及びTBに変更した。
注(3) JIS C 5260-1で引用のJIS C 0041に合わせて改正した。
(4) JIS C 5260-1で引用のJIS C 0029に合わせて改正した。
備考3. 適用できる場合は，半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。
4. バンプ試験及び衝撃試験は，いずれか一方を選択する。いずれの試験を適用するかを個別規
格に規定する。
5. この試験は，耐候性カテゴリが25/−/−，40/−/−，55/−/−及び65/−/−の可変抵抗器に適
用する。
6. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験は，いずれか一方を選択する。いずれの試験を
適用するかを個別規格に規定する。
7. “群6”又は“群7”のいずれかを適用する場合は，“群0”の試料数を8個増やす。“群6”
又は“群7“の両方を適用する場合は，試料を16個増やす。
8. 取付方法は，JIS C 5260-1の4.12（耐電圧）及び4.13（絶縁抵抗）の該当する方法によるほ
か，次による。
a) 本体で取り付けるように設計されているものは，JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されているものは，本体で取り付けるあな（孔）があっても，
端子でプリント配線板に取り付けて試験する。
9. JIS C 5260-1の4.43.1（室温での電気的耐久性）の試験は，可変抵抗器を次の方法で取り付け
る。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
14
C 5260-4 : 2000
各供試品は，可変抵抗器の取付ねじ又は操作軸（適切な）に対してすきまのある中心取付
孔をもつ厚さ4mmの鋼板に取り付ける。鋼板は，可変抵抗器の本体径の4倍又は300mmの
正方形で，どちらか小さい方とする。
感温プローブは，試験中取付ねじ又は操作軸の取付孔（適切な）の上に直接に置く。温度
は，試験中いかなる場合もカテゴリ上限温度を超えてはならない。
3.3
3.3.1
品質確認検査
検査ロットの構成 検査ロットは，構造的に類似な可変抵抗器（3.1参照）で構成し，次による。
a) 群A及び群B:製造された抵抗値を代表するものとする。
b) 群C ：1) 試料は，13週にわたって集める。
2) 試料は，期間中に製造した抵抗値範囲を代表するものとする。
c) 群D：群Cと同じとする。ただし，試料は，検査対象期間の最後の13週から集める。
抜き取った試料は，最高抵抗値，最低抵抗値及び臨界抵抗値の釣り合いが十分にとれているものとする。
3.3.2
試験計画 品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は，ブ
ランク個別規格JIS C 5260-4-1及びJIS C 5260-4-2の第2章（検査の要求事項）の表2に示す。
3.3.3
評価水準 ブランク個別規格に規定する評価水準は，次の表3.1及び表3.2の中から選択すること
が望ましい。
表3.1 評価水準及びロットごとの品質確認検査
検査副群
IL＝検査水準
AQL＝合格品質水準
表3.2 評価水準及び定期的品質確認検査
検査副群
注*
p＝周期（月）
n＝試料数
c＝合格判定個数
評価水準D，F及びGは，検討中。
** 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の第2章（検査要求事項）に規
定する。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
15
C 5260-4 : 2000
3.4
長期保管後の出荷 検査水準をS-2に緩めてJIS C 5260-1の3.5.2（長期保管後の出荷）の規定を適
用し，保管期間を2年とする。
関連規格 JIS C 0029 環境試験方法（電気・電子）減圧試験方法
JIS C 0041 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
JIS C 0042 環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法
JIS C 5260-4-1 電子機器用可変抵抗器−第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器
評価水準 E
JIS C 5260-4-2 電子機器用可変抵抗器−第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器
評価水準 F
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指
標型抜取検査方式
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電子機器用可変抵抗器−第4部：品種別通則：単回転電力
IEC 60393-4 : 1992 電子機器用可変抵抗器−第4部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器
形可変抵抗器
対比項目 (I)JISの規定内容
(II)国際規格番号
(III)国際規格の規定内容
(IV)JISと国際規格との相違点
JISと同等。
Eシリーズとする。
MOD／ IECの規定値以外に市場で 理由：市場で多く使用されている。
規定項目
(1)適用範囲
(V)JISと国際規格との整合が困難な
理由及び今後の対策
電子機器用可変抵抗器について規
定
(2)一般事項
Eシリーズ及び1，2，5シリーズ
1.4.5.1定格抵抗値の範囲
とする。
追加
多く使用されている1，2， 今後の対策：改正提案予定
5シリーズを追加。
(3)推奨定格，特性及び試験の厳
しさ
2.1.5抵抗変化特性
直線的特性記号：記号“B”
直線的特性記号：記号“A” MOD／ 記号“A”を“B”に変更
2.2.5アイソレーション電圧
電圧倍率：1.42倍
電圧倍率：1.5倍
改正提案予定
変更
MOD／ 1.5倍を1.42倍に変更
理由：IEC 60393群の品種別通則に
変更
不統一があり1.42倍に統一した。
今後の対策：改正提案予定
2.3.3バンプ
減圧下：8kPa
減圧下：8.5kPa
ピーク加速度：400m/s2又は
ピーク加速度：390m/s2
又は
MOD／ 8.5kPaを8kPaに変更
理由：IEC 60115-1及びIEC 60384-1
変更
が改訂され，また引用しているJIS
MOD／ 390m/s2を400m/s2に
も改正されており，整合させるため
変更
変更
改正内容を採用した。
98m/s2を100m/s2に
今後の対策：改正提案予定
変更
2.3.4衝撃
ピーク加速度：500m/s2
ピーク加速度：490m/s2
MOD／ 490m/s2を500m/s2に
変更
(4)品質評価手順
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD
変更
附属書（参考） JISと対応する国際規格との対比表
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− IDT……技術的差異がない。
− MOD／追加……国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− MOD／変更……国際規格の規定内容を変更している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− MOD……国際規格を修正している。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
18
C 5260-4 : 2000
電子部品JIS原案作成委員会 構成表
氏名
（委員長）
（委員）
（事務局）
平 山 宏 之
吉 田 裕 道
寺 岡 憲 吾
藤 倉 秀 美
岩 田 武
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
町 野 俊 明
橋 本 進
窪 田 明
橋 爪 邦 隆
福 原 隆
村 上 昭 次
山 本 克 巳
西 林 和 男
新 井 謙 一
中 野 武
三 宅 敏 明
伊 高 篤 己
中 村 之 大
松 本 眞 弓
三 宅 邦 彦
江 口 正 則
高 木 祐 司
秦 考 生
石 井 勝
山 本 圭 一
山 名 法 明
尾 村 博 幸
佐 藤 広 志
塚 田 潤 二
中 山 正 美
所属
東京都立科学技術大学名誉教授
東京都立産業技術研究所
防衛庁装備局
財団法人電気安全環境研究所
富士テクノサーベイ株式会社
財団法人日本規格協会
通商産業省
通商産業省
沖電気工業株式会社
株式会社ケンウッド
ソニー株式会社
株式会社東芝
日本電気株式会社
松下通信工業株式会社
松下電器産業株式会社
三菱電機株式会社
株式会社緑測器
セイデンテクノ株式会社
松尾電機株式会社
東京コスモス電機株式会社
アルプス電気株式会社
松下電子部品株式会社
第一電子工業株式会社
進工業株式会社
株式会社村田製作所
日本ケミコン株式会社
TDK株式会社
社団法人日本電子機械工業会
社団法人日本電子機械工業会
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
19
C 5260-4 : 2000
JIS C 5260-4分科会 構成表
氏名
（主査）
（委員）
（客員）
（事務局）
松 本 眞 弓
江 口 正 則
吉 田 實
本 田 義 夫
山 本 圭 一
山 本 克 巳
林 里 史
野 原 明
三 本 久 明
中 山 孝 之
佐 藤 幸 治
吉 田 松 二
中 村 之 大
一 木 義 和
曽我部 浩 二
塚 田 潤 二
中 山 正 美
所属
セイデンテクノ株式会社
東京コスモス電機株式会社
東北アルプス株式会社
KOA株式会社
進工業株式会社
ソニー株式会社
ツバメ無線株式会社
帝国通信工業株式会社
日本電気株式会社
北陸電気工業株式会社
松下電子部品株式会社
福井松下電器株式会社
株式会社緑測器
株式会社村田製作所
社団法人日本電子機械工業会
社団法人日本電子機械工業会
