C 5920-3：2017
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 3
4 定格······························································································································· 3
5 光学特性及び制御特性 ······································································································· 4
6 環境及び耐久性特性 ·········································································································· 6
7 試料······························································································································· 8
8 試験報告書 ······················································································································ 8
9 表示······························································································································· 9
10 包装 ····························································································································· 9
11 安全 ····························································································································· 9
附属書A（規定）サンプル数 ································································································· 10
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 11
（1）
C 5920-3：2017
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産業技術振興協会（OITDA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5920の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5920-1 第1部：通則
JIS C 5920-3 第3部：シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器
（2）
日本工業規格
JIS
C 5920-3：2017
光伝送用パワー制御受動部品−
第3部：シングルモード光ファイバピッグテール形
電気制御式可変光減衰器
Fiber optic passive power control devices-Part 3: Non-connectorized,
single-mode fiber, electrically controlled, variable optical attenuator
序文
この規格は，2014年に第1版として発行されたIEC 61753-053-2を基とし，この規格の通則（JIS C 5920-1）
において，“個別仕様書で定める。”としていた電気制御式可変光減衰器の“光学特性”，並びに“環境及び
耐久性特性”に関して，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，屋内環境条件で光ファイバ伝送システムに用いるシングルモード光ファイバピッグテール
形電気制御式可変光減衰器の定格，満足する光学特性及び制御特性，並びに環境及び耐久性特性について
規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61753-053-2:2014，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Performance
standard−Part 053-2: Non-connectorized, single-mode fibre, electrically controlled, variable
optical attenuator for category C−Controlled environments（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5900 光伝送用受動部品通則
JIS C 5920-1 光伝送用パワー制御受動部品−第1部：通則
JIS C 6835 石英系シングルモード光ファイバ素線
注記 対応国際規格：IEC 60793-2-50，Optical fibres−Part 2-50: Product specifications−Sectional
specification for class B single-mode fibres
JIS C 61300-2-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-1部：正弦
2
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波振動試験
注記 対応国際規格：IEC 61300-2-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 2-1: Tests−Vibration (sinusoidal)
JIS C 61300-2-4 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-4部：光フ
ァイバクランプ強度試験（軸方向引張り）
注記 対応国際規格：IEC 61300-2-4，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 2-4: Tests−Fibre/cable retention
JIS C 61300-2-9 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-9部：衝撃
試験
注記 対応国際規格：IEC 61300-2-9，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 2-9: Tests−Shock
JIS C 61300-2-14 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-14部：光
パワー損傷のしきい値試験
注記 対応国際規格：IEC 61300-2-14，Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-14: Tests−High optical power
JIS C 61300-2-17 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-17部：低
温試験
注記 対応国際規格：IEC 61300-2-17，Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-17: Tests−Cold
JIS C 61300-2-18 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-18部：高
温試験
注記 対応国際規格：IEC 61300-2-18，Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-18: Tests−Dry heat−High temperature endurance
JIS C 61300-2-19 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-19部：高
温高湿試験（定常状態）
注記 対応国際規格：IEC 61300-2-19，Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-19: Tests−Damp heat (steady state)
JIS C 61300-2-22 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-22部：温
度サイクル試験
注記 対応国際規格：IEC 61300-2-22，Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-22: Tests−Change of temperature
JIS C 61300-2-44 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-44部：光
ファイバクランプ強度試験−繰返し曲げ
JIS C 61300-3-2 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-2部：シン
グルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
注記 対応国際規格：IEC 61300-3-2，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 3-2: Examination and measurements−Polarization
dependent loss in a single-mode fibre optic device
JIS C 61300-3-3 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-3部：挿入
損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
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注記 対応国際規格：IEC 61300-3-3，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 3-3: Examinations and measurements−Active monitoring of
changes in attenuation and return loss
JIS C 61300-3-7 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-7部：シン
グルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定
注記 対応国際規格：IEC 61300-3-7，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 3-7: Examinations and measurements−Wavelength
dependence of attenuation and return loss of single mode components
JIS C 61300-3-14 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-14部：可
変光減衰器の減衰量の設定の誤差及び再現性測定
注記 対応国際規格：IEC 61300-3-14，Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 3-14: Examinations and measurements−Error and
repeatability of the attenuation settings of a variable optical attenuator
JIS C 61300-3-21 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-21部：切
替時間測定
注記 対応国際規格：IEC 61300-3-21，Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 3-21: Examinations and measurements−Switching
time
JIS C 61300-3-28 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-28部：過
渡損失測定
IEC 61300-2-42，Fibre optic inerconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 2-42: Tests−Static side load for strain relief
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5900及びJIS C 5920-1によるほか，次による。
3.1
動作中の耐振性（operational vibration）
試験中に，規定する特性を測定しながら実施する振動試験。
3.2
動作中の耐衝撃性（operational shock）
試験中に，規定する特性を測定しながら実施する衝撃試験。
3.3
応答時間（response time）
制御エネルギーを印加してから（制御電圧又は電流が変化してから），減衰量（単位dB）が定常状態値
の90 %と110 %との間の値に到達するまでの経過時間。
4
定格
シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器の定格は，表1による。
4
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表1−シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器の定格
項目
記号
条件
使用温度範囲
定格値
保存温度範囲
使用波長範囲b)
Oバンド： 1 260〜1 360
Eバンド： 1 360〜1 460
Sバンド： 1 460〜1 530
Cバンド： 1 530〜1 565
Lバンド： 1 565〜1 625
Uバンド： 1 625〜1 675
単位
最大入力光パワーc)
試験波長：公称波長
注a) 使用温度範囲における湿度範囲は，図1の一定水蒸気量曲線を含む閉曲線の範囲内とする。
b) この使用波長範囲はITU-T Recommendation G-series sup.39に記載している。この内容は，
要求事項ではなく，推奨値である。実際の使用波長範囲は，製造業者が指定する。
c) Cバンド及びLバンドに適用する。それ以外は，受渡当事者間の協定による。
注a) 温度30 ℃〜60 ℃の一定水蒸気量曲線は，温度30 ℃及び相対湿度85 %
の条件下と同じ水蒸気量をもつ温度及び相対湿度を示す。
図1−温度及び湿度を考慮した環境条件
5
光学特性及び制御特性
光学特性及び制御特性に関する試験方法，試験条件及び要求性能を，表2及び表3に示す。シングルモ
ード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器は，全ての偏光状態，並びに表1の定格値で規定
する使用温度範囲及び使用波長範囲の入力光に対して，最小値及び最大値を満足する。
なお，これらの要求性能は，光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器に対してだけ適用する。
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C 5920-3：2017
表2−シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器の光学特性
項目
試験方法
試験条件
要求性能
最小値
最大値
挿入損失
挿入損失及び反射
減衰量の波長依存
性測定（JIS C
61300-3-7の方法A）
減衰量の設定値を0 dBとしたときの挿入
損失を測定する。
供試品の光ファイバ長は，2 m以上とする。
無偏光光源を用いる。
測定の不確かさa)は，0.1 dB以下とする。
減衰量可
変範囲
挿入損失及び反射
供試品の光ファイバ長は，2 m以上とする。
減衰量の波長依存
無偏光光源を用いる。
性測定（JIS C
測定の不確かさa)は，0.5 dB以下とする。
61300-3-7の方法A）
波長依存
性損失
挿入損失及び反射
供試品の光ファイバ長は，2 m以上とする。
減衰量の波長依存
無偏光光源を用いる。
性測定（JIS C
測定の不確かさa)は，0.05 dB以下とする。
61300-3-7の方法A）
0.7 dB（減衰量≦10 dB）
1.0 dB（減衰量＞10 dB）
偏光依存
性損失
光損失の偏光依存
供試品の光ファイバ長は，2 m以上とする。
性（JIS C 61300-3-2）
測定の不確かさa)は，0.05 dB以下とする。
0.3 dB（減衰量≦10 dB）
0.5 dB（減衰量＞10 dB）
反射減衰
量（RL）
挿入損失及び反射
供試品の光ファイバ長は，2 m以上とする。
減衰量の波長依存
無偏光光源を用いる。
性測定（JIS C
測定の不確かさa)は，1 dB以下とする。
61300-3-7の方法A）
最大入力
光パワー
最大入力光パワー
入力光パワー：300 mW
（JIS C 61300-2-14） 試験波長：1 550 nm
試験光パワー保持時間：30 min
試験温度：30 ℃±2 ℃
試験相対湿度：（85±2）%
試験中及び試験後の挿入損失は，周囲
条件下で初期値の±0.3 dB以内とす
る。
試験中及び試験前後の挿入損失は，こ
の表に規定する最大値以下とする。
試験中及び試験前後の反射減衰量は，
この表に規定する最小値以上とする。
注a) 測定の不確かさUは，一定の信頼の水準（例えば95 %）において測定結果が分布すると期待される区間（−U,
＋U）を与える量である。
表3−シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器の制御特性
項目
試験方法
試験条件
要求性能
最小値
最大値
応答時間
切替時間測定（JIS
供試品の光ファイバ長は，2 m以上とする。
最も切替時間の長い条件で試験を行う。特に規定
のない場合，最小減衰量から最大減衰量及び最大
減衰量から最小減衰量へ切り替える条件で行う。
測定の不確かさは，1 ms以下とする。
減衰量設定
誤差
（適用でき
る場合）
可変光減衰器の減
供試品の光ファイバ長は，2 m以上とする。
衰量の設定の誤差
無偏光光源を用いる。
及び再現性測定
減衰量の設定の不確かさは，0.1 dB以下とする。
設定値±15 %
（dB単位）
減衰量設定 可変光減衰器の減
供試品の光ファイバ長は，2 m以上とする。
再現性（適用 衰量の設定の誤差
無偏光光源を用いる。
できる場合）
及び再現性測定
減衰量の測定の不確かさは，0.1 dB以下とする。
設定値±5 %
（dB単位）
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6
環境及び耐久性特性
屋内環境条件で使用するための環境及び耐久性特性の試験方法，試験条件及び要求性能は，表4による。
注記 対応国際規格には，“2 m以上の光ファイバ又は光ファイバコードを含めて環境及び耐久性試験
装置内に入れて試験を実施する。”と記載されているが，実施困難であるため削除した。
表4−シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器の環境及び耐久性特性
項目
試験方法
試験条件
要求性能
耐寒性
低温試験
温度：0 ℃±2 ℃
暴露時間：96 h
試験前後の挿入損失は，表2に規定する最
大値以下とする。試験前後の反射減衰量
は，表2に規定する最小値以上とする。さ
らに，試験後の挿入損失の変化は，周囲条
件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
耐熱性
高温試験
温度：60 ℃±2 ℃
暴露時間：96 h
試験前後の挿入損失は，表2に規定する最
大値以下とする。試験前後の反射減衰量
は，表2に規定する最小値以上とする。さ
らに，試験後の挿入損失の変化は，周囲条
件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
耐湿性（定常
状態）
高温高湿試
験
温度：30 ℃±2 ℃
相対湿度：（85±2）%
暴露時間：96 h
試験中及び試験前後の挿入損失は，表2に
規定する最大値以下とする。試験中及び試
験前後の反射減衰量は，表2に規定する最
小値以上とする。さらに，試験中及び試験
後の挿入損失の変化は，周囲条件下で初期
値の±0.3 dB以内とする。
挿入損失及び反射減衰量は，試験中及び試
験前後にJIS C 61300-3-3の方法3に従って
測定する。試験中の測定間隔は10 min以内
とする。
温度サイク
ル
温度サイク
ル試験
高温：60 ℃±2 ℃
低温：0 ℃±2 ℃
高温／低温保持時間：1 h
温度変化率：1 ℃/min
サイクル数：5
試験中及び試験前後の挿入損失は，表2に
規定する最大値以下とする。試験中及び試
験前後の反射減衰量は，表2に規定する最
小値以上とする。さらに，試験中及び試験
後の挿入損失の変化は，周囲条件下で初期
値の±0.5 dB以内とする。
挿入損失及び反射減衰量は，試験中及び試
験前後にJIS C 61300-3-3の方法3に従って
測定する。試験中の測定間隔は10 min以内
とする。
耐振性b)
正弦波振動
試験
振動範囲：5 Hz〜55 Hz
変化率：1オクターブ／min
振動軸：直交3軸
掃引サイクル数：15回（5 Hz→55 Hz→5 Hz
で1サイクル）
振動振幅：0.75 mm
挿入損失及び反射減衰量は，表2に示す条
件で，試験中及び試験前後に測定する。試
験中の挿入損失の変化は，JIS C 61300-3-28
に従って測定する。
試験中及び試験前後の挿入損失は，表2に
規定する最大値以下とする。試験中及び試
験前後の反射減衰量は，表2に規定する最
小値以上とする。さらに，試験後の挿入損
失の変化は，周囲条件下で初期値の±0.3
dB以内とする。
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表4−シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器の環境及び耐久性特性（続き）
項目
試験方法
試験条件
要求性能
光ファイバ
クランプ強
度（繰返し曲
げ）
光ファイバ
クランプ強
度試験−繰
返し曲げ
引張力：2 N
曲げ角度：±90°
サイクル数：30
挿入損失及び反射減衰量は，試験前後に測
定する。
試験前後の挿入損失は，表2に規定する最
大値以下とする。試験前後の反射減衰量
は，表2に規定する最小値以上とする。さ
らに，試験後の挿入損失の変化は，周囲条
件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
この試験は光ファイバコードの場合に適
用し，光ファイバ心線及び光ファイバ素線
に対しては適用しない。
光ファイバ
クランプ強
度（軸方向引
張り）
光ファイバ
クランプ強
度試験（軸方
向引張り）
引張力は，次による。
光ファイバコードに対して5 N/sの変化率
で10 N±1 N。
光ファイバ心線に対して0.5 N/sの変化率
で5 N±0.5 N。
光ファイバ素線に対して0.5 N/sの変化率
で2 N±0.2 N。
試験前後の挿入損失は，表2に規定する最
大値以下とする。試験前後の反射減衰量
は，表2に規定する最小値以上とする。さ
らに，試験後の挿入損失の変化は，周囲条
件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
引張力を加える位置：供試品本体の端から
ファイバ長が0.3 mの場所。
引張力持続時間：10 Nの場合120 s，5 N及
び2 Nの場合60 s。
取付方法：供試品は，引張力が光ファイバ
素線，光ファイバ心線又は光ファイバコー
ドの軸方向だけにかかるように，強固に固
定する。
挿入損失及び反射減衰量は，表2に示す条
件で，試験前後に測定する。
光ファイバ
クランプ強
度（横方向引
張り）
光ファイバ
クランプ強
度試験（横方
向引張り）
引張力及び保持時間：
光ファイバコードの場合：1 Nで1 h
光ファイバ心線の場合：0.2 Nで5 min
引張荷重は，ファイバ軸に直交する2方向
に印加する。
挿入損失及び反射減衰量は，試験前後に測
定する。
この試験は，光ファイバ素線に対しては適
用しない。
試験前後の挿入損失は，表2に規定する最
大値以下とする。試験前後の反射減衰量
は，表2に規定する最小値以上とする。さ
らに，試験後の挿入損失の変化は，周囲条
件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
8
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表4−シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器の環境及び耐久性特性（続き）
項目
耐衝撃性
試験方法
試験条件
要求性能
衝撃試験
ピーク加速度は供試品の質量に応じて，次
による。
質量≦0.125 kg：5 000 m/s2
0.125 kg＜質量≦0.225 kg：2 000 m/s2
0.225 kg＜質量≦1 kg a)：500 m/s2
試験前後の挿入損失は，表2に規定する最
大値以下とする。試験前後の反射減衰量
は，表2に規定する最小値以上とする。さ
らに，試験後の挿入損失の変化は，周囲条
件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
パルス作用時間：1 ms，正弦半波
軸数：3軸各2方向
衝撃回数：2衝撃／軸，総数12
挿入損失及び反射減衰量は，表2に示す条
件で，試験前後に測定する。
動作中の耐
振性b)
正弦波振動
試験
周波数：50〜500 Hz
加速度：2 G（3直交軸に対して）
振動回数：2スイープ／軸
測定サンプリングレート：5 kHz
試験中の挿入損失の変化は，初期値の±0.3
dB以内とする。
試験中に挿入損失をJIS C 61300-3-28に従
って測定する。
動作中の耐
衝撃性b)
衝撃試験
衝撃条件：40 G，5 ms（3直交軸に対して） 試験中の挿入損失の変化は，初期値の±0.3
衝撃回数：3回／軸
dB以内とする。
測定サンプリングレート：5 kHz
試験中に挿入損失をJIS C 61300-3-28に従
って測定する。
注a) 質量が1 kgを超えるものの試験方法は，受渡当事者間の協定による。
b) この項目の試験条件は，IEC/TR 62343-6-5に記載している。
7
試料
試料の入出力端子は，JIS C 6835のSSMA形，SSMA·U形，SSMF·A形若しくはSSMF·B形シングルモ
ード光ファイバ素線又はそれらを用いた光ファイバ心線若しくは光ファイバコードとする。
注記 表2及び表3での光ファイバの記載は，光ファイバ素線，光ファイバ心線又は光ファイバコー
ドの意味である。
各試験に用いるシングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器は試験以前に苛酷条
件にさらされていないものとするが，場合によっては他の試験で用いたものでもよい。特に指定がない場
合，全ての試験は標準的な大気条件の下で行う。試料が温度制御機構を具備している場合は，製造業者が
指定する温度に設定する。
8
試験報告書
製造業者又は販売業者は，試験を実施し合格した証拠として使用者又は購入業者が受入検査に利用する
ことができるように，試験報告書及びそれを裏付けるデータを使用者又は購入業者に提供する。
試験報告書には，光学特性及び制御特性は試験条件及び性能値を，環境及び耐久性特性は試験条件，試
料数及び合格判定数を記載する。
9
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表示
シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器は，次の事項を表示する。ただし，
個々の電気制御式可変光減衰器に表示することが困難な場合は，包装に表示してもよい。
a) 形名（製造業者の指定による。）
b) 製造業者名又はその略号
c) 製造年月若しくは製造ロット番号又はそれらの略号
10 包装
包装は，輸送中及び保管中に，振動，衝撃などによる製品の破損又は品質の低下のおそれがないように
行う。また，短期間に劣化するおそれがある材料を含む場合には，安全管理及び保管環境条件に関する注
意及び要求事項とともに，有効期限を包装に表示する。
11 安全
光伝送システム又は光伝送装置に用いる場合，出力端子から人体へ影響を及ぼす光の放射があり得る。
そのため，製造業者は，システム設計者及び使用者に対して，安全性に関する十分な情報及び確実な使用
方法を明示しなければならない。
10
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附属書A
（規定）
サンプル数
（この附属書は，適用していない。）
参考文献
IEC/TR 62343-6-5，Dynamic modules−Part 6-5: Design guide−Investigation of operating mechanical shock
and vibration tests for dynamic modules
ITU-T Recommendation G-series supplement 39
GUM: Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement
11
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附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 5920-3:2017 光伝送用パワー制御受動部品−第3部：シングルモード光フ
ァイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器
(I)JISの規定
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価
及びその内容
用語及び定義を規定。
箇条
番号
箇条ごと
の評価
変更
4 定格
定格を規定。
波長帯の名称に
関する部分。
5 光学特性
及び制御特
性
光学特性及び制御特性
を規定。
JISとほぼ同じ。 変更
箇条番号
及び題名
3 用語及び
定義
内容
国際
規格
番号
内容
追加
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
技術的差異の内容
JIS C 5900及びJIS C 5920-1に記載の定義
を使用することを追記した。
対応国際規格の見直し時に提案を
行う。
対応国際規格の箇条4のうち波長帯名称に
製品規格に必須の規定事項である
関する部分を残し，JIS標準の温度範囲に関
ため独立した箇条とした。対応国際
する規定を追加した。
規格の見直し時に提案を行う。
Table2を表2（光学特性），表3（制御特性）
対応国際規格の表が大きいことか
及び表4（環境及び耐久性特性）の三つの表
ら，利用者の理解度向上のため，三
に分割し，そのうち表2及び表3を記載した。 分割した。
“accuracy of the setting attenuation value”は
精度は抽象的な言葉であり，実際に
減衰量設定精度と直訳されるが，減衰量設定 得られる値は真値からの誤差であ
誤差という表記に改めた。また，試験条件中
ることからJISに合わせて誤差と
の不確かさの表記を“±”ではなく，“以下”
した。GUM（Guide to the Expression
に変更した。
of Uncertainty in Measurement）で不
最大入力光パワー及び応答時間の試験条件 確かさの定義は“数値＋以下”で規
を変更した。
定されている。
いずれも対応国際規格の見直し時
に修正提案を行う。
12
C 5920-3：2017
内容
環境及び耐久性特性に
対する試験方法，試験
条件及び要求性能を規
定。
(III)国際規格の規定
箇条
番号
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価
及びその内容
内容
箇条ごと
の評価
JISとほぼ同じ。 変更
削除
技術的差異の内容
Table 2を表2（光学特性），表3（制御特性）
耐寒性，耐湿性（定常状態）及び温
及び表4（環境及び耐久性特性）の三つの表
度サイクルの環境試験条件につい
に分割し，そのうち表4を記載した。
ては，我が国の環境試験条件に合わ
せ，それ以外の試験条件はIEC
耐寒性，耐湿性（定常状態）及び温度サイク
61753-1と整合するように試験条件
ルの温度，並びに耐湿性（定常状態）の相対 を変更した。対応国際規格の見直し
湿度の試験条件を変更した。耐湿性（定常状
時に修正提案を行う。
態）及び温度サイクル試験において，測定間
隔を規定した。耐振性，耐湿性（定常状態）
及び温度サイクルの要求性能を変更した。
2 m以上の光ファイバ又は光ファイバコー
該当条件下で環境及び耐久性に関
ドを試験装置内に入れるという条件を削除 する試験実施が困難であり，かつ，
した。
必要性もないことから削除した。対
応国際規格の見直し時に，削除提案
を行う。
箇条番号及び題名の変更，波長帯名称の箇条
4への移動，並びに注記の追加だけを行っ
た。技術的差異はない。
箇条番号の変更だけを行った。技術的差異は
ない。
製品規格に必須の規定事項。
対応国際規格の見直し時に，提案を
行う。
製品規格に必須の規定事項。
対応国際規格の見直し時に，提案を
行う。
7 試料
試料に関する内容を規
定。
試料に関する記
述部分。
8 試験報告
書
9 表示
試験報告書を規定。
JISとほぼ同じ。 変更
表示項目を規定。
追加
10 包装
包装及び保管上の注意
に関する内容を規定。
追加
11 安全
安全に関する内容を規
定。
サンプル数
追加
製品規格に必須の規定事項。
削除
対応国際規格の附属書Aに記載された“サ
ンプル数”を削除した。
附属書A
附属
書A
サンプル数
変更
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 61753-053-2:2014，MOD
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
対応国際規格の見直し時に，提案を
行う。
IEC 61753-1との整合性を考慮し，
サンプル数は規定していない。
箇条番号
及び題名
6 環境及び
耐久性特性
国際
規格
番号
(I)JISの規定
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C 5920-3：2017
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
