2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5925-4：2011
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 定格······························································································································· 3
5 光学特性 ························································································································· 3
6 環境及び耐久性特性 ·········································································································· 5
7 試料······························································································································· 7
8 試験報告書 ······················································································································ 7
9 表示······························································································································· 7
10 包装 ····························································································································· 7
11 安全 ····························································································································· 8
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································· 9
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5925-4：2011
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，財団法人光産業技術振興協会（OITDA）及
び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，
日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5925の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5925-3 シングルモード光ファイバピッグテール形C／LバンドWDMデバイス
JIS C 5925-4 シングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nm WWDMデバイス
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 5925-4：2011
シングルモード光ファイバピッグテール形
980／1 550 nm WWDMデバイス
Non-connectorized single-mode fiber optic 980/1 550 nm WWDM devices
序文
この規格は，2007年に第1版として発行されたIEC 61753-084-2及び2008年に発行されたCorrigendum
1を基に，我が国の使用状況に合わせて技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，屋内環境条件で光ファイバを用いた光伝送に使用するシングルモード光ファイバピッグテ
ール形980／1 550 nm WWDMデバイス1)の定格，光学特性並びに環境及び耐久性特性について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61753-084-2:2007，Fibre optic interconnecting devices and passive components performance
standard−Part 084-2: Non connectorised single-mode 980/1550 nm WWDM devices for category
C−Controlled environment及びCorrigendum 1:2008（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
注1) シングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nm WWDMデバイスは，980 nmの光を
入力又は出力する端子，1 550 nmの光を入力又は出力する端子並びに980 nmの光及び1 550 nm
の光を出力又は入力する端子をもつWWDMデバイスである。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5900 光伝送用受動部品通則
JIS C 5901 光伝送用受動部品試験方法
注記 対応国際規格：IEC 61300-2-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 2-1: Tests−Vibration (sinusoidal)，IEC 61300-2-4，Fibre
optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures−
Part 2-4: Tests−Fibre/cable retention，IEC 61300-2-9，Fibre optic interconnecting devices and
passive components−Basic test and measurement procedures−Part 2-9: Tests−Shock，IEC
61300-2-14，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2
C 5925-4：2011
measurement procedures−Part 2-14: Tests−Optical power handling and damage threshold
characterization，IEC 61300-2-22，Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-22: Tests−Change of temperature，IEC 61300-3-2，
Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures
−Part 3-2: Examination and measurements−Polarization dependent loss in a single-mode fibre optic
device及びIEC 61300-3-6，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test
and measurement procedures−Part 3-6: Examinations and measurements−Return loss（全体評価：
MOD）
JIS C 61300-2-17 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-17部：低
温試験
注記 対応国際規格：IEC 61300-2-17，Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-17: Tests−Cold（IDT）
JIS C 61300-2-18 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-18部：高
温試験
注記 対応国際規格：IEC 61300-2-18，Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-18: Tests−Dry heat−High temperature endurance
（IDT）
JIS C 61300-2-19 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-19部：高
温高湿試験（定常状態）
注記 対応国際規格：IEC 61300-2-19，Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-19: Tests−Damp heat (steady state)（IDT）
JIS C 61300-3-20 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-20部：波
長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
注記 対応国際規格：IEC 61300-3-20，Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 3-20: Examinations and measurements−Directivity of
fibre optic branching devices（IDT）
IEC 60793-2-50，Optical fibres−Part 2-50: Product specifications−Sectional specification for class B
single-mode fibres
IEC 61300-2-42，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 2-42: Tests−Static side load for connectors
IEC 61300-2-44，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 2-44: Tests−Flexing of the strain relief of fibre optic devices
IEC 61300-3-7，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 3-7: Examinations and measurements−Wavelength dependence of attenuation and
return loss of single mode components
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5900による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3
C 5925-4：2011
4
定格
シングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nm WWDMデバイスの定格は，表1による。
表1−シングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nm WWDMデバイスの定格
項目
記号
条件
使用温度範囲
定格値
単位
保存温度範囲
使用波長範囲
970〜990及び1 530〜1 570
最大入射光パワー
980 nm及び1 550 nm
注a) 下図の一定水蒸気量曲線を含む閉曲線で囲まれる領域は，屋内環境条件での使用温度範囲に対する湿度
範囲を示す。
一定水蒸気量曲線b)
温度 ℃
b) 30 ℃〜60 ℃の一定水蒸気量曲線は，30 ℃，相対湿度85 %と同じ水蒸気量の温度及び湿度を示す。
温度及び湿度を考慮した環境条件
5
光学特性
シングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nm WWDMデバイスの光学特性の試験方法，試
験条件及び要求性能は，表2による。各項目の要求性能は，全ての偏光状態並びに表1の定格値で規定す
る使用温度範囲及び使用波長範囲の入射光に対する最小値及び最大値に対して満足しなければならない。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4
C 5925-4：2011
表2−シングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nm WWDMデバイスの光学特性試験
項目
試験方法
試験条件
要求性能
最小値
最大値
挿入損 挿入損失及び
波長範囲は，970〜990 nm及び1 530〜1 570 nmとする。
失
反射減衰量の
供試品の光ファイバ長は，1.5 m以上とする。
波長依存性測
無偏光光源を用いる。
定（IEC
光源の線幅は，1 nm以下とし，波長可変光源とすることが望
61300-3-7） ましい。
動作波長における光源の光出力安定性は，測定時間内で
±0.05 dB以内とする。
アイソ 挿入損失及び
試験条件は，挿入損失と同様とする。
レーシ 反射減衰量の
ョン
波長依存性測
定（IEC
ディレ ディレクティ 測定に影響を及ぼさないように，測定に関係のない全てのポ
40 dB（グレードR）
ートには，反射が生じないように無反射終端処理を施す。
50 dB（グレードU）
クティ
ビティ測定
ビティ
ディレクティビティは，入出力ポートの全ての組合せについ
61300-3-20） て測定する。
光源の波長範囲は，970〜990 nm及び1 530〜1 570 nmとする。
その他の試験条件は，挿入損失と同様とする。
1 550 nm入力ポートで
反射減 反射減衰量
方法1又は方法2
衰量
980 nmの光源は，中心波長が975〜985 nm及びスペクトル幅 40 dB（グレードR）
（RL） 5901の6.5） が5 nm以下とする。
50 dB（グレードU）
1 550 nmの光源は，中心波長が1 530〜1 570 nm及びスペク
トル幅が20 nm以下とする。
980 nm入力ポート及
OTDRパルス幅は，50 ns以下とする（方法2の場合）。
び共通ポートで
動作波長における光源の光出力安定性は，測定時間内で
±0.05 dB以内とする。
検出器の最低受光感度は−80 dBm以下とし，かつ，直線性は
±0.05 dB以内とする。
偏光依
存性損
失
光損失の偏光
方法1，かつ，オプション1
依存性
光源の波長範囲は，970〜990 nm及び1 530〜1 570 nmとする。
その他の試験条件は，挿入損失と同様とする。
5901の6.3）
波長依 減衰量の波長
試験条件は，挿入損失と同様とする。
存性損
依存性測定
失
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5
C 5925-4：2011
表2−シングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nm WWDMデバイスの光学特性試験（続き）
項目
光パワ
ー損傷
しきい
値
6
試験方法
試験条件
要求性能
最小値
最大値
最大入力光
最大入力光パワー：20 dBm
試験中及び試験前後の挿入
パワー
光パワー増加量：5 dBm
損失は，この表に規定する最
光パワー保持時間：30分間
大値以下とし，かつ，周囲条
5901の8.8）
件下で初期値の±0.3 dB以内
挿入損失，アイソレーション及び反射減衰量の試験条件は，
とする。
それぞれの特性項目で記載されている試験条件とする。
試験中及び試験前後のアイ
挿入損失，アイソレーション及び反射減衰量は，試験中及び ソレーションは，この表に規
試験前後に測定し，試験中は，10分間以下の間隔で測定する。 定する最小値以上とする。
試験中及び試験前後の反射
減衰量は，この表に規定する
該当する波長及びグレード
の最小値以上とする。
環境及び耐久性特性
屋内環境条件で使用するための環境及び耐久性特性の試験方法，試験条件及び要求性能は，表3による。
表3−シングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nm WWDMデバイスの環境及び耐久性特性
項目
試験方法
試験条件
耐寒性 低温試験
温度：0 ℃±2 ℃
暴露時間：96 時間
耐熱性 高温試験
温度：60 ℃±2 ℃
暴露時間：96 時間
耐湿性
（定常
状態）
温度：30 ℃±2 ℃
相対湿度：（85±2）%
暴露時間：96時間
高温高湿
試験
要求性能
試験前後の挿入損失は，表2に規定
する最大値以下とし，かつ，周囲条
件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
挿入損失，アイソレーション及び反射減衰量は，試験前
試験前後のアイソレーションは，表2
後に測定する。
に規定する最小値以上とする。
試験前後の反射減衰量は，表2に規
定する該当する波長及びグレードの
最小値以上とする。
試験前後の挿入損失は，表2に規定
する最大値以下とし，かつ，周囲条
件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
挿入損失，アイソレーション及び反射減衰量は，試験前
試験前後のアイソレーションは，表2
後に測定する。
に規定する最小値以上とする。
試験前後の反射減衰量は，表2に規
定する該当する波長及びグレードの
最小値以上とする。
試験前後の挿入損失は，表2に規定
する最大値以下とし，かつ，周囲条
件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
試験前後のアイソレーションは，表2
挿入損失，アイソレーション及び反射減衰量は，試験前
に規定する最小値以上とする。
後に測定する。
試験前後の反射減衰量は，表2に規
定する該当する波長及びグレードの
最小値以上とする。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6
C 5925-4：2011
表3−シングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nm WWDMデバイスの環境及び耐久性特性
（続き）
項目
試験方法
試験条件
要求性能
温度サ 温度サイ
高温：60 ℃±2 ℃
イクル クル
低温：0 ℃±2 ℃
放置時間：1時間以上
5901の
温度変化の割合：1 ℃/min
サイクル数：5
試験中及び試験前後の挿入損失は，表
2に規定する最大値以下とし，かつ，
周囲条件下で初期値の±0.3 dB以内
とする。
試験中及び試験前後のアイソレーシ
ョンは，表2に規定する最小値以上と
挿入損失及びアイソレーションは，試験中及び試験前後
する。
に測定し，試験中は，10分間以下の間隔で測定する。
試験前後の反射減衰量は，表2に規定
反射減衰量は，試験前後に測定する。
する該当する波長及びグレードの最
前処理：試験前，供試品は，室温環境中に2時間放置す 小値以上とする。
る。
後処理：試験後，供試品は，室温環境中に2時間放置す
る。
耐振性 耐振性
5901の
光ファ
イバク
ランプ
強度
（軸方
向引張
り）
振動範囲：10 Hz〜55 Hz
試験時間：1 オクターブ／分
振動軸：直交3軸
掃引サイクル数（10 Hz−55 Hz−10 Hz）：15
振動振幅：0.75 mm
試験前後の挿入損失は，表2に規定す
る最大値以下とし，かつ，周囲条件下
で初期値の±0.3 dB以内とする。
試験前後のアイソレーションは，表2
に規定する最小値以上とする。
試験前後の反射減衰量は，表2に規定
挿入損失，アイソレーション及び反射減衰量は，試験前 する該当する波長及びグレードの最
後に測定する。
小値以上とする。
取付方法：供試品は，アセンブリングカセット又はオー
ガナイザで取付具と強固に固定する。
光ファイ
引張力：強化ケーブルに対して5 N/sの変化率で10 N 試験前後の挿入損失は，表2に規定す
バコード
る最大値以下とし，かつ，周囲条件下
クランプ
セカンダリ光ファイバに対して0.5 N/sの変化率で5 N で初期値の±0.3 dB以内とする。
試験前後のアイソレーションは，表2
強度（軸方
向引張り） プライマリ光ファイバに対して0.5 N/sの変化率で2 N に規定する最小値以上とする。
試験前後の反射減衰量は，表2に規定
5901の
引張力を加える位置：供試品の端から0.3 m
する該当する波長及びグレードの最
引張力持続時間：10 Nの場合120秒，5 N及び2 Nの場合 小値以上とする。
60秒
サンプリングレート（測定頻度）：挿入損失は，負荷が最
大に達してから30秒以下の間隔で測定する。
耐衝撃
耐衝撃性
性
5901の
挿入損失，アイソレーション及び反射減衰量は，試験前
後に測定する。
ピーク加速度：4 900 m/s2（500 g）
試験前後の挿入損失は，表2に規定す
パルス作用時間：1 ms，正弦半波
る最大値以下とし，かつ，周囲条件下
軸数：3軸各2方向
で初期値の±0.3 dB以内とする。
衝撃回数：2 衝撃／軸，総数12
試験前後のアイソレーションは，表2
に規定する最小値以上とする。
挿入損失，アイソレーション及び反射減衰量は，試験前
試験前後の反射減衰量は，表2に規定
後に測定する。
する該当する波長及びグレードの最
小値以上とする。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7
C 5925-4：2011
表3−シングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nm WWDMデバイスの環境及び耐久性特性
（続き）
項目
試験方法
試験条件
要求性能
コネク コネクタ
荷重力及び保持時間：強化ケーブルに対して1 Nで1時 試験前後の挿入損失は，表2に規定す
タの横 の横荷重
間
る最大値以下とし，かつ，周囲条件下
荷重
試験
セカンダリ光ファイバに対して0.2 Nで5分間。
で初期値の±0.3 dB以内とする。
荷重方向：互いに直交する2方向。
試験前後のアイソレーションは，表2
に規定する最小値以上とする。
挿入損失，アイソレーション及び反射減衰量は，試験前
試験前後の反射減衰量は，表2に規定
後に測定する。
する該当する波長及びグレードの最
小値以上とする。
試験前後の挿入損失は，表2に規定す
ストレ ストレイ
荷重力：強化ケーブルに対して2 N
インリ ンリリー
曲げ角度：±90°
る最大値以下とし，かつ，周囲条件下
で初期値の±0.3 dB以内とする。
リーフ フ曲げ試
サイクル数：30
強度
験
試験前後のアイソレーションは，表2
挿入損失，アイソレーション及び反射減衰量は，試験前
に規定する最小値以上とする。
61300-2-44 後に測定する。
試験前後の反射減衰量は，表2に規定
する該当する波長及びグレードの最
小値以上とする。
7
試料
試料は，IEC 60793-2-50のタイプB1.1に基づくシングルモード光ファイバに接続できなければならない。
8
試験報告書
製造業者又は販売業者は，試験報告書及びそれを裏付ける証拠を使用者又は購入業者に提供し，試験を
実施し合格した証拠として使用者又は購入業者が受入検査に利用することができるようにしなければなら
ない。
試験報告書には，光学特性については試験条件及び性能値を，環境及び耐久性特性については試験条件，
試料数及び合格判定数を記載する。
9
表示
シングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nm WWDMデバイスには，次の項目を表示しな
ければならない。ただし，個々のシングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nm WWDMデバ
イスに表示することが困難な場合は，包装に表示してもよい。
a) 形名（製造業者の指定による。）
b) 製造業者名又はその略号
c) 製造年月若しくは製造ロット番号又はそれらの略号
10 包装
包装は，輸送中及び保管中に，振動，衝撃などによる製品の破損又は品質の低下のおそれがないように
行う。また，短期間に劣化するおそれがある材料を含む場合には，安全管理及び保管環境条件に関する注
意及び要求事項とともに，有効期限を包装に表示する。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8
C 5925-4：2011
11 安全
光伝送システム又は装置に用いる場合，人体へ影響を及ぼす出射端子からの光の放射があり得る。その
ため，製造業者は，システム設計者及び使用者に対して，安全性に関する十分な情報及び確実な使用方法
を明示しなければならない。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5925-4:2011 シングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nm
WWDMデバイス
devices for category C−Controlled environment及びCorrigendum 1:2008
（I）JISの規定
（IV）JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
技術的差異の内容
箇条ごと
の評価
箇条番号
及び題名
内容
国際規
格番号
（III）国際規格の規定
箇条
番号
内容
（V）JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
一致
JISとほぼ同じ
変更
対応国際規格のないJIS C 5900
に参照すべき用語の記載がある
ため引用した。
JIS及びIEC規格にWDM通則を規
定する予定がある。
4 定格
追加
製品規格に必須の規定事項。
対応国際規格の見直し時に，提案を
行う。
5 光学特性 光学特性の試験方
法，試験条件及び要
求性能を規定。
JISとほぼ同じ
変更
ディレクティビティ，反射減衰量
及び光パワー損傷しきい値の試
験条件及び要求性能を変更した。
我が国の使用状況に合わせて，試験
条件及び要求性能を変更した。
6 環境及び
耐久性特
性
環境及び耐久性に対
する試験方法，試験
条件及び要求性能を
規定。
JISとほぼ同じ
変更
耐寒性，耐湿性，温度サイクル，
耐振性及び光ファイバクランプ
強度の試験条件を変更した。
環境及び耐久性特性の全ての項
目の要求性能を変更した。
ストレインリリーフ強度試験を
追加し，ねじり試験を削除した。
我が国の環境条件に合わせて，試験
条件を変更した。
IEC 61753-084-2の上位通則IEC
61753-1 の規定に従い，ストレイン
リリーフ強度試験を追加し，ねじり
試験を削除した。IEC 61753-084-2
をIEC 61753-1の規定に整合させる
よう，今後，IECに提案する。
7 試料
試料に関する内容を
規定。
JISとほぼ同じ
変更
サンプル数及び試験のグルーピ
ング方法を削除した。
IEC 61753-1との整合性を考慮し，
サンプル数及び試験のグルーピング
方法は規定しない。
1 適用範囲
2 引用規格
3 用語及び
用語及び定義を規
定義
定。
定格を規定。
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8 試験報告
書
9 表示
（III）国際規格の規定
箇条
番号
内容
（IV）JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
技術的差異の内容
箇条ごと
の評価
（V）JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
一致
表示項目を規定
追加
製品規格に必須の規定事項。
対応国際規格の見直し時に，提案を
行う。
10 包装
包装及び保管上の注
意に関する内容を規
定。
追加
製品規格に必須の規定事項。
対応国際規格の見直し時に，提案を
行う。
11 安全
安全に関する内容を
規定。
追加
製品規格に必須の規定事項。
対応国際規格の見直し時に，提案を
行う。
Annex A サンプル数及び試験のグ
ルーピング方法を規定
削除
箇条7と同じ
箇条7と同じ
内容
箇条番号
及び題名
国際規
格番号
（I）JISの規定
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 61753-084-2:2007，Cor.1:2008，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 一致……………… 技術的差異がない。
− 削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD…………… 国際規格を修正している。
