JIS C 6421 : 1994 放送受信機用中間周波変成器

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格

JIS

C 6421-1994

放送受信機用中間周波変成器

Intermediate frequency transformers for broadcast receiver

1. 適用範囲　この規格は，JIS C 5320に基づいて，主としてラジオ，テレビジョンなどの放送受信機に

使用する中間周波変成器（以下，IFTという。）について規定する。

備考　この規格の引用規格を次に示す。

JIS C 5320 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則

JIS C 5321 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法

JIS C 5602 電子機器用受動部品用語

JIS Z 9015 計数調整型抜取検査（供給者を選択できる場合の購入検査）

2. 用語の定義　この規格で用いる主な用語の定義は，JIS C 5320，JIS C 5321及びJIS C 5602の規定に

よる。

3. 形名

3.1

形名の構成　形名の構成は，次に示す配列による。

例

3.2

記号

3.2.1 IFT IFTを表す記号は，LIFとする。

3.2.2

寸法及び形状　寸法及び形状を表す記号は，寸法を2数字で表し，形状は底面の形状及び端子配列

を1英大文字Sで表し，表1及び図1による。

なお，Sは，正方形底面形状で，角形端子配列のものを示す。

表1 寸法及び形状

単位 mm

記号

l（最大）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 6421-1994

図1 底面寸法

3.2.3

磁心構造　磁心構造を表す記号は，1英大文字とし，表2による。

表2 磁心構造

記号

3.2.4

磁心構造

ねじ形磁心

カップ形磁心

丸棒付き

カップ形磁心

ねじ形磁心と

カップ形磁心

ドラム形磁心と

カップ形磁心

参考図（図は一例を示す）

定格周波数　定格周波数を表す記号は，1英大文字と1数字の2文字とし，表3による。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 6421-1994

表3 定格周波数

3.2.5

記号

定格周波数

備考

AMラジオ中間周波回路用

A1〜A5以外のAMラジオ中間周波回路用

テレビジョン搬送色信号回路用

C1以外のテレビジョン搬送色信号回路用

テレビジョン音声中間周波回路用

S1以外のテレビジョン音声中間周波回路用

FMラジオ中間周波回路用

F1以外のFMラジオ中間周波回路用

テレビジョン映像中間周波回路用（音声搬送回路用）

テレビジョン映像中間周波回路用（映像搬送回路用）

テレビジョン映像中間周波回路用（隣接チャネル音声搬送回路

用）

テレビジョン映像中間周波回路用（音声搬送回路用）

テレビジョン映像中間周波回路用（映像搬送回路用）

テレビジョン映像中間周波回路用（隣接チャネル音声搬送回路

用）

V1〜V6以外のテレビジョン映像中間周波回路用

使用温度範囲　使用温度範囲を表す記号は，1英大文字とし，表4による。

表4 IFTの使用温度範囲

単位 ℃

3.2.6

記号

使用温度範囲

端子接続　端子接続を表す記号は，1数字及び2英大文字の3文字とし，始めの2文字で巻線の端

子接続を表し，残りの1文字でコンデンサの端子接続を表す。

端子番号の呼び方は，図2に示すように，底面からみて右回りに1から始まる通し番号とする。ただし，

一部の端子を取り除いた場合も，残った端子の番号は変えないこととする。

また，ケース端子は，底面からみて端子番号1に近いケースの端子から右回りにA，Bの記号を付ける。

図2 端子番号（底面図）

(1) 巻線の端子接続　巻線の端子接続を表す記号は，表5の端子接続の上部に記載した記号を用いる（例

1A, 2A,…）。

(2) コンデンサの端子接続　コンデンサの端子接続を表す記号は，表6による。なお，コンデンサは端子

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 6421-1994

1･3間又は3･6間に接続することが望ましい。ただし，この端子に接続できない構造の場合は，1･6

間とする。

表5 巻線の端子接続

巻線形式

端子接続と記号

備考1. 接続図注の●印の端子は同極性を表す。

2. 接続図は，底面図を表す。

表6 コンデンサの端子接続

記号

端子接続

接続図

（底面図）

1･3間

3･6間

1･6間

コンデンサなし

4. 定格

4.1

定格周波数 IFTの定格周波数は，表3のとおりとする。

4.2

使用温度範囲 IFTの使用温度範囲は，表4の記号Mで示される温度範囲とする。ただし，受渡当

事者間の協定によってJ又はGの記号で示される温度範囲を選んでもよい。

5. 性能及び試験方法

5.1

電気的性能及び試験方法　電気的性能は，表7による。試験方法は，JIS C 5321及び表7による。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 6421-1994

表7 電気的性能

番

号

項目

性能

試験方法

共振周波数

表3に基づく定格周波数に同調できるこ

と。

共振周波数の

可変範囲

定格周波数 ±3%上

無負荷Q

電圧比

大入力特性

耐電圧

異常がないこと。

絶縁抵抗

100MΩ以上

試験条件など

（共振周波

数）

（共振周波

数）

（電圧比）

（大入力特

性）

（耐電圧）

負荷Qで規定しても良い。

（絶縁抵抗）

IFTの巻線間，巻線・ケース間

及び巻線・磁心間にDC100Vを

印加1分経過後測定する。

IFTの巻線間，巻線・ケース間

及び巻線・磁心間にDC100Vを

5秒間印加する。

注(1) 70±20%又は110±20%のいずれにするかは，受渡当事者間の協定による。

(2) 当該試験項目の性能は，巻線仕様によっで性能が異なるので，受渡当事者間の協定によることとする。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 6421-1994

5.2

機械的性能及び試験方法　機械的性能は，表8による。試験方法は，JIS C 5321及び表8による。

表8 機械的性能

番

号

項目

性能

端

ピン端子

端子の切断，抜け，著しい緩み及びコイルの断線

子

の引張強

がないこと。

強

さ

度

ケース端

試験方法

試験条件など

（端子強度）

子の曲げ

強さ

耐振性

共振周波数変化率：±0.5%

外観：著しい異常がないこと。

はんだ耐熱性

共振周波数変化率：±0.5%

外観：著しい異常がないこと。

回転トルク：

（耐振性）

260±5℃，5±1秒間

（はんだ耐熱性）

（回転トルク）

調整用磁心の破損又は外れがなく，滑らかに回転

はんだ付け性

すること。

端子及びはんだ付けを必要とするケース端子の

表面43以上の部分が軸方向に切れ目なく浸した

（はんだ付け性）

ところまではんだが付着していること。

回転トルク

回転トルクは，次を満足すること。

（回転トルク））

調整用磁心の破損又は外れがなく，滑らかに回転

すること。

耐衝撃性

共振周波数変化率：±0.5%

調

回転止め

調整用磁心の破損，回転止めの破損，及び調整用

整

強度

磁心の空転がないこと。

機

加圧回転

調整用磁心の破損及び段落ちがないこと。

構

強度

外観：著しい異常がないこと。

（耐衝撃性）

（回転止め強度）

（加圧回転強度）

強

度

加圧特性

共振周波数変化率：±0.5%

（加圧特性）

標準状態

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 6421-1994

5.3

耐候的性能及び試験方法　耐候的性能は，表9による。試験方法は，JIS C 5321及び表9による。

表9 耐候的性能

番号

項目

性能

耐寒性

共振周波数変化率

耐熱性

共振周波数変化率

試験方法

試験条件など

（耐寒性）

（耐熱性）

温度サイクル

耐湿性

共振周波数変化率

無負荷Q変化率

（温度サイクル）

共振周波数変化率

（定常状態）

−10℃→室温→＋70℃→室

温を1サイクルとする。(3)

96±4時間

［耐湿性

（定常状態）］

耐電食性

無負荷Q変化率

耐電圧

：異常がないこと。

絶縁抵抗

：50MΩ以上

外観

：著しい異常がないこと。

短絡，断線がないこと。

25±1V, 500±12時間

（耐電食性）

温度特性

共振周波数変化率：0±150ppm/℃又は0±

250ppm/℃とし，いずれにするかは受渡当事者間

（温度特性）

の協定による。

温度範囲−10〜＋70℃(3)

ただし温度補償コンデンサ

を内蔵してるものだけに適

用。

注(3) 表4のJ又はGを選んだ場合は，受渡当事者間の協定による。

6. 外観，寸法及び表示

6.1

外観　外観は目視によって試験したとき，異常があってはならない。

6.2

寸法及び形状　寸法及び形状は，JIS C 5321の4.3（寸法）によって試験したとき，表10，表11及

び図3を満足しなければならない。

なお，高さ寸法は，受渡当事者間の協定によって表11から選定する。

6.3

表示　表示は，目視によって試験したとき，9.に規定の項目が容易に判読できなければならない。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 6421-1994

表10 寸法

単位 mm

l（最

h（最

端子数

大）

表11

図3

から選

ぶ

許容差

記号

最大

参照図

注(4) プリント配線板の取付面からの寸法とする。

(5) 端子根元部分の寸法を表す。

(6) はんだのつらら部分の寸法は含まない。

表11 高さ寸法

単位 mm

h（最大）

18.0を超えるもの

図3 外形寸法

7. 品質評価とその保証　このIFTの製造業者は，この規格 (JIS C 6421) の附属書1の品質保証手順によ

ってIFTの品質を保証しなければならない。

8. 包装　包装は，IFTの輸送中及び保管中に損傷，吸湿のおそれがないように行う。

9. 表示

9.1

製品に対する表示　表示は，端子番号①〜③の面に次の事項を表示する。ただし，表示が困難な場

合は省略してもよい。また，(3)及び(4)は，いずれか一方を省略してもよい。

(1) 形名

(2) 製造業者名又はその略号

(3) 製造年月若しくは製造年週又はそれらの略号

(4) 製造ロット番号

(5) 端子番号

9.2

包装に対する表示　包装の見やすい位置に次の事項を表示する。ただし，(3)及び(4)は，いずれか一

方を省略してもよい。

(1) 形名

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 6421-1994

(2) 製造業者名又はその略号

(3) 製造年月若しくは製造年週又はそれらの略号

(4) 製造ロット番号

(5) 数量

関連規格 JIS C 0010 環境試験方法−電気・電子−通則

JIS C 5001 電子部品通則

JIS C 5002 電子機器用部品の環境分類

JIS C 6004 放送聴取用受信機中間周波数

JIS C 6006 テレビジョン受信機用中間周波数

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 6421-1994

附属書1 品質保証の手順

1. 適用範囲　この附属書は，製造業者が製造したIFTについて認証をうけ，認証後の品質評価を実施す

ることによって，品質を保証する手順について規定する。

2. 認証試験　認証試験は，製造業者が製造したIFTについて認証を受けるため．規格に適合しているか

どうか実証することを目的として認証機関及び（又は）製造業者が行う試験で，附属書2の規定による。

3. 品質保証検査　品質保証検査は，認証を受けた後に製造業者が製造したIFTについて規格の品質を満

たしていることを保証するために行う検査で，附属書3の規定による。

4. 定期的認証維持試験　定期的認証維持試験は，認証試験によって実証されたIFTの品質が維持されて

いるかどうかを定期的に確認するために，認証機関及び（又は）製造業者が行う試験で附属書4の規定に

よる。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 6421-1994

附属書2 品質認証試験

1. 試験項目　試験項目は，附属書2表1による。

2. 試料　試験に用いる試料は，次の規定による。

(1) 試料は，品質保証プログラムで，規定の製造仕様書，製造条件及び管理条件に基づいて製造されたも

のでなければならない。

(2) 試料は，同一製造ロットから無作為に抜き取る。

(3) 試料は，形状，寸法及び磁心構造別に，附属書2表1で規定した数量とする。

また，製造者の責任でない原因による不良品について入れ替えるため1個の予備が許される。

3. 認証の範囲 IFTの認証の範囲は，認証試験に合格したIFTと形状，寸法及び磁心構造が同一のもの

とする。

試験の順序　試験の順序は，附属書2表1の群0の試験をすべて試料について行う。その後，群1以

下に分けてそれぞれの試験を行う。

5. 合否の判定　合否の判定は，不良数が附属書2表1に規定する合格判定個数を超えた場合を不合格と

する。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 6421-1994

附属書2表1 品質認証試験

群

試験項目

本体項目番号

試料数

合格判定個数

外観，寸法及び表示

共振周波数

共振周波数の可変範囲

無負荷Q

電圧比（巻数比）

回転トルク

表7 番号1

表7 番号2

表7 番号3

表7 番号4

表8 番号5

表7 番号5

表8 番号8

表8 番号1

表8 番号7

表7 番号6

表7 番号7

表8 番号2

表8 番号4

表8 番号3

表8 番号6

大入力特性

加圧特性

端子強度

調整機構強度

耐電圧

絶縁抵抗

耐振性

はんだ付け性

はんだ耐熱性

耐衝撃性

耐寒性

耐熱性

温度サイクル

耐湿性

表9 番号1

表9 番号2

表9 番号3

表9 番号4

耐電食性

温度特性

表9 番号5

表9 番号6

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 6421-1994

附属書3 品質保証検査

1. 品質保証検査　品質保証検査は，ロット品質検査とする。

2. ロット品質検査

2.1

検査項目　検査項目は，附属書3表1に規定する項目とする。

2.2

検査ロットの構成　検査ロットの構成は，1か月以内に同じ製造工程及び製造条件で製品化されたも

ので，次による。

(1) 製造ロットの場合　同一製造ロットとする。

(2) 受入ロットの場合　同一契約のもとで，仕様が同一のものをまとめて1検査ロットとする。

2.3

抜取方式　抜取方式は，JIS Z 9015の付表2−Aに規定するなみ検査，一回抜取りとし，検査水準及

びAQLは，附属書3表1の規定による。

附属書3表1 品質保証検査

2.4

試験項目

本体項目番号

検査水準

外観，表示

寸法

共振周波数

共振周波数の可変範囲

無負荷Q

電圧比（負荷Q）

回転トルク

表7 番号1

表7 番号2

表7 番号3

表7 番号4

表8 番号5

合否の判定　合否の判定は，不良品の数が附属書3表1に規定のAQLに基づく合格判定個数を超え

る場合を不合格とする。

2.5

検査後の処置　検査を行った試料は，ロットに戻してもよい。検査の結果不合格と判定されたとき，

その検査ロットのIFTは，品質保証プログラムなどでスクリーニングなどによって再検査ロットとすると

の規定がない限り，再検査は行わない。

3. 長期保存品の再検査 1年以上保管されたIFTの出荷ロットは，無負荷Q, 回転トルク及びはんだ付け

性の再検査を行う。このロットが再検査に合格すれば，そのロットは，更に1年間保管することができる。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 6421-1994

附属書4 定期的認証維持試験

1. 定期的認証維持試験の構成　定期的認証維持試験の構成は，品質維持試験だけとする。

2. 試験項目及び試料　試験項目及び試料は，次による。

(1) 試験項目は，附属書2表1品質認証試験の規定による。

(2) 試料は，品質維持試験の前回の周期の終了後から，次回の周期の開始までの期間に品質保証プログラ

ムに基づき製造された同一形状，寸法及び磁心構造をもつものとする。

(3) 試料数は，附属書2表1品質認証試験の規定による。

3. 試験の周期　試験の周期は，同一形状，寸法及び磁心構造をもつものについて1年とする。

4. 合否の判定　合否の判定は，附属書2の4.の規定による。

5. 試験の省略　品質維持試験の前回の周期の終了時から次回の周期の開始までの期間に行われた品質保

証検査の結果が2.を満足し，しかも合格と判定できるときには，試験を省略することができる。

6. 品質認証拡張試験　拡張する範囲について，品質認証試験と同等の品質認証拡張試験を行い，この結

果が認証されたときは，品質認証範囲を拡張することができる。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 6421-1994

電子部品JIS原案作成第1委員会　構成表

氏名

（委員長）

（委員）

（分科会主査）

（分科会委員）

（事務局）

平　山　宏　之

福　原　隆

武　田　治

山　本　圭　一

山　本　克　己

宮　島　明　美

岩　田　武

三　崎　民　汎

西　林　和　男

井　村　豊

松　尾　宏　之

大　平　昌　司

三　宅　敏　明

井手元　英　治

村　岡　圭次郎

石　瀬　博

鴨　下　秀　夫

曽我部　浩　二

中　沢　滋　二

吉　田　裕　道

山　内　慎　二

三　宅　信　弘

栗　原　史　郎

杉　本　俊　二

三　崎　民　汎

橋　本　哲　郎

斉　藤　国　彦

丸　山　文　明

前　田　丈　夫

塚　田　潤　二

川　崎　明　彦

所属

東京都立科学技術大学名誉教授

沖電気工業株式会社

KOA株式会社

進工業株式会社

ソニー株式会社

多摩電気工業株式会社

東京特殊印刷工業株式会社

東光株式会社

株式会社東芝

日本電気株式会社

株式会社日立製作所

松下通信工業株式会社

松下電器産業株式会社

松下電子部品株式会社

マルコン電子株式会社

三菱電機株式会社

ミツミ電機株式会社

株式会社村田製作所

電子技術総合研究所

東京都立工業技術センター

日本放送協会

通商産業省機械情報産業局

工業技術院標準部

防衛庁

前出

サガミエレク株式会社

リバーエレテック株式会社

ジェーピーシー株式会社

富士電気化学株式会社

社団法人日本電子機械工業会

JIS C 6421 分科会　構成表

氏名

主査

副主査

委員

事務局

三　崎　民　汎

橋　本　哲　郎

丸　山　文　明

中　村　信　雄

前　田　丈　夫

大　嶽　博　志

戸　田　幸　生

斉　藤　国　彦

川　崎　明　彦

所属

東光株式会社

サガミエレク株式会社

ジェーピーシー株式会社

TDK株式会社

富士電気化学株式会社

松下電子部品株式会社

株式会社リケン

リバーエレテック株式会社

社団法人日本電子機械工業会