2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
P8150:2004
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，紙パルプ技術協会(JAPAN TAPPI)/財団法人日
本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調
査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，ISO 5631：2000 Paper and board−Determination of colour(C/2ﾟ)−Diffuse reflectance
methodを基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS P 8150には，次に示す附属書がある。
附属書A（規定） 三刺激値の計算
附属書B（参考） 参考文献
附属書1（参考） JISと対応する国際規格との対比表
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
P 8150：2004
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 定義 ······························································································································ 2
3.1 反射率係数（reflectance factor）R ····················································································· 2
3.2 固有反射率係数（intrinsic reflectance factor）R∞ ·································································· 2
3.3 三刺激値（tristimulus values）X，Y，Z ·············································································· 2
3.4 CIELAB色空間（CIELAB colour space） ··········································································· 2
4. 原理 ······························································································································ 2
5. 装置 ······························································································································ 2
5.1 反射率計 ······················································································································ 2
5.2 フィルタ機能 ················································································································ 2
5.3 参照標準面 ··················································································································· 2
5.4 常用標準面 ··················································································································· 3
5.5 光トラップ（black cavity） ······························································································ 3
6. 試料の採取 ····················································································································· 3
7. 試験片の調製 ·················································································································· 3
8. 操作 ······························································································································ 3
9. 計算 ······························································································································ 3
9.1 CIE三刺激値 ················································································································ 3
9.2 CIELAB座標 ················································································································ 3
9.3 測定結果のばらつき ······································································································· 4
10. 試験結果の表し方 ·········································································································· 4
11. 報告 ···························································································································· 4
附属書A（規定）三刺激値の計算 ···························································································· 5
附属書B（参考）参考文献 ····································································································· 8
附属書1（参考）JISと対応する国際規格との対比表 ··································································· 9
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
P 8150：2004
紙及び板紙−色（C/2ﾟ）の測定方法−
拡散照明法
Paper and board−Determination of colour(C/2ﾟ)−
Diffuse reflectance method
序文 この規格は，2000年に第1版として発行されたISO 5631 : 2000 Paper and board−Determination of
colour(C/2ﾟ)−Diffuse reflectance methodを翻訳し，技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格で
あるが，対応国際規格には規定されていない規定項目を日本工業規格として追加している。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲 この規格は，拡散光で照明し，正反射成分を除いて，紙及び板紙の色を測定する方法につ
いて規定する。この規格は，蛍光染料（蛍光増白剤を除く。）又は蛍光顔料によって着色した紙及び板紙に
は適用しない。ただし，蛍光増白剤を含む紙及び板紙の色については，試験片への照明光に含まれる紫外
線量を，ISO 2470に規定した認定試験所（authorized laboratory）が発行するIR3標準蛍光白色面を用い，
CIEイルミナントC相当の紫外線含有量に調整すれば，測定してもよい。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
ISO 5631 : 2000，Paper and board−Determination of colour(C/2ﾟ)−Diffuse reflectance method
(MOD)
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定を構
成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発行年を付記していない引用規格は，その
最新（追補を含む。）を適用する。
JIS P 0001 紙・板紙及びパルプ用語
JIS P 8110 紙及び板紙−平均品質を測定するためのサンプリング方法
備考 ISO 186，Paper and board−Sampling to determine average qualityが，この規格と一致している。
JIS Z 8401 数値の丸め方
JIS Z 8722 色の測定方法−反射及び透過物体色
ISO 2469，Paper，board and pulps−Measurement of diffuse reflectance factor
ISO 2470，Paper，board and pulps−Measurement of diffuse blue reflectance factor (ISO brightness)
CIE Publication 15.2:1986, Colorimetry
ASTM E 308-95，Standard Practice for Computing the Colors of Objects by Using the CIE System
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2
P 8150：2004
3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS P 0001によるほか，次による。
3.1
反射率係数（reflectance factor）R 同一の照明及び受光条件下において，完全拡散反射体によって
反射された放射に対する，物体によって反射された放射の比率を，百分率で表した値。
参考 反射率係数は，物体が半透明の場合は裏当ての影響を受ける。
3.2
固有反射率係数（intrinsic reflectance factor）R∞ 測定するシート枚数を2倍にしても，反射率係数
に変化がないほど不透明になるだけの厚さの，1枚の，又は重ねた試料の反射率係数。
3.3
三刺激値（tristimulus values）X，Y，Z 与えられた三色表色系において，試料の色刺激と等色する
ための3個の原刺激の量。
備考 この規格では，三色表色系を定義するために，CIE 1931標準観測者及びCIEイルミナントCを
用いる。
3.4
CIELAB色空間（CIELAB colour space）9. 計算に規定した式によって定義した量L*，a*，b*を，直
交座標系にプロットして得られる，3次元の近似的な均等色空間。
4. 原理 一定条件下で試料から反射された光を，フィルタ方式の光電色彩計又は分光測光器によって解
析し，色座標を算出する。
5. 装置 装置は，次による。
5.1
反射率計 ISO 2469で規定した幾何学的，分光的及び測光的特性をもち，ISO 2469の規定に従って
校正したもの。
備考 ISO 2469の1994年版では，反射率計の仕様を附属書Aに規定しており，また，校正サービス
を附属書Bに規定している。ISO 2469が改正された場合，番号が変わる可能性がある。したが
って，1994年版以降の版を参照する場合は，反射率計の仕様及び校正サービスを規定している
該当箇所を確認する必要がある。
5.2
フィルタ機能 フィルタ方式の光電色彩計の場合，装置の他の光学特性と併せて，CIEイルミナン
トCにおける試験片のCIE 1931標準表色系のCIE三刺激値X，Y，Zと等価に応答する一組のフィルタ。
分光測光器の場合，附属書Aに規定した重価係数を用いて，CIEイルミナントCにおける試験片のCIE
1931標準表色系のCIE三刺激値X，Y，Zを算出できる機能。
参考 分光測光器としては，JIS Z 8722に規定する第2種分光測光器が広く使われている。
5.3
参照標準面 装置及び常用標準面を校正するために，ISO 2469の規定に従ってISO/TC6認可試験所
が発行したもの。測定精度を最大にするためには，試験試料に予想される最大幅以内の値をもつ参照標準
面を選択する。
装置の直線性が不十分であるか，又は，光電色彩計では，CIE三刺激値X，Y，Zと等価に応答する一組
のフィルタ特性の誤差が，及び分光測光器では，分光波長の公称値に対する波長の誤差が許容限界以上に
大きいと考えられる場合は，測定試料に近い参照標準面を使用することを考慮すべきである。
参考 ISO/TCの認可試験所として、次の試験所がある。
CTP（Centre Technique du PaPier） フランス
KCL（Oy Keskuslaboratorio−Centrallaboratorium Ab）フィンランド
PAPRICAN（Pulp and Paper Research Institute of Canada）カナダ
STFI（Skogsindustrins tekniska forskningsinstitut） スウェーデン
TLS（Technidyne Laboratory Services）アメリカ合衆国
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3
P 8150：2004
5.4
常用標準面 使用する装置によって，ISO 2469に規定した認可試験所が発行するISOレベル3標準
面で校正したもの。満足な校正結果を維持するのに十分な頻度で，常用標準面の校正を行う。
使用する装置が参照装置と一致していることを保証できるほど十分な頻度で，新たに校正した参照標準
面を用いて校正する。
5.5
光トラップ（black cavity） 公称反射率係数に対し，すべての波長において反射率係数の差が
±0.2 ％にあるもの。光トラップは，清浄な環境下に開口部を下向きにするか，又は，保護用のふたをし
て保管する。
参考1. 光トラップの状態が正常かどうかは，装置製造業者が確認する。
2. 公称反射率係数は，装置製造業者が定める。
6. 試料の採取 ロットを評価するための試験を行う場合は，JIS P 8110に規定する方法によって，試料
を採取する。それ以外の場合は，試料を代表するように試験片を採取する。
7. 試験片の調製 すき入れ，きょう雑物及び明らかな欠陥箇所を避けて，約75 mm×150 mmの長方形
の試験片を切り取る。10枚以上の試験片を，表が上を向くように重ねる。試験片の枚数は，2倍にしても
反射率係数が変化しない枚数とする。試験片束の上下に保護紙を当て，汚れ，光及び熱から保護する。
一番上の試験片の隅に，試料の種類及び表が分かるように印を付ける。
表・裏の判別が可能な場合は，表を上に向ける。ツインワイヤ抄紙機で抄造された紙のように，表・裏
の判別が不可能な場合は，同じ面を上に向ける。
8. 操作 操作は，次による。
a) 常用標準面を用いて，装置の校正を行う。
b) 試験片束から保護用の紙を取り除く。装置の測定手順に従い，測定箇所に触れないようにして，最初
の試験片のCIE三刺激値(L*，a*，b*を直接表示できる装置の場合は，L*，a*，b*)を測定する。値を読
み取り，0.05単位で記録する。
c) 測定した試験片を試験片束の一番下に移し，次の試験片について測定を行う。この操作を繰り返し，
合計10枚以上の試験片を測定する。
d) 必要に応じ，試験片の反対側の面について測定を行う。
9. 計算 計算は，次による。
9.1
CIE三刺激値 装置の波長間隔が5 nm以下である場合は，CIE Publication 15.2 : 1986に従ってCIE
三刺激値を計算する。それ以外の場合は，ASTM E 308-95に規定する重価係数を用いて，三刺激値を計算
する。CIE三刺激値を直接求めることができない装置の場合は，附属書Aに規定した表を用いて，三刺激
値を計算する。
9.2
CIELAB座標 次の式を用いて，三刺激値X，Y，ZからCIELAB座標を計算する。
L
*
=
116
(
Y / Y
n
)
1/3
−
16
···························································· (1)
a
*
=
500
[(
X / X
n
)
3/1
−
(
Y /
Y
n
)
3/1
]
············································· (2)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4
P 8150：2004
b
*
=
200
[(
Y /
Y
n
)
3/1
−
(
Z / Z
n
)
3/1
]
·············································· (3)
ここに，
Xn，Yn， C/2ﾟ条件下における完全拡散反射面の三刺激値。これら
Zn： の値は，附属書Aに“白色点”として記載している。
明度が極めて低い試料については，次の計算方法による。
Y/Ynが0.008 856以下の場合は，L*を次の式で計算する。
*
L=
903
(3.
Y /
Y
n
)
··································································· (4)
X/Xn，Y/Yn又はZ/Znが0.008 856以下の場合は，式(2)及び式(3)中の(X/Xn)1/3，(Y/Yn)1/3又は(Z/Zn)1/3を次の
式で置き換える。
.7
787
F
+
16 / 116
···································································· (5)
ここに， F： X/Xn，Y/Yn又はZ/Zn
9.3
測定結果のばらつき ばらつきを評価するための三次元の統計計算は極めて複雑なので，次の簡便
法を用いる。
L*，a*及びb*のそれぞれの平均値＜L*＞，＜a*＞及び＜b*＞を求める。
各試験片について，平均値との偏差ΔEab*を次の式によって計算する。
∆
E
ab
*
=
(
L
)
(
a
)
(
b
)
········································· (6)
ここに， ΔL*，Δa*，Δb*： 試験片のL*，a*，b*と平均値＜L*＞，＜a*＞，＜b*
＞との差
ΔEab*の平均値＜ΔEab*＞を計算する。この値は，平均値からの平均色差（the Mean Colour Difference from
the Mean，MCDM)であり，CIELAB空間における平均値を中心点とする半径＜ΔEab*＞の球によって，ば
らつきを定義している。
備考 この計算は，次の式によって二つの試料間の色差を求める場合にも用いられる。
∆
E
ab
*
=
(
L
)
(
a
)
(
b
)
ここに，
········································· (7)
ΔL*，Δa*，Δ
二つの試料のL*，a*，b*の差
b*：
ただし，色差の計算は，この規格の適用範囲外である。
10. 試験結果の表し方 測定したL*，a*，b*の各平均値を有効数字3けたに，測定のばらつきを表わす平
均値からの平均色差(MCDM値)を有効数字2けたに，JIS Z 8401に規定する方法によってそれぞれ丸める。
備考 式(6)で定義したΔL*，Δa*，Δb*のそれぞれの平均値を計算すれば，測定結果の変動に関する
情報を得ることができる。しかし，このことは，この規格の適用範囲外である。
11. 報告 報告には，必要に応じて次の事項を記録する。
a) 規格名称又は規格番号
b) 試料の種類及び名称
c) 試験年月日及び試験場所
d) 試料の表及び必要な場合は反対側の面について，L*，a*，b*のそれぞれの平均値及び9.3で定義した
MCDM
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5
P 8150：2004
e) 使用した装置の名称及び形式
f)
その他必要とする事項
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6
P 8150：2004
附属書A（規定） 三刺激値の計算
三刺激値は，分光反射率係数と，CIE 1931(2ﾟ) 観測者及びCIEイルミナントCについてASTM E 308-95
に規定する重価係数（附属書A表A.1及び附属書A表A.2）(1) の積を合計して求める。
ASTM E 308-95には二組の表があるが，通常，この附属書に記載した表を用いる。これらの表では，波
長幅が測定波長間隔にほぼ等しいデータを用い，分光特性の波長幅依存性に対する補正を三刺激値の計算
に盛り込んでいる。
この附属書の表において，各列の最後に示した“合計”の値は，各列の値の算術合計である。これは，
表の転記を行う場合に，誤記がないことを確認するためのものである。この合計値は，四捨五入の影響で，
“白色点”の値とは一致しない場合がある。この“白色点”の値は，これらの表によって計算した三刺激
値をCIELAB座標に変換する場合のXn，Yn，Znとして用いる。
測定波長範囲に，これらの表の短波長領域又は長波長領域が含まれない場合は，ASTM E 308-95，7.3.2.2
に記載された次の手順による。
測定波長範囲が360〜780 nmよりも狭い場合 R(λ)の値がこの波長範囲全域では得られない場合は，
測定値の得られる最も短い波長，又は最も長い波長の重価係数に，測定値の得られない波長の重価係数を
加算する。
測定値の得られないすべての波長(360 nm，...)の重価係数を加算し，測定値の得られる最も短い波長の重
価係数に加算する。
測定値の得られないすべての波長(...，780 nm)の重価係数を加算し，測定値の得られる最も長い波長の重
価係数に加算する。
注(1) ASTM E 308-95の表6.5及び表6.6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7
P 8150：2004
附属書A表 1 測定間隔が10 nmの装置用の重価係数
波長 nm
合計
白色点
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8
P 8150：2004
附属書A表 2 測定間隔が20 nmの装置用の重価係数
波長 nm
合計
白色点
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9
P 8150：2004
附属書B（参考）参考文献
[1] ISO 2470:1999，Paper，board and pulps ‒ Measurement of diffuse blue reflectance factor (ISO brightness)
[2] ISO/CIE 10526:1999，CIE standard illuminants for colorimetry
[3] ISO/CIE 10527:1991，CIE standard colorimetric observers
[4] CIE Publication 17.4:1987，International lighting vocabulary. CIE Central Bureau， Kegelgasse 27，A-1030
Vienna，Austria
[5] Erb，W. and Krystek，K.，Truncation error in colorimetric computations，Col. Res. Appl. 8 (1983) No.1.
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
10
P 8150：2004
附属書1（参考）JISと対応する国際規格との対比表
JIS P 8150：200４ 紙及び板紙−色（C/2ﾟ）の測定方法−拡散照明法
ISO 5631：2000 紙及び板紙−色（C/2ﾟ）
の測定方法−拡散照明法
(Ⅰ) JISの規定
(Ⅲ)国際規格の規定
(Ⅳ)JISと国際規格との
技術的差異の項目ごと
の評価及びその内容
表示箇所：本体及び附
属書
表示方法：点線の下線
項目番号
項目ごと
の評価
項目番号
国際
規格
番号
内容
1. 適用範囲
2. 引用規格
内容
技術的差
異の内容
MOD/追加 JIS4規格
を追加規
定
3. 定義
4. 原理
5. 装置
6. 試料の採取
7. 試験片の調
製
8. 操作
9. 計算
MOD/追加 数値の丸
め方につ
いてJIS
を引用
11. 報告
附属書A(規定) 三刺激値の計算
附属書B(参考) 参考文献
10. 試験結果
の表し方
JIS Z 8401を引用
(Ⅴ) JISと国際
規格との技術
的差異の理由
及び今後の対
策
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− IDT ·················· 技術的差異がない。
− MOD/追加 ········· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− MOD ················ 国際規格を修正している。
P 8110はISO
規格に整合。
JIS4規格は
ISOに提案。
技術的差異は
ない。
