2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
R 1639-3 : 1999
まえがき
この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は，出願公開後の実用
新案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
R 1639-3 : 1999
ファインセラミックス−
か（顆）粒特性の測定方法−
第3部：乾燥減量
Test methods of properties of fine ceramic granules
Part 3 : Drying loss
1. 適用範囲 この規格は，数十から数百μmのファインセラミックスか粒の乾燥器による乾燥減量の測
定方法について規定する。
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版を適用する。
JIS R 1600 ファインセラミックス関連用語
JIS R 3503 化学分析用ガラス器具
JIS R 6003 研摩材のサンプリング方法
JIS Z 8401 数値の丸め方
3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS R 1600によるほか，次による。
a) か粒 微粒子の造粒操作によって製造した粒子集合体。
b) か粒特性 か粒の特性を表す代表的な性質。
c) 乾燥減量 か粒を乾燥させたとき減少した質量。元の質量に対する割合で表す。
4. サンプリング方法 試験する試料のサンプリング方法は，JIS R 6003の3.（サンプリング方法）及び
4.（試料調整方法）による。
調整試料の1試料の量は，かさ体積で20cm3程度とする。
5. 装置及び器具 装置及び器具は，次による。
a) 乾燥器 装置室内の空気を循環させるファンを備え，乾燥温度150℃以上まで設定でき，±1℃の温度
範囲に保持できるもの。
b) はかり瓶 JIS R 3503に規定する平形はかり瓶50×30mm。
c) はかり（天びん） 最小表示目盛が1mg以下の化学はかり又は電子はかり。
d) デシケーター JIS R 3503に規定するもので，乾燥剤としてシリカゲルを入れたもの(1)。
注(1) シリカゲルは，約150℃に加熱放冷したものを用い，再生する場合も同じ処理を行う。
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R 1639-3 : 1999
6. 測定手順 測定手順は，次による。測定試料個数は，3個とする。
a) はかり瓶の質量を，1mgのけたまではかる。
b) はかり瓶に試料を厚さ5〜10mm程度になるように取り，試料表面を平らにしてからふたをし，質量
を1mgのけたまではかる。
c) 試料を入れたはかり瓶のふたを開けて，乾燥器に入れ，105℃±1℃で2時間乾燥する。
d) 乾燥器から，はかり瓶にふたをして取り出し，素早くデシケーターに移し，室温まで放冷する。
e) はかり瓶にふたをしたままデシケーターから取り出し，質量を1mgのけたまではかる。
f)
恒量(2)になるまでc)〜e)の操作を繰り返す。この場合，乾燥時間は1時間とする。
注(2) 恒量は，乾燥前後の質量変化が5mg以下になったときとする。
7. 計算 乾燥減量は，次の式によって小数点以下3けたまで計算し，3個の試料の計算結果を算術平均
して，JIS Z 8401によって2けたに丸める。
W
−
W
2
×
100
A
=
1
W
1
−
W
3
ここに，
A： 乾燥減量 (%)
W1： 乾燥前の試料とはかり瓶とふたの質量 (g)
W2： 乾燥後の試料とはかり瓶とふたの質量 (g)
W3： はかり瓶とふたの質量 (g)
8. 結果の表示 乾燥減量の測定結果の表示は，次による。
a) 試料名
b) 測定試料量
c) 乾燥減量
d) 乾燥温度及び時間
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R 1639-3 : 1999
ファインセラミックスか（顆）粒特性の測定方法−第3部：乾燥減量
原案作成委員会 構成表
氏名
（委員長）
（委員）
（事務局）
所属
工業技術院名古屋工業技術研究所
工業技術院物質工学工業技術研究所
財団法人ファインセラミックスセンター
宇部興産株式会社
大川原化工機株式会社
日本ガイシ株式会社
日本特殊陶業株式会社
鈴 木 和 夫
工業技術院名古屋工業技術研究所
椿 淳一郎
名古屋大学
中 平 兼 司
財団法人ファインセラミックスセンター
中 村 彰 一
大塚電子株式会社
福 井 俊 文
株式会社島津製作所
橋 本 邦 男
昭和電工株式会社
佐々木 邦 雄
株式会社セントラル科学貿易
山 口 浩 文
日本ガイシ株式会社
虎 谷 秀 穂
名古屋工業大学
林 茂 雄
三重県窯業試験場
中 安 哲 夫
宇部興産株式会社
安 川 勝 正
京セラ株式会社
築 野 孝
住友電気工業株式会社
稲 場 徹
電気化学工業株式会社
○ 伊 藤
敏
通商産業省生活産業局
○ 大 嶋 清 治
工業技術院標準部
○ 加 山 英 男
財団法人日本規格協会
○ 菅 野 隆 志
ファインセラミックス国際標準化推進協議会
○ 渡 辺 一 志
社団法人日本ファインセラミックス協会
○ 杉 本 克 晶
社団法人日本ファインセラミックス協会
備考 ○印は小委員会委員を兼ねる。
文責 原案作成小委員会
○ 内 海 良 治
○ 伊ケ崎 文 和
○ 青 木 正 司
○ 山 田 哲 夫
○ 伊 藤
崇
○ 渡 邊 敬一郎
○ 松 尾 康 史
