2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
図1 カートリッジの上側外観（リッドを開いた状態）
図2 カートリッジの下側外観（リッドを閉じた状態）
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目次
ページ
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 適合性 ··························································································································· 1
3. 引用規格 ························································································································ 1
4. 用語の定義 ····················································································································· 2
4.1 交流消去 ······················································································································ 2
4.2 アルゴリズム ················································································································ 2
4.3 平均信号振幅 ················································································································ 2
4.4 アジマス ······················································································································ 2
4.5 裏面 ···························································································································· 2
4.6 ビットセル ··················································································································· 2
4.7 バイト ························································································································· 2
4.8 カートリッジ ················································································································ 2
4.9 圧縮データ ··················································································································· 2
4.10 巡回冗長検査文字 ········································································································· 2
4.11 誤り訂正符号 ··············································································································· 2
4.12 磁束反転位置 ··············································································································· 2
4.13 磁束反転間隔 ··············································································································· 2
4.14 論理レコード ··············································································································· 2
4.15 磁気テープ ·················································································································· 2
4.16 標準テープ ·················································································································· 2
4.17 PBOT ························································································································· 2
4.18 PEOT ························································································································· 2
4.19 記録密度 ····················································································································· 2
4.20 副標準信号振幅 ············································································································ 2
4.21 副基準磁界 ·················································································································· 2
4.22 副標準テープ ··············································································································· 2
4.23 基準電流 ····················································································································· 3
4.24 テープ基準縁 ··············································································································· 3
4.25 試験記録電流 ··············································································································· 3
4.26 トラック ····················································································································· 3
4.27 ティピカル磁界 ············································································································ 3
4.28 非圧縮データ ··············································································································· 3
5. 環境条件及び安全性 ········································································································· 3
5.1 試験環境条件 ················································································································ 3
5.2 使用環境条件 ················································································································ 3
(1)
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5.3 保存環境条件 ················································································································ 3
5.4 輸送 ···························································································································· 3
5.5 安全性 ························································································································· 3
5.6 燃焼性 ························································································································· 3
6. カートリッジの寸法及び機械的特性 ···················································································· 3
6.1 概要 ···························································································································· 3
6.2 ····································································································································· 4
6.3 保持領域 ······················································································································ 4
6.4 カートリッジ挿入部 ······································································································· 4
6.5 ····································································································································· 5
6.6 ローディンググリッ ······································································································· 5
6.7 ラベル領 ······················································································································ 5
6.8 基準領域及び基準 ·········································································································· 5
6.9 支持領域 ······················································································································ 6
6.10 識別 ··························································································································· 7
6.11 書込み禁止 ·················································································································· 7
6.12 位置決め ····················································································································· 7
6.13 リッ ··························································································································· 8
6.14 リールロッ ·················································································································· 9
6.15 リール受け ·················································································································· 9
6.16 リールと駆動スピンドルとの接触領 ················································································· 9
6.17 光通過経 ···················································································································· 10
6.18 ケース内のテープの位 ·································································································· 10
6.19 テープ走行領 ·············································································································· 11
6.20 テープ引出し開口 ········································································································ 11
6.21 テープ引出し開口部の要求事 ························································································· 11
7. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法 ·········································································· 26
7.1 材料 ··························································································································· 26
7.2 長さ ··························································································································· 26
7.2.1 磁気テープの長さ ······································································································· 26
7.2.2 リーダテープ及びトレーラテープの長さ ········································································· 26
7.2.3 接合テープの長さ ······································································································· 26
7.3 幅 ······························································································································ 26
7.4 連続性 ························································································································ 26
7.5 厚さ ··························································································································· 26
7.5.1 磁気テープの厚さ ······································································································· 26
7.5.2 リーダテープ及びトレーラテープの厚さ ········································································· 26
7.6 長手方向の湾曲 ············································································································ 26
7.7 カッピング ·················································································································· 26
7.8 塗布面の接着強 ············································································································ 26
(2)
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7.9 層間の粘着 ·················································································································· 27
7.10 引張強度 ···················································································································· 27
7.10.1 破断強度 ·················································································································· 27
7.10.2 降伏強度 ·················································································································· 27
7.11 残留伸び ···················································································································· 27
7.12 表面の電気抵抗 ··········································································································· 27
7.13 テープの巻き方 ··········································································································· 28
7.14 光透過率 ···················································································································· 28
8. 磁気記録特性 ················································································································· 28
8.1 試験条件 ····················································································································· 28
8.2 ティピカル磁界 ············································································································ 28
8.3 平均信号振幅 ··············································································································· 28
8.4 分解能 ························································································································ 28
8.5 狭帯域の信号対雑音比 (NB-SNR) ····················································································· 29
8.5.1 要求事項 ··················································································································· 29
8.5.2 試験方法 ··················································································································· 29
8.6 消去特性 ····················································································································· 29
8.7 テープの品質 ··············································································································· 29
8.7.1 ミッシングパルス ······································································································· 29
8.7.2 ミッシングパルスゾーン ······························································································ 29
8.8 不良テープ ·················································································································· 29
9. フォーマット ················································································································· 29
9.1 概要 ··························································································································· 29
9.2 情報マトリクス ············································································································ 30
9.2.1 情報マトリクスのロード ······························································································ 30
10. 記録方式 ····················································································································· 34
10.1 記録密度 ···················································································································· 34
10.1.1 長周期平均ビットセル長 ····························································································· 34
10.1.2 短周期平均ビットセル長 ····························································································· 34
10.1.3 短周期平均ビットセル長の変動率 ················································································· 34
10.2 ビットシフト ·············································································································· 34
10.3 情報交換時の再生信号振幅 ···························································································· 34
10.3.1 データ信号の平均信号振幅 ·························································································· 35
10.3.2 サーボ信号の平均信号振幅 ·························································································· 35
10.4 消去 ·························································································································· 35
11. トラック ····················································································································· 35
11.1 トラックの位置 ··········································································································· 35
11.2 トラック間隔 ·············································································································· 36
11.2.1 隣接トラック間隔 ······································································································ 36
11.2.2 平均トラック間隔 ······································································································ 36
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11.3 トラック幅 ················································································································· 36
11.4 トラック角 ················································································································· 37
11.5 トラックエッジの直線性 ······························································································· 37
11.6 アジマス角 ················································································································· 37
12. トラックのフォーマット································································································· 37
12.1 チャネルビット ··········································································································· 37
12.2 情報セグメント ··········································································································· 37
12.2.1 ビット同期フィールド ································································································ 37
12.2.2 情報セグメント番号 ··································································································· 37
12.2.3 情報セグメントフィールド ·························································································· 38
12.3 情報ブロック ·············································································································· 39
12.4 物理トラックの形式 ····································································································· 39
12.4.1 T1トラック，T2トラックの構 ····················································································· 39
12.5 サーチフィールドゾーン ······························································································· 40
12.5.1 サーチフィールドデータゾー ······················································································· 40
12.5.2 サーチフィールドゾーンシーケンスの記録 ····································································· 42
12.6 サーボゾーン ·············································································································· 42
12.6.1 第1サーボゾーン ······································································································ 42
12.6.2 第2サーボゾーン ······································································································ 43
12.6.3 第3サーボゾーン ······································································································ 43
12.7 情報トラック ·············································································································· 43
12.7.1 フォーマットトラック ································································································ 43
12.7.2 データトラック ········································································································· 43
12.7.3 ロングテープマークトラック ······················································································· 43
12.7.4 ギャップトラック ······································································································ 43
12.7.5 エンドオブデータトラック ·························································································· 43
13. テープマーク ··············································································································· 43
13.1 ロングテープマーク ····································································································· 43
13.2 ショートテープマーク ·································································································· 43
14. エンドオブデータ ········································································································· 44
15. ID情報 ······················································································································· 44
15.1 物理ブロックID ·········································································································· 44
15.2 論理ブロックID ·········································································································· 44
15.3 論理レコードID ·········································································································· 44
15.4 ブロック形式 ·············································································································· 44
15.4.1 データブロック ········································································································· 45
15.4.2 ギャップブロック ······································································································ 45
15.4.3 フォーマットブロック ································································································ 46
15.4.4 ロング／ショートテープマークブロック ········································································ 46
15.4.5 エンドオブデータブロック ·························································································· 47
(4)
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)目次
16. 再書込み情報ブロック···································································································· 47
17. テープの物理フォーマット······························································································ 47
17.1 初期消去領域 ·············································································································· 47
17.2 LBOT領域 ················································································································· 47
17.3 テープの使用可能領域 ·································································································· 48
附属書A（規定） 光透過率の測定方法 ·················································································· 49
附属書B（規定） ビットシフトの測定方法 ············································································· 51
附属書C（規定） 8ビットバイトから10ビットパターンへの変換 ·············································· 53
附属書D（参考） 輸送条件 ································································································· 57
附属書E（参考） 不良テープ ······························································································· 58
(5)
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日本工業規格
JIS
X 6142-1995
(ISO/IEC 12246 : 1993)
8mm幅，ヘリカル走査記録，
情報交換用磁気テープカートリッジ，
デュアルアジマス様式
8 mm wide magnetic tape cartridge dual azimuth format for
information interchange−Helical scan recording
日本工業規格としてのまえがき
この規格は，1993年初版として発行されたISO/IEC 12246 (Information technology-8mm wide magnetic tape
cartridge dual azimuth format for information interchange−Helical scan recording) を翻訳し，技術的内容及び規
格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
1. 適用範囲 この規格は，電子計算機，関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換用に用
いる8mm幅，ヘリカル走査記録，磁気テープカートリッジ（以下，カートリッジという。）の物理的特性
及び磁気的特性について規定する。この規格は，JIS X 0601とともに，テープカートリッジを媒体として
情報交換に使用できるように磁気テープカートリッジの記録信号の品質，フォーマット及び記録様式を規
定する。この規格は，JIS X 6141（8mm幅，ヘリカル走査記録，情報交換用磁気テープカートリッジ）を
基本としているが，記録容量を2倍とするために，デュアルアジマス様式を用いている。記録様式は，可
変長論理レコード，高速サーチ及び登録されたデータ圧縮アルゴリズムを適用する。
2. 適合性 カートリッジは，この規格のすべてを満たすとき，この規格に適合する。テープの要求事項
は，テープの全域について適用する。
3. 引用規格 次の規格は，この規格がよりどころとしている規格を含んでいる。出版時に明示されてい
る版号が有効であるが，すべての規格は改正されるので，この規格の関係者は，次の最新のものを調査し
適用するよう推奨する。
ISO/R 527 : 1966 Plastics−Determination of tensile properties
ISO 1001 : 1986 Information processing−File structure and labelling of magnetic tapes for
information interchange
備考 JIS X 0601-1990 （情報交換用磁気テープのラベル及びファイル構成）が，この国際規格と
一致している。
ISO 1302 : 1992 Technical drawings−Method of indicating surface texture
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2
X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
ISO/IEC 11319 : 1993 Information technology−8 mm wide magnetic tape cartridge for
information interchange−Helical scan recording
ISO/IEC 11576 : 1993 Information technology−Procedure for the registration of algorithms for
the lossless compression of data
IEC 950 : 1990 Safety of information technology equipment, including electrical business
equipment
4. 用語の定義 この規格で用いる用語の定義は，次による。
4.1
交流消去 (a. c. erase) 減衰する交流磁界を用いた消去。
4.2
アルゴリズム (algorithm) 論理的に表現したデータに変換する規則。
4.3
平均信号振幅 (Average Signal Amplitude) 規定の記録密度で記録したテープ上のミッシングパルス
がない部分の長さ1.40mm以上にわたって測定した読取りヘッドの出力電圧の平均ピーク値 (P−P)。
4.4
アジマス (azimuth) 磁束反転のトラックの中心線に垂直な直線に対する角度の偏差。
4.5
裏面 (back surface) データの記録に使う磁性面の反対側のテープの面。
4.6
ビットセル (bit cell) トラックに記録するデータの1ビットの領域。
4.7
バイト (byte) 一単位として取り扱われるビット列。
4.8
カートリッジ (cartridge) 一組のリールに巻かれた磁気テープを収納したケース。
4.9
圧縮データ (compressed data) データ圧縮アルゴリズムによって変換処理したデータ。
4.10 巡回冗長検査文字 [Cyclic Redundancy Check (CRC) Character] 誤り検出及び誤り訂正のために巡回
符号として用いる文字。
4.11 誤り訂正符号 [Error Correcting Code (ECC)] 誤りを自動訂正できるように設計された符号。
4.12 磁束反転位置 (flux transition position) テープ表面に垂直の方向に磁束密度が最大となる点。
4.13 磁束反転間隔 (flux transition spacing) 一つのトラックに沿って連続する磁束反転の長さ。
4.14 論理レコード (logical record) ホストから送られて，情報の単位として取り扱うデータ。
4.15 磁気テープ (magnetic tape) 磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。
4.16 標準テープ (Master Standard Reference Tape) 平均信号振幅，ティピカル磁界及び分解能の標準とし
て用いるテープ。
参考 標準テープは，ソニー株式会社で管理されている。
4.17 PBOT (Physical Beginning of Tape) 磁気テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。
4.18 PEOT (Physical End of Tape) 磁気テープ終端での磁気テープとトレーラテープとの接合箇所。
4.19 記録密度 (physical recording density) トラックの長さ1mm当たりに記録される磁束反転数
(ftpmm)。
4.20 副標準信号振幅 (Secondary Reference Amplitude) 副標準テープに記録密度2 236ftpmmの信号を試
験記録電流で記録したときの平均信号振幅。
4.21 副基準磁界 (Secondary Reference Field) 副標準テープのティピカル磁界。
4.22 副標準テープ (Secondary Standard Reference Tape) テープの平均信号振幅，ティピカル磁界及び分
解能を標準テープのそれらと比較するために用い，その特性と標準テープの特性との偏差が明示されて，
実測値の偏差を補正することによって，間接的に供試テープと標準テープとの特性の比較を行うことを可
能とするテープ。
参考 副標準テープは，東京都品川区北品川6-7-35 ソニー株式会社記録メディア営業本部データメ
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
ディア営業部が，部品番号RSE-5001で2001年まで供給する。
4.23 基準電流 (Standard Reference Current) 副基準磁界を生じさせる記録電流。
4.24 テープ基準縁 (Tape Reference Edge) テープの記録面を上側にして水平に置き，繰出しリールが右
側となるように見たときのテープの下端。
4.25 試験記録電流 (Test Recording Current) 基準電流の1.5倍。
4.26 トラック (track) 磁気反転を直列に記録するテープ上の斜めの領域。
4.27 ティピカル磁界 (Typical Field) 記録密度2 236ftpmmで連続する磁束反転を記録して，これを再生
するとき，その再生出力電圧が最大出力電圧（飽和値）の90%となる最小印加磁界。
4.28 非圧縮データ (uncompressed data) データ圧縮アルゴリズムによって変換処理されていないホスト
からのデータ。
5. 環境条件及び安全性 次に規定する条件は，カートリッジ近傍の環境条件である。この条件を超えた
環境にさらされたカートリッジは，機能的に使用可能であっても恒久的な損傷を受ける原因となる。
5.1
5.2
試験環境条件 試験環境条件は，規定がない限り次による。
温度
23℃±2℃
相対湿度
40%〜60%
試験前放置時間
24時間
使用環境条件 使用環境条件は，次による。
温度
5℃〜45℃
相対湿度
20%〜80%
湿球温度
26℃以下
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合，使用環境条件以外の環境条件に放置し
た時間と同等以上又は最大24時間，使用環境条件に放置してから使用しなければならない。
参考 急激な温度変化は，避けることが望ましい。
5.3
保存環境条件 保存環境条件は，次による。
温度
5℃〜32℃
相対湿度
20%〜60%
湿球温度
26℃以下
周辺磁界は，テープ上で4 000A/mを超えてはならない。カートリッジの内部及び表面は，結露しては
ならない。
5.4
輸送 カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための諸注意は，附属書Dによる。
5.5
安全性 カートリッジ及びその構成部品は，IEC 950の規定を満たさなければならない。
5.6
燃焼性 カートリッジ及びその構成部品の材料は，マッチなどの炎によって着火してもよいが，二
酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。
6. カートリッジの寸法及び機械的特性
6.1
概要 カートリッジは，上ハーフ，下ハーフ，及び上ハーフに取り付けた回転式リッドからなり，
具体図は，次による。
図1は，上側から見たカートリッジの外観を示す。
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
図2は，下側から見たカートリッジの外観を示す。
図3は，リッドが閉じた状態での上面を示す。
図4は，底面，基準領域及び支持領域を示す。
図5は，リッドを開いた状態での底面を示す。
図6は，基準孔及び識別孔の拡大を示す。
図7は，光通過経路孔，識別孔及び書込み禁止孔の断面を示す。
図8は，リッドが閉じたとき，回転しているとき，及び開いたときの詳細を示す。
図9は，リッドロック解除用挿入溝の詳細を示す。
図10は，リッドロック解除の要件を示す。
図11は，リールロック解除の要件を示す。
図12は，リールロック解除に要する力の方向を示す。
図13は，リッドロック解除に要する力の方向を示す。
図14は，リッド開放に要する力の方向を示す。
図15は，光通過経路及び光窓を示す。
図16は，テープ走行領域及び光通過経路を示す。
図17は，リール及びその断面を示す。
図18は，リール及び駆動スピンドルの接触領域の断面を示す。
図19は，テープ引出し開口部を示す。
寸法は，三つの直交する基準面X，Y及びZに基づく。
6.2
全体の寸法（図3参照）リッドが閉じた状態でのケースの全体の寸法は，次による。
l1＝62.5mm±0.3mm
l2＝95.0mm±0.2mm
l3＝15.0mm±0.2mm
ケースの背面から基準面Xまでの距離は，次による。
l4＝47.35mm±0.15mm
ケースの右側面から基準面Yまでの距離は，次による。
l5＝13.0mm±0.1mm
6.3
保持領域 磁気テープ装置にカートリッジを保持するときの保持領域は，図3の斜線部分とし，そ
の位置及び寸法は，次による。
l6≦12.0mm
l7≧ 3.0mm
6.4
カートリッジ挿入部 カートリッジは，磁気テープ装置に誤った向きに挿入できないように溝，切
込み及びこう配面からなる非対称のカートリッジ挿入部を設ける。
溝は，リッドロック解除ピンの挿入領域を妨げないように設け，その位置及び寸法は，図3，図9及び
次による。
l8 ＝79.7mm±0.2mm
l9 ＝ 1.0mm±0.1mm
l10＝ 0.7mm±0.1mm
l11≧ 1.0mm
l12＝ 1.2mm±0.1mm
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5
X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
l13＝ 0.8mm±0.1mm
l14＝ 1.2mm±0.1mm
l15＝ 0.5mm±0.1mm
l16＝ 1.5mm±0.1mm
l17＝ 1.0mm±0.1mm
l18＝ 3.8mm±0.1mm
l19＝ 0.2mm±0.2mm
l20≧ 2.3mm
l21＝ 2.5mm±0.2mm
切込みの寸法は，図3，図5及び次による。
l22≦7.5mm
l23＝11.0mm±0.2mm
l24＝1.5mm±0.1mm
l25＝1.5mm±0.1mm
リッドの一部は，こう配面とし，その寸法は，図8及び次による
+−
l26＝7.7mm
0.05.2
mm
+−
05
l27＝0.55mm
.010
.0
mm
A1＝17.5°±4.0°
6.5
窓（図1参照） 窓は，リールの一部が見えるように上面に設けてもよいが，カートリッジの高さ
を超えてはならない。
6.6
ローディンググリップ（図3参照） ローディンググリップは，磁気テープ装置にカートリッジを
自動的に装着するために設け，その位置及び寸法は，次による。
l28＝39.35mm±0.20mm
l29＝1.5mm±0.1mm
l30＝5.0mm±0.3mm
l31＝2.0mm±0.2mm
A2＝90°±5°
6.7
ラベル領域（図3参照） ラベル領域は，カートリッジの背面及び上面に設ける。背面のラベルは，
磁気テープ装置に挿入又は積み重ねたときに目視でき，各ラベルの位置及び寸法は，カートリッジの機構
部の要求事項及び動作を妨げてはならない。
上面のラベル領域は，l6及びl7で規定した保持領域の内側に入ってはならない。
背面のラベル領域の位置及び寸法は，次による。
l32≧0.5mm
l33≧1.5mm
l34≦80.0mm
ラベル領域のくぼみの深さは，0.3mm以下とする。
6.8
基準領域及び基準孔（図4，図5及び図6参照） 環状の基準領域A，B及びCは，磁気テープ装
置に装着したときのカートリッジの垂直位置決めに用い，基準面Zとする（図4の斜線部参照）。それぞ
れの直径d1は，6.0mm±0.1mmとし，それぞれの基準孔の中心と同心とする。
基準孔A及びBの中心は，基準面X上とする。
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6
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円形の基準孔Aの中心は，基準面X及びYの交線とする（図5参照）。
基準孔Bの中心から基準面Yまでの距離は，図4及び次による。
l35＝68.0mm±0.1mm
基準孔Cの中心から基準面Yまでの距離は，図6及び次による。
l36＝10.20mm±0.05mm
基準孔Dの中心から基準面Yまでの距離は，図6及び次による。
l37＝79.2mm±0.1mm
基準孔C及びDの中心から基準面Xまでの距離は，図5及び次による。
l38＝36.35mm±0.08mm
0+
基準孔A及びCの直径は，3.00mm
.0
05
mmとし，基準孔A及びCの寸法は，図6及び次による。
l39＝1.2mm
0+
0.1
mm
l40≧2.6mm
l41≧1.5mm
l42≧4.0mm
l43≦0.3mm
A3＝45°±1°
基準孔B及びDの寸法は，図6及び次による。
0+
l39＝1.2mm
0.1
mm
l40≧2.6mm
l41≧1.5mm
l42≧4.0mm
l43≦0.3mm
0+
l44＝3.00mm
.0
05
mm
l45＝3.5mm±0.1mm
l46＝3.00mm±0.05mm
A3＝45°±1°
r1≧1.7mm
6.9
支持領域 カートリッジの支持領域A，B，C及びDは，図4の網掛け部とする。支持領域A，B及
びCは，基準領域A，B及びCからそれぞれ±0.1mm以内で同一の平面上とする。支持領域Dは，基準面
Zから±0.15mm以内で同一の平面上とする。
カートリッジの端からl49の距離の領域は，支持領域から除かなければならない。
支持領域の位置及び寸法は，図4及び次による。
l35＝68.0mm±0.1mm
l47＝10.0mm±0.1mm
l48＝11.0mm±0.1mm
l49＝ 0.5mm±0.1mm
l50＝ 7.0mm±0.1mm
l51＝30.0mm±0.1mm
l52＝ 5.5mm±0.1mm
l53＝64.5mm±0.2mm
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
6.10 識別孔（図5，図6及び図7参照） 識別孔は，図6に示す番号1から5までの5個を設け，それぞ
れの位置及び寸法は，次による。
l54＝43.35mm±0.15mm
l55＝ 3.7mm±0.1mm
l56＝ 2.3mm±0.1mm
l57＝ 6.4mm±0.1mm
l58＝ 3.7mm±0.1mm
l59＝ 2.3mm±0.1mm
l60＝ 6.4mm±0.1mm
l61＝79.0mm±0.2mm
すべての識別孔は，図7の断面F−Fに示す断面構造をもち，直径は，3.0mm±0.1mmとする。
識別孔の寸法は，次による。
+−
l62＝1.2mm
3.01.0
mm
l63≧5.0mm
断面図の一つは，プラグで閉じた識別孔を示し，他方は，プラグが打ち抜かれた状態を示す。これらの
プラグは，最大0.5Nの力を加えても打ち抜かれてはならない。これらの識別孔の開閉の状態は，次による。
− 識別孔1は，閉じる。
− 識別孔2は，公称13μm厚テープの場合，閉じる。
− 識別孔2は，公称10μm厚テープの場合，開く。
− 識別孔3，4及び5は，閉じる。
6.11 書込み禁止孔（図6及び図7参照） 書込み禁止孔の位置及び寸法は，次による。
l55＝ 3.7mm±0.1mm
+−
l62＝ 1.2mm
3.01.0
mm
l63≧ 5.0mm
l64＝10.0mm±0.1mm
書込み禁止孔の直径は，3.0mm±0.1mmとする。
書込み禁止孔は，開いた状態で書込み禁止とし，閉じた状態で書込み可能とする。
書込み禁止孔は，可動の機構としてもよい。この場合，書込み禁止孔が目視できなければならない（図
3参照）。書込み禁止孔を閉じたとき，0.5Nの力を加えても開いてはならない。書込み禁止孔の開閉に要す
る力は，1Nから15Nまでとする。
6.12 位置決め面（図3及び図5参照） 位置決め面は，磁気テープ装置に装着したとき，カートリッジ
のY方向の位置決めに用い，その位置及び寸法は，次による。
l25＝ 1.5mm±0.1mm
l65＝ 2.4mm01
−
0
.
mm
l66＝ 2.4mm01
−
0
.
mm
l67＝ 1.0mm±0.1mm
l68＝69.0mm±0.2mm
l69＝14.65mm±0.10mm
l70＝13.15mm±0.10mm
A4＝45°±1°
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6.13 リッド（図3及び図8参照） 装着，格納及び輸送のとき，テープを保護するリッドは，主リッド
及び副リッドからなる。
主リッドは，ケースに取り付けたピボットAを軸として回転する（図8参照）。ピボットAの位置は，
l27及び次による。
l71＝7.5mm±0.1mm
副リッドは，主リッドに取り付け，主リッドとともに動くピボットBを軸として回転する。リッドが閉
じた状態では，ピボットBの位置は，次による。
l72＝7.0mm±0.1mm
l73＝10.1mm±0.1mm
副リッドの回転は，両側のカムによって，図8に示した経路で制御される。
リッドは，完全に開いた状態では，基準面Zと平行なl77に位置する平面を超えてはならない。
l74≧14.8mm
l75＝11.5mm±0.2mm
l76＝1.2mm±0.1mm
l77≦22.3mm
A5＝85°±2°
リッドは，部分的に開いた状態では，基準面Zと平行なl78に位置する平面を超えてはならない。
l78≦22.5mm
r2≦14.9mm
主リッドの位置及び寸法は，図3，図8及び次による。
l71＝7.5mm±0.1mm
l79≦8.4mm
l80＝15.2mm05
−
0
.
mm
l81＝15.3mm03
−
0
.
mm
l82＝13.15mm±0.10mm
r3＝14.7mm03
−
0
.
mm
ロック機構は，装置の解除ピンによって解除される。リッドが閉じロックした位置のとき，リッドロッ
クの解除動作は，図10の斜線部に遮られてはならない。この領域の位置及び寸法は，図10及び次による。
l83＝2.0mm±0.1mm
l84＝6.3mm±0.2mm
l85＝1.2mm±0.1mm
A6＝45°±1°
A7＝15°±1°
リッドの解除機構は，解除ピンが図10の網掛け部にあるとき，作動しなければならない。この領域の位
置及び寸法は，図10及び次による。
l83＝2.0mm±0.1mm
l86＝8.2mm±0.2mm
l87＝0.7mm±0.2mm
A8＝15°±1°
リッドロックの解除に要する力は，図13に示す方向に0.25N以下とする。
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リッドを開く力は，図14に示す方向に1.0N以下とする。
6.14 リールロック（図11参照） リールは，カートリッジを磁気テープ装置から取り外すとき，ロック
されなければならない。
解除機構は，ケースの孔を通して動作するとき，その位置及び寸法は，図5及び次による。
l88＝34.5mm±0.1mm
l89＝35.85mm±0.15mm
l90＝ 4.0mm±0.1mm
l91≧ 6.5mm
解除ピンの動作面が基準面Xからl95にあるとき，リールは，ロックしてはならない。この位置では，
ロック機構とカートリッジの背面板の内側との間にl96のすき間がなければならない。解除機構の寸法は，
図11及び次による。
+−
l92＝ 3.2mm
3.02.0
mm
l93＝ 4.0mm±0.1mm
+
l94＝39.0mm
20
.
0
mm
+
l95＝41.75mm
00
.
50
mm
l96≧ 0.5mm
l97≦ 7.8mm
l98＝ 4.0mm±0.1mm
A9＝60.0°±1.0°
r4≦ 0.3mm
リールロックの解除に要する力は，図12に示す方向に1.0 N以下とする。
6.15 リール受け孔（図5参照） 二つの円形のリール受け孔は，駆動スピンドルを通すために設け，そ
の位置及び寸法は，次による。
l99＝23.00mm±0.05mm
l100＝11.40mm±0.05mm
l101＝46.2mm±0.1mm
d2＝18.80mm±0.05mm
6.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域（図17及び図18参照） 駆動スピンドルは，次の領域でリ
ールとかみ合わなければならない。
l102＝5.4mm±0.1mm
l103＝4.4mm±0.1mm
l104≦0.6mm
l105＝2.4mm±0.1mm
l106≦0.2mm
l107＝2.4mm±0.2mm
A10＝45°±1°
A11＝15°±1°
A12＝60°±1°
r5≦0.2mm
+
d3＝6.50mm
00
.
08
mm
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10
X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
+
d4＝10.00mm
00
.
08
mm
d5≦16.0mm
d6＝18.0mm01
−
0
.
mm
リール駆動孔の深さl108は，直径d3の部分までとし，次による。
l108≧9.4mm
リールのスプリング力Fは，磁気テープ装置にカートリッジを装着し，支持領域が基準面Zからl110の
位置にあるとき，図18に示す方向に0.6N±0.2Nとする。接触領域の寸法は，次による。
l109＝7.05mm±0.10mm
l110＝0.6mm±0.2mm
l111≦7.5mm
l112≦8.0mm
A13＝60°±1°
6.17 光通過経路（図5，図7，図15及び図16参照） 光通過経路は，リーダテープ及びトレーラテープ
を検出するために設ける。リッドが開いたとき，光通過経路は，直径d7の通過孔から一辺がl116の正方形
の孔，及びリッドの光窓を遮られることなく通過しなければならない。
光通過経路の位置及び寸法は，次による。
l88＝34.5mm±0.1mm
l113＝8.35mm±0.10mm
l114≦0.5mm
l115＝6.05mm±0.10mm
l116＝2.5mm±0.4mm
l117≧12.5mm
l118＝3.8mm±0.1mm
l119＝2.5mm±0.4mm
l120＝6.05mm±0.10mm
A14＝45°±1°
A15＝5.50°±0.25°
+
d7＝6.5mm
00
.
3
mm
6.18 ケース内のテープの位置（図16参照） テープは，基準面Xに平行な二つのガイドの間を通る。こ
の二つのガイドの間隔は，次による。
l121＝12.46mm±0.10mm
ガイド面は，r6の半径をもち，図16に示すカートリッジの外側の点からリールハブに引いた接線としな
ければならない。ガイドの位置及び寸法は，次による。
l122＝76.28mm±0.30mm
l123＝27.15mm±0.20mm
l124＝31.15mm±0.20mm
l125＝9.67mm±0.10mm
r6≧1.5mm
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11
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6.19 テープ走行領域（図16及び図17参照） 磁気テープ装置にカートリッジを挿入すると，テープは，
カートリッジの外側に引き出される。このときテープは，ガイド面に接触してはならない。テープ走行領
域は，テープが自由に走行できることとし，その位置及び寸法は，次による。
l122＝76.28mm±0.30mm
l123＝27.15mm±0.20mm
l124＝31.15mm±0.20mm
l125＝9.67mm±0.10mm
l126＝23.0mm±0.1mm
l127≧0.3mm
l128＝46.2mm±0.2mm
l129＝11.4mm±0.1mm
l130≧0.3mm
d8＝16.05mm010
−
0
.
mm
6.20 テープ引出し開口部（図5参照） 磁気テープ装置にカートリッジを装着すると，磁気テープ装置
のテープガイドは，カートリッジからテープを引き出す。このテープガイドのためのテープ引出し開口部
の形状及び寸法は，次による。
r7＝2.3mm±0.1mm
r8＝24.15mm±0.10mm
l67＝1.0mm±0.1mm
l68＝69.0mm±0.2mm
l131＝3.81mm±0.10mm
なお，二つの半径r7の中心は，基準孔A及びBの中心とし，二つの半径r8の中心は，リール受け孔の
中心とする。
6.21 テープ引出し開口部の要求事項（図19参照） テープ引出し開口部の機構は，次の要求事項を満た
さなければならない。
l132≦1.2mm
+
l133＝1.15mm
00
.
20
mm
l134＝14.0mm02
−
0
.
mm
l135≧66.8mm
l136≧10.0mm
A16≦49°
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
12
X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
図1 カートリッジの上側外観（リッドを開いた状態）
図2 カートリッジの下側外観（リッドを閉じた状態）
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13
X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
図3 上面図（リッドを閉じた状態）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
14
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図4 底面，基準面及び支持領域
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図5 底面図（リッドを開いた状態）
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図6 基準孔及び識別孔の拡大図
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図7 光通過径路孔，識別孔及び書込み禁止孔の断面図
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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図8 リッド（リッドが閉じたとき，回転しているとき及び開いたとき）
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図9 リッドロック解除用挿入溝の詳細図
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図10 リッドロック解除の要求条件
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図11 リールロック解除機構
図12 リールロック解除に要する力の方向
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図13 リッドロック解除に要する力の方向
図14 リッド開放に要する力の方向
図15 光通過経路及び光窓
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図16 テープ走行領域及び光通過経路
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図17 リール
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図18 リール及び駆動スピンドルの接触領域
図19 テープ引出し開口部
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7. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法
7.1
材料 テープの記録面は，ベース（延伸したポリエチレンテレフタレートフィルム又はこれと同等
品）上の片面に強固で柔軟性がある磁性材料を塗布しなければならない。テープの裏面は，磁性材又は非
磁性材を塗布してもよい。
リーダテープ及びトレーラテープは，テープのベースと同じか又は同等の材質とし，表面及び裏面に塗
布があってはならない。
7.2
長さ
7.2.1
磁気テープの長さ テープのPBOTからPEOTまでの長さは，14.72m〜113mとする。
7.2.2
リーダテープ及びトレーラテープの長さ リーダテープ及びトレーラテープの長さは，70mm〜
90mmとする。
7.2.3
7.3
接合テープの長さ 接合テープの長さは，13mm以下とする。
幅 磁気テープの幅は，8.00mm±0.01mmとし，最大値と最小値との差は，6μm以下とする。
リーダテープ，トレーラテープ及び接合テープの幅は，8.00mm±0.02mmとする。
磁気テープの幅の測定方法は，次による。
顕微鏡用のスライドグラスを試験片にかぶせる。少なくとも2.5μmの精度の顕微鏡，投影器又はこれと
同等の装置を使用し，張力をかけずに幅を測定する。長さ1m以上のテープについて異なる位置5か所以
上の測定を繰り返す。測定した値の平均をテープの幅とする。
7.4
連続性 テープは，PBOTからPEOTまでに継目があってはならない。
7.5
厚さ
7.5.1
磁気テープの厚さ この規格では，厚さが異なる2形式のテープを規定し，それら磁気テープの厚
さは，全幅にわたり12.0μm〜14.0μm又は9.2μm〜11.2μmとする。
7.5.2
リーダテープ及びトレーラテープの厚さ リーダテープ及びトレーラテープの厚さは，13μm〜
17μmとする。
7.6
長手方向の湾曲 長手方向の湾曲は，曲率半径33m以上とする。
試験方法は，次による。
長さ1mのテープを平面上に自然の状態で置く。1mの弦からの偏差を測定する。偏差は，3.8mm以下と
する。この偏差は，33mの曲率半径と一致する。
7.7
カッピング カッピングは，平面から磁気テープの幅方向での浮き上がり量とし，0.9mm以下とす
る。
試験方法は，次による。
テープを長さ1.0m±0.1mに切り取る。塗布面を露出するように垂らして，試験環境条件に3時間以上
放置する。このテープの中央部分から，長さ25mmの試験片を切り取る。この試験片を，テープの一方の
切断部を下側にして高さ25mm以上，内径8mmの円筒内に立てる。この円筒を光学的コンパレータに立
てて載せ，試験片の基準縁と反対側の縁とをコンパレータの十字線にそろえて，十字線から試験片の中心
までの距離を測定する。
7.8
塗布面の接着強度（図20参照） 塗布面をテープのベース材料からはがす力は，0.10N以上とする。
試験方法は，次による。
長さ380mmのテープの試験片を取り，一方の端から125mmの位置でテープの幅方向にけがき線をベー
ス面に達するまで引く。塗布面を下向きにして，両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属
の板に張り付ける。けがき線に平行に，試験片を180°折り曲げ，金属の板と試験片の自由端とを引張試
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験機に取り付けて，254mm/minで引っ張る。塗布面のいかなる部分でも，最初にベースからはがれたとき
の力を記録する。この力が0.10Nに達する前に両面接着テープが試験片からはがれる場合，別の種類の両
面接着テープを使用しなければならない。テープの裏面が塗布されている場合，裏面についてもこの試験
を行う。
図20 塗布面の接着強度の試験方法
7.9
層間の粘着 テープの試験片は，粘着又は塗布面のはがれの徴候があってはならない。
試験方法は，次による。
直径36mmのガラス管の表面に，長さ1mの試験片の端を付ける。1.1Nの張力でガラス管にテープを巻
く。巻かれた試験片を温度45℃±3℃，相対湿度80%の環境の中に4時間放置する。さらに，試験環境条
件に24時間放置する。試験片の自由端に0.1Nの力をかけ，ゆっくりとほどく。
7.10 引張強度 引張強度は，ISO/R527の測定方法によって試験したとき，次による。
試験片の長さは，200mmとし，引張り速度は，100mm/minとする。 (ISO/R527, rateD)
7.10.1 破断強度 破断強度は，試験片が破断するまで負荷をかけたときとし，その値は，17.6N以上とす
る。
7.10.2 降伏強度 降伏強度は，テープが5%伸びるのに要する力とし，その値は，4.9Nを超えなければな
らない。
7.11 残留伸び 残留伸びは，元のテープ長の0.03%未満とする。
試験方法は，次による。
0.20N以下の張力で約1mの長さの試験片の初期の長さを測定する。さらに，全断面積に対し，20.5N/mm2
の力を10分間加える。加えた力を除き，10分経過後にテープの長さを測定する。
7.12 表面の電気抵抗 表面の電気抵抗は，次による。
裏面が塗布されていないテープの記録面
105Ω〜5×108Ω
裏面が塗布されているテープの記録面
105Ω〜5×1012Ω
裏面が塗布されているテープの裏面
9×108Ω未満
試験方法は，次による（図21参照）。
テープの試験片を試験環境条件に24時間放置する。24カラットの金めっきをした半径r＝10mmで，粗
さをN4（ISO 1302参照）で仕上げてある二つの半円の電極に，記録面が接するように置く。これらの電
極は，水平で，かつ，中心間の距離d＝8mmとなるように平行に置く。試験片の両端に5N/mm2の力を加
える。電極に100V±10Vの直流電圧を加えて，電流を測定する。この値から表面の電気抵抗を算出する。
この測定を一つのテープ試験片の5か所について行い，これらの表面の電気抵抗の平均を求める。テープ
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
の裏面が塗布されている場合，裏面についてもこの試験を行う。試験片を電極に置くとき，電極の間にテ
ープの試験片以外の導電性の物質があってはならない。
参考 表面は，清浄にするのがよい。
図21 表面の電気抵抗の試験方法
7.13 テープの巻き方 テープの巻き方は，テープの磁性面を外側とする（図1参照）。
7.14 光透過率 磁気テープの光透過率は，5%以下とする。
リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は，60%以上とする。
光透過率の測定方法は，附属書Aによる。
8. 磁気記録特性 磁気記録特性の試験は，次に示す試験項目による。
この試験を行うとき，出力信号又は残留信号の測定は，副標準テープ及び供試テープ共に同じ装置上の
同じ走行系（記録同時読取りをするか，記録同時読取り機能がない装置の場合，記録後の1回目の再生時
に読み取る）を使用する。
8.1
試験条件 磁気記録特性の試験条件は，規定がない限り，次による。
テープの状態
残留する信号の振幅が記録密度2 236 ftpmmでの平均信号振幅の2%
以下になるように交流消去する。
ヘッドとテープの相対速度
3.759m/s±0.2%
トラック幅
25μm±1μm
アジマス
−10.000°±0.133°
ギャップ長
0.30μm±0.05μm
テープの張力
0.117 0N±0.009 8N
記録電流
試験記録電流
8.2
ティピカル磁界 ティピカル磁界は，副基準磁界の80%〜120%とする。
8.3
平均信号振幅 平均信号振幅は，記録密度2 236ftpmmを記録したとき，副標準信号振幅の70%〜
130%とする。ただし，ミッシングパルスを除く。
8.4
分解能 分解能は，記録密度2 236ftpmmの平均信号振幅を記録密度745.33ftpmmの平均信号振幅で
除した値とし，副標準テープを用いて測定したときの値の80%〜120%とする。
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8.5
狭帯域の信号対雑音比 (NB-SNR) 狭帯域の信号対雑音比は，実効電力の平均信号振幅を雑音の実
効電力の積分（側帯波）で除した値とし，デシベル (dB) で表す。
8.5.1
要求事項 NB-SNRは，トラック幅を25μmとしたとき，34dB以上とする。
次の式によって算出する。
dB
( 25
)
=
dB
(
W
)
+
10 log
25
W
ここに， W： 測定に用いた磁気ヘッドのトラック幅 (μm)
8.5.2
試験方法 試験方法は，分解能3kHz及びビデオ帯域幅30Hzのスペクトラムアナライザを使用し，
次による。
記録密度2 236ftpmmの再生信号振幅をテープの長さ6m以上にわたり，150か所以上のサンプルについ
て測定する。次の走行（再生時）でテープ上の同じ箇所の雑音の実効電力を測定し，その雑音の実効電力
を3.59MHzから3.96MHzまで，実際の分解能帯域幅で規準化して積分する。
8.6
消去特性 消去特性は，記録密度2 236ftpmmの試験記録電流と等しい記録電流で，記録密度
745.33ftpmmの信号を記録した後，テープの長手方向に320 000A/mの均一な磁界中を通過したときの残留
した信号振幅で表し，その値は，副標準信号振幅の2%以下とする。
消去磁界は，ソレノイドの中央部の磁界のように，均一でなければならない。この測定は，バンドパス
フィルタを通し，少なくとも第3高調波まで行う。
8.7
テープの品質
8.7.1 ミッシングパルス ミッシングパルスは，再生信号振幅の欠損とし，再生信号振幅のピーク値 (0-P)
を記録密度2236ftpmmの平均信号振幅 (P−P) の21の25%以下とする。
8.7.2 ミッシングパルスゾーン ミッンングパルスゾーンは，7個の連続したミッシングパルスで始まり，
28個の連続した磁束反転を検出したとき，又はトラックの0.038mmの長さを検出したとき終了する。そ
れ以後のミッシングパルスは，次のミッシングパルスゾーンとする。
一つのミッシングパルスゾーンは，次のトラックにまたがってはならない。
平均ミッシングパルスゾーンの発生頻度は，検出したミッシングパルスゾーンの数をテープに記録した
磁束反転数の合計で除した値とし，その値は，2 236ftpmmの密度で記録したとき，2×10−7未満でなけれ
ばならない。
8.8
不良テープ 不良テープの規格値は，この規格では規定しない。
なお，不良テープの特性は，附属書Eに示す。
9. フォーマット
9.1
概要 記録するデータは，ホストコンピュータからテープサブシステムへ送られる。テープサブシ
ステムは，テープ上に記録する前に付加情報をこのデータに加える。付加情報は，可変長の論理レコード
の形式をもったホストデータと固定長の物理ブロックとの関係の定義を含む。さらに，ホストデータを記
録するとき，テープサブシステムは，圧縮データか，又は非圧縮データかを識別する。
参考 このフォーマットを用いる既存の装置は，1Kバイト〜240Kバイトの論理レコード長を使用し
ている。この規格は，誤り検出符号及び誤り訂正符号の使用を含み，ホストコンピュータから
受信したデータの処理，並びにテープ上への記録方法及びテープの記録形式について規定する。
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
9.2
情報マトリクス ホストコンピュータからの受信データは，情報マトリクスと呼ぶ二次元のグルー
プに配置する。
情報マトリクスは，60列×24行に配置した1 440セルで構成する。各セルは，1データバイトで構成し，
行番号及び列番号によって識別する。
情報マトリクスは，次による。
ID情報
14バイト（15.参照）
データバイト
1 024バイト（9.2.1.1.2参照）
CRCバイト
2バイト（9.2.1.2参照）
水平ECバイト
160バイト（9.2.1.3.1参照）
垂直ECバイト
240バイト（9.2.1.3.2参照）
合計
1 440バイト
図22 情報マトリクス
9.2.1
情報マトリクスのロード 各セルは，00列／00行から59列／23行の書式で，列及び行によって
識別する。CRCバイト及びECバイトの計算データの付加は，EXCLUSIVE-OR演算による。
9.2.1.1
9.2.1.1.1
G1グループ G1グループは，ID情報の14バイト，及びその他の1 024バイトで構成する。
ID情報 ID情報は，00列／00行から00列／13行のセルに格納する。これらの各バイトの内
容は，15.で規定する。
9.2.1.1.2
データバイト ホストコンピュータからのデータバイトは，00列／14行〜00列／19行に，次
に02列／00行〜02列／19行に，更に50列／19行までの偶数列に順次格納する。その後，01列／00行〜
01列／19行に格納し，以下51列/17行までの奇数列に順次格納する。これらは，次の五つの規則による。
規則1：ホストコンピュータからのユーザデータバイトが，情報マトリクスで2個を超える論理レコー
ドを構成するとき，情報マトリクスの3番目以降の論理レコードの最初のユーザデータバイトに先立ち，2
バイトグループを順次2個のセルに格納する。
バイト0：
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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ビット7〜5
：
“0”とする。
ビット4
：
論理レコードのユーザデータがテープサブシステムで圧縮処理さ
れていれば“1”，圧縮処理されていなければ“0”とする。
ビット3
：
論理レコードが情報マトリクスで最終の論理レコードであれば
“1”，最終の論理レコードでなければ“0”とする。
ビット2
：
論理レコードがこの情報マトリクスで終了すれば“1”，この情報
マトリクスで終了しなければ“0”とする。
ビット1，0及びバイト1
：
情報マトリクスに含まれている論理レコードのバイト数を2進数
で表示する。バイト1のビット0は，最下位ビットとする。フォ
ーマットブロックのバイト4のビット7が“1”であれば，この数
は，情報マトリクスの中にあるCRCバイトも含まなければならな
い。
規則2：フォーマットブロックのバイト4のビット7が“1”に設定され，この論理レコードが情報マト
リクスの中で終了しているとき，この論理レコードのユーザデータについて2個のCRCバイトを算出し，
順次この論理レコードの最終バイトのセルに格納しなければならない。15.3の規定によって，テープ上の
最初の論理レコードは，論理レコード0とする。論理レコードの最初のバイトは，バイト0とする。2個
のCRCバイトは，次によって算出する。
j
=
7
D
k
(
x
)
=
∑
D x
k
, j
j
j
=
0
k
=
n 1
D
(
x
)
=
∑−
D (
x
)
x
k
8
(
n
+
1
−
k
)
j
=
0
GCRC (
x
)
=
x
16
+
x
12
+
x
5
+
1
C
(
x
)
=
D
(
x
) mod G
CRC
(
x
)
j
=
7
C
(
x
)
=
x
14
+
x
12
+
x
10
+
x
8
+
x
7
+
x
5
+
x
3
+
x
=
∑
(
CH x
j
j
++
8
CL
j
x
j
)
j
=
0
ここに，
Dk： 論理レコードのk番目のバイト
Dk, j： k番目のバイトのj番目のビット
n： 論理レコードの中のユーザデータバイト数
CH0, CH1,…, CH7： CH7を最上位ビットとする第1CRCバイト (CH)
CL0, CL1,…, CL7： CL7を最上位ビットとする第2CRCバイト (CL)
規則3：テープサブシステムは，ユーザデータを圧縮処理するとき，規定の圧縮アルゴリズム（15.4.3
参照）を使用しなければならない。
また，圧縮処理したユーザデータは，偶数バイトになるように“0”を詰め，情報マトリクスに格納する。
規則4：データバイトの数が1 024未満のとき，残りのバイトは，すべて“0”とする。G1グループは，
データバイトを含まない場合もある（12.3参照）。
規則5：データバイトがデータブロックの終わりであれば（12.3及び14.参照），バイト14のビット1〜7
は“0”とし，バイト14のビット0及びバイト15〜17は，このテープ上の最初のEODブロックの物理ブ
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ロックID番号より1少ない物理ブロックID番号を25ビットで表す。
9.2.1.2
G2グループ G2グループは，G1グループにCRC1及びCRC2の2バイトを付加する。このCRC
の2バイトは，G1グループの1 038バイトについて算出し，51列／18行及び51列／19行のセルに格納す
る。
このCRCバイトの生成は，次による。
j
=
7
D
k
(
x
)
=
∑
D
k
,
jxj
j
=
0
k
=
1
037
D
(
x
)
=
∑
D (
x
)
x
k
8
(
1
039
−
k
)
j
=
0
GCRC (
x
)
=
x
16
+
x
12
+
x
5
+
1
C
(
x
)
=
D
(
x
) mod G
CRC
(
x
)
k
=
7
C
(
x
)
=
x
14
+
x
12
+
x
10
+
x
8
+
x
7
+
x
5
+
x
3
+
x
=
∑
(
CH x
k
k
++
8
CL
k
x
k
)
k
=
0
ここに，
9.2.1.3
Dk： c列とr行のバイト
k＝ 0〜1 037
k＝ (10c＋r) ：cが偶数のとき
k＝ (10c＋r＋510)：cが奇数のとき
c＝ 0〜51
r＝ 0〜19
Dk, 0, Dk, 1, …, Dk, 7： Dk, 7を最上位ビットとするDkの8ビット
CH0, CH1, …, CH7： CH7を最上位ビットとする第1CRCバイト
(CRC1)
CL0, CL1, …, CL7： CL7を最上位ビットとする第2CRCバイト
(CRC2)
誤り訂正符号 (ECC) ECCは，リードソロモン符号 (30, 26, 5) を水平符号，リードソロモン符
号 (24, 20, 5) を垂直符号とし，水平ECバイトと垂直ECバイトの2種類の検査バイトを生成する。
ECCの変換演算子は，次による。
−
B
=
T [
A
]; A
=
T
1B
[ ]
ここに，
T [A]： 8ビットECバイトの線形変換演算子
T−1 [B]： 8ビットECバイトの逆線形変換演算子
バイトAとバイトBの相互変換は，次による。
B0＝A0＋A2＋A3＋A5＋A7
B1＝A3＋A4＋A6＋A7
B2＝A0＋A6＋A7
B3＝A0＋A1＋A6
B4＝A1
B5＝A0
B6＝A1＋A2＋A3＋A7
B7＝A0＋A1＋A2＋A6
A0＝B5
A1＝B4
A2＝B3＋B7
A3＝B2＋B6＋B7
A4＝B1＋B5＋B6＋B7
A5＝B0＋B4＋B5＋B6
A6＝B3＋B4＋B5
A7＝B2＋B3＋B4
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
ここに，
A0, A1, …, A7： A7を最上位ビットとするバイトAの8ビット
B0, B1, …, B7： B7を最上位ビットとするバイトBの8ビット
ガロア体GF (28) の生成多項式は，次の式による。
Gα
(
x
)
=
x
8
+
x
4
+
x
3
+
x
2
+
x
1
+
1
Bは，ガロア体GF (28) の任意の元とし，次の式によって算出する。
k
=
7
B
=
∑
B
α
k
k
k
=
0
ここに，
B0, B1, …, B7： B7を最上位ビットとするバイトBの8ビット
G (x) は，次の式によって定義する。
i
=
2
G
(
x
)
=
∏
(
x
+
α
)
i
i
=
−
1
9.2.1.3.1
G3グループ G3グループは，G2グループに水平ECバイトを付加する。
Dc，rは，cを0〜51の列番号，rを0〜19の行番号とし，G2グループのバイトを表す。
DHEr (x) は，r行の偶数列のバイトを変換した値を係数とする多項式，T [CREk, r] は，r行の偶数列の水
平ECバイトの変換，CREk, rは，r行の偶数列の水平ECバイトを表し，それぞれ次の式によって算出する。
k
=
25
DHE
r
(
x
)
=
∑
T
[
D
29
−
k
2(
k
,
r
)
]
x
k
=
0
k
=
4
DHE
r
(
x
) mod G
(
x
)
=
∑
T
[
CRE x
,]
4
−
k
k
r
k
=
1
−
DHE
k
,
r
=
T
1
[
T
[
CRE
k
,
r
]]
ここに， r＝0, 1, …, 19
k＝1, 2, 3, 4
CREk, rは，c＝50＋2kとするc列及び各r行のセルに格納する。
DHOr (x) は，r行の奇数列のバイトが変換した値を係数とする多項式，T [CROk, r] は，r行の奇数列の水
平ECバイトの変換，CROk, rは，r行の奇数列の水平ECバイトを表し，それぞれ次の式によって算出する。
k
=
25
DHO
r
(
x
)
=
∑
T
[
D
29
−
k
2(
k
+
1
),
r
]
x
k
=
0
k
=
4
DHO
r
(
x
) mod G
(
x
)
=
∑
T
[
CRO x
k
=
1
−
CRO
k
,
r
=
T
1
[
T
[
CRO
k
,
r
]]
,]
4
−
k
k
r
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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ここに， r＝0, 1, …, 19
k＝1, 2, 3, 4
CROk, rは，c＝51＋2kとするc列及び各r行のセルに格納する。
9.2.1.3.2
G4グループ G4グループは，G3グループに垂直ECバイトを付加する。
Dc, rは，cを0〜59の列番号，rを0〜19の行数番号として，0行〜19行のすべての列で構成するG3グ
ループの各バイトを表す。
DVc (x) は，c列のバイトを変換した値を係数とする多項式，T [CCc, k] は，c列の中の垂直ECバイトの
変換，CCc, kは，c列の中の垂直ECバイトを表し，それぞれは次の式によって算出する。
k
=
19
DV
c
=
∑
T
[
D x
,]
23
−
k
c
k
k
=
0
k
=
4
DV
c
(
x
) mod G
(
x
)
=
∑
T
[
CC x
,]
4
−
k
c
k
k
=
1
−
CC
c
,
k
=
T
1
[
T
[
CC
c
,
k
]]
ここに， c＝0, 1, …, 59
k＝1, 2, 3, 4
CCc, kは，r＝19＋kとするc列及びr行のセルに格納する。
10. 記録方式 データの記録方式は，データが“1”のときは，ビットセルの中央で磁化を反転し，データ
が“0”のときは，磁化を反転しないNRZ1方式とする。
10.1 記録密度 最大記録密度は，2 236ftpmmですべて“1”を記録したときとし，この公称ビットセル長
は，0.447μmとする。
10.1.1 長周期平均ビットセル長 各トラックの長周期平均ビットセル長は，連続する140 083個以上のビ
ットセルにわたる平均とし，その値は，0.447μm±0.2%とする。
10.1.2 短周期平均ビットセル長 短周期平均ビットセル長は，任意の16個以上のビットセルの平均とし，
その値は，直前のトラックの長周期平均ビットセル長の0.35%を超えて変化してはならない。
10.1.3 短周期平均ビットセル長の変動率 短周期平均ビットセル長の変動率は，任意の二つの連続する
16ビットセル (STAn, STAn＋1) の長さの変動と一つの連続する16ビットセル (STAn) の長さの比とし，そ
の値は，次の式で算出し，0.05%以下とする。
STA
n
−
STA
n
+
1×
100 (%)
変動率
=
STA
n
10.2 ビットシフト 任意のビット“1” のゼロ交差の最大位置誤差は，ミッシングパルスを除いて，短
周期平均ビットセル長による公称位置から25%を超えて偏移してはならない。測定方法は，附属書Bによ
る。
10.3 情報交換時の再生信号振幅
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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10.3.1 データ信号の平均信号振幅 記録密度2 236ftpmmで，ミッシングパルスを除く1 800磁束反転以
上にわたるデータ信号の平均信号振幅は，副標準信号振幅の70%〜130%とする。
10.3.2 サーボ信号の平均信号振幅 任意のサーボゾーン（12.6参照）の平均信号振幅は，試験記録電流で
副標準テープに記録した745.33ftpmmの信号振幅の70%〜130%とする。
10.4 消去 すべての消去領域は，テープの走行方向にテープの全幅を交流消去する。消去の後に残留す
る再生信号振幅は，同じテープ上に2 236ftpmmで記録したときの平均信号振幅の2%以下とする。
11. トラック
11.1 トラックの位置 記録したトラックのトラック長Eは，62.651mm±0.144mmとする。テープ基準縁
から各トラックの記録開始までをガードバンドとし，その幅Fは，1.785mm±0.018mmとする。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
36
X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
図23 トラック構成及び位置（記録面側を示す）
11.2 トラック間隔
11.2.1 隣接トラック間隔 隣接トラック間隔は，テープ上で最後に記録したトラックを除き，任意の隣接
するトラックの中心線をトラックの方向に垂直に測定したときの距離とし，その値Aは，14.0μm〜17.0μm
とする。
11.2.2 平均トラック間隔 テープ上に最後に記録したトラックを除き，任意の連続した60トラックグル
ープの平均トラック間隔は，そのグループ内の任意の隣接するトラックの中心線をトラックの方向に垂直
に測定したときの距離の平均とし，その値は，15.4μm〜15.6μmとする。
参考 テープ基準縁に平行に測定したときの縦方向のトラック間隔Bは，公称0.181mmである。
11.3 トラック幅 記録したトラック幅Cは，テープ上に最後に記録したトラックを除き，15.5μm±2.0μm
とする。
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11.4 トラック角 トラック角θは，任意の各トラックの中心線とテープ基準縁との角度とし，その値は，
4.899 1°±0.001 5°とする。
11.5 トラックエッジの直線性 記録したトラックエッジは，5μm間隔の2本の平行線の間になければな
らない。
11.6 アジマス角 記録したビットのアジマス角は，T1トラックを＋20.014 1°±0.134 5°とし，T2トラ
ックを−9.987 9°±0.1345°とする。
12. トラックのフォーマット
12.1 チャネルビット 1個のチャネルビットは，1個のビットセルで構成する。
ビット同期フィールド，プリアンブル及びポストアンブルは，チャネルビットで規定する。
各情報セグメント番号は，10チャネルビットのパターンで表す（12.2.2参照）。
情報セグメントフィールドの各8ビットバイトは，附属書Cの規定によって10チャネルビットのパタ
ーンに変換する。
12.2 情報セグメント 情報セグメントの構成は，図24による。
図24 情報セグメント
12.2.1 ビット同期フィールド ビット同期フィールドは，第1ビット及び第20ビットを“0”，第2〜第
19ビットを“1”とする20ビットパターンからなる。
12.2.2 情報セグメント番号 00〜47の情報セグメント番号は，表1に示す10ビットの記録パターンで表
し，情報セグメント番号の最高位のビット（ビット10）から順次記録する。
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表1 情報セグメント番号
情報セグメント番号
ビット位置
記録パターン
情報セグメント番号
ビット位置
記録パターン
12.2.3 情報セグメントフィールド 情報セグメントフィールドは，情報マトリクスから順次読み取った
30データバイトを表す300チャネルビットからなる。
情報マトリクスの各行 (R) は，二つの情報セグメントフィールド00〜29列と30〜59列とに分割する。
これらの情報セグメントフィールドは，図25に示すように番号付けすることとし，この番号順に読み取
らなければならない。
図25 情報マトリクスセグメントフィールドの分割
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12.3 情報ブロック 情報ブロックは，00〜47に番号付けした48情報セグメントで構成し，情報セグメン
ト00を最初に記録する。
情報ブロックは，データブロック，ギャップブロック，フォーマットブロック，ロングテープマークブ
ロック，ショートテープマークブロック及びエンドオブデータブロック (EOD) の6形式とし，ID情報で
識別する（15.4参照）。
ID情報を除いて，ギャップブロック，フォーマットブロック，ロングテープマークブロック及びショー
トテープマークブロックのG1グループのバイトは，規定しないこととし，情報交換時無視する。
12.4 物理トラックの形式 物理トラックは，T1トラック及びT2トラックの二つの形式とする（11.6参
照）。各トラックは，140 083チャネルビット±100チャネルビット (“1”) の長さとする。
12.4.1 T1トラック，T2トラックの構成（図26参照） T1トラックは，1プリアンブル，サーチフィー
ルドゾーンによって区切られた8情報ブロック及び1ポストアンブルで構成する。
T2トラックは，1プリアンブル，サーチフィールドゾーンとサーボゾーンによって区切られた8情報ブ
ロック及び1ポストアンブルで構成する。
T1トラックのプリアンブルは，1 093チャネルビット (“1”) ±50チャネルビット (“1”) で構成する。T2
トラックのプリアンブルは，1 503チャネルビット (“1”) ±50チャネルビット (“1”) で構成する。
T1トラックのポストアンブルは，2 120チャネルビット (“1”) ±50チャネルビット (“1”) で構成する。
T2トラックのポストアンブルは，931チャネルビット (“1”) ±50チャネルビット (“1”) で構成する。
図26 T1及びT2トラックの構成
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40
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12.5 サーチフィールドゾーン サーチフィールドゾーンは，すべてのトラックに含まれ，チャネルビッ
ト及びサーチフィールドデータゾーンとの組合せで構成する。
12.5.1 サーチフィールドデータゾーン（図27参照） サーチフィールドデータゾーンは，
“011111111111111111101101111011” の30チャネルビットパターン及びこれに続く23情報バイトと2検
査バイトで構成する。記録したトラックすべてのサーチフィールドデータゾーンは，同一のデータで構成
する。サーチフィールドデータゾーンの各8ビット情報バイト及び各検査バイトは，附属書Cによる10
チャネルビットパターンで記録する。記録するサーチフィールドデータゾーンは，280チャネルビットと
する。
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41
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図27 サーチフィールドデータゾーン
バイト0〜2
これらのバイトは，LBOTからその以前のトラックまでに記録したロングテープマーク及びショートテ
ープマークの数で表す。最初のテープマーク以前のトラックのバイトは，計数を0とする。計数は，1個
以上のロングテープマークブロックを含むT1トラックごとに一つずつ増加する。
ショートテープマークブロックのID情報バイト0のビット5を “1” に設定しているとき，再書込みを
意味し，このショートテープマークブロックでは，計数を行わない。その他のショートテープマークブロ
ックについては，計数を行う。
バイト3〜6
これらのバイトは，このトラックの以前に記録した論理レコードID番号の最大値を表す。
バイト7〜10
これらのバイトは，直前に記録したトラックに含まれる物理ブロックID番号の最大値を表す。
バイト11
このバイトは，すべて “0” とする。
バイト12
ビット7は，EODトラックのときだけ “1” とし，その他のとき “0” とする。ビット6〜0は， “0” と
する。
バイト13〜16
これらのバイトは，フォーマットトラックのとき，すべて “0” とし，その他のトラックでは，現在のト
ラック以前に記録されたトラックのコピーであることが確認されていない論理ブロックID番号の最小値
をnとしたとき，n−1とする。ただし，nが0のとき，これらのバイトは “0” とする。
バイト17〜20
これらのバイトは，フォーマットトラックのとき，すべて “0” とし，その他のトラックのとき，LBOT
とこのトラックとの間に記録した論理ブロックID番号の最大値とする。
バイト21〜22
これらのバイトは，すべて “0” とする。
バイトCHとCL
これらのバイトは，サーチフィールドデータゾーンの23情報バイトについて算出した検査バイトとする。
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これらのバイトは，次式によって生成する。
k
=
22
D
(
x
)
=
∑
D
kx
23
−
k
k
=
0
CH
=
D
(
x
) mod (
x
+
α
1
)
k
=
22
C
L
=
C
H
+
∑
D
k
k
=
0
ここに，
k＝0〜22
α1は，ガロア体GF (28) の元で，次の式で生成する。
Ga
(
x
)
=
x
8
+
x
4
+
x
3
+
x
2
+
1
12.5.2 サーチフィールドゾーンシーケンスの記録
12.5.2.1 T1 T1トラックは，3サーチフィールドゾーンをもつ。
第1サーチフィールドゾーンは，3 760チャネルビットの長さとし，プリアンブルに続いて80チャネル
ビット (“1”) とサーチフィールドデータゾーンとを10回繰返し記録した後，160チャネルビット (“1”) を
記録する。
第2サーチフィールドゾーンは，3 870チャネルビットの長さとし，第4情報ブロックの後に55個のチ
ャネルビット (“1”) を記録し，これに続いて80チャネルビット (“1”) とサーチフィールドゾーンとを10
回繰返し記録し，更に215チャネルビット (“1”) を記録する。
第3サーチフィールドゾーンは，2 520チャネルビットの長さとし，第8情報ブロックの後に80チャネ
ルビット (“1”) とサーチフィールドゾーンとを7回繰返し記録する。
12.5.2.2 T2 T2トラックは，5サーチフィールドゾーンをもつ。
第1サーチフィールドゾーンは，800チャネルビットの長さとし，第1情報ブロックに先立ってサーチ
フィールドデータゾーン，80チャネルビット (“1”)，サーチフィールドデータゾーン及び160チャネルビ
ット (“1”) を記録する。
第2サーチフィールドゾーンは，360チャネルビットの長さとし，第4情報ブロックに続いて80チャネ
ルビット (“1”) 及びサーチフィールドデータゾーンを記録する。
第3サーチフィールドゾーンは，800チャネルビットの長さとし，第5情報ブロックに先立ってサーチ
フィールドデータゾーン，80チャネルビット (“1”)，サーチフィールドデータゾーン及び160チャネルビ
ット (“1”) を記録する。
第4サーチフィールドゾーンは，360チャネルビットの長さとし，第8情報ブロックに続いて80チャネ
ルビット (“1”) 及びサーチフィールドデータゾーンを記録する。
第5サーチフィールドゾーンは，640チャネルビットの長さとし，ポストアンブルの直前にサーチフィ
ールドデータゾーン，80チャネルビット (“1”) 及びサーチフィールドデータゾーンを記録する。
12.6 サーボゾーン サーボゾーンは，記録したトラックとヘッドとの相対位置を決めるために使用し，
T2トラックだけに記録する。T2トラック上のサーボゾーンは，3個とする。
12.6.1 第1サーボゾーン 第1サーボゾーンは，プリアンブルに続いて797チャネルビット (“1”)，
745.33ftpmmで記録した長さが356μm（797チャネルビットに相当）の信号及び957チャネルビット (“1”)
を記録する。
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12.6.2 第2サーボゾーン 第2サーボゾーンは，第2サーチフィールドゾーンに続いて，957チャネルビ
ット (“1”)，745.33ftpmmで記録した長さが356μm（797チャネルビットに相当）の信号及び957チャネル
ビット (“1”) の長さを記録する。
12.6.3 第3サーボゾーン 第3サーボゾーンは，第4サーチフィールドゾーンに続いて，957チャネルビ
ット (“1”)，745.33ftpmmで記録した長さが356μm（797チャネルビットに相当）の信号及び957チャネル
ビット (“1”) を記録する。
12.7 情報トラック 情報トラックは，次の5形式とする。
− フォーマットトラック
− データトラック
− ロングテープマークトラック
− ギャップトラック
− エンドオブデータトラック
12.7.1 フォーマットトラック フォーマットトラックは，フォーマットブロックで構成する（15.4.3参照）。
第1フォーマットトラックの第1フォーマットブロックは，物理ブロックID番号を0としなければな
らない。物理ブロックID番号は，15.1で規定するすべてのトラックのすべてのブロックの順序で割り付
ける。LBOT領域は，320番目のフォーマットトラックで終わる。320番目のフォーマットトラックのブロ
ック8は，物理ブロックID番号を2 559 [2 559＝(320×8)−1] とする。
12.7.2 データトラック データトラックは，データブロック，ギャップブロック及び／又はショートテー
プマークブロックで構成する（15.4.1，15.4.2，15.4.4参照）。
12.7.3 ロングテープマークトラック ロングテープマークトラックは，ロングテープマークブロックで構
成する（15.4.4参照）。
12.7.4 ギャップトラック ギャップトラックのすべてのブロックは，ギャップブロックで構成する（15.4.2
参照）。ギャップトラックの位置と数は，次の事項を除いて規定しない。
a) ギャップトラックは，LBOT領域にあってはならない。
b) ギャップトラックは，シングルロングテープマークのロングテープマークトラックの間にあってはな
らない。
c) ギャップトラックは，EODトラックの間に発生してはならない。
12.7.5 エンドオブデータトラック エンドオブデータトラックは，15.4.5の規定によるエンドオブデータ
ブロックで構成する。
13. テープマーク テープマークは，記録したユーザデータのグループの境界を定めるために使用し，二
つの形式とする。
13.1 ロングテープマーク ロングテープマークは，2ギャップトラック，2ロングテープマークトラック
及び2ギャップトラックで構成する。ロングテープマークは，T1トラックから始まらなければならない。
ID情報（15.4.4参照）は，物理ブロックID番号を除いて，ロングテープマークの2個のロングテープ
マークトラックのすべてのブロックについて同じとする。
13.2 ショートテープマーク ショートテープマークは，1物理ブロックで構成する。
参考 ショートテープマークは，再書込みしてもよい（16.参照）。ショートテープマークブロックは，
データブロックの再書込みに先行してもよく，また後続の複数のデータブロックは，ショート
テープマークの再書込みに先行してもよい。
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14. エンドオブデータ テープ上のエンドオブデータは，600エンドオブデータトラック及びそれに先行
し連続した2個のギャップトラックで表す。エンドオブデータは，T1トラックから始まらなければならな
い。
データを追加したとき，エンドオブデータトラックは，重ね書きしなければならない。
15. ID情報 トラックの8情報ブロックは，それぞれ14バイトのID情報をもつ。これらのバイトは，テ
ープサブシステムの管理のためテープサブシステムが供給し，使用する。情報マトリクスフィールドの00
列の00〜13行は，ユーザデータブロックの論理的分割及び物理的分割に関する情報，ブロック形式，スタ
ート／エンド物理ブロックフラグ並びにその他のサブシステム制御情報を含まなければならない。
15.1 物理ブロックID 物理ブロックIDは，0から始まり，テープ上に記録した各物理ブロックごとに一
つずつ加算する。バイト7のビット7及びバイト11〜13は，すべてのブロック形式のID情報の中に計数
を25ビットで表す。バイト13のビット0は，この25ビットの計数値の最下位ビットとする。LBOT領域
に続く最初の物理ブロックの物理ブロックID番号は，2 560とする。
15.2 論理ブロックID 論理ブロックIDは，0から始まり，LBOTから記録する各データブロック，ロン
グテープマーク，ショートテープマークブロック又はエンドオブデータブロックごとに一つずつ加算する。
バイト0のビット4及びバイト1〜3は，データブロック，ロングテープマークブロック，ショートテープ
マークブロック又はエンドオブデータブロックのID情報の中に25ビットの計数値で表す。バイト3のビ
ット0は，この25ビット計数値の最下位ビットとする。
この計数値は，再書込みしたデータブロック又はショートテープマークブロックについて加算してはな
らない。
15.3 論理レコードID 論理レコードIDは，0から始まり，LBOTからそのテープに記録した各論理レコ
ード，ロングテープマーク又はショートテープマークブロックごとに一つずつ加算する。バイト7のビッ
ト0〜6及びバイト8〜10は，偶数番号の論理ブロックIDをもつデータブロック，ロングテープマークブ
ロック，ショートテープマークブロック又はエンドオブデータブロックのID情報の中に計数を31ビット
で表す。バイト10のビット0は，この31ビットの計数の最下位ビットとする。
15.4 ブロック形式 バイト0のビット3〜0の内容は，ブロック形式を示す。
ビット3210
0000
： ユーザデータが非圧縮であるデータブロックを表示。
0001
： 第1論理レコードを圧縮処理し，もし，第2レコードがあればそのレコードを圧縮
処理していないデータブロックを表示。
0010
： 第2論理レコードを圧縮処理し，第1論理レコードを圧縮処理していないデータブ
ロックを表示。
0011
： 第1及び第2両方の論理レコードを圧縮処理したデータブロックを表示。
0100
： 使用しない。
0101
： 使用しない。
0110
： 使用しない。
0111
： 使用しない。
1000
： 使用しない。
1001
： 使用しない。
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45
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1010
： ロングテープマークブロックを表示。
1011
： ショートテープマークブロックを表示。
1100
： フォーマットブロックを表示。
1101
： 使用しない。
1110
： ギャップブロックを表示。
1111
： エンドオブデータブロックを表示。
15.4.1 データブロック
バイト0
ビット7及び6
： “0” とする。
ビット5
： 以前の物理ブロックを再書込みしたとき，“1” とし，その他
のとき，“0” とする。
ビット4及びバイト3〜1
： 15.2で規定した論理ブロックID番号を示す。
ビット3〜0
： 15.4で規定したブロック形式を示す。
バイト4
ビット7
： 第2論理レコードが物理ブロックの中で最終論理レコードのと
き，“1” とし，その他の場合 “0” とする。
ビット6
： 第2論理レコードが物理ブロックの中で終了したとき，“1” とし，
その他の場合 “0” とする。
ビット5
： 論理レコードの最初のデータがその物理ブロックの00/14の位置
で始まるとき，“1” とし，その他の場合 “0” とする。
ビット4
： 物理ブロックの第1論理レコードがこの物理ブロックで終了した
とき，“1” とし，その他の場合 “0” とする。
ビット3，2及びバイト6
： 物理ブロックの中で，第2論理レコードのバイト数の計数値をこ
れらの10ビットで表す。バイト6のビット0は，この計数値の最
下位ビットとする。この計数値は，フォーマットブロックのバイ
ト4のビット7が “1” のとき，CRCバイトを示す。
ビット1，0及びバイト5
： 物理ブロックの中で，第1論理レコードのバイト数の計数値をこ
れらの10ビットで表す。バイト5のビット0は，この計数値の最
下位ビットとする。この計数値は，フォーマットブロックのバイ
ト4のビット7が “1” のとき，CRCバイトを示す。
バイト7
ビット7及びバイト11〜13 ： 15.1で規定した物理ブロックID番号を表す。
ビット6〜0
： データブロックの論理ブロックID番号が偶数のとき，15.3で規定
した内容とし，奇数のとき，オール “0” とする。
バイト8〜10
データブロックの論理ブロックID番号が偶数のとき，15.3で規定した内容とし，奇数のとき，その
テープ上の次のテープマークの0から始まる数を3バイトで表す。バイト10のビット0は，この計
数値の最下位ビットとする。
15.4.2 ギャップブロック
バイト0
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
46
X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
ビット7〜4
：
“0” とする。
ビット3〜0
：
15.4で規定したブロック形式を表す。
バイト1〜4
そのテープ上の次の論理レコードID番号で，0から始まる計数値を4バイトで表す。
バイト5，6
すべて “0” する。
バイト7
ビット7及びバイト11〜13
：
15.1で規定した物理ブロックID番号を表す。
ビット6〜0及びバイト8〜10
：
すべて “0” とする。
15.4.3 フォーマットブロック
バイト0
ビット7〜4
：
すべて “0” とする。
ビット3〜0
：
15.4で規定したブロック形式を表す。
バイト1〜3
すべて “0” とする。
バイト4
ビット7
：
2個のCRCバイトが算出され，テープ上の各論理レコードへの
付加が終了したとき，“1” とする。その他のとき，“0” とする
（9.2.1.1.2参照）。
ビット6
：
却下された情報ブロックの再書込みと同時に “1” とする。その
他のとき，“0” とする。
ビット5〜0及びバイト5
：
すべて “0” とする。
バイト6
このバイトは，論理レコードに対してテープサブシステムで使用する登録されたデータ圧縮アルゴ
リズム（ISO/IEC 11576参照）を表す。データ圧縮を使用しないとき，すべて “0” とする。
バイト7
ビット7及びバイト11〜13
：
15.1で規定した物理ブロックID番号を表す。
ビット6及びバイト8〜10
：
すべて “0” とする。
15.4.4 ロング／ショートテープマークブロック
バイト0
ビット7，6
：
“0” とする。
ビット5
：
ショートテープマークブロックを再書込みしたとき，“1” とし，
その他の場合は，“0” とする。
ビット4及びバイト1〜3
：
15.2で規定した論理ブロックID番号を表す。
ビット3〜0
：
15.4で規定したブロック形式を表す。
バイト4〜6
これらのバイトは，LBOTからテープマークの0から始まる計数値を表す。バイト6のビット0は，
この計数値の最下位ビットとする。
バイト7
ビット7及びバイト11〜13
：
15.1で規定した物理ブロックID番号を表す。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
ビット6〜0及びバイト8〜10
：
15.3で規定した論理レコードID番号を表す。
15.4.5 エンドオブデータブロック
バイト0
ビット7〜5
：
すべて “0” とする。
ビット4及びバイト1〜3
：
15.2で規定した論理ブロックID番号を表す。
ビット3〜0
：
15.4で規定したブロック形式を表す。
バイト4〜6
これらのバイトは，テープ上のLBOTからのテープマークの数を0から計数した値に1を加えた値
とする。バイト6のビット0は，この計数値の最下位ビットとする。
バイト7
ビット7及びバイト11〜13
：
15.1で規定した物理ブロックID番号を表す。
ビット6〜0及びバイト8〜10
：
15.3で規定した論理レコードID番号を表す。
16. 再書込み情報ブロック 再書込み情報ブロックは，1個のデータブロック及び1個のショートテープ
マークブロックだけを再書込み可能とする。データブロック又はショートテープマークブロックを再書込
みしたとき，再書込みしたブロックのID情報は，再書込みフラグ（バイト0, ビット5）及び再書込みし
た場所を示す物理ブロックID番号（15.1参照）を除いて，本来のものと同じとする。例えば，物理ブロ
ックnに対して再書込みを要求すると，物理ブロックn＋27で再書込みする。再書込みした情報ブロック
の物理ブロックのずれは，最初の位置から297物理ブロックを超えてはならない。記録済みのデータの信
頼性を保証するため，ミッシングパルスゾーンを含む情報セグメントは，1ブロック当たり2個未満とす
る。
17. テープの物理フォーマット テープの物理フォーマットは，図28による。
図28 テープの物理フォーマット（記録面側を示す）
17.1 初期消去領域 初期消去領域は，PBOTからLBOT領域の始まりまでとし，その長さMは，725.0mm
〜745.0mmとする。
17.2 LBOT領域 LBOT領域は，320フォーマットトラックからなる。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
17.3 テープの使用可能領域 テープの使用可能領域は，LBOT領域の終わりからPEOTの手前最少13mm
の位置までとする。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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附属書A（規定） 光透過率の測定方法
A.1 概要 この附属書は，テープの光透過率の測定装置及び測定方法についての概略を示す。
光透過率は，装置にテープ試験片を入れないときの読取り値と入れたときの読取り値との比を百分比で
表す。
A.2 装置及び構成 装置及び構成は，次による。
光源
光検出部
測定用マスク
光学系の配置
測定回路
A.2.1 光源 光源は，次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。
波長
：
850nm±50nm
半値幅
：
±50nm
A.2.2 光検出部 光検出部は，平らなシリコンフォトダイオードを用い，回路を閉じた状態で動作する。
A.2.3 測定用マスク 測定用マスクの厚さは，2mmとし，円形の孔の直径 (d) は，シリコンフォトダイオ
ードの受光領域の80%〜100%とする。マスクの表面は，黒のつや消し仕上げとする。
試験片は，マスクの孔を覆い，かつ，周りの光が漏れないように，マスクに固定する。
A.2.4 光学系の配置（附属書A図1参照） 光軸に対してマスクは垂直に設置する。光源からマスクまで
の距離 (l) は，次の式による。
l
=
d
mm
2 tan
α
角度αは，光軸上の最大強度の95%以上の光の強度がある角度とする。
A.2.5 追補 装置全体は，つや消しの黒いケースで覆う。
A.2.6 測定回路（附属書A図2参照） 測定回路は，次によって構成する。
E
：
出力電圧を変えられる直流安定化電源
R
：
電流を制限する抵抗器
LED
：
赤外線発光ダイオード
Di
：
シリコンフォトダイオード
A
：
演算増幅器
Rf 0, Rf1
：
帰還用の抵抗器
S
：
利得切換用スイッチ
V
：
電圧計
LEDに流す電流（照射力）は，供給電圧 (E) によって変化させる。
Diは，回路を閉じて動作させる。
演算増幅器の出力は，V0＝Ik×Rfで与えられる。ここで，Ikは，回路を閉じているときの電流値とする。
出力電圧は，光の強度の一次関数である。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
Rf 0及びRf1は，許容差1%の温度変化特性がよい抵抗器とする。
これらの抵抗値の比は，次の式による。
R
f 0=
1
R
f
1
20
A.3 測定方法 スイッチ (S) を位置 (0) に設定する。試験片を取り付けないで，電圧計 (V) がフルスケ
ール (100%) になるように供給電圧 (E) を変化させる。リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り
付ける。電圧計は，60%〜100%を示す。
スイッチ (S) を位置 (1) に設定し，テープの試験片をマスクに取り付ける。電圧計のフルスケールは，
光透過率5%を示す。
附属書A図1 光学系の配置
附属書A図2 測定回路
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
附属書B（規定） ビットシフトの測定方法
ビットシフトの試験で用いる書込み装置は，通常の情報交換用に用いる装置とする。
なお，テープは，システム動作と同様の起動停止方式で書き込む。
B.1 読取り装置 読取り装置は，次による。
トラックの直線性が5μmの範囲内に保持されている磁気テープ装置によってテープを読み取る。読取り
ヘッドの出力電圧の絶対値は，規定しない。
なお，ヘッドの性能，回転トランス，プリアンプ及びヘッドとテープとの相対速度は，信号対雑音比を
低くするために選択する。
ヘッド，回転トランス，プリアンプ及び関連する回路の周波数特性は，次による。
読取りヘッド
ギャップ長
：
0.30μm±0.05μm
共振周波数
：
“1” パターンの周波数の15倍以上
トラック幅
：
25μm±3μm
アジマス
：
−10.000°±0.133°又は＋20.000°±0.133°
回転トランス
バンド幅
：
fhigh (−3dB) は，“1” パターンの周波数の4倍以上
1以下
flow (−3dB) は，“1” パターンの周波数の400
プリアンプ
増幅率
：
入力雑音
：
バンド幅
：
100以上
2以下
n
V
Hz
fhigh (−3dB) は，“1” パターンの周波数の3倍以上
1以下
flow (−3dB) は，“1” パターンの周波数の400
読取りフィルタ
ローパスフィルタ
ハイパスフィルタ
：
“1” パターンの周波数の少なくとも2倍のカットオフ周波数をもつ3
：
次のバターワース特性とする。
“1” パターンの周波数の401の点でQを0.7とする2個の極以上をもつ
1に存在しなけ
（すべての他の交流対極は，“1” パターンの周波数の800
ればならない）。
イコライザ
：
G
(
s
)
=
ここに，
イコライザの伝達関数は，次の式による。
K
(
s
+
ω
z
)(
s
−
ω
z
)
s
ω
2
(
s
+
ω
p
) s
2
+
0
+
ω
0
Q
K≧ 1
W1＝ 2πfi
fz＝ “1” パターンの周波数の41
fp＝ “1” パターンの周波数の401
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
f0＝ “1” パターンの周波数の2倍
Q＝ 0.7
B.2 測定 測定は，次による。
平均ビットセルの長さ (L) は，試験ゼロ交差点 (TZC) の両側にある二つの基準ゼロ交差点 (RZC) の間
隔から得る。基準ゼロ交差点は，少なくとも両側にそれぞれ2個以上のビット “1” のゼロ交差点をもつよ
うなビット “1” のゼロ交差点とし，その変化率を2%未満に保つため，40ビットセル以下とする。
また，本体の10.2に規定したビットシフト値は，ユーザデータが本体の9.〜17.の規定によって記録した
場合に適用する。
B.3 データ分析 データ分析は，附属書B図1及び次による。
二つの基準ゼロ交差点の間にあるビットセルの数をnとしたとき，平均ビットセル長 (L) は，次の式に
よる。
L
=
P
3−
P
1
n
最初の基準ゼロ交差点と試験ゼロ交差点との間にmビットの間隔がある場合，ビットシフトは，次の式
による。
BS
=
mL
−
(
P
2
−
P
1
)
×
100
L
ここに， BS： ビットシフト (%)
L： 平均ビットセル長
Pn： n番目の “1” パターンのゼロ交差点
附属書B図1 波形の測定
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
附属書C（規定） 8ビットバイトから10ビットパターンへの変換
8ビットバイトは，左側を最上位ビットとし，右側を最下位ビットとする。
10ビットパターンは，左側を最初の記録ビットとし，右側を最後の記録ビットとする。
括弧で示した数は，16進数で表す。
(00)
(01)
(02)
(03)
(04)
(05)
(06)
(07)
(08)
(09)
(0A)
(0B)
(0C)
(0D)
(0E)
(0F)
(10)
(11)
(12)
(13)
(14)
(15)
(16)
(17)
(18)
(19)
(1A)
(1B)
(1C)
(1D)
(1E)
(1F)
(20)
(21)
(22)
(23)
(24)
(25)
(26)
(27)
(28)
(29)
(2A)
8ビットバイト
00000000
00000001
00000010
00000011
00000100
00000101
00000110
00000111
00001000
00001001
00001010
00001011
00001100
00001101
00001110
00001111
00010000
00010001
00010010
00010011
00010100
00010101
00010110
00010111
00011000
00011001
00011010
00011011
00011100
00011101
00011110
00011111
00100000
00100001
00100010
00100011
00100100
00100101
00100110
00100111
00101000
00101001
00101010
10ビットパターン
0100100101
0100100111
0100101010
0100101101
0100101111
0100111001
0100111011
0100111110
0101001001
0101001011
0101001110
0101010010
0101010101
0101010111
0101011010
0101011101
0101101001
0101101011
0101101110
0101110010
0101110101
0101110111
0101111010
0101111101
0110100101
0110100111
0110101010
0110101101
0110101111
0110111001
0110111011
0110111110
0111001001
0111001011
0111001110
0111010010
0111010101
0111010111
0111011010
0111011101
0111101001
0111101011
0111101110
(2B)
(2C)
(2D)
(2E)
(2F)
(30)
(31)
(32)
(33)
(34)
(35)
(36)
(37)
(38)
(39)
(3A)
(3B)
(3C)
(3D)
(3E)
(3F)
(40)
(41)
(42)
(43)
(44)
(45)
(46)
(47)
(48)
(49)
(4A)
(4B)
(4C)
(4D)
(4E)
(4F)
(50)
(51)
(52)
(53)
(54)
(55)
8ビットバイト
00101011
00101100
00101101
00101110
00101111
00110000
00110001
00110010
00110011
00110100
00110101
00110110
00110111
00111000
00111001
00111010
00111011
00111100
00111101
00111110
00111111
01000000
01000001
01000010
01000011
01000100
01000101
01000110
01000111
01001000
01001001
01001010
01001011
01001100
01001101
01001110
01001111
01010000
01010001
01010010
01010011
01010100
01010101
10ビットパターン
0111110010
0111110101
0111110111
0111111010
0111111101
1001110011
1001110110
1001001010
1001001101
1001001111
1001011001
1001011011
1001011110
0110010011
0110010110
1010011111
1010010010
1010010101
1010010111
1010011010
1010011101
1010101001
1010101011
1010101110
1010110010
1010110101
1010110111
1010111010
1010111101
1011100101
1011100111
1011101010
1011101101
1011101111
1011111001
1011111011
1011111110
1100100101
1100100111
1100101010
1100101101
1100101111
1100111001
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
54
X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
(56)
(57)
(58)
(59)
(5A)
(5B)
(5C)
(5D)
(5E)
(5F)
(60)
(61)
(62)
(63)
(64)
(65)
(66)
(67)
(68)
(69)
(6A)
(6B)
(6C)
(6D)
(6E)
(6F)
(70)
(71)
(72)
(73)
(74)
(75)
(76)
(77)
(78)
(79)
(7A)
(7B)
(7C)
(7D)
(7E)
(7F)
(80)
(81)
(82)
(83)
(84)
(85)
(86)
(87)
(88)
8ビットバイト
01010110
01010111
01011000
01011001
01011010
01011011
01011100
01011101
01011110
01011111
01100000
01100001
01100010
01100011
01100100
01100101
01100110
01100111
01101000
01101001
01101010
01101011
01101100
01101101
01101110
01101111
01110000
01110001
01110010
01110011
01110100
01110101
01110110
01110111
01111000
01111001
01111010
01111011
01111100
01111101
01111110
01111111
10000000
10000001
10000010
10000011
10000100
10000101
10000110
10000111
10001000
10ビットパターン
1100111011
1100111110
1101001001
1101001011
1101001110
1101010010
1101010101
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(89)
(8A)
(8B)
(8C)
(8D)
(8E)
(8F)
(90)
(91)
(92)
(93)
(94)
(95)
(96)
(97)
(98)
(99)
(9A)
(9B)
(9C)
(9D)
(9E)
(9F)
(A0)
(A1)
(A2)
(A3)
(A4)
(A5)
(A6)
(A7)
(A8)
(A9)
(AA)
(AB)
(AC)
(AD)
(AE)
(AF)
(B0)
(B1)
(B2)
(B3)
(B4)
(B5)
(B6)
(B7)
(B8)
(B9)
(BA)
(BB)
8ビットバイト
10001001
10001010
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10ビットパターン
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
(BC)
(BD)
(BE)
(BF)
(C0)
(C1)
(C2)
(C3)
(C4)
(C5)
(C6)
(C7)
(C8)
(C9)
(CA)
(CB)
(CC)
(CD)
(CE)
(CF)
(D0)
(D1)
(D2)
(D3)
(D4)
(D5)
(D6)
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(D8)
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(DA)
(DB)
(DC)
(DD)
8ビットバイト
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10ビットパターン
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(DF)
(E0)
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(E3)
(E4)
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(E6)
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(E8)
(E9)
(EA)
(EB)
(EC)
(ED)
(EE)
(EF)
(F0)
(F1)
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(F5)
(F6)
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(F8)
(F9)
(FA)
(FB)
(FC)
(FD)
(FE)
(FF)
8ビットバイト
11011110
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11111111
10ビットパターン
1010111111
1101011111
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
附属書D（参考） 輸送条件
D.1 環境条件 カートリッジの輸送の場合は，次の環境条件とすることが望ましい。
温度
：
−40℃〜45℃
相対湿度
：
5%〜80%
湿球温度
：
26℃以下
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
D.2 危険 カートリッジの輸送には，次の3種類の危険がある。
D.2.1 衝撃及び振動 輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために，次の対策をとることが望ま
しい。
a) カートリッジを変形させるおそれのある機械的な荷重を加えてはならない。
b) カートリッジは，1mを超える高さから落下させてはならない。
c) カートリッジは，十分な衝撃吸収材がある堅い箱の中に収容する。
d) カートリッジの収容箱は，内部が清浄で，かつ，じんあい（塵埃）や水の浸入防止が十分可能な構造
とする。
e) カートリッジの収容方向は，カートリッジの収容箱内でテープリールの中心軸を水平にする。
f)
カートリッジの収容箱は，正しい位置方向（天地）に置くように明確な表示をする。
D.2.2 温度及び湿度の極端な変化 温度及び湿度の極端な変化は，いかなる場合でも可能な限り回避する。
輸送されたカートリッジは，必ず使用環境条件に最低24時間放置する。
D.2.3 誘導磁界の影響 カートリッジとカートリッジの収容箱の最外壁との距離は，外部磁界の影響によ
る信号破壊の危険性を最小限にするため80mm以上とする。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)
附属書E（参考） 不良テープ
テープ装置又は他のテープの性能を低下させるテープを不良テープとよぶ。テープの特性には，テープ
装置の性能を低下させる次のものがある。このような不良テープを使用するとき，テープ装置の性能が低
下し，かつ，誤りが多く発生するので不良テープは，使用しない方がよい。
E.1 不良特性 テープの不良特性を，次に示す。
a) 高い研磨性
b) テープ走行部に対する高い摩擦力
c) テープエッジの不良な状態
d) テープ又はテープ走行部への帯電
e) テープの層間の滑り
f)
テープの裏面への記録表面塗膜の転移
g) テープのスティッキング又は他のテープの特性を低下させるようなテープ組成物の浸み出し
JIS 磁気テープ原案作成委員会 構成表
氏名
（委員長）
（幹事）
（委員）
（関係者）
（事務局）
大 石 完 一
富 田 正 典
金 子 悟
竹 内 正
徳 永 賢 次
平 川 卓
山 口 茂 孝
新 井 清
今 井 伸 二
安 藤 晴 夫
三 瓶 徹
堀 川 憲 一
荒 木 学
岸 野 忠 信
中 島 一 郎
古 市 正 敏
瀬戸屋 英 雄
佐々木 修 二
東 條 喜 義
所属
パルステック工業株式会社
日本電信工業株式会社
富士通株式会社
株式会社トリム・アソシエイツ
住友スリーエム株式会社
富士写真フイルム株式会社
ティアック株式会社
日本システムハウス株式会社
日本電気株式会社
日立マクセル株式会社
株式会社日立製作所
ソニー株式会社
日本ユニシス株式会社
財団法人日本規格協会
通商産業省
工業技術院標準部
工業技術院標準部
財団法人日本電子部品信頼性センター
社団法人日本電子工業振興協会
