JIS X 6178 : 2006 情報交換用８ｍｍ幅，ヘリカル走査記録，磁気テープカートリッジ

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001) 目次

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序文 ··································································································································· 1

1. 適用範囲 ························································································································ 1

2. 適合性 ··························································································································· 1

2.1 カートリッジ ················································································································ 1

2.2 書込み装置 ··················································································································· 1

2.3 読取り装置 ··················································································································· 1

3. 引用規格 ························································································································ 1

4. 定義 ······························································································································ 2

5. 表記法 ··························································································································· 3

5.1 数字の表現 ··················································································································· 3

5.2 名称 ···························································································································· 3

6. 略号 ······························································································································ 3

7. 環境条件及び安全性 ········································································································· 4

7.1 試験環境条件 ················································································································ 4

7.2 使用環境条件 ················································································································ 4

7.3 保存環境条件 ················································································································ 4

7.4 輸送 ···························································································································· 4

7.5 安全性 ························································································································· 4

7.6 難燃性 ························································································································· 4

8. ケースの寸法及び機械的特性 ····························································································· 5

8.1 概要 ···························································································································· 5

8.2 全体の寸法（図5及び図6） ···························································································· 5

8.3 保持領域 ······················································································································ 6

8.4 カートリッジ挿入部 ······································································································· 6

8.5 窓（図1） ···················································································································· 7

8.6 ローディンググリップ（図5及び図7） ············································································· 7

8.7 ラベル領域（図6及び図8） ···························································································· 7

8.8 基準領域及び基準孔（図9，図10及び図11） ····································································· 7

8.9 支持領域（図9） ··········································································································· 8

8.10 識別孔（図10，図11及び図12） ···················································································· 9

8.11 書込み禁止孔（図11及び図12） ···················································································· 10

8.12 位置決め面（図4及び図10） ························································································ 10

8.13 リッド（図6，図13，図15，図18及び図19） ································································· 10

8.14 リールロック（図10，図16及び図17） ·········································································· 11

8.15 リール受け孔（図10） ································································································· 12

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8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域 ············································································· 12

8.17 光通過経路（図10，図12，図20及び図21） ··································································· 13

8.18 ケース内のテープの位置（図21） ·················································································· 13

8.19 テープ走行領域（図21） ······························································································ 14

8.20 テープ引出し開口部（図10） ························································································ 14

8.21 テープの引出し開口部への要求事項（図24） ··································································· 14

9. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法 ·········································································· 30

9.1 材料 ··························································································································· 30

9.2 テープの長さ ··············································································································· 31

9.3 テープの幅 ·················································································································· 31

9.4 連続性 ························································································································ 33

9.5 テープの厚さ ··············································································································· 33

9.6 長手方向の湾曲 ············································································································ 33

9.7 カッピング ·················································································································· 33

9.8 磁性面及び磁気テープ裏面の接着強度 ··············································································· 33

9.9 層間の粘着 ·················································································································· 34

9.10 引張強度 ···················································································································· 34

9.11 残留伸び ···················································································································· 34

9.12 磁性面の電気抵抗 ········································································································ 34

9.13 テープの巻き方 ··········································································································· 35

9.14 テープの光透過率 ········································································································ 35

10. 磁気的特性 ·················································································································· 35

10.1 試験条件 ···················································································································· 35

10.2 ティピカル磁界 ··········································································································· 35

10.3 平均信号振幅 ·············································································································· 35

10.4 分解能 ······················································································································· 35

10.5 信号対雑音比 ·············································································································· 36

10.6 消去特性 ···················································································································· 36

10.7 テープの品質 ·············································································································· 36

11. トラックフォーマット ···································································································· 37

11.1 概要 ·························································································································· 37

11.2 物理ブロックのフォーマット ························································································· 37

11.3 トラックパケットフォーマット ······················································································ 44

11.4 制御パケットフォーマット ···························································································· 46

11.5 パケットフレーミング同期 ···························································································· 50

12. テープフォーマット ······································································································ 50

12.1 トラックの要素 ··········································································································· 51

12.2 データトラックフォーマット ························································································· 51

12.3 ギャップトラック ········································································································ 52

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13. 記録方式 ····················································································································· 53

13.1 記録密度 ···················································································································· 53

13.2 ビットシフト ·············································································································· 53

13.3 再生信号振幅 ·············································································································· 53

14. トラックの構成 ············································································································ 53

14.1 概要 ·························································································································· 53

14.2 トラック間隔 ·············································································································· 54

14.3 平均トラック間隔 ········································································································ 54

14.4 トラック幅 ················································································································· 54

14.5 トラック角 ················································································································· 54

14.6 トラック長 ················································································································· 54

14.7 ガードバンド ·············································································································· 54

14.8 アジマス角 ················································································································· 54

14.9 トラックエッジの直線性 ······························································································· 54

15. テープの配置 ··············································································································· 55

15.1 概要 ·························································································································· 55

15.2 パーティションの開始位置 ···························································································· 55

15.3 テープヘッダレコード（THR）······················································································ 55

15.4 データ領域 ················································································································· 56

15.5 テープディレクトリレコード ························································································· 56

15.6 データの終端（EOD） ································································································· 57

15.7 パーティションの終端（EOP） ······················································································ 57

附属書A（規定）テープ及びリーダの光透過率の測定方法 ··························································· 58

附属書B（規定）パケットECC ····························································································· 60

附属書C（規定）セグメントECC ·························································································· 61

附属書D（規定）セグメントオーバーヘッドCRCの生成 ···························································· 62

附属書E（規定）セグメントデータCRCの生成 ········································································ 63

附属書F（規定）パケットCRCの生成 ···················································································· 64

附属書G（規定）8ビットバイトから14ビットパターンへの変換 ················································· 65

附属書H（規定）ビットシフトの測定方法 ··············································································· 72

附属書J（規定）テープ計数 ·································································································· 74

附属書K（参考）輸送条件 ···································································································· 75

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格

JIS

X 6178：2006

(ISO/IEC 20062：2001)

情報交換用8 mm幅，ヘリカル走査記録，

磁気テープカートリッジ−VXA1様式

Information technology−8 mm wide magnetic tape cartridge

for information interchange Helical scan recording−VXA-1 format

序文　この規格は，2001年に第1版として発行されたISO/IEC 20062，Information technology−8 mm wide

magnetic tape cartridge for information interchange Helical scan recording−VXA-1 formatを翻訳し，技術的内容

及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

1. 適用範囲　この規格は，8 mm幅，ヘリカル走査記録，VXA-1様式の磁気テープカートリッジの装置

間での物理的互換性をとるために，物理的特性，磁気的特性及び情報の記録様式について規定する。

この規格は，テープ長によってタイプA，タイプB及びタイプCの3種類のカートリッジを規定する。

この規格は，情報交換当事者間で合意した情報交換符号並びにラベル及びファイル構成の規格を用いる

ことでシステム相互の情報交換に適用する。

備考　この規格の対応国際規格を，次に示す。

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD

（修正している），NEQ（同等でない）とする。

ISO/IEC 20062:2001，Information technology−8 mm wide magnetic tape cartridge for information

interchange Helical scan recording−VXA-1 format (IDT)

2. 適合性

2.1

カートリッジ　カートリッジは，この規格のすべてを満足するとき，この規格に適合する。

2.2

書込み装置　情報交換用カートリッジに用いる書込み装置は，テープに書き込むすべての記録がこ

の規格に適合するとき，この規格に適合する。

適合性を表示する場合，次の機能の有無を明示する。

− 登録した圧縮アルゴリズムの有無及びデータ圧縮の可否。

2.3

読取り装置　情報交換用カートリッジに用いる読取り装置は，この規格に適合するテープ上の記録

を処理でき，次の機能をもつとき，この規格に適合する。

− 定義した圧縮アルゴリズムを用いて圧縮データを識別し，ホストが利用できる登録番号を取り出す。

3. 引用規格　次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで，発効年又は発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格

の規定を構成するものであって，その後の改正版・追補には，適用しない。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

JIS B 0031:2003 製品の幾何特性仕様（GPS）−表面性状の図示方法

備考 ISO 1302:2002，Geometrical Product Specifications(GPS)−Indication of surface texture in technical

product documentationが，この規格と一致している。

JIS K 7127:1999 プラスチック−引張特性の試験方法−第3部：フィルム及びシートの試験条件

備考 ISO 527-3:1995，Plastics−Determination of tensile properties−Part 3: Test conditions for films and

sheetsが，この規格と一致している。

IEC 60950-1:2001 Information technology equipment−Safety−Part 1: General requirements

4. 定義　この規格で用いる主な用語の定義は，次による。

4.1

交流消去（a.c. erase）　減衰する交流磁界を用いた消去。

4.2

アルゴリズム（algorithm）　データの論理的表現を変換する一連の規則。

4.3

平均信号振幅（average signal amplitude）　記録密度2 740 ftpmmで記録した磁気テープ上のミッシ

ングパルスのない部分を100 mm以上にわたって測定した読取りヘッドの平均ピーク（P-P）出力電圧。

4.4

アジマス（azimuth）　磁束反転とトラックの中心線に垂直な直線との角度。

4.5

裏面（back surface）　データの記録に使う磁性面の反対側のテープの面。

4.6

データの始端［beginning of data（BOD）］　パーティション内でのデータの記録開始位置。

4.7

テープの始端［beginning of tape（BOT）］　磁気テープとリーダテープとの接合箇所。

4.8

ビットセル（bit cell）　トラックに記録する1チャネルビットの領域。

4.9

バイト（byte）　一単位として取り扱うビット列。

4.10 カートリッジ（cartridge）　一組のリールに巻いた磁気テープを収納したケース。

4.11 チャネルビット（channel bit） 8ビットから14ビットに変換後のビット。

4.12 巡回冗長検査文字［cyclic redundancy check（CRC）character］　誤り検出のために巡回符号として

用いる16ビットの文字。

4.13 データの終端［end of data（EOD）］　パーティション内でのデータの記録終了位置。

4.14 パーティションの終端［end of partition（EOP）］　仮想的な箇所でパーティションのテープの長さ

方向の終端。

4.15 テープの終端［end of tape（EOT）］　磁気テープとトレーラテープとの接合箇所。

4.16 誤り訂正符号［error correcting code（ECC）］　数学的処理によって生成し，誤りの検出及び訂正の

ために用いるバイト。

4.17 ファイルマーク（file mark）　ファイルを分離するため，又は追記録点を示すためテープ上に記録

するマーク。ロングファイルマーク及びショートファイルマークがある。

4.18 論理ブロック（logical block）　テープ装置に記録する情報（データ）。

4.19 磁気テープ（magnetic tape）　磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。

4.20 主基準テープ（master standard reference tape）　信号振幅，基準磁界，重ね書き及び分解能の標準

として用いるテープ。

参考　この主基準テープは，Exabyte社によって管理されている。

4.21 パーティション（partition）　データを記録するためのテープの長さ方向の分割。

4.22 記録密度（physical recording density）　トラックの長さ1 mm当たりに記録する磁束反転数（ftpmm）。

4.23 基準磁界（reference field）　主基準テープのティピカル磁界。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

4.24 二次基準テープ［secondary standard reference tape（SSRT）］　主基準テープの特性との偏差を明示

したテープ。

参考　二次基準テープは，部品番号111.001 24にてExabyteCorporation 1685 38th Street， Boulder， Co.

80301， USAに発注できる。

一般に，このテープは2011年まで入手可能である。しかし入手期間は，ISO/IECとExabyte

社との合意に基づき，テープの需要動向によって，この期間は，延長又は短縮することができ

る。

このテープは定期校正用の三次基準テープとの偏差を補正するために使用する。

4.25 セットマーク　データセットを分離するため，又は追記録点を示すためテープ上に記録するマーク。

4.26 標準信号振幅［standard reference amplitude（SRA）］　記録密度2 740 ftpmmの信号を試験記録電流

で記録したときの主基準テープの平均信号振幅。

4.27 基準電流［standard reference current（Ir）］　基準磁界を発生させる記録電流。

4.28 テープ基準縁（tape reference edge）　供給リールが右側になるようにしてテープの記録面から見た

ときのテープの下端。

4.29 試験記録電流［test recording current（TRC）］ SRAの記録に用い基準電流の1.4倍の電流。

4.30 トラック（track）　磁気信号を直列に記録するテープ上の斜めの領域。

4.31 ティピカル磁界（typical field）　記録密度2 740 ftpmmで記録して，再生したとき，その平均信号振

幅が最大値の90 ％を示す最小の印加磁界。

5. 表記法

5.1

数字の表現　測定した値は，対応する規定値に対して有効数字に丸める。すなわち，規定値が1.26，

正の許容誤差が0.01，負の許容誤差が0.02である場合，測定した値は，1.235以上1.275未満を許容する。

16進数は，丸括弧に数字及び英文字で表す。

ビットの設定は，“0”又は“1”で表す。

ビットの組合せ及び2進数表現の数字は，“0”又は“1”の列で表す。

ビットの組合せ及び2進数表現の数字は，最上位ビットを左とし，最下位ビットを右とする。

2進数の負の表現は，2の補数で表す。

各フィールド内では，データバイト0を最上位バイトとし，最初に記録する。各バイト内では，最上位

ビット（8ビットバイトのビット7）を最初に記録し，最下位ビット0を最後に記録する。この順序は，特

に規定がない限り，誤り検出符号及び誤り訂正符号の入出力にも適用する。

5.2

名称　名称は，英語表記の場合の頭文字を規定しているので，特別な表記法は用いない。

6. 略号　略号を次に示す。

BOD ：データの始端（beginning of data）

BOT ：テープの始端（beginning of tape）

CRC ：巡回冗長検査（cyclic redundancy check）

ECC

：誤り訂正符号（error correcting code）

EOD ：データの終端（end of data）

EOP

：パーティションの終端（end of partition）

EOT

：テープの終端（end of tape）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

：論理ブロック（logical block）

LBA ：論理ブロックアドレス（logical block address）

LBS

：論理ブロックセット（logical block set）

lsb

：最下位ビット（least significant bit）

LSB

：最下位バイト（least significant byte）

msb

：最上位ビット（most significant bit）

MSB ：最上位バイト（most significant byte）

OWG ：重ね書きギャップ（overwritable gap）

SPM ：スプライス位置マーカ（splice position marker）

SRA

：標準信号振幅（standard reference amplitude）

SSRT ：二次基準テープ（secondary standard reference tape）

TDR ：テープディレクトリレコード（tape directory record）

THR ：テープヘッダレコード（tape header record）

VPA

：仮想パケットアドレス（virtual packet address）

7. 環境条件及び安全性　次に規定する条件は，カートリッジ近傍の環境条件とする。カートリッジをこ

れらの規定を超えた環境に放置した場合，永久的な損傷を与えることがある。

7.1

7.2

試験環境条件　試験環境条件は，別段の規定がない限り次による。

温度

23 °C ± 2 °C

相対湿度

40 ％　〜 60 ％

試験前放置時間

24 時間

使用環境条件　使用環境条件は，次による。

温度

5 °C 〜 45 °C

相対湿度

20 ％　〜 80 ％

湿球温度

26 °C 以下

カートリッジ近傍の平均温度は，45 °Cを超えてはならない。

カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を越えた場合は，使用環境条件以外の環境条件に放置

した時間と同等以上，又は24時間以上，使用環境条件に放置してから使用する。

7.3

保存環境条件　保存環境条件は，次による。

温度

5 °C 〜 32 °C

相対湿度

20 ％　〜 60 ％

周辺磁界

テープ上で4 000 A/mを超えてはならない。

カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。

7.4

輸送　カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報を，附属書Kに記

載する。

7.5

安全性　カートリッジ及びその構成カートリッジ及びその部品は，IEC 60950-1の要求を満たさなけ

ればならない。

7.6

難燃性　構成部品の材料は，IEC 60950-1に規定されたHB材，又は同等以上に適合したものでなけ

ればならない。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

8. ケースの寸法及び機械的特性

8.1

概要　カートリッジは，次の構成要素からなる。

− ケース

− 識別孔

− 書込み禁止機構

− 磁気テープを巻いた一対のリール

− リールロック機構

構成要素の寸法の規定は，情報交換のための要求事項とする。設計の自由度を確保するため，構成要素

の機能的な特性だけを記述する。具体図は，次による。

図 1 リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観

図 2 リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観

図 3 基準面X，　基準面Y及び基準面Z

図 4 リッドが閉じた状態の前面

図 5 リッドが閉じた状態の左側面

図 6 リッドが閉じた状態の上面

図 7 リッドが閉じた状態の右側面

図 8 リッドが閉じた状態の背面

図 9 底面，基準領域及び支持領域

図 10 リッドがない状態の底面

図 11 基準孔及び識別孔の詳細図

図 12 光通過孔，識別孔及び書込み禁止孔の断面図

図 13 リッドの詳細図

図 14 リッドロック解除機構の挿入経路

図 15 リッドロック解除機構

図 16 リールロック解除機構

図 17 リールロックの解除に必要な力の方向

図 18 リッドのロック解除に必要な力の方向

図 19 リッドをあけるために必要な力の方向

図 20 光通過経路及び光通過窓

図 21 内部のテープ通過経路及び光通過経路

図 22 リールの外観及び断面図

図 23 リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図

図 24 テープ引出し開口部

寸法は，三つの直交する基準面X，基準面Y及び基準面Zに基づく（図3参照）。

基準面Xは，基準孔A及び基準孔Bの中心を通り，基準面Zに垂直とする。

基準面Yは，基準孔Aの中心を通り，基準面X及び基準面Zに垂直とする。

基準領域A，　基準領域B及び基準領域Cは，基準面Z内とする。

8.2

全体の寸法（図5及び図6）

ケースの長さは，次による。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

l1 = 62.5 mm ± 0.3 mm

ケースの幅は，次による。

l2 = 95.0 mm ± 0.2 mm

ケースの上面から基準面Zまでの長さは，次による。

l3 = 15.0 mm ± 0.2 mm

背面から基準面Xまでの長さは，次による。

l4 = 47.35 mm ± 0.15 mm

右側面から基準面Yまでの長さは，次による。

l5 = 13.0 mm ± 0.1 mm

8.3

保持領域　カートリッジを磁気テープ装置に挿入するときの保持領域は，図6の斜線の領域とする。

基準面Xから保持領域までの長さは，次による。

l6 ≦ 12.0 mm

ケースの端からの幅は，次による。

l7 ≧ 3.0 mm

8.4

カートリッジ挿入部　カートリッジ挿入部は，誤った向きで磁気テープ装置に挿入することを防ぐ

ために，溝，切込み及びこう配面からなる非対称な形状をもつ。

溝は，リッドが閉じてロックした状態のとき，ロック解除を可能にするために，リッドロック解除ピン

の挿入領域を妨げないように設ける。

溝の基準面Yからの長さは，次による（図4及び図14参照）。

l8 = 79.7 mm ± 0.2 mm

溝の端部の面取りは，次による。

l9 = 1.0 mm ± 0.1 mm

l16 = 1.5 mm ± 0.1 mm

溝の内部の面取りは，次による。

l10 = 0.7 mm ± 0.1 mm

l17 = 1.0 mm ± 0.1 mm

l18 = 3.8 mm ± 0.1 mm

溝の内部の幅は，次による。

l11 ≧ 1.0 mm

リッドの厚さは，次による。

l12 = 1.2 mm ± 0.1 mm

リッドの面取りは，次による。

l13 = 0.8 mm ± 0.1 mm

l14 = 1.2 mm ± 0.1 mm

リッドのケースからの突出は，次による。

l15 = 0.5 mm ± 0.1 mm

ケースの左側面からリッドロックまでの長さは，次による。

l19 = 0.2 mm ± 0.2 mm

挿入領域の高さは，次による。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

l20 ≧ 2.3 mm

l21 = 2.5 mm

2.00.0

切込みは，カートリッジの右側面に設ける。その位置及び寸法は，次による（図7及び図10参照）。

l22 ≦ 7.5 mm

l23 = 11.0 mm ± 0.2 mm

l24 = 1.5 mm ± 0.1 mm

切込みの深さは，次による。

l25 = 1.5 mm ± 0.1 mm

こう配面は，リッドの構造の一部とし，基準面Xからの長さは，次による（図13参照）。

l26 = 7.7 mm

−

005.2

こう配面の角度は，次による。

a1 = 20 ° ± 1 °

こう配面は，半径r3との交点で終わる（8.13参照）。

8.5

窓（図1）　窓は，リールの一部を目視可能とするために上面に設けてもよい。窓を設ける場合，カ

ートリッジの高さを越えてはならない。

8.6

ローディンググリップ（図5及び図7）　ローディンググリップは，磁気テープ装置にカートリッジ

を自動的に装着するために設ける。

ローディンググリップの中心線の基準面Xからの長さは，次による。

l28 = 39.35 mm ± 0.20 mm

ローディンググリップの基準面Z及びカートリッジ上面からの長さは，次による。

l29 = 1.5 mm ± 0.1 mm

ローディンググリップのくぼみの幅は，次による。

l30 = 5.0 mm ± 0.3 mm

ローディンググリップのくぼみの深さは，次による。

l31 = 2.0 mm ± 0.2 mm

ローディンググリップのくぼみの傾斜は，次による。

a2 = 90 ° ± 5 °

8.7

ラベル領域（図6及び図8）　ラベル領域は，カートリッジの背面及び上面に設けてもよい。各ラベ

ル領域の位置及び寸法は，カートリッジの機構部の要求事項及び動作を妨げてはならない。

上面のラベル領域は，l6及びl7で規定した保持領域の内側に入ってはならない。

背面のラベル領域の位置及び寸法は，次による。

l32 ≧ 0.5 mm

l33 ≧ 1.5 mm

l34 ≦ 80.0 mm

ラベル領域のくぼみの深さは，0.3 mm 以下とする。

8.8

基準領域及び基準孔（図9，図10及び図11）　環状の基準領域A，基準領域B及び基準領域Cは，

基準面Z上に設け，磁気テープ装置に装着したときのカートリッジの垂直方向位置決めに用いる。それぞ

れの直径d1は，6.0 mm ± 0.1 mmとし，それぞれの基準孔の中心と同心とする。

基準孔A及び基準孔Bの中心は，基準面X上とする。

円形の基準孔Aの中心は，基準面X及び基準面Yの交線とする（図9参照）。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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基準孔Bの中心から基準面Yまでの長さは，次による（図9参照）。

l35 = 68.0 mm ± 0.1 mm

円形の基準孔Cの中心から基準面Yまでの長さは，次による（図11参照）。

l36 = 10.20 mm ± 0.05 mm

基準孔Dの中心から基準面Yまでの長さは，次による（図11参照）。

l37 = 79.2 mm ± 0.1 mm

基準孔C及び基準孔Dの中心から基準面Xまでの長さは，次による（図10参照）。

l38 = 36.35 mm ± 0.08 mm

基準領域のケースの厚さは，次による。

l39 = 1.2 mm ± 0.1 mm

基準孔A及び基準孔Cの深部の直径は，次による。

l40 ≧ 2.6 mm

基準孔の深さは，次による。

l42 ≧ 4.0 mm

基準孔A及び基準孔Cの開口部付近の直径は，次による。

l44 = 3.00 mm

基準孔A及び基準孔Cの直径がl44となる部分の深さは，次による。

l41 ≧ 1.5 mm

基準孔A及び基準孔Cの開口部の面取りは，次による。

l43 ≦ 0.3 mm

a3 = 45 ° ± 1 °

基準孔B及び基準孔Dの深部の幅は，l40とする。

基準孔B及び基準孔Dの深さは，l42とする。

基準孔B及び基準孔Dの開口部付近の寸法は，次による。

l45 = 3.5 mm ± 0.1 mm

l46 = 3.00 mm

r1 = 1.75 mm ± 0.05 mm

基準孔B及び基準孔Dの寸法がl45，l46及びr1となる部分の深さは，l41とする。

基準孔B及び基準孔Dの開口部の面取りは，l43及びa3とする。

8.9

支持領域（図9）　カートリッジ支持領域は，図9の網掛け部分とする。支持領域A，支持領域B

及び支持領域Cは，それぞれ，基準領域A，基準領域B及び基準領域Cから± 0.1 mm 以内で同一の平面

上とする。支持領域Dは，基準面Zから± 0.15 mm 以内で同一の平面上とする。

カートリッジの端からl49の長さの領域は，支持領域から除かなければならない。

l49 = 0.5 mm ± 0.1 mm

基準面Xから支持領域A及び支持領域Bのケース前面側の端までの長さは，次による。

l47 = 10.0 mm ± 0.1 mm

基準孔A及び基準孔Bの中心から，それぞれ支持領域A及び支持領域Bのケース側面側の端までの長

さは，l47とする。

基準孔A及び基準孔Bの中心から，それぞれ支持領域A及び支持領域Bのケース内側の端までの長さ

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

は，次による。

l48 = 11.0 mm ± 0.1 mm

基準面Xから支持領域A及び支持領域Bのケース背面側の端までの長さは，次による。

l50 = 7.0 mm ± 0.1 mm

基準面Xから支持領域C及び支持領域Dまでの長さは，次による。

l51 = 30.0 mm ± 0.1 mm

支持領域C及び支持領域Dの寸法は，l47及び次による。

l52 = 5.5 mm ± 0.1 mm

l53 = 64.5 mm ± 0.2 mm

8.10 識別孔（図10，図11及び図12）　識別孔は，図11に示す1〜6の番号を付けた6個を設ける。

識別孔1の中心の位置は，l55及びl56とする。

識別孔2の中心の位置は，次による。

l54 = 43.35 mm ± 0.15 mm

l61 = 10.0 mm ± 0.1 mm

識別孔3の中心の位置は，l54及びl57とする。

識別孔4の中心の位置は，l54及び次による。

l58 = 79.0 mm ± 0.2 mm

識別孔5の中心の位置は，次による。

l55 = 3.7 mm ± 0.1 mm

l56 = 2.3 mm ± 0.1 mm

識別孔6は，次による。

l96 = 46.0 mm ± 0.1 mm

+mm

l97 = 3.4 mm

1.0

0.0

l98 = 26.4 mm ± 0.05 mm

l99 = 3.60 mm

識別孔1〜5は，図12のE ‒ E及び図12のF ‒ Fに示す断面構造をもち，その直径は，3.0 mm ± 0.1 mm

とする。

識別孔6は，図12のM ‒ Mに示す断面構造をもつ。

閉じた識別孔の基準面Zからの深さは，次による。

0..

l59 = 1.2 mm

+−mm

開いた識別孔の基準面Zからの深さは，次による。

l60 ≧ 5.0 mm

図12のE ‒ Eは，識別孔をプラグで閉じた状態を示し，図12のF ‒ Fは，二つの識別孔のうち一つを

プラグで閉じ，もう一方は，プラグを打ち抜いて開いた状態を示す。これらのプラグは，最大0.5 Nの力

を加えても打ち抜かれてはならない。

タイプAカートリッジの識別孔の開閉状態は，次による。

− 識別孔1は，閉じる。

− 識別孔2は，開く。

− 識別孔3は，閉じる。

− 識別孔4は，開く。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

− 識別孔5は，閉じる。

− 識別孔6は，開く。

タイプB及びタイプCカートリッジの識別孔の開閉状態は，次による。

− 識別孔1は，閉じる。

− 識別孔2は，開く。

− 識別孔3は，開く。

− 識別孔4は，閉じる。

− 識別孔5は，閉じる。

− 識別孔6は，開く。

8.11 書込み禁止孔（図11及び図12）

書込み禁止孔の位置は，l54及び次による。

l57 = 6.4 mm ± 0.1 mm

書込み禁止孔の直径は，3.0 mm ± 0.1 mmとする。

閉じた書込み禁止孔の基準面Zからの深さは，l59とする。

開いた書込み禁止孔の基準面Zからの深さは，l60とする。

書込み禁止孔は，開いた状態で書込み禁止とし，閉じた状態で書込み可能とする。

書込み禁止孔は，可動の機構としてもよい。このとき，書込み禁止孔の開閉の状態が目視できなければ

ならない（図8参照）。書込み禁止孔を閉じたとき，0.5 Nの力を加えても開いてはならない。書込み禁止

孔の開閉に要する力は，1 N〜15 Nとする。

8.12 位置決め面（図4及び図10）　位置決め面は，カートリッジを磁気テープ装置に装着したとき，カ

ートリッジの位置決めに用い，その寸法は，次による。

基準面Zからの長さは，次による。

0.0

l62 = 2.4 mm

−mm

1.0

基準面Yからの長さは，次による。

l63 = 1.0 mm ± 0.1 mm

l64 = 69.0 mm ± 0.2 mm

基準面Xからの長さは，次による。

l65 = 14.65 mm ± 0.10 mm

位置決め面の面取りは，次による。

l66 = 13.15 mm ± 0.10 mm

a4 = 45 ° ± 1 °

8.13 リッド（図6，図13，図15，図18及び図19）　リッドは，カートリッジの取扱い中，保管中及び

運搬中にテープを保護するために設け，主リッド及び副リッドからなる。

主リッドは，ケースに取り付けた軸Aを軸として回転する（図13参照）。

軸Aの位置は，次による。

0..

l27 = 0.55 mm

+−

010

l67 = 7.5 mm ± 0.1 mm

副リッドは，主リッドに取り付け，主リッドとともに動く軸Bを軸として回転する。リッドが閉じた状

態では，軸Bの位置は，次による。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

l68 = 7.0 mm ± 0.1 mm

l69 = 10.1 mm ± 0.1 mm

副リッドの回転は，両側のカムによって，図13に示す経路で制御する。

完全に開いた副リッドの開口部の長さは，次による。

l70 ≧ 14.8 mm

l71 = 11.5 mm ± 0.2 mm

l72 = 1.2 mm ± 0.1 mm

リッドは，完全に開いた状態では，主リッド及び副リッドともに基準面Zに平行でl73離れた平面を超え

てはならない。

l73 ≦ 22.3 mm

完全に開いたリッドの底面が基準面Zに対する角度は，次による。

+°

a5 = 85 °

−12

リッドは，途中まで開いた状態では，主リッド及び副リッドともに基準面Zに平行でl74離れた平面を超

えてはならない。

l74 ≦ 22.5 mm

リッドが開くとき，リッドの頂点の通過経路は，次による。

r2 ≦ 14.9 mm

ケースと主リッドの継ぎ目は，次による（図6のB ‒ B参照）。

l75 ≦ 8.4 mm

主リッドの基準面Zからの高さは，次による（図13参照）

0.0

l76 = 15.2 mm

−mm

5.0

主リッドの前面の基準面Xからの長さは，次による。

0.0

l77 = 15.3 mm

−mm

3.0

リッドの内側のすき間は，次による。

l78 = 13.15 mm ± 0.10 mm

リッド前面の曲面の中心は，軸Aとし，半径は，次による。

r3 ≦ 14.7 mm

リッドロック機構は，装置の解除ピンによって解除する。

解除ピンは，図15の網掛け領域にあるとき，リッドロック機構を解除する。図15の網掛け領域は，次

による。

l79 = 2.0 mm ± 0.1 mm

l80 = 8.2 mm ± 0.2 mm

l81 = 0.7 mm ± 0.2 mm

a6 = 30 ° ± 1 °

リッドロックの解除に要する力は，図18に示す方向に0.25 N以下とする。

リッドを開く力は，図19に示す方向に1.0 N以下とする。

8.14 リールロック（図10，図16及び図17）　リールは，カートリッジを磁気テープ装置から取り出し

たとき，ロックしなければならない。ロック機構は，装置の解除ピンによって解除する。

ロック機構は，図10に示す方形孔を通して動作する。その方形孔の中心線の基準面Yからの長さは，

次による。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

l82 = 34.5 mm ± 0.1 mm

方形孔の基準面Xからの寸法は，次による（図10参照）。

l83 = 35.85 mm ± 0.15 mm

l84 = 4.0 mm ± 0.1 mm

l85 ≧ 6.5 mm

ロック機構の寸法は，次による。

0.0

l86 = 3.2 mm

−mm

5.0

l87 = 4.0 mm ± 0.1 mm

a7 = 60.0 ° ± 1.0 °

解除ピンの動作面が基準面Xからl88に位置するとき，リールはロックする。

l88 = 39.0 mm

0.20.0

解除ピンの動作面が基準面Xからl89に位置するとき，リールはロックしてはならない。

.000

l89 = 41.75 mm

カートリッジの背面板の内側とロック機構の間にl90のすき間を設ける。

l90 ≧ 0.5 mm

解除ピンをカートリッジに挿入する深さは，次による。

l91 ≦ 7.8 mm

ロック機構のすき間は，次による。

l92 = 4.0 mm ± 0.1 mm

r4 ≦ 0.3 mm

リールロックの解除に要する力は，図17に示す方向に1.0 N以下とする。

8.15 リール受け孔（図10）　二つのリール受け孔は，駆動スピンドルを通すために設ける。

リール受け孔の位置は，次による。

l93 = 23.00 mm ± 0.05 mm

l94 = 11.40 mm ± 0.05 mm

l95 = 46.2 mm ± 0.1 mm

リール受け孔の直径は，次による。

d2 = 18.80 mm ± 0.05 mm

8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域　リールと駆動スピンドルとの接触領域は，次による（図22

及び図23）。

l102 = 5.4 mm ± 0.1 mm

l103 = 4.4 mm ± 0.1 mm

l104 ≦ 0.6 mm

d4 = 10.00 mm

d5 ≦ 16.0 mm

0.0

d6 = 18.0 mm

−mm

1.0

0.0

d7 = 16.0 mm

−mm

5.0

リール駆動孔の面取りは，次による。

l105 = 2.4 mm ± 0.1 mm

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

a9 = 15 ° ± 1 °

リール底面の外側のエッジの面取りは，次による。

l106 ≦ 0.2 mm

a8 = 45 ° ± 1 °

リール駆動孔のスロットの位置及び寸法は，次による。

−mm

0.0

5.0

l107 = 2.4 mm

a10 = 60 ° ± 1 °

リール駆動孔の歯の半径は，次による。

r5 ≦ 0.2 mm

リール駆動孔の深さl108は，直径d3の部分までとし，次による。

l108 ≧ 9.4 mm

0.0

d3 = 6.50 mm

−mm

5.0

基準面Zからのテープ中心線の位置は，磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき，次による。

l109 = 7.05 mm ± 0.10 mm

基準面Zからのリールの位置は，磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき，次による。

l110 = 0.6 mm ± 0.2 mm

リールを挿入したとき，リールと駆動スピンドルとのかみ合いは，次による。

l111 ≦ 7.5 mm

l112 ≦ 8.0 mm

a11 = 60 ° ± 1 °

リールのばね力Fは，磁気テープ装置にカートリッジを装着し，支持部が基準面Zからl110の位置にあ

るとき，図23に示す方向に0.6 N ± 0.2 N とする。

8.17 光通過経路（図10，図12，図20及び図21）　光通過経路は，リーダテープ及びトレーラテープを

検出するために設ける。リッドが開いたとき，光は，直径d10の光通過孔から一辺がl118の正方形の窓，及

びリッドの光通過窓を遮られることなく通過しなければならない（図12のD ‒ D参照）。

光通過孔の中心の位置は，l82及び次による。

l115 = 8.35 mm ± 0.10 mm

光通過孔の直径は，次による。

0.0

d10 = 6.5 mm

−mm

5.0

光通過孔の開口部の面取りは，次による。

l116 ≦ 0.5 mm

a12 = 45 ° ± 1 °

光通過孔側面の二つの正方形の窓の位置及び寸法は，次による。

l117 = 6.05 mm ± 0.10 mm

+mm

l118 = 2.5 mm

4.0

0.0

光通過孔は，発光素子を挿入するため，次の深さとする。

l119 ≧ 12.5 mm

光通過経路の角度は，次による。

a13 = 5.50 ° ± 0.25 °

リッドの光通過窓の位置及び寸法は，次による。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

l120 = 3.8 mm ± 0.1 mm

+mm

l121 = 2.5 mm

4.0

0.0

l122 = 6.05 mm ± 0.10 mm

8.18 ケース内のテープの位置（図21）　テープは，基準面Xに平行な二つのガイド面を通る。

基準面Xからガイド面までの長さは，次による。

l123 = 13.15 mm ± 0.20 mm

ガイド面は，r6の半径をもち，図21に示すカートリッジの外側の点からリールハブに引いた接線としな

ければならない。

r6 = 3.0 mm ± 0.1 mm

これらの点の位置及び寸法は，次による。

l124 = 76.28 mm ± 0.30 mm

l125 = 27.25 mm ± 0.20 mm

l126 = 31.15 mm ± 0.20 mm

l127 = 9.67 mm ± 0.10 mm

8.19 テープ走行領域（図21）　カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると，テープは，テープガイド

によってカートリッジの外側に引き出される。このときテープは，ガイド面に接触してはならない。テー

プ走行領域は，テープが自由に走行できることとし，その位置及び寸法は，l124からl127及び次による。

l128 = 23.0 mm ± 0.1 mm

l130 = 46.2 mm ± 0.2 mm

l131 = 11.4 mm ± 0.1 mm

テープとガイドのすき間は，次による。

l129 ≧ 0.3 mm

l132 ≧ 0.3 mm

8.20 テープ引出し開口部（図10）　磁気テープ装置にカートリッジを装着すると，磁気テープ装置のテ

ープガイドは，カートリッジからテープを引き出す。二つの半径r7の中心は，基準孔A及び基準孔Bの

中心とする。

テープ引出し開口部の形状及び寸法は，l63，l64及び次による。

r7 = 2.3 mm ± 0.1 mm

二つの半径r8の中心は，二つのリール受け孔の中心とする。

r8 = 24.15 mm ± 0.10 mm

l133 = 3.85 mm ± 0.10 mm

8.21 テープの引出し開口部への要求事項（図24）　ケースは，テープ引出し機構のためのすき間を設け，

開口部への要求事項は，次による。

l134 ≦ 1.2 mm

0.0

l135 = 1.15 mm

−mm

5.0

0.0

l136 = 14.0 mm

−mm

2.0

l137 ≧ 66.8 mm

l138 ≧ 10.0 mm

l139 ≧ 66.8 mm

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a14 ≦ 49 °

l140 ≦ 1.2 mm

l141 ≧ 14.8 mm

l113 ≧ 13.0 mm

l114 ≦ 4.0 mm

右側面

図 1 リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観

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図 2 リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観

図 3 基準面X，基準面Y及び基準面Z

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誤挿入防止孔

図 4 リッドが閉じた状態の前面

図 5 リッドが閉じた

状態の左側面

図 6 リッドが閉じた状態の上面

図 7 リッドが閉じた

状態の右側面

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図 8 リッドが閉じた状態の背面

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図 9 底面，基準領域及び支持領域

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図 10 リッドがない状態の底面

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l43×a3

l98

l42

l37

l36

l45

l46

l56

l55

l56

l57

l58

図 11 基準孔及び識別孔の詳細図

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l116×a12

l59

除去可能なプラグ

図 12 光通過孔，識別孔及び書込み禁止孔の断面図

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図 13 リッドの詳細図

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図 14 リッドロック解除機構の挿入経路

図 15 リッドロック解除機構

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図 16 リールロック解除機構

図 17 リールロックの解除に必要な力の方向

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図 18 リッドのロック解除に必要な力の方向

図 19 リッドをあけるために必要な力の方向

l121

図 20 光通過経路及び光通過窓

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図 21 内部のテープ通過経路及び光通過経路

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l107

a10

図 22 リールの外観及び断面図

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図 23 リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図

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図 24 テープ引出し開口部

9. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法

9.1

材料　ケース内にあるテープは，リーダテープ，磁気テープ及びトレーラテープで構成される（図

25参照）。

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70 mm〜90 mm

62 m，107 m又は170 m

70 mm〜90 mm

図 25 テープ構成

磁気テープは，ベース（ポリエチレンテレフタレートフィルム又はこれと同等品）上の片面に，メタル

材料を蒸着し，強固で柔軟性のあるもの（又はこれと同等品）とする。磁気テープの裏面は，塗布しても

よい。

テープの始端には，巻取りリールのハブとBOTとの間にリーダテープを設ける。テープの終端には，供

給リールのハブとEOTとの間にトレーラテープを設ける。リーダテープ及びトレーラテープは，磁性材の

塗布及び裏面の塗布がないベース材料（又はこれと同等品）と同じ半透明な材料とする。

リーダテープ及びトレーラテープは，それぞれスプライシングテープによって磁気テープと接合する。

スプライシングテープは，ポリエチレンテレフタレート（又はこれと同等品）とし，片面にはアクリル系

接着剤（又はこれと同等品）を塗布する。

9.2

9.2.1

テープの長さ

磁気テープの長さ BOTとEOTとの間のテープの長さは，次による。

タイプA：169.5 m〜171.0 m

タイプB：107.0 m〜108.5 m

タイプC：62.0 m〜63.5 m

9.2.2

リーダテープ及びトレーラテープの長さ　リーダテープ及びトレーラテープの長さは，70 mm〜90

mmとする。リーダテープ及びトレーラテープと磁気テープとの接合は，テープ基準縁の垂直方向に1 °

以内とする。

9.2.3

スプライシングテープの長さ　スプライシングテープの長さは，13 mm以下とし，リーダテープ及

びトレーラテープ上で6.5 mm ± 1.5 mmとする。

9.3

9.3.1

テープの幅

磁気テープ，リーダテープ及びトレーラテープの幅　磁気テープの幅は，8.00 mm ± 0.01 mmとす

る。幅の最大値と最小値との差は，6 µmを超えてはならない。

リーダテープ，トレーラテープの幅は，8.00 mm ± 0.02 mmとする。

磁気テープの幅の測定方法は，次による。

a) 顕微鏡用のスライドガラスを試験片にかぶせる。

b) 少なくとも2.5 µmの精度の顕微鏡，投影機又はこれと同等の装置を使用し，張力をかけないで幅を測

定する。

c) 長さ1 m以上のテープで異なる位置5か所以上の測定を繰り返す。

測定した値の平均をテープの幅とする。

9.3.2

スプライシングテープの幅及び位置　スプライシングテープの幅並びにスプライシングテープが

リーダテープ，トレーラテープ及び磁気テープの幅方向に占める位置は，次による。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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スプライシングテープの下端は，その他のテープの下端から0.60 mm以下とし，スプライシングテープ

の上端は，その他のテープの上端から0.60 mm以下とする。スプライシングテープの端がリーダテープ，

トレーラテープ及び磁気テープの端を超えてはならない。

9.3.3

テープ縁の波形　テープ縁の波形は，長さ50 mmのテープの試験片で算出したテープ基準縁の平

均位置からの平均偏差とし，6 μmを超えてはならない。

測定方法は，次による。

a) 長さ450 mmの試験片を0.050 N ± 0.005 Nの力で引っ張る。

b) 0.5 μm以上の精度で校正した縁位置センサで，試験片のテープ基準縁の長さ250 mmにわたって0.25

mm間隔に1 001か所を測定する（図26参照）。

c) 1〜201の測定点で，線形回帰解析を用いて長さ50 mmのテープ基準縁位置の平均値を算出する（図

27参照）。

d) c) の201個の測定値の中で平均テープ基準位置からの最大偏差を求める（図27参照）。

e) 2〜202，3〜203続いて800〜1 001の測定点について，c) 及びd) を繰り返し算出する。

800個の測定値から得た800個の最大偏差の平均値をテープ縁の波形とする。

0.050 N

図 26 テープ縁の波形の測定

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図 27 テープ縁の波形

9.4

連続性　テープは，BOTとEOTとの間に継ぎ目及び孔のような不連続があってはならない。

9.5

テープの厚さ

9.5.1

磁気テープの厚さ　磁気テープの厚さは，6.5 µm 〜 7.3 µmとする。

9.5.2

リーダテープ及びトレーラテープの厚さ　リーダテープ及びトレーラテープの厚さは，9 µm 〜 17

µm とする。

9.5.3

9.6

スプライシングテープの厚さ　スプライシングテープの厚さは，20 µm 以下とする。

長手方向の湾曲　長手方向の湾曲は，曲率半径33 m以上とする。

試験方法は，次による。

a) 長さ1 mのテープを平面上に自然の状態で置く。

b) 1 mの弦からの偏差を測定する。

c) 偏差は，3.8 mm以下とする。この偏差は，33 mの曲率半径と一致する。

9.7

カッピング　カッピングは，平面からテープ幅方向での浮き上がり量とし，0.7 mm以下とする。

a) テープを長さ150 mm ± 10 mmに切りとる。

b) 磁性面を試験環境の雰囲気に露出するように垂らして3時間以上放置する。

c) 中心間35 mm離して水平に置いた2個の円筒形ガイドにテープを置く。

d) テープの両端に0.3 gのおもりを付ける。

e) テープの端で決まる面とこの面からの最大偏差との距離を測定する。

9.8

磁性面及び磁気テープ裏面の接着強度　磁性面の接着強度は，磁性面をテープのベース材料からは

がす力とし，0.10 N以上とする。

試験方法は，次による（図28参照）。

a) 長さ約380 mmのテープの試験片を採り，一方の端から125 mmの位置でテープ幅方向にけがき線を

ベース面に達するまで引く。

b) 磁性面を下向きにして，両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属の板にはり付ける。

c) 試験片を180 °折り曲げ，金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて254 mm/minで引

っ張る。

d) 磁性面のどの部分でも最初にベースから磁性面がはがれたときの力を記録する。この力が0.10 Nに達

する前に両面接着テープが試験片からはがれた場合は，別の種類の両面接着テープを使用する。

テープの裏面に塗布されている場合は，a) 〜 d) に準じ，裏面の試験を行う。

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図 28 磁性面又は磁気テープ裏面の接着強度の試験法

9.9

層間の粘着　層間の粘着は，次の試験方法によって試験したとき，試験片に粘着及び磁性面又は磁

気テープ裏面のはがれの兆候があってはならない。

試験方法は，次による。

a) 直径36 mmのガラス管の表面に，長さ1 mの試験片の端を付ける。

b) 1.1 N の張力でガラス管にテープを巻く。

c) 巻かれた試験片を温度45 °C ± 3 °C ，相対湿度80 ％の環境の中に4時間放置する。

d) さらに，試験環境条件に24時間放置する。

e) 試験片の自由端に0.1 Nの力を加え，ゆっくりほどく。

9.10 引張強度　引張強度は，JIS K 7127の試験方法による。

テープの試験片の長さは，200 mmとする。リーダテープの試験片の長さは，50 mmとする。トレーラ

テープの試験片の長さは，50 mmとする。引張速度は，100 mm/minとする。

9.10.1 破断強度　破断強度は，テープが破断するのに要する力とし，8 N以上とする。

9.10.2 降伏強度　降伏強度は，テープが5 ％伸びるのに要する力とし，4 N以上とする。

9.11 残留伸び　残留伸びは，元のテープの長さの0.04 ％未満とする。

試験方法は，次による。

a) 0.20 N次の張力で，約1 m長の試験片の初期の長さを測定する。

b) さらに全断面に20.5 N･mm2の力を10分間加える。

c) 加えた力を取り除き，10分後にテープ長を測定する。

9.12 磁性面の電気抵抗　テープの磁性面の電気抵抗は，103 Ω 以下とする。

試験方法は，次による（図29参照）。

a) テープ試験片を試験環境条件に24時間放置する。

b) 24カラットの金めっきした半径r =10 mmで粗さをN4（JIS B 0031参照）で仕上げてある二つの半円

の電極に，記録面が接するように置く。これらの電極は，水平で，中心間の距離d = 8 mmとなるよう

に平行に置く。

c) 5 N･mm2の張力を発生させるために必要な力Fを試験片の両端に加える。

d) 電極に7 V ± 1 Vの直流電圧を印加して電流を測定する。この値から電気抵抗を求める。

この測定を一つのテープの試験片の5か所について行い，読み取った抵抗値を平均する。

試験片を電極に置くとき，電極間には，試験片以外の導電性のものがあってはならない。

備考　試験前に電極の表面を清掃する。

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図 29 磁性面の電気抵抗試験法

9.13 テープの巻き方　テープの巻き方は，テープの磁性面をカートリッジ及びリールの外側とする。

9.14 テープの光透過率　磁気テープ及びクリーニングテープの光透過率は，5 ％以下とする。

リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は，60 ％以上とする。

光透過率の測定方法は，附属書Aによる。

10. 磁気的特性　磁気的特性の試験は，次による。

この試験を行うとき，出力信号又は残留信号の測定は，主基準テープ，供試テープともに同じ装置の同

じ走行系を使用し，記録時再生によって行う。

規定がない限り，正アジマストラックを用いて試験する。

10.1 試験条件　磁気的特性の試験条件は，次による。

テープの状態

：記録密度 2 740 ftpmmの平均信号振幅の−40 dB以下に交流消去。

ヘッド／テープ速度

：10.683 7 m/s ± 0.003 0 m/s

テープ張力

：スキャナ（ドラム）入口で0.10 N ± 0.02 N

トラック幅

：15.0 μm ± 1.5 μm

記録ヘッドのギャップ長

：0.25 μm ± 0.03 μm

再生ヘッドのギャップ長

：0.25 μm ± 0.03 μm

ギャップアジマス

：20.00ﾟ± 0.16ﾟ

記録電流

：試験記録電流

記録波形

：方形波

再生ヘッドの配置

：記録トラックの全幅が再生ヘッドの内側

再生出力レベル

：ピーク値間の振幅

10.2 ティピカル磁界　ティピカル磁界は，基準磁界の85 ％〜115 ％とする。

基準磁界の特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.3 平均信号振幅　平均信号振幅は，記録密度 2 740 ftpmmで記録したとき，主基準テープの平均信号

振幅の−1.7 dB 〜 2.0 dBとする。

主基準テープの平均信号振幅の特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.4 分解能　分解能は，記録密度 2 740 ftpmmの平均信号振幅を783 ftpmmの平均信号振幅で除した値

とし，その値は，主基準テープを用いて同じ条件で測定したときの値に対して90 ％〜110 ％とする。

主基準テープの分解能の特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

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10.5 信号対雑音比　信号対雑音比（SNR）は，平均信号振幅の実効電力を平均雑音振幅の実効電力の積

分で除した値とし，デシベル（dB）で表す。

試験方法は，次による。

a) 分解能30 kHz及びビデオ帯域幅300 Hzのスペクトラムアナライザを使用する。

b) テープ上のある箇所の雑音の実効電力を測定し，その雑音の実効電力を1 MHzから33 MHzまで，実

際の分解能帯域幅で規準化して積分する。この結果をdBNOISEとする。

c) スペクトラムアナライザを用いてテープ上の同じ箇所の記録密度2 740 ftpmmの再生信号振幅を測定

する。1回の測定でトラックの少なくとも50 ％以上を測定し，20回以上繰り返し測定する。この結

果を15 μmのヘッド幅へ規準化する。

dBHF(15) = dB(W) + 20 log (15/W)

W：再生ヘッドの幅

SNRは，これらの結果から算出する。SNR = dBHF(15)−dBNOISE

SNRは，主基準テープのSNRの−2 dB以下であってはならない。

10.6 消去特性　消去特性は，次による。

試験記録電流で記録密度783 ftpmmの信号を記録した後，テープの長手方向に 320 000 A/mの均一な磁

界中を通過したとき，残留信号の信号振幅は，標準信号振幅の−35 dBを超えてはならない。消去磁界は，

ソレノイドの中央部の磁界のように，均一でなければならない。

10.7 テープの品質　テープの品質は，次による。

10.7.1 ミッシングパルス　ミッシングパルスは，再生信号振幅の欠損であり，再生信号の出力電圧の0 V

を基準としたピーク値（0-P）が記録密度 2 740 ftpmmの信号の平均信号振幅の1/2の30 ％以下とする。

10.7.2 ミッシングパルスゾーン　ミッシングパルスゾーンは，次による。

ミッシングパルスゾーンは，ミッシングパルスによって開始し，トラック方向に 1 mmの長さに達した

とき終了する。ミッシングパルスが連続して 1 mmを超えて発生したとき，次のミッシングパルスゾーン

とする。

一つのミッシングパルスゾーンは，次のトラックにまたがってはならない。

ミッシングパルスゾーンの発生頻度は，正アジマス及び負アジマスのトラックの両方について25トラッ

ク当たり1個未満とする。

10.7.3 重ね書き　重ね書きは，低記録密度の信号を記録をした後に，高記録密度の信号を重ね書きし，残

留する低記録密度の信号の平均信号振幅を元の低記録密度の信号の平均信号振幅で除した値とする。

主基準テープの重ね書きの特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

試験方法は，次による。

a) テープを交流消去する。

b) 記録密度783 ftpmmの信号を記録し，平均信号振幅を測定する。

c) 記録密度 2 740 ftpmmの信号を重ね書きし，残留した記録密度 783 ftpmmの信号の平均信号振幅を測

定する。

d) 二次基準テープについて繰り返し測定する。

要求事項は，次による。

重ね書きは，次の比によって求めたとき，主基準テープの 1.5 dBを超えてはならない。

20 log

重ね書き後に残留する

記録密度

783 ftpmm

の信号の平均信号振幅

記録密度

783 ftpmm

の信号の平均信号振幅

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11. トラックフォーマット

11.1 概要　テープに書き込む情報は，データバイト又は制御情報からなる。使用者データは，固定長で

も可変長でもよい。固定長使用者データは，固定長論理ブロックの集合として表す。可変長使用者データ

は，単一の論理ブロックとして表す。使用者データは，実行時圧縮データとして処理することもある論理

ブロックセット（LBS）を形成する。使用者が最初に書き込むとき，複数の論理ブロックセットの場合も

ある。論理ブロックは，11.2に規定するようにセグメントデータパケットに変換する。トラックパケット

は，11.3に規定し，制御パケットは，11.4に規定する。同期と変調を構成するトラックパケットは，11.5

に規定する。チャネルビットに変換後，トラックは一対の正アジマス及び負アジマスで書き込まれる。使

用者データをテープ上に書き込むトラックデータパケットへ変換する順序は，図30に示す。

書込み

複数書込み

使用者データ

テープへの書込み

図30 トラックフォーマットの順序

11.2 物理ブロックのフォーマット

11.2.1 論理ブロックセット（LBS）　論理ブロックセット（LBS）は，ホストコンピュータからテープ記

録装置へ送る使用者データの集合で，1個以上の論理ブロックからなる。LBSは，1〜8 191個の論理ブロ

ック（LB）を含んでもよい。

LBS長は，可変長で，連続するLBSは異なる長さをもってもよい。

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圧縮は，実行時，LBSを圧縮単位として処理する。LBS内で圧縮モードと通常（非圧縮）モードとを切

り替えることはできない。圧縮LBS及び非圧縮LBSは，テープ上で隣接してもよい(図31参照)。

図 31 論理ブロックセットの例

11.2.2 論理ブロック LBS内の各論理ブロック（LB）は，1〜262 144バイトの同じ長さをもつ。LBS内

のLBは，4バイト長の固有の論理ブロックアドレス（LBA）をもつ。LBAは，各パーティション内で1

から始まり昇順に割り当てる。論理ブロックは，LBAから直接アクセスできる。

論理ブロックは，セグメントパケットに分割し，各セグメントパケットは，64バイトの使用者データを

含む。データパケットは，制御情報とともにテープに書き込むためのバッファに格納する（11.2.3及び図

32参照）。

図32 論理ブロックからセグメントデータパケットへの変換例

11.2.3 セグメントパケット　セグメントは，図33に示すように1 220個のセグメントパケット（78 080

バイト）の集合とする。セグメントの各要素は，64バイトのパケットとする。各セグメントは，二つの領

域に分割する。

・　セグメントデータパケット・セグメントオーバーヘッドパケット：1 024パケット

・ ECC領域：196パケット

セグメントデータパケット・セグメントオーバーヘッドパケット領域は，32行32列に配列する1 024

個のパケットの集合である（図33参照）。この領域は，LBSデータとセグメントオーバーヘッドパケット

とを記録するのに使用する。セグメントオーバーヘッドパケットは，LBSがセグメントで開始及び終了す

る位置に置く。論理ブロックセットは，セグメントデータパケット境界の始点で始まり，各セグメントデ

ータパケットは，1個以上のLBSを含めてはならない。各セグメントデータパケットは，64バイト長とし，

LBSが64バイト未満のとき充てんデータを詰めてもよい。充てんデータは，この規格では規定しない。

情報交換時には，無視する。

セグメントの最終パケットは，31行31列に位置し，キーオーバーヘッドパケットとする。追加のセグ

メントオーバーヘッドパケットが必要なときこのパケットは，31行30列で始まり降順に連続するセグメ

ントに置く。

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11.2.4 セグメントオーバーヘッドパケット　セグメントのデータ領域のセグメントオーバーヘッドパケ

ットは，セグメントに記録するLBSに関するオーバーヘッド情報を含む。この情報は，次による。

・　セグメントのLBS間の全境界の位置

・　セグメントの開始するLBSの論理ブロックアドレス

・　セグメントの開始する各LBS内のLBの長さ及び個数

・　テープパーティション，ボリューム初期値及びLBSが圧縮又は非圧縮

・　セグメントフラッシュインディケータ

・　セグメントCRC

セグメントのセグメントオーバーヘッド数は，可変でLBSがセグメントに何個あるかによる。これは，

LBSサイズが可変であることによる。キーオーバーヘッドパケットは，セグメントの最終パケット位置（31

行31列）とする。セグメント内のLBS境界が7個以下の場合，キーオーバーヘッドパケットは，セグメ

ントの唯一のオーバーヘッドパケットとする。LBSデータは，それ以外のセグメントの全位置を占める（31

行30列まで）。

セグメントに存在する8個以上のLBS境界について，追加のセグメントオーバーヘッドパケットは，31

行30列で始まり，31行がオーバーヘッドパケットで満たされるまでセグメントに置く。1個のセグメント

に存在するLBS境界の最大数は，247とする。

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図 33 セグメント構成

11.2.4.1 キーオーバーヘッドパケットフォーマット　キーオーバーヘッドパケットは，64バイトからなり，

図34に示すようにフィールドを形成する。各フィールドは，セグメントCRCフィールドを除き，誤り検

出用8ビットCRCをもつ。

LBSデータを含むセグメントでは，セグメントCRC及びメインキーフィールドは，常に有効である。

メインキーフィールドの情報は，有効情報を含む追加オーバーヘッドフィールドの数を規定する。

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パケット内の

バイト位置

バイト

内容

LBS 境界フィールド

LBS 境界フィールド（第1境界）

第1LBS属性フィールド

セグメントCRC

メインキーフィールド

図 34 キーオーバーヘッドパケットフォーマット

11.2.4.1.1 LBS境界フィールド LBS境界フィールドは，キーオーバーヘッドパケットに最大6個とし，

第1境界フィールドは，バイト40〜47，第2境界フィールドは，バイト32〜39とする。図35は，各8バ

イトフィールドのフォーマットを示す。

バイト

位置

スキップ

フラッシュ

有効終了

図 35 LBS境界フィールド

LBS境界フィールドは，二つの部分からなる。最初の4バイトは，LBSの情報を含み，次の4バイトは，

セグメント位置，LBS終点キー及びLBS境界フィールドCRCを含む。

・LSZ

：論理ブロック長ビット0 〜 17。最下位バイトは，このフィールドのバイト0とする。

・NLB

：LBS当たりの論理ブロック数。この13ビット数の最上位ビットは，バイト3のb6とする。

・LBSC

：LBS圧縮フラッグ。0のとき，このLBSは非圧縮で，1のとき，このLBSは圧縮処理する。

・ECOL

：このセグメント内のLBS最終列。

・EROW ：このセグメント内のLBS最終行。

・EBYTE ：ECOL及びEROWで規定するデータパケットのLBS最終バイト。

・バイト6 ：b7〜b3は，0に設定する。b2は，LBS終点後1個の未使用パケットがあるとき，1に設定

し，それ以外のとき，0に設定する。

b1は，セグメントがこの終点後掃き出すとき（11.2.6参照），1に設定し，それ以外のとき，

0に設定する。この書込みセッションでこのセグメントにLBSデータパケットが残ってい

ないとき，セグメントは，掃き出す。

b0は，このセグメントでLBSが有効に終了するとき，1に設定し，それ以外のとき，0設

定する。

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b0を0に設定し，b2及びb1は，無視し，バイト4及びバイト5の内容は，無効とする。

・CRC

：8ビットCRCは，次の多項式で7バイトフィールド全体にわたって生成する（附属書D参

照）。

G(x)：x8 + x7 + x2 + x0

11.2.4.1.2 第1LBS属性フィールド　第1 LBS属性フィールドのフォーマットを図36に示す。

バイト

位置

図 36 LBS属性フィールド

・LBA ：このセグメントで始まる第1LBSの論理ブロックアドレス

・INIT ：テープ初期化回数。このフィールドは，テープを初期化するごとに1を加算する。

・PART ：テープパーティション数。この数は，（00）又は（01）に設定する。

・CRC ：8ビットCRCは，次の多項式で7バイトフィールド全体にわたって生成する（附属書D参照）。

g(x)：x8 + x7 + x2 + x0

11.2.4.1.3 セグメントCRCフィールド　セグメントCRCフィールドは，バイト56〜59とし，誤り検出訂

正に用いる32ビットCRCを含むこととする。LBSデータを含むセグメントの全データ領域パケットは，

生成多項式によって除算し，4バイトCRCを生成する。セグメントの最終データパケット（LBSがこのパ

ケットで終わるとき充てんデータを含む場合がある。）は，この計算で完全なパケットとしていつも用いな

ければならない。セグメントオーバーヘッド及びスキップしたパケットは，CRC算出に含めてはならない。

セグメントCRCで用いる生成多項式は，附属書Eに規定する。

11.2.4.1.4 メインキーフィールド　メインキーフィールドは，図37に示す4バイトからなる。

バイト

位置

スキップ

システムデータ

LBS終了 LBS開始　有効開始　フラッシュ

図 37 メインキーフィールドフォーマット

・バイト60：このバイトは，未使用とし，すべて“0”に設定する。

・バイト61：b7及びb6は，未使用とし，“0”に設定する。

b5は，1個の未使用パケットをスキップするとき，“1”に設定し，それ以外のとき，“0”

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に設定する（11.2.5参照）。

b4は，このセグメントのLBSデータが使用者論理ブロックデータでないとき，“1”に設

定し，それ以外のとき“0”に設定する。

b3は，少なくとも1個のLBSがこのセグメントで終わるとき，“1”に設定し，それ以外

のとき，“0”に設定する。

b2は，少なくとも1個のLBSがこのセグメントで始まるとき，“1”に設定し，それ以外

のとき，“0”に設定する。b1は，LBSがこのセグメントで終わり，同じセグメントで始ま

らないとき，“1”に設定し，それ以外のとき，“0”に設定する。b0は，このセグメントが

掃き出されたとき，“1”に設定し，それ以外のとき，“0”に設定する。

・バイト62：b7〜b3は，最終LBS境界フィールドが31行のどの列にあるか示す。

b2〜b0は，最終LBS境界フィールドが始まる64バイトパケット内の8個の開始アドレス

の一つを示す。

・バイト63：8ビットCRCは，次の多項式で7バイトフィールド全体にわたって生成する（附属書D

参照）。

G(x)：x8 + x7 + x2 + x0

11.2.5 スキップセグメントパケット　セグメントパケットは，セグメントに1個のパケットだけで，LBS

がセグメントで終了し，オーバーヘッドパケットが新しいLBSの開始を示す場合，スキップする。この状

態ではオーバーヘッドパケット及びセグメントデータパケット両者がセグメントの同じパケット領域で競

合するので，この1個のパケットは，スキップし，新しいLBSは，次のセグメントで開始する。この状態

は，セグメントの31列だけに発生する。

11.2.6 セグメントECCパケット　リードソロモン誤り訂正符号は，消去ポインタを用いてセグメントの

いずれの行，列又は対角線にある2個のパケットを訂正できる（附属書C参照）。消去ポインタは，消失

又は訂正できないパケットから結果を得る。さらに，行及び列ECCパケットは，4セットの特別ECCパ

ケットによって訂正できる。

11.2.6.1 行ECCパケット　セグメント全体の32×32パケットのデータ／オーバーヘッド領域を用いて，

行ECC符号を生成する。各行単位に2個の行ECCパケットを生成する。生成アルゴリズムは，同じ行パ

ケットの関連するバイトから2個の行ECCパケットのそれぞれに4バイトを生成する（附属書E参照）。

11.2.6.2 列ECCパケット　セグメント全体の32×32パケットのデータ／オーバーヘッド領域を用いて，

列ECC符号を生成する。各列単位に2個の列ECCパケットを生成する。生成アルゴリズムは，同じ列パ

ケットの関連するバイトから2個の列ECCパケットのそれぞれに4バイトを生成する（附属書E参照）。

11.2.6.3 対角ECCパケット　セグメント全体の32×32パケットのデータ／オーバーヘッド領域を用いて，

対角ECC符号を生成する。各対角単位に2個の列ECCパケットを生成する。生成アルゴリズムは，同じ

対角パケットの関連するバイトから2個の対角ECCパケットのそれぞれに4バイトを生成する（附属書E

参照）。

対角パケットは，それぞれ32個のパケットからなり，列0及び行nから始まる。対角パケットの次の要

素は，列及び行の数に1を加算し，modulo32で算出する（表1参照）。

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表 1 対角ECC生成

対角番号

開始行

開始列

最終行

最終列

11.2.6.4 特別ECCパケット 4個の追加のECCパケットは，32個の列パケット及び32個の行パケット

から生成する（附属書C及び図33参照）。これらの4個の特別ECCパケットは，消失した列又は行ECC

パケットを訂正するのに用いる。これらのECCパケットがLPAパケット（11.3.2参照）を参照するとき，

フォーマット内のビットの状態の規定は，次による。

Q＝0

Q=1

11.2.7 セグメントのフラッシュ　セグメントのフラッシュは，スプライス位置マーカ（SPM）をテープに

書き込んだときに発生する（11.4及び12.3参照）。

1 220個のすべてのパケット（1 024個のデータ・オーバーヘッドパケット及び196個のECCパケット）

が，トラックパケット（11.3参照）に変換し，SPMの前のテープへ書き込む。データが終了し，SPMの前

にセグメントを完全に満たせない場合，SPMの前にパーシャルセグメントを書き込む。

パーシャルセグメントを掃き出すとき，LBSデータ，セグメントオーバーヘッド及びすべてのECCパ

ケットを含むパケットだけを，テープへ記録する。パーシャルセグメントの場合，テープ上に未使用又は

消失パケットが存在する（11.4参照）。

11.3 トラックパケットフォーマット　トラックパケットは，64バイトのセグメントパケット，仮想パケ

ットアドレス，ローカルパケットアドレス，CRC/ECCバイトからなり，74バイトを形成する。その中72

バイトは，1-6RLL符号化に従ってテープへ書き込む。図38は，トラックパケットのフォーマットを示す。

パケット要素

ラベル

バイト位置

内容

仮想パケットアドレス

0及び1

アドレス拡張

ローカルパケットアドレス

2及び3

パケットの種類及び位置

パケットデータ

セグメントパケット（64バイト）

パケットCRC

パケットCRC（4バイト）

パケットECC P

リードソロモン符号，P

パケットECC Q

リードソロモン符号，Q

図 38 トラックパケットフォーマット

11.3.1 仮想パケットアドレス　仮想パケットアドレス（VPA）は，書込みセッションに関連するフィール

ドを2バイトで表す。VPAの初期値は，テープに初めて書き込んだとき1に設定し，追加書込みするごと

に1を加算する。VPAを用いて，読取り装置は，読む必要がない古い書込みセッションから正常なトラッ

クパケットを除くことができる。そのようなパケットは，書込み装置の速度変更に関連する領域に存在す

ることがある（11.4参照）。

VPAは，CRC及びリードソロモン符号の計算に含むが，テープにトラックパケットとともに書き込んで

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はならない。VPAは，パケットの数を誤り訂正を用いて決定することがある。この計算から得たVPAは，

訂正したVPAをもつパケットだけが正常であることを確認するのに用いる。古い（異なるVPAをもつ）

セッションから読み込んだ正常パケットは，破棄しなければならない。

11.3.2 ローカルパケットアドレス　ローカルパケットアドレス（LPA）は，トラックパケットのバイト2

及びバイト3に格納するフィールドで2バイトで表す。LPAは，セグメントに属さず，パケットがデータ

パケット・ECCパケット又は制御パケットであるかを示す。データパケット・ECCパケットのとき，LPA

は，パケット用のセグメントアドレスを含むこととする。セグメントアドレスは，データ/ECCパケット

が4個の完全なバッファグループ内の正しいセグメントの明確な位置を示す。各バッファグループは，6

個のセグメントを含む。

・　データパケットLPA

バッファ番号

行番号

列番号

バッファ番号：　バッファ番号を示し，（0）〜（3）に設定する。

S2〜S0：

セグメント番号を示し，（0）〜（5）に設定する。

行番号：

このデータパケットのセグメント内の行を示し，0〜31に設定する。

列番号：

このデータパケットのセグメント内の列を示し，0〜31に設定する。

R：

このパケットが再書込みのとき，“1”に設定し，それ以外のとき，“0”に設定する。

・　行ECCパケットLPA

バッファ番号

行番号

バッファ番号：　バッファ番号を示し，（0）〜（3）に設定する。

b13〜b12：

“11”に設定する。

S2〜S0：

セグメント番号を示し，（0）〜（5）に設定する。

行番号：

このデータパケットのセグメント内の行を示し，0〜31に設定する。

b8〜b7：

“00”に設定する。

P/Q：

ECC Pのとき，“0”に設定し，ECC Qのとき，“1”に設定する。

R：

このパケットが再書込みのとき，“1”に設定し，それ以外のとき，“0”に設定する。

・　列ECCパケットLPA

バッファ番号

列番号

バッファ番号：　バッファ番号を示し，（0）〜（3）に設定する。

b13〜b12：

“11”に設定する。

S2〜S0：

セグメント番号を示し，（0）〜（5）に設定する。

列番号：

このデータパケットのセグメント内の列を示し，0〜31に設定する。

b8〜b7：

“01”に設定する。

P/Q：

ECC Pのとき，“0”に設定し，ECC Qのとき，“1”に設定する。

R：

このパケットが再書込みのとき，“1”に設定し，それ以外のとき，“0”に設定する。

・　対角ECCパケットLPA

バッファ番号

バッファ番号：　バッファ番号を示し，（0）〜（3）に設定する。

対角番号

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b13〜b12：

“11”に設定する。

S2〜S0：

セグメント番号を示し，（0）〜（5）に設定する。

対角番号：

このデータパケットのセグメント内の対角を示し，0〜31に設定する。

b8〜b7：

“10”に設定する。

P/Q：

ECC Pのとき，“0”に設定し，ECC Qのとき，“1”に設定する。

R：

このパケットが再書込みのとき，“1”に設定し，それ以外のとき，“0”に設定する。

・　特別ECCパケットLPA

バッファ番号

バッファ番号：　バッファ番号を示し，（0）〜（3）に設定する。

b13〜b12：

“11”に設定する。

S2〜S0：

セグメント番号を示し，（0）〜（5）に設定する。

b8〜b3：

すべて“1”に設定する。

S：

特別ECCの第1行を“0”に設定し，特別ECCの第2行を“1”に設定する。

P/Q：

ECC Pのとき，“0”に設定し，ECC Qのとき，“1”に設定する。

R：

このパケットが再書込みのとき，“1”に設定し，それ以外のとき，“0”に設定する。

・　制御パケットLPA

バッファ番号

制御パケットタイプ番号

バッファ番号：　バッファ番号を示し，（0）〜（3）に設定する。

b13〜b9：

すべて“1”に設定する。

b8〜b6：

すべて“0”に設定する。

タイプ番号：

制御パケットタイプ番号（11.4参照）

b0：

“0”に設定する。

11.3.3 パケットデータ　パケットデータフィールドは，LPAで指定した位置に対応するセグメントからの

データ及びECCパケット又はLPAで指定した制御パケットに対応する制御パケットのデータ領域を含む。

パケットは，常にそのまま記録する。充てんデータは，LBSデータによって完全に満たさないLBSの終了

に関連するパケットを完成する。充てんデータは，この規格では規定しない。情報交換時には無視する。

制御パケットのパケットデータは，11.4に規定する。

11.3.4 パケットCRC パケットの誤り検出に用いる32ビットCRCは，パケットに含み，VPA，LPA及

びパケットデータから算出する。パケットCRCの生成は，附属書Fによる。

11.3.5 パケットリードソロモンECC 16ビットリードソロモンECC符号は，トラックパケットの最後の

2バイトを形成し，VPA，LPA，パケットデータ及びCRCから算出する（附属書B参照）。このECCは，

誤り検出及び訂正に用いる。

11.4 制御パケットフォーマット　制御パケットは，物理位置（テープ計数），論理位置（LBA），ギャッ

プタイプの識別，スプライス点に関係する情報，性能及び構成情報を含む。表3は，制御パケットデータ

領域のフォーマットを示す。

制御パケットは，トラックのどこに存在してもよいが，常に，トラックの中心にあり，この制御パケッ

トは，正規制御パケットとする。制御パケット及びその符号は，表2に示す。

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表 2 制御パケットタイプ定義

タイプ

名称

説明

未定義

情報交換時無視

正規

全トラックのトラックの中心にトラック当たり1

個

空セグメント

空セグメント，データなし又は再書込み

フラッシュSPM

データ掃き出し後のスプライス位置マーカ

テープマークSPM

テープマークのスプライス位置マーカ

固定SPM

直前の掃き出しがないスプライス位置マーカ

重ね書きギャップタイプ1

ランダム消去ギャップ　消去用ランダムギャップ

BOD領域ギャップ

EOD領域ギャップ

固定消去ギャップ

消去用正規ギャップ

OWG1トレーラ

OWG1ギャップの直後

重ね書きギャップタイプ2

ファイルマーク

ファイルマークギャップ

セットマーク

セットマークギャップ

プリSPMスキップ

SPMと直前データと混在

ポストデータダミー

トラック接合の直前

プリデータダミー

トラック接合の直後

（12）〜（1F）　未定義

情報交換時無視

制御パケットタイプは，バイト15のビット0〜4の制御パケットデータに記録する。

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表 3 制御パケットデータ領域

バイト位置

内容

説明

グローバルセグメントアドレスLSB

グローバルセグメントアドレス

グローバルセグメントアドレスMSB

テープパーティション

テープパーティション番号

論理ブロックアドレスLSB

論理ブロックアドレス

論理ブロックアドレスMSB

トラックLSB

トラック番号LSB

トラックMSB

トラック番号MSB

物理パケット番号

制御

ギャップフラグ，書込み速度，物理パケット番号

フラッシュ

フラッシュデータパケットアドレス

フラッシュ

フラッシュデータパケットアドレス

フラッシュセグメント

制御，タイプ

フラッシュシステムデータビット，制御パケットタイプ

仮想パケットアドレスLSB

仮想パケットアドレスMSB

テープ計数LSB

テープ計数MSB

初期化数LSB

初期化数MSB

ファイルマーク数LSB

ファイルマーク数MSB

セットマーク数LSB

セットマーク数MSB

未定義

情報交換時無視

制御パケットデータ領域の内容は，次による。

バイト 0：

グローバルセグメントアドレス LSB

バイト 1：

グローバルセグメントアドレス

バイト 2：

グローバルセグメントアドレス MSB

グローバルセグメントアドレス（GSAD）は，セグメント単位のアドレスを示し，24ビットで表す。

バイト 3：

制御パケットを書き込んだテープパーティション番号。この規格では，（00）及び（1）

だけを有効とする。

バイト 4：

論理ブロックアドレス LSB

バイト 5：

論理ブロックアドレス

バイト 6：

論理ブロックアドレス

バイト 7：

論理ブロックアドレス MSB

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論理ブロックアドレス（LBA，11.2.2参照）は，制御パケットをテープに書き込んだ時点のセグメント

を満たす最新のLBSの最初のLBAとする。該当トラックの制御パケットのLBAは，同じトラックにある

データパケットのLBAより大きくできる。スプライスに関するSPM制御パケットのLBAは，SPM領域

に続くLBSデータの開始に対応する。

バイト 8：

トラック番号 LSB

バイト 9：

トラック番号 MSB

これらのバイトは，パケットを書き込むトラック番号を規定する。バイト8の最下位ビットは，トラッ

クのアジマスを示す（0 = 正　及び 1 = 負）。

バイト 10：

物理パケット番号は，制御パケットに関連するトラックの位置を示す。

バイト 11：

書込み速度

b7 及び b6:： 00に設定する。

b5：

制御パケットだけを含むトラックのとき，“1”に設定し，それ以外のとき

“0”設定する。

b4 〜 b2：

このパケットを書き込むときのテープ書込み速度を示す。

001

全速（FS）

010

1/2 FS

011

1/3 FS

100

1/4 FS

101

1/5 FS

110

1/6 FS

b1及び b0：　物理パケット番号の最上位ビット（バイト10参照）

バイト 12 及び　バイト13：

バイト

フラッシュポイント列

フラッシュポイント行

フラッシュポイント列

最終オーバーヘッド列

このフィールドは，スプライス位置マーク（SPM）について有効で，SPMに先行するセグメントのフラ

ッシュデータパケットアドレスを含む。このフィールドは，最後のデータパケット（行及び列），フラッシ

ュポイント及び最終オーバーヘッドパケットの位置を示す。このフィールドは，書き出したセグメントの

どのパケットが必要かを示す。

バイト 14：

b7 〜 b3は，すべて“0”に設定する。

b2 〜 b0は，掃き出したセグメントのセグメント番号を示す。

バイト 15：

フラッシュ

システム

制御パケットタイプ

b7：このビットは，制御パケットがフラッシュ領域にあることを示す。制御パケットの

GSADがスプライスポイント以降のセグメントに属していることを示す。このビッ

トは，フラッシュ SPMトラックのとき“1”設定し，OWG1トレーラトラック対の

後を消去する。

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b6：このビットは，SPM領域がOWGに関連するとき，“1”に設定し，OWGギャップ

が完成したとき“0”に設定する。

b5：このビットは，SPMがシステムデータに先行するとき，“1”に設定し，SPMが使用

者データに先行するとき“0”に設定する。

b4 〜 b0：制御パケットタイプ

バイト 16 及びバイト17：仮想パケットアドレス。VPAは，パケットを読み込むのに既知であるため，

この情報は冗長度である。

バイト 18 及びバイト19：テープ計数は，パケットを書き込むごとにBOT及びEOTに対応するテープ

上の位置を示す値である（附属書J参照）。

バイト 20 及びバイト21：このフィールドは，テープを初期化した回数を記録し，テープを始めて初期

化したとき，（1）に設定し，それ以降初期化するごとに（1）を加算する。

バイト 22 及びバイト23：それぞれ（22）に設定する。

バイト 24 及びバイト25：この数は，現在のテープパーティションに書き込んだファイルマーク数を示

す。

バイト 26 及びバイト27：この数は，現在のテープパーティションに書き込んだセットマーク数を示す。

バイト 28 及びバイト31：それぞれ（22）に設定する。

バイト 32 〜　バイト64：これらのバイトの内容は，この規格では規定せず，情報交換時には無視する。

11.5 パケットフレーミング同期　すべてのデータパケット及び制御パケットは，テープに書き込む前に

符号化する（附属書G参照）。さらに，パケットフレーミング同期信号は，各トラックパケットの後に書

き込む。パケットフレーミング同期信号は，トラックパケットを検出する同期のために用いるチャネル領

域の固有な信号である。この信号は，チャネル変調符号のランレングス制限に従わない。同期信号は，そ

れに関連するバイトシンボルをもたない。すなわち，変調符号器によってバイトシンボルへ符号化しない。

この信号は，長さ16ビットセルで，（X0001000000001000）とする。ここで，Xは最後に書いたデータに

よって“1”又は“0”に設定する。

パケットフレーミング信号の検出は，トラックパケットの開始とする。

12. テープフォーマット　トラックの物理フォーマットは，トラック当たり387個のトラックパケットか

ら構成する（図39参照）。各トラックの先頭は，トラックパケットの直前に“1”と“0”を交互に繰り返

す最大記録周波数トーンのトラック同期領域をもつこととする。各トラックは，トラックの物理中心の近

傍に位置し，正規制御パケットをもつ。

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トラックパケット

図39 トラックフォーマット

トラックは，データ（ECCを含む。）及びギャップの2種類とする。データトラックは，データ及びECC

トラックパケット及び数種類の制御パケットを含む。ギャップトラックは，制御パケットだけを含んでも

よい（フラッシュSPMデータパケットも含む。）。ギャップトラックは，テープフォーマット構造を生成す

るのに用いる。

12.1 トラックの要素　各トラックは，端部，トラック同期領域（128個のチャネルバイト），データトラ

ックパケット（193個のトラックパケット），正規制御パケット，データトラックパケット（193個のトラ

ックパケット）及び負アジマストラックにあるクリーンアップチャネルバイトから構成する。クリーンア

ップバイトの内容は，この規格では規定せず，最終有効バイト後テープのランレングス違反を防止するの

に用いる。端部は，最大記録周波数で“1”と“0”を交互に繰り返すパターンとする。端部は，正アジマ

ストラックのデータパケットの第二セット（242個のチャネルバイト）後及び負アジマストラックのトラ

ック同期領域（241個のチャネルバイト）前に置く。トラック同期領域は，最大記録周波数で“1”と“0”

を交互に繰り返すパターンとする。

12.2 データトラックフォーマット　標準的なデータトラックは，その中心にある1個の正規制御パケッ

トをもつデータ及びECCトラックパケットから構成する。制御パケットの空セグメントタイプは，データ

トラック内に存在してもよい。この制御パケットは，トラックに書き込むためにフォーマット化するので，

書込みデータがないことを示す。プリSPMスキップ制御パケットは，データトラック内に許される唯一の

他のタイプの制御パケットとする。プリSPMスキップ制御パケットは，テープのフラッシュSPM領域に

だけ先行して用いる。

データパケットは，2個のトラックに同時書込み及び再書込み処理のためセグメントアドレスの順に記

録しない。

12.2.1 データトラックのパケット順　セグメントから得たテープパケットの順序は，パケットがトラック

内に存在することから，この規格では規定しない。パケットの順序は，セグメント内のデータパケットの

再書込みの発生に依存する。再書込みがないとき，セグメントから取り出し一対のトラックに交互に書き

込むデータパケット・ECCパケットの順序は，次による。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

・　パケットは，昇順にセグメントの各行から取り出す。

・　行ECCの2個のパケットは，データの各行を書き込んだ後に書き込む。

・　行31のデータ及びECCを書き込んだ後，セグメント全体の列ECC，対角ECC及び特別ECC領域

を書き込む。

12.2.2 再書込み　再書込みパケットは，リードアフタライトの検査中に正常に読み込めないセグメントの

任意のパケットとする。再書込みパケットは，次の3種類の方法の一つでテープトラックに挿入する。

・　再書込みパケットの数が一対のトラックの容量の半分以下のとき，再書込みパケットは，一対のト

ラックの中点後に代替で書き込む。

・　再書込みパケットの数が一対のトラックの容量の半分以上のとき，再書込みパケットは，一対のト

ラックの先頭から代替で書き込む。

・　書くべき再書込みパケットが一対のトラックの容量以下で，かつ，セグメントから書くべき新デー

タパケットがないとき，再書込みパケットの一部又は全部をトラック中に1回以上再書込みする。

12.3 ギャップトラック　ギャップトラックは，テープ上に固有の位置を規定するのに用いる。スプライ

スポイントで用いるフラッシュSPMを除いて，テープ上すべての固有位置は，ギャップトラックからなる。

・ BOD領域及びEOD領域

テープのBOD領域及びEOD領域は，ギャップトラックであり，それぞれBO制御パケットD及びEOD

制御パケットからなる。これらの領域は，テープパーティションの始端と終端を規定する。

・　消去領域

消去の目的のために重ね書きするテープの領域は，ギャップトラックとし，ランダム又は正規消去ギャ

ップパケットからなる。

・　スプライスポイント

追記録しないテープ上のスプライスポイントは，ギャップトラックの次のシーケンスによる。

・　スプライス位置マーカ（SPM）− 2対のトラック

・　重ね書き可能ギャップタイプ1（OWG1）− 20対のトラック

・ OWG1トレーラマーク − 1対のトラック

スプライスポイントに追記するとき，追記録は，OWG1ギャップ領域で開始する。SPMは，重ね書きし

てはならない。追記録は，常にOWGタイプ2ギャップ領域で開始する。追記録後，テープのトラックの

スプライスポイントシーケンスは，次による。

・　スプライス位置マーカ（SPM）

・　重ね書き可能ギャップタイプ1（OWG1）

・　重ね書き可能ギャップタイプ2（OWG2）は，新しい追記録に関連し，この書込みセッション用の

新しいVPAをもつ10対のOWG2トラックからなる。

SPMギャップは，固定長である。フラッシュSPMトラックは，再書込みデータパケットに混在するフ

ラッシュSPM制御パケットからなる。フラッシュSPM領域を規定するトラックの数は，再書込みに関連

し，再書込みが必要なとき，多くなってもよい。

・　テープマーク

テープマークは，ファイルマーク又はセットマークとする。トラックのシーケンスは，次による。

・　テープマーク（ファイル又はセット）

・　テープマークSPM

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・　重ね書き可能ギャップタイプ1（OWG1）

テープマークは，追記録シーケンスの最初のとき，OWG2ギャップトラックに先行する。テープマーク

は，最大256個とし，テープ上に連続することができる。

・　トラック接合

トラック接合は，速度変更に関連するテープ上の領域でテープに書込み中に発生してもよい。データ書

込み中に速度変更が必要なとき，ポストデータダミーギャップトラックは，速度を変更する前に最低1個

書き込むこととする。プリデータダミーギャップトラックは，速度変更の完了後，正常なデータパケット

に復帰する前にテープ上に最低1個を書き込む。

13. 記録方式　記録方式は，“1”の場合，ビットセルの中央で磁束を反転し，“0”の場合，ビットセルで

磁束を反転しないこととする。

13.1 記録密度　最大記録密度は，“1”と“0”交互のパターンのとき，公称2 740 ftpmmとする。公称ビ

ットセル長は，0.182 5 μmとする。最大記録密度で磁束反転間の長さは，公称0.365 0 μmとする。最小記

録波長は，0.729 9 μmとする。

13.1.1 長周期平均ビットセル長　長周期平均ビットセル長は，各トラックについて200個以上の連続する

パケットの記録を測定し，その値は，公称ビットセル長の ± 0.05 ％以内とする。

13.1.2 短周期平均ビットセル長　短周期平均ビットセル長は，任意のビットセルを基準とし，その前の

32個のビットセルの平均とする。その値は，同一アジマスのその前のトラックの長周期平均ビットセル長

の±0.1 ％以内とする。

13.1.3 変動率　短周期平均ビットセル長の変動率は，任意の2個の連続する32ビットセル長当たり

0.05 ％を超えてはならない。

13.2 ビットシフト　ミッシングパルスを除去して“1”を再生したときの再生信号のゼロ交差は，平均ビ

ットセル長の規定による予測位置から32 ％以上ずれてはならない。ビットシフトの測定は，附属書Hに

よる。

13.3 再生信号振幅　記録密度2 740 ftpmmで2 500磁束反転以上にわたる平均信号振幅は，標準信号振幅

の−1.7 dB〜2.0 dBとする。

14. トラックの構成

14.1 概要　トラックパターンは，テープ走行方向と一対のヘッドの回転軸との相対関係で形成する。こ

の一対のヘッドの一つは，正のアジマス角をもち，他のヘッドは，負のアジマス角をもつ。記録の方向は，

テープ基準縁から離れる方向とする。トラックの位置及び寸法は，図40による。

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：トラック角

：トラック幅

：トラック間隔

：トラック長

：正アジマストラックガードバンド

：負アジマストラックガードバンド

図 40 トラックの位置及び寸法

14.2 トラック間隔　トラック間隔は，任意の隣接した二つのトラック間で，9.10 μm ± 0.50 μmとする。

この値は，トラック接合又は追記録点に適用しないこととする。

14.3 平均トラック間隔　平均トラック間隔は，任意の連続した30トラックの間隔の平均とし，その値は，

9.10 µm ± 0.30 µmとする。トラック接合又は追記録点のトラック間隔は，この平均値に含まない。

14.4 トラック幅　トラック幅は，測定値 9.10 μm ± 1.10 µmとする。この値は，トラック接合又は追記録

点に適用しない。

14.5 トラック角　トラック角は，テープ基準縁に対する角度とし，公称値4.885 8 °〜4.892 2 °とする。

14.6 トラック長　トラック長は，73.317 mm ± 0.070 mmとする。

14.7 ガードバンド　ガードバンドは，テープ基準縁から正アジマストラックの記録開始までとし，その

幅は，1.027 mm ± 0.015 mmとする。負アジマストラックの記録開始は，正アジマストラックの記録開始よ

り0.042 mm ± 0.00 mm下の位置とする。

14.8 アジマス角　正のアジマス角は，20.00 ± 0.16 とする。負のアジマス角は，−20.00 ° ± 0.16 °とする。

14.9 トラックエッジの直線性　記録したトラックエッジは，27 μm間隔の2本の平行線の間になければ

ならない。平行線は，テープ基準縁から公称トラック角で設定する。

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15. テープの配置

15.1 概要　テープの配置は，図41による。テープは，1個又は2個の利用者パーティションからなる。

パーティションは，最初のパーティションをパーティション0とし，昇順に番号を付ける。テープフォー

マットの構成要素は，次の15.2〜15.7に規定する。テープ計数は，テープフォーマットの種々の構成要素

の位置を示すのに用いる（附属書J参照）。テープは，全体に消去ギャップを書込み消去する（12.3参照）。

利用者パーティションは，テープをフォーマットするとき，システムパーティションに続いて1個又は2

個を書き込む。システムパーティションは，BOTからテープ計数の固定数に書き込み，BOD領域，16個

の識別TDR及びEOD領域を含む。利用者パーティションは，システムパーティションに続いて書き込み，

BOD領域，16個の識別THR，利用者データ，SPM，16個の識別TDR及びEOD領域を含む。初期化した

テープは，利用者データを書く場所に0を設定したLBAでSPMをもつ。終端予告（EW）及び仮想EOP

は，テープ計数値で示す。利用者パーティションの物理終端は，固定テープ計数で示し（表5参照），EOP

の前約0.25 mとする。EWとEOPとの間の距離は，約0.25 mとし，固定テープ計数で示す。EOPとBOD

との間の距離は，パーティションがEOPに続くとき，約0.25 mとし，固定テープ計数で示す。最後の利

用者パーティションの物理終端は，固定テープ計数で示し，EOTから0.5 m以上とする。

利用者データ：

利用者パーティションn

図41 テープの配置

15.2 パーティションの開始位置　すべてのパーティションは，BODで開始する。システムパーティショ

ンのBOD領域は，290トラックとし，各トラックは，BOD制御パケットからなる。システムパーティシ

ョンのBOD領域は，BOTから0.5 m以上離れた位置にあるトラック1で開始し，その位置をテープ計数

で示す。利用者パーティション1のBOD領域は，1 448トラックとし，各トラックは，BOD制御パケット

からなる。利用者パーティション1のBOD領域は，システムパーティションのEOPに続くトラック1で

開始し，その位置をテープ計数で示す。利用者パーティション2が存在するとき，そのBOD領域は，1 448

トラックとし，各トラックは，BOD制御パケットからなる。利用者パーティション2のBOD領域は，利

用者パーティション1のEOPに続くトラック1で開始し，その位置をテープ計数で示す。

15.3 テープヘッダレコード（THR） THRは，各利用者パーティションに書き込む。THRは，BOD領

域に続いて記録し，利用者パーティションの利用者データに先行する。THRは，データの信頼性を確保す

るため16回書き込む。THRの内容を表4に示す。THRは，（FFFFFF40）〜（FFFFFF4F）の唯一のLBA

をもつ論理アドレスとする。

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表 4 テープヘッダレコード

バイト位置

内容

レコードタイプ ‒ （10）に設定

版数番号 ‒ （06）に設定

パーティションID ‒ このTHRの位置

下位版数互換性 ‒ （06）に設定

5 及び 6

初期化回数 ‒ 媒体フォーマット及びパーティション回数

フォーマットタイプ ‒ （00）に設定

パーティション番号 ‒ テープの利用者パーティションの数

9 及び 10

利用者パーティション0が始まるテープ計数 ‒ 利用者パーティション0の物理開始位置

11 及び 12

利用者パーティション0の長さ ‒ メガバイト単位で表示

13 及び 14

予約済 ‒ （00）に設定

15 及び 16

利用者パーティション1が始まるテープ計数 ‒ 利用者パーティション1の物理開始位置 ‒

単一パーティションのとき（00）に設定

17 及び 18

利用者パーティション0の長さ ‒ メガバイト単位で表示 ‒ 単一パーティションのとき

（00）に設定

19 及び 20

予約済 ‒ （00）に設定

21 及び 22

システムパーティションが始まるテープ計数 ‒ システムパーティションの物理開始位置

23 及び 24

システムパーティションの長さ ‒ （00）に設定

予約済 ‒ （00）に設定

15.4 データ領域　データ領域は，利用者パーティションにあるTHRに続いて記録し，データパケット，

ECCパケット及びギャップパケットから構成する。ファイルマーク及びセットマークは，ホストシステム

からの要求で記録する。データパケット又はECCパケットは，誤りがあるとき，再書込みしてもよい。再

書込み物理ブロックのパケットヘッダは，テープ上の位置を示すエントリを除いて元のパケットヘッダと

同じとする。パケットは，繰り返し再書込みしてもよい。スプライス位置マーカ（SPM）は，利用者デー

タの終わり及び追記録用テープディレクトリレコードの前に書き込む（12.3参照）。

15.5 テープディレクトリレコード TDRは，各パーティションの内容を規定する情報を含み，THRのコ

ピーも含む。TDRは，16回書き込むこととし，（FFFFFFC0）〜（FFFFFFCF）の唯一のLBAをもつ論理

アドレスとする。TDRの内容は，表5に示す。

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表 5 テープディレクトリレコード

バイト位置

内容

レコードタイプ ‒ （20）に設定

版数番号 ‒ （06）に設定

テープヘッダレコード情報

93 及び 94

利用者パーティション0の最後のVPA

95 及び 96

利用者パーティション0のTHRの開始位置のテープ計数

97 及び 98

利用者パーティション0のデータの開始位置のテープ計数

99 及び 100

利用者パーティション0のTDRの開始位置のテープ計数

101 及び 102

利用者パーティション0のEODの終了位置のテープ計数

103 及び 104

利用者パーティション0の終端予告のテープ計数

105 及び 106

利用者パーティション0のEOPの開始位置のテープ計数

107 及び 108

利用者パーティション0のEOPの終了位置のテープ計数

利用者パーティション0の最後のLBA

113 及び 114

利用者パーティション0の最後のLBA のテープ計数

115 及び 116

利用者パーティション1の最後のVPA［存在しないとき，（00）に設定］

117 及び 118

利用者パーティション1のTHRの開始位置のテープ計数［存在しないとき，（00）に設定］

119 及び 120

利用者パーティション1のデータ開始位置のテープ計数［存在しないとき，（00）に設定］

121 及び 122

利用者パーティション1の TDRの開始位置のテープ計数［存在しないとき，（00）に設定］

123 及び 124

利用者パーティション1の EODの終了位置のテープ計数［存在しないとき，（00）に設定］

125 及び 126

利用者パーティション1の終端予告のテープ計数［存在しないとき，（00）に設定］

127 及び 128

利用者パーティション1のEOPの開始位置のテープ計数［存在しないとき，（00）に設定］

129 及び 130

利用者パーティション1のEOPの終了位置のテープ計数［存在しないとき，（00）に設定］

利用者パーティション1の最後のLBA［存在しないとき，（00）に設定］

135 及び 136

利用者パーティション1の最後のLBA のテープ計数［存在しないとき，（00）に設定］

137 及び 138

システムパーティションの最後のVPA

予約済 ‒ （00）に設定

147 及び 148

システムパーティションの終端予告のテープ計数

149 及び 150

システムパーティションのEOPの開始位置のテープ計数

151 及び 152

システムパーティション0のEOPの終了位置のテープ計数

予約済 ‒ （00）に設定

15.6 データの終端（EOD） EODは，各パーティションのTDRの直後に書き込む。システムパーティ

ションのEOD領域は，TDRに続く公称テープ速度で書き込んだ290トラックとし，各トラックは，EOD

制御パケットを含む。利用者パーティションのEOD領域は，そのパーティションのTDRに続く1 448ト

ラックとし，各トラックは，EOD制御パケットを含む。データ領域は，追記録してもよい（12.3参照）。

15.7 パーティションの終端（EOP） EOPは，テープ計数で規定するパーティションの仮想終端で（附

属書J参照），パーティションのデータを次のパーティションに重ね書きすることを防ぐ。

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附属書A（規定）テープ及びリーダの光透過率の測定方法

A.1 概要　この附属書は，テープの光透過率の測定装置及び測定方法を規定する。

光透過率は，測定装置に試験片を入れないときの計測値と入れたときの計測値の比を百分率（％）で表

す。

A.2 測定装置の構成　測定装置の構成は，次による。

− 光源

− 光検出部

− 測定用マスク

− 光学系

− 測定回路

A.2.1 光源　光源は，次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード（LED）を使用する。

波長：

850 nm ± 50 nm

半値幅：

± 50 nm

A.2.2 光検出部　光検出部は，平らなシリコンフォトダイオードを用い，閉回路で動作する。

A.2.3 測定用マスク　測定用マスクは，厚さを2 mmとし，孔の直径（d）をフォトダイオードの受光領

域の80 ％〜100 ％の大きさに設定する。

表面は，黒のつや消しとする。

試験片は，マスクの孔を覆い，かつ，周りの光が漏れないようにマスクに固定する。

A.2.4 光学系（附属書A図1）　光は，マスクに垂直に入射し，光源からマスクまでの距離(L)は，次の

式による。

L = d / 2 tan α

ここに，

d： mm

α：　光軸上の最大光量に対して95 ％以上の光量がある領域に設定

A.2.5 仕上げ　装置全体は，つや消しの黒いケースで覆う。

A.2.6 測定回路（附属書A図2）　測定回路は，次による。

：出力電圧可変の定電圧電源

：電流制限用の抵抗器

LED

：赤外線発光ダイオード

：シリコンフォトダイオード

：演算増幅器

Rf0，Rf1

：帰還用の抵抗器

：増幅率切替えスイッチ

：電圧計

LEDに流れる電流，すなわち，照射力は，供給電圧(E)によって変化させる。

Diは，回路を閉じて動作させる。

演算増幅器の出力電圧は，次による。

V0 = Ik × Rf

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ここに，

Ik： Diの閉回路での電流

出力電圧は，光量に比例する。

Rf0 及び Rf1 は，許容誤差 1 ％で，温度による抵抗変化の小さい抵抗器とする。これらの抵抗値の比は，

次の式による。

Rf0/ Rf1 = 1/20

A.3 測定方法　測定方法は，次による。

− スイッチ（S）を位置（0）に設定する。

− 試験片を取り付けないで，電圧計（V）の指示がフルスケール（100 ％）になるようにLEDの供給

電圧（E）を変化させる。

− リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。このときの電圧計は，60 ％〜100 ％を示

す。

− 磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ（S）を位置（1）に設定する。このときの電

圧計のフルスケールは，光透過率5 ％を示す。

附属書A図 1 光学系の構成

附属書A図 2 測定回路

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附属書B（規定）パケットECC

パケットECC検査バイトは，リード・ソロモン符合とする。パケットECCの生成多項式は，次による。

()

∑

(

)

符号シンボルは，ガロア体GF(256)とする。ガロア体の生成多項式p(x)は，次による。

()

パケットECC検査バイトは，72個のパケットバイトから情報多項式にx8を乗算し，次にg(x)を除算し

て得る。この除算の剰余は，パケットECCの2個の検査バイトとする。

情報多項式は，2個のVPAバイト，2個のLPAバイト，64個のデータバイト及び4個のCRCバイト（合

計72バイト）からなる。VPAの最初のバイトは，最上位係数とし，最後のCRCバイトは，最下位係数と

する。

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附属書C（規定）セグメントECC

各セグメントは，4種類のECCパケットを生成する（行ECC，列ECC，対角ECC及び特別ECC）。同

じアルゴリズムを用いて，4種類のECCを生成する。

セグメントECC検査バイトは，リードソロモン符合とする。セグメントECC生成多項式は，次による。

()∑

(

)

符号シンボルは，ガロア体GF(256)とする。ガロア体の生成多項式p(x)は，次による。

()

セグメントECC検査バイトは，32個のセグメントバイトから情報多項式にx8を乗算し，次にg(x)を除

算して得る。この除算の剰余は，セグメントECCの2個の検査バイトとする。

情報多項式は，同じバイト数の32個の異なるパケットからなる。行ECC，列ECC及び特別ECCの場

合，最下位番号パケットのバイトは，最上位係数とし，最上位番号パケットは，最下位係数とする。対角

ECCの場合，行番号が対角番号に等しいパケットのバイトは，最上位係数とし，行番号が対角番号マイナ

ス1（mod 32）に等しいパケットのバイトは，最下位係数とする。

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附属書D（規定）セグメントオーバーヘッドCRCの生成

セグメントオーバーヘッドは，次の3種類の8ビットCRCからなる。

1) LBS境界フィールドCRC

2) メインキーフィールドCRC

3) 第1LBS属性フィールドCRC

3種類のCRCの生成は，次の生成多項式による。

()

CRCは，特定のセグメントオーバーヘッドフィールドごとに生成し，オーバーヘッドフィールド全体か

ら情報多項式にx8を乗じ，次にg (x)で除して得る。この除算の剰余は，8ビットCRCとする。

情報多項式は，特定のセグメントオーバーヘッドの全ビットからなる。特定のセグメントオーバーヘッ

ドフィールドの第一（最下位アドレス）バイトは，最上位係数とし，最後（最上位アドレス）のバイトは，

最下位係数とする。各バイトのビット0は，最上位係数とし，ビット7は，最下位係数とする。

CRCレジスタは，各セグメントオーバーヘッドフィールドごとに0に初期化する。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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附属書E（規定）セグメントデータCRCの生成

セグメントデータCRCの生成は，次の生成多項式による。

()

セグメントCRCは，セグメントデータパケットごとに生成し，セグメントデータ全体から情報多項式に

x32を乗じ，次にg (x)で除して得る。この除算の剰余は，32ビットセグメントデータCRCとする。

情報多項式は，セグメントデータパケットの全ビットからなる。セグメントのパケット0の第一バイト

は，最上位係数とし，セグメントのデータ領域に含む最後パケットの最後のバイトは，最下位係数とする。

各バイトのビット7は，最上位係数とし，ビット0を最下位係数とする。

セグメントデータCRCレジスタは，各セグメントごとに0に初期化する。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

附属書F（規定）パケットCRCの生成

パケットCRCの生成は，次の生成多項式による。

()

パケットCRCは，パケットのVPA，LPA及びデータフィールドからの情報多項式にx32を乗じ，次にg (x)

で除して得る。この除算の剰余は，32ビットパケットCRCとする。

情報多項式は，パケットのVPA，LPA及びデータフィールドの全ビットからなる。VPAの第一バイトは，

最上位係数とし，データ領域の最後（第64番目）のバイトは，最下位係数とする。各バイトのビット7

は，最上位係数とし，ビット0は，最下位係数とする。

パケットCRCレジスタは，各セグメントごとに0に初期化する。

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附属書G（規定）8ビットバイトから14ビットパターンへの変換

附属書G表1からコードワードの選択は，第一基準（1A及び1B）を満たすこととする。少なくとも1

個のコードワードは，附属書G表1の定義を満たさなければならない。

1) A）最終デジタル合計値（DSV）は，−2，0又は＋2とする。

B）直前のコードワードの結合は，ランレングス違反をしてはならない。新しいコードワードの2

ビットとそれに隣接する直前のコードワードの最後の6ビットは，単独の孤立した1（又は0）

又は8個の1（又は0）をもってはならない。

1個のコードワードだけがステップ1を満たすとき，コードワードは，そのシンボルに用いる。ステッ

プ1を満たす幾つかの可能なコードワードがあるとき，次のステップを行う。

2) ビット変化の最大数をもつコードワードを選択する。直前のコードワードの最終ビットは，変化数

を計数するとき考慮する。

1個以上のコードワードがステップ2の後に残るとき，次のステップ3を行う。

3) 1個以上のコードワードがステップ2の後に残るとき，0の最終DSVをもつコードワードを選択す

る。1個以上のコードワードがこれを満たすとき，コードワードは，次のように解決する：1のMSB

をもつコードワードを選択する。コードワードが同じMSBをもつとき，最も負のコードデジタル

合計（CDS）をもつコードワードを選択する。

4) ステップ3を満たすコードワードがないとき，ステップ2の結果を次のように解決する：1のMSB

をもつコードワードを選択する。コードワードが同じMSBをもつとき，最も負のコードデジタル

合計（CDS）をもつコードワードを選択する。

次の表で（31）〜（7F），（A1）〜（C5），（DA）〜（E9）及び（F4）〜（FD）は，4個のコードワード

をもち，他のすべての値は，2個のコードワードをもつ。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

附属書G表 1 8ビットから14ビットへの変換

バイト

（10進数）

バイト

（16進数）

表1パターン

表2パターン

表3パターン

表4パターン

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

附属書G表 1 8ビットから14ビットへの変換（続き）

バイト

（10進数）

バイト

（16進数）

表1パターン

表2パターン

表3パターン

表4パターン

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

附属書G表 1 8ビットから14ビットへの変換（続き）

バイト

（10進数）

バイト

（16進数）

表1パターン

表2パターン

表3パターン

表4パターン

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

附属書G表 1 8ビットから14ビットへの変換（続き）

バイト

（10進数）

バイト

（16進数）

表1パターン

表2パターン

表3パターン

表4パターン

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

附属書G表 1 8ビットから14ビットへの変換（続き）

バイト

（10進数）

バイト

（16進数）

表1パターン

表2パターン

表3パターン

表4パターン

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

附属書G表 1 8ビットから14ビットへの変換（続き）

バイト

（10進数）

バイト

（16進数）

表1パターン

表2パターン

表3パターン

表4パターン

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

附属書H（規定）ビットシフトの測定方法

H.1 記録装置　試験テープは，情報交換に使用する磁気テープ装置で記録する。

テープは，システムの動作に支障がないように記録されているものを用いる。

H.2 読取り装置　読取りヘッドの出力電圧の絶対値は，規定しない。ただし，読取りヘッド，前置増幅

器，回転トランス及びヘッドとテープの相対速度は，低い信号対雑音比に起因する問題が発生しないよう

に選択する。この試験は，リードアフターライトモードで実行する。

読取りヘッド

ギャップ長

：0.25 µm ± 0.03 µm

トラック幅

：9.10 µm ± 1.10 µm

正アジマス

：20.00 ° ± 0.16 °

負アジマス

：−20.00 ° ± 0.16 °

H.3 測定方法　平均ビットセルの長さ（L）は，試験ゼロ交差点（TZC）の両側にある二つの基準ゼロ交

差点（RZC）の間隔から得る。基準ゼロ交差点は，最大物理記録密度で少なくとも両側にそれぞれ2個以

上のビット“1”のゼロ交差点をもつようなビット“1”のゼロ交差点とする。RZCは，その変化率を2％

未満に保つため，40ビットセル以下とする（附属書H図1参照）。

13.2に規定したビットシフト値は，データパターンを附属書Gの規定によって記録した場合に適用する。

H.4 データ分析

ここに，RZC：基準ゼロ交差点

TZC：試験ゼロ交差点

Pn ：n番目の“1”のゼロ交差点の位置

二つの基準ゼロ交差点の間にあるビットセルの数をnとしたとき，平均ビットセル長は，次による。

3−

P P

最初の基準ゼロ交差点と試験ゼロ交差点との間にmビットの間隔がある場合，ビットシフト(BS）は，

次による。

Bit shift

−

(

−

)

100

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

附属書H図 1 波形の測定

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

附属書J（規定）テープ計数

テープ計数は，VXA-1フォーマットの各種要素の位置を示すのに用いる。テープ計数に関連する要素は，

次による。

・制御パケット

・利用者パーティション

・システムパーティション

・THR

・利用者使用者データの開始

・データの終端（EOD）

・TDR

・終端予告

・パーティションの終端（EOP）

・最後のLBA

各種テープは，BOTでテープ計数を初期値に設定し，仮想EOTでテープ計数を最大値に設定する。テ

ープ計数は，テープが供給リールから巻取りリールへ移動するごとに 1 を加算する。テープ計数は，テー

プが巻取りリールから供給リールへ移動するごとに 1 を減算する。

VXA-1フォーマットで使用するテープ計数の固定値は，次による。

附属書J表 1 テープ計数の固定値

タイプ A（170 m）　タイプ B（107 m）

タイプ C（62 m）

BOTのテープ計数値

テープ計数の最大値

BOTとシステムパーティション間の

テープ計数値

システムパーティションデータ

（BOD / TDR / EOD）のテープ計数値

終端予告領域のテープ計数値

EOPのテープ計数値

最終パーティションのEOPの終端で

可能な最大テープ計数値

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

X 6178：2006 (ISO/IEC 20062：2001)

附属書K（参考）輸送条件

この附属書は，カートリッジの望ましい輸送条件を記述するもので，規定の一部ではない。

K.1 環境条件　カートリッジの輸送時の環境条件は，次によることが望ましい。

温度

：− 40 °C 〜 45 °C

相対湿度

：5 ％　〜 80 ％

湿球温度

：26 °C 以下

カートリッジの内部及び表面は，結露させない。

K.2 カートリッジの輸送条件　カートリッジの輸送は，次による。

K.2.1 衝撃及び振動　輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために，次のような対策をとること

が望ましい。

カートリッジを変形させるおそれがある機械的な荷重を加えない。

カートリッジは，1 mを超える高さから落下させない。

カートリッジは，十分な衝撃吸収材をもった強固な箱の中に収納する。

カートリッジの収納箱は，内部が清浄で，かつ，じんあい（塵埃），水などの侵入がない構造とする。

カートリッジの収納箱内での収納方法は，テープリールの中心軸が水平になるようにする。

カートリッジの収納箱は，正しい方向（天地）に置けるように明確な表示をする。

K.2.2 極端な温度差及び湿度　温度及び湿度の急激な変化は，どのような場合でも可能な限り回避する。

輸送されたカートリッジは，必ず使用環境条件に最低24時間放置する。

K.2.3 誘導磁界の影響　カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は，外部磁界の影響による

信号破壊の危険性を最小限にするため，80 mm以上とする。