JIS Z 4401 : 2006 放射線測定用試料皿

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

Z 4401：2006

まえがき

この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電気

計測器工業会(JEMIMA)／財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正す

べきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって，JIS Z 4401:1993は改正され，この規格に置き換えられる。

改正に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60248:1984，Dimensions of planchets

used in nuclear electronic instrumentsを基礎として用いた。

この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について，責任をもたない。

JIS Z 4401には，次に示す附属書がある。

附属書（参考）JISと対応する国際規格との対比表

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

Z 4401：2006

目

次

ページ

序文 ··································································································································· 1

1. 適用範囲 ························································································································ 1

2. 引用規格 ························································································································ 1

3. 種類 ······························································································································ 1

4. 材料 ······························································································································ 1

5. 形状及び寸法 ·················································································································· 1

5.1 JIS形 ·························································································································· 1

5.2 IEC形 ························································································································· 2

6. 平面度 ··························································································································· 3

7. 表面仕上げ ····················································································································· 3

8. 試験方法 ························································································································ 4

9. 包装表示 ························································································································ 4

附属書（参考）JISと対応する国際規格との対比表 ····································································· 5

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格

JIS

Z 4401：2006

放射線測定用試料皿

Planchets used in radiation measurement instruments

序文　この規格は，1984年に第2版として発行されたIEC 60248:1984，Dimensions of planchets used in nuclear

electronic instrumentsを翻訳し，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，原国際規格を変更している事項である。変

更の一覧表をその説明を付けて，附属書（参考）に示す。

1. 適用範囲　この規格は，放射性核種から放出される放射線を測定するための放射線測定用試料皿（以

下，試料皿という。）について規定する。

備考　この規格の対応国際規格を，次に示す。

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD

（修正している），NEQ（同等でない）とする。

IEC 60248:1984，Dimensions of planchets used in nuclear electronic instruments (MOD)

2. 引用規格　次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS B 7533 てこ式ダイヤルゲージ

JIS B 7507 ノギス

JIS G 4305 冷間圧延ステンレス鋼板及び鋼帯

3. 種類　試料皿の種類は，JIS形及びIEC形の2種類とする。

4. 材料　試料皿の材料は，JIS G 4305に規定するSUS 304-CPで，仕上げ厚さ0.2 mm若しくは0.3 mm

のステンレス鋼板又はこれと同等のものとする。ただし，IEC形は，材料を規定しない。

5. 形状及び寸法

5.1

JIS形 JIS形試料皿の形状は，図1に示す。また，寸法及び許容差は，表1による。

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Z 4401：2006

図 1 JIS形試料皿

表 1 JIS形試料皿の寸法及び許容差

単位 mm

直径

5.2

高さ

許容差

厚さ

（外側）

0.8以下

IEC形 IEC形試料皿の形状は，ウェルタイプ，リム付きタイプ及びフラットタイプとし，図2〜4

に示す。また，各タイプの寸法及び許容差は，表2〜4による。

図 2 IEC形（ウェルタイプ）試料皿

表 2 IEC形（ウェルタイプ）試料皿の寸法及び許容差

単位 mm

直径

高さ

許容差

厚さ

（外側）

0.6以下

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Z 4401：2006

図 3 IEC形（リム付きタイプ）試料皿

表 3 IEC形（リム付きタイプ）試料皿の寸法及び許容差

単位 mm

直径

高さ

許容差

直径

厚さ

（外側）

15.0以上

0.6以下

0.5以下

0.6以下

0.5以下

40.0以上

26.0以上

52.0以上

注(1) 1インチフィルタ用

(2) 2インチフィルタ用

図 4 IEC形（フラットタイプ）試料皿

表 4 IEC形（フラットタイプ）試料皿の寸法及び許容差

単位 mm

直径

許容差

厚さ

0.6以下

6. 平面度　試料皿の平面度は，平たん（坦）部分の長さ方向20 mmに対して，偏差が0.1 mm以下でな

ければならない。

7. 表面仕上げ　試料皿は，測定に支障を来さないように，内外面のほか，端縁も十分滑らかで，かつ，

清浄に仕上げなければならない。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

Z 4401：2006

8. 試験方法　試料皿の試験は，次による。

a) 寸法試験 JIS B 7507に規定する最小目盛値1/20 mm，測定長300 mm以下のノギス又はこれと同等以

上の精度のものを用いる。

b) 平面度試験 JIS B 7533に規定する最小目盛値1/100 mm以下のてこ式ダイヤルゲージ又はこれと同

等以上の精度のものを用いる。

9. 包装表示　試料皿の包装には，次の事項を表示しなければならない。

a) 名称

b) 種類・形状及び寸法

例 JIS形　直径25.4 mm 高さ6.2 mm，IEC形（ウェルタイプ）直径25.4 mm 高さ3.2 mm，IEC形（リ

ム付きタイプ）直径25.4 mm 高さ2.0 mm

c) 製造年月又はその略号

d) 製造業者名又はその略号

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

Z 4401：2006

附属書（参考）JISと対応する国際規格との対比表

JIS Z 4401：2006 放射線測定用試料皿

(Ⅰ) JISの規定

項目

番号

内容

1. 適用範囲

放射性核種から放出される

放射線を測定するための試

料皿について規定。

2. 引用規格

IEC 60248：1984，放射線測定用試料皿の寸法

(Ⅱ) 国際

規格番号

(Ⅲ) 国際規格の規定

項目

番号

内容

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の項目ご

との評価及びその内容

表示箇所：本体

表示方法：側線又は点線の下線

技術的差異の内容

項目ごとの

評価

JISとほぼ同じ。

MOD/変更

IECに規定なし。

MOD/追加

(Ⅴ) JISと国際規格と

の技術的差異の理由及

び今後の対策

IEC規格は，寸法だけ規定。JIS

品質確保のために必要

は，材料，試験方法なども規定。　な項目を追加。

品質評価に必要であ

る。

3. 種類

JIS形及びIEC形

IECに規定なし。

MOD/追加

JIS形を追加。

国内で使われている

JIS形を追加。次回IEC

規格改正時に提案す

る。

4. 材料

JIS G 4305のSUS 304-CP

ステンレスとする。

IECに規定なし。

MOD/追加

JIS形の材料を追加。

5. 形状及び

寸法

5.1 JIS形 1種類

IECに規定なし。

MOD/追加

品質を確保するため必

要。次回IEC規格改正

時に提案する。

次回IEC規格改正時

に提案する。

ウェルタイプ，リム付きタ

イプ，フラットタイプの3

種類

JISと同じ。

MOD/削除

IECに規定なし。

MOD/追加

6. 平面度

長さ方向20 mmに対して，

偏差は0.1 mm以下。

7. 表面仕上

げ

端縁も十分滑らかで，清浄

に仕上げる。

IEC規格の上面図を削除。

JISに表面仕上げを追加。

なくても理解できるた

め。

品質を確保するため必

要。次回IEC規格改正

時に提案する。

5.2 IEC形

Z 4401：2006

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

9. 包装表示

内容

寸法試験及び平面度試験。

試料皿の包装に表示すべき

事項を規定。

(Ⅲ) 国際規格の規定

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の項目ご

との評価及びその内容

表示箇所：本体

表示方法：側線又は点線の下線

項目

番号

内容

IECに規定なし。

項目ごとの

評価

MOD/追加

IECに規定なし。

MOD/追加

JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD

備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。

― IDT……………… 技術的差異がない。

― MOD/削除……… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

― MOD/追加……… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

― MOD/変更……… 国際規格の規定内容を変更している。

2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。

― MOD…………… 国際規格を修正している。

(Ⅴ) JISと国際規格と

の技術的差異の理由及

び今後の対策

技術的差異の内容

JISに試料皿の測定方法を追

加。

品質を確保するため必

要。次回IEC規格改正

時に提案する。

JISに表示方法を追加。

品質を確保するため必

要。次回IEC規格改正

時に提案する。

項目

番号

8. 試験方法

(Ⅱ) 国際

規格番号

(Ⅰ) JISの規定