2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
K 5602：2008
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 1
4 原理······························································································································· 2
5 装置······························································································································· 2
5.1 分光光度計 ··················································································································· 2
5.2 標準白色板 ··················································································································· 3
6 試験片の作製 ··················································································································· 3
6.1 試験板 ························································································································· 3
6.2 試料のサンプリング及び調整···························································································· 3
6.3 試料の塗り方 ················································································································ 3
6.4 乾燥方法 ······················································································································ 3
7 分光反射率の測定 ············································································································· 4
8 日射反射率の求め方 ·········································································································· 4
9 試験報告書 ······················································································································ 4
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
K 5602：2008
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本塗料工業会(JPMA)及び財団法
人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標
準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は
もたない。
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
K 5602：2008
塗膜の日射反射率の求め方
Determination of reflectance of solar radiation by paint film
序文
この規格は，建築物の屋根・屋上などに施工する塗料の性能を評価するために作成した日本工業規格で
ある。
なお，対応国際規格は，現時点で制定されていない。
1
適用範囲
この規格は，分光光度計を用いた，塗膜の日射反射率の求め方について規定する。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS K 5500 塗料用語
JIS K 5600-1-2 塗料一般試験方法−第1部：通則−第2節：サンプリング
JIS K 5600-1-3 塗料一般試験方法−第1部：通則−第3節：試験用試料の検分及び調整
JIS K 5600-1-6:1999 塗料一般試験方法−第1部：通則−第6節：養生並びに試験の温度及び湿度
JIS K 5600-4-1:1999 塗料一般試験方法−第4部：塗膜の視覚特性−第1節：隠ぺい力（淡彩色塗料
用）
ISO 9845-1:1992，Solar energy−Reference solar spectral irradiance at the ground at different receiving
conditions−Part 1: Direct normal and hemispherical solar irradiance for air mass 1.5
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS K 5500によるほか，次による。
3.1
全天日射
大気圏を透過して地上に直接到達する日射（直達日射），及び空気分子，じんあいなどによって散乱，反
射又は再放射され天空から地表に到達する日射（天空日射）の総和。
注記 この規格では，全天日射のうち，近紫外域，可視域及び近赤外域（波長300 nm〜2 500 nm）の
放射を対象としている。
3.2
分光反射率
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2
K 5602：2008
波長範囲(300 nm〜2 500 nm)で，規定の波長域において分光光度計を用いて測定した反射光束から求めた
反射率。
3.3
日射反射率
規定の波長域において求めた分光反射率から算出するもので，塗膜表面に入射する全天日射に対する塗
膜からの反射光束の比率。
3.4
重価係数
ISO 9845-1:1992の表1列8に規定された基準太陽光の分光放射照度[W/(m2・nm)]を，規定の波長域にお
いて，波長で積分した放射照度 [W/m2]。
注記 基準太陽光とは，反射特性を共通の条件で表現するために，放射照度及び分光放射照度分布を
規定した自然太陽光である。この基準太陽光の分光放射照度分布は，次の大気及び測定面の傾
斜条件下で，全天日射照度が1 000 W/m2となるものである。
大気の状態が，
1) 下降水分量
： 1.42 cm
2) 大気オゾン含有量
： 0.34 cm
3) 混濁係数（波長500 nmの場合）
： 0.27
4) エアマス
： 1.5
測定条件が，
5) アルベド
： 0.2
6) 測定面（水平面に対して）
： 37度
なお，全天日射量とは，単位面積の水平面に入射する太陽放射の総量。
4
原理
対象とする波長範囲において標準白色板の分光反射率を100 %とし，これを基準として，試料の各波長
における分光反射率を求め，基準太陽光の分光放射照度の分布を示す重価係数を乗じ，対象とする波長範
囲にわたって加重平均し，日射反射率を求める。
5
装置
5.1
分光光度計 分光光度計は，一般の化学分析に用いる分光光度計（近紫外，可視光及び近赤外波長
域用）に，受光器用の積分球を附属したもの（図1参照）で，次の条件を満足しなければならない。
a) 波長範囲 300 nm〜2 500 nmの測定が可能なもの。
b) 分解能 分解能は，5 nm以下のもの。
c) 繰返し精度 780 nm以下の波長範囲では測光値の繰返し精度が0.5 %以下，780 nmを超える波長範囲
では測光値の繰返し精度が1 %以下の，測光精度をもつもの。
d) 波長正確度 分光光度計の波長目盛の偏りが，780 nm以下の波長では，分光光度計の透過波長域の中
心波長から1 nm以下，780 nmを超える波長範囲では5 nm以下の波長正確度をもつもの。
e) 照射ランプ 照射ランプは，波長300 nm〜2 500 nmの範囲の照射が可能なランプ。複数のランプを組
み合わせて用いてもよい。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3
K 5602：2008
図1−分光光度計の例（積分球に開口部が2か所ある場合）
5.2
標準白色板 標準白色板は，公的機関によって校正された，波長域300 nm〜2 500 nmでの分光反射
率が目盛定めされている，ふっ素樹脂系標準白色板を用いる。
注記 市販品の例として，米国Labsphere社製の標準反射板スペクトラロン(Spectraron)反射標準1)があ
る［米国National Institute of Standards and Technology (NIST) によって校正された標準板］。
注1) この情報は，この規格の利用者の便宜を図って記載するものである。
6
試験片の作製
6.1
試験板
試験板は，JIS K 5600-4-1:1999の4.1.2［方法B（隠ぺい率試験紙）］に規定する白部及び黒部をもつ隠
ぺい率試験紙を用いる。隠ぺい率試験紙で不具合がある場合（例えば，焼付形塗料）は，受渡当事者間の
協定によって合意した試験板を用いる。この場合，試験報告書に，使用した試験板の詳細を記載しなけれ
ばならない。
6.2
試料のサンプリング及び調整
試料のサンプリングは，JIS K 5600-1-2によって行い，調整は，JIS K 5600-1-3によって行う。
6.3
試料の塗り方
隠ぺい率試験紙を，平滑なガラス板に粘着テープで固定する。6.2で調整した試料を，ガラス板に固定し
た隠ぺい率試験紙の白部及び黒部に同時に塗装する。塗装の方法は，試料の製造業者が仕様書によって指
定する方法，又は受渡当事者間の協定によって合意した仕様書の方法による。
6.4
乾燥方法
塗装終了後，ガラス板に固定した状態で水平に静置する。JIS K 5600-1-6:1999の4.1［標準条件（可能な
場合常に使用するべき条件）］に規定する温度23±2 ℃，相対湿度(50±5) %で，直射日光を受けず，ガス・
蒸気・ほこりなどによる影響がなく，かつ，通風の少ない室内で養生をする。養生期間は，7日間を標準
とするが，試料の製造業者による指定がある場合，又は受渡当事者間の協定によって合意した場合は，そ
れに従う。養生終了後，ガラス板を取り外して試験片とする。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4
K 5602：2008
7
分光反射率の測定
積分球を遮へいした状態で分光反射率を0 %に調整した後，標準白色板の測定波長域での分光反射率を
100 %に設定する。分光光度計を調整後，試験片の測定を行う。操作は，次による。
注記 自動0 %補正機能をもつ装置には，0 %調整操作を適用しない。
a) 0 %調整後，分光光度計の積分球の二つの開口部に標準白色板を取り付け，光源の入射角が15度を超
えず，かつ，正反射光束を捕そくできる範囲で，試料側光束及び対象側光束を入射させ，波長300 nm
〜2 500 nmの波長域にわたって全反射光束の測定によって求めた分光反射率のラインを100 %ライン
とする。
b) 100 %ラインが平たんであることを確認する。凹凸がある場合，標準白色板によって装置を調整する。
c) 調整終了後，積分球の試料用開口部に試験片の黒部塗面（隠ぺい率試験紙の黒部に塗装された面）を
取り付け，光源の入射角が15度を超えず，かつ，正反射光束を捕そくできる範囲で，試料側光束を入
射させ，波長300 nm〜2 500 nmにおける反射光束の測定によって分光反射率を求める。
8
日射反射率の求め方
日射反射率は，求めた分光反射率を用いて，次の式によって算出する。日射反射率は，近紫外及び可視
光域 (300 nm〜780 nm)，近赤外域 (780 nm〜2 500 nm) 並びに全波長域 (300 nm〜2 500 nm) の三つの波長
範囲について日射反射率ρeを求め，それぞれ記録する。
ρ
e
=
∑
[
(
Ε
λ
×
Δ
λ
)
×
ρ
()
λ
]
λ
∑
(
)
λ
ここに，
ρe： 日射反射率 (%)
ρ(λ)： 求めた分光反射率 (%)
Eλ×Δλ： 基準太陽光の重価係数 (W/m2)
λ： 波長 (nm)
基準太陽光の重価係数は，表1による。
9
試験報告書
試験報告書には，少なくとも次の事項を記載する。
a) 試験した製品名，色名（製品に表示している色名）及びその他の詳細（製造業者名，ロットNo.など）
b) この規格の番号
c) 試験片の作製条件（塗装方法，塗装回数，塗付け量又は乾燥膜厚，塗装間隔など）
d) 測定に用いた分光光度計の機種及び測定条件
e) 三つの波長範囲別に，測定した分光反射率 (%)，及び日射反射率 (%)
f)
規定の方法と異なる場合は，その内容
g) 受渡当事者間で取り決めた事項
h) 試験中に気付いた特別な事柄
i)
試験年月日
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5
K 5602：2008
表1−基準太陽光の重価係数
波長
累積放射照度
重価係数
波長
累積放射照度
重価係数
波長
累積放射照度
重価係数
合計
