C 5925-5：2020

目

次

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 1

3 用語及び定義 ··················································································································· 3

4 定格······························································································································· 4

5 光学特性························································································································· 5

6 耐環境性及び耐久性 ········································································································· 11

7 試料······························································································································ 13

8 試験報告書 ····················································································································· 14

9 表示······························································································································ 14

10 包装 ···························································································································· 14

11 安全 ···························································································································· 14

附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 15

（1）

C 5925-5：2020

まえがき

この規格は，産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人

光産業技術振興協会（OITDA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，産業標準原案を添えて日本

産業規格を改正すべきとの申出があり，日本産業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本

産業規格である。これによって，JIS C 5925-5:2013は改正され，この規格に置き換えられた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 5925の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 5925-1 第1部：通則

JIS C 5925-3 シングルモード光ファイバピッグテール形C／LバンドWDMデバイス

JIS C 5925-4 シングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nm WWDMデバイス

JIS C 5925-5 第5部：シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイス

（2）

日本産業規格

JIS

C 5925-5：2020

光伝送用WDMデバイス−第5部：

シングルモード光ファイバピッグテール形

中規模1×N DWDMデバイス

Fiber optic WDM devices-Part 5: Non-connectorized single-mode fiber

optic middle-scale 1xN DWDM devices

序文

この規格は，2014年に第2版として発行されたIEC 61753-081-2を基に，技術的内容を変更して作成し

た日本産業規格である。

なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。

1

適用範囲

この規格は，屋内環境条件で光ファイバを用いた光伝送に使用するシングルモード光ファイバピッグテ

ール形中規模1×N DWDMデバイスの定格，光学特性，耐環境性及び耐久性について規定する。

なお，この規格は，チャネル間隔が50 GHz，100 GHz又は200 GHzのいずれかで，かつ，チャネル数（N）

が16以上64以下のシングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスに対して適用

する。

注記　この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 61753-081-2:2014，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Performance

standard−Part 081-2: Non-connectorized single-mode fibre optic middle-scale 1xN DWDM

devices for category C−Controlled environments（MOD）

なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”

ことを示す。

2

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 5925-1 光伝送用WDMデバイス−第1部：通則

注記　対応国際規格：IEC 62074-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Fibre

optic WDM devices−Part 1: Generic specification

JIS C 6835 石英系シングルモード光ファイバ素線

JIS C 61300-2-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-1部：正弦

2

C 5925-5：2020

波振動試験

注記　対応国際規格：IEC 61300-2-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 2-1: Tests−Vibration (sinusoidal)

JIS C 61300-2-4 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-4部：光フ

ァイバクランプ強度試験（軸方向引張り）

注記　対応国際規格：IEC 61300-2-4，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 2-4: Tests−Fibre or cable retention

JIS C 61300-2-9 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-9部：衝撃

試験

注記　対応国際規格：IEC 61300-2-9，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 2-9: Tests−Shock

JIS C 61300-2-14 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-14部：高

光パワー試験

注記　対応国際規格：IEC 61300-2-14，Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures−Part 2-14: Tests−High optical power

JIS C 61300-2-17 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-17部：低

温試験

注記　対応国際規格：IEC 61300-2-17，Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures−Part 2-17: Tests−Cold

JIS C 61300-2-18 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-18部：高

温試験

注記　対応国際規格：IEC 61300-2-18，Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures−Part 2-18: Tests−Dry heat−High temperature endurance

JIS C 61300-2-19 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-19部：高

温高湿試験（定常状態）

注記　対応国際規格：IEC 61300-2-19，Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures−Part 2-19: Tests−Damp heat (steady state)

JIS C 61300-2-22 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-22部：温

度サイクル試験

注記　対応国際規格：IEC 61300-2-22，Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures−Part 2-22: Tests−Change of temperature

JIS C 61300-2-44 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-44部：光

ファイバクランプ強度試験−繰返し曲げ

JIS C 61300-3-2 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-2部：シン

グルモード光デバイスの光損失の偏光依存性

注記　対応国際規格：IEC 61300-3-2，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 3-2: Examination and measurements−Polarization

dependent loss in a single-mode fibre optic device

JIS C 61300-3-6 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-6部：反射

減衰量測定

3

C 5925-5：2020

注記　対応国際規格：IEC 61300-3-6，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 3-6: Examinations and measurements−Return loss

JIS C 61300-3-20 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-20部：波

長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定

注記　対応国際規格：IEC 61300-3-20，Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures−Part 3-20: Examinations and measurements−Directivity of

fibre optic branching devices

JIS C 61300-3-32 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-32部：光

受動部品の偏波モード分散測定

注記　対応国際規格：IEC 61300-3-32，Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures−Part 3-32: Examinations and measurements−Polarization

mode dispersion measurement for passive optical components

JIS C 61300-3-38 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-38部：群

遅延，波長分散及び位相リップルの測定

注記　対応国際規格：IEC 61300-3-38，Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures−Part 3-38: Examinations and measurements−Group delay,

chromatic dispersion and phase ripple

IEC 61300-2-42，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures−Part 2-42: Tests−Static side load for strain relief

IEC 61300-3-29，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures−Part 3-29: Examinations and measurements−Spectral transfer characteristics of DWDM

devices

IEC 61753-021-2，Fibre optic interconnecting devices and passive components performance standard−Part

021-2: Grade C/3 single-mode fibre optic connectors for category C−Controlled environment

ITU-T Recommendation G.Sup39，Optical system design and engineering considerations

ITU-T Recommendation G.692，Optical interfaces for multichannel systems with optical amplifiers

ITU-T Recommendation G.694.1，Spectral grids for WDM applications: DWDM frequency grid

3

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5925-1の箇条3（用語及び定義）によるほか，次による。

3.1

シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイス（non-connectorized single-mode

middle scale 1xN DWDM device）

チャネル間隔（Δf）が50 GHz，100 GHz又は200 GHzのいずれかで，かつ，チャネル数（N）が16以上

64以下の光合分波機能をもつ波長選択ブランチングデバイス。

3.2

ガウス形通過帯域形状（Gaussian passband profile）

通過帯域の損失波長特性がガウス関数の形状。

4

C 5925-5：2020

3.3

フラットトップ形通過帯域形状（flat-top passband profile）

通過帯域の損失波長特性が平たん（坦）な形状。

3.4

チャネル周波数範囲（channel frequency range）

ITU-Tグリッド又はカスタム設計によって決まるチャネル中心周波数（fc）の近傍で光信号が通過すると

定められた周波数の範囲（帯域）。この規格では，fc−0.125×Δfからfc＋0.125×Δfまでの周波数範囲。

4

定格

シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスの定格は，表1による。

表1−シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスの定格

項目及び単位

記号

条件

使用温度範囲

保存温度範囲

使用波長範囲b)

定格値

1 260〜1 360（OバンドWDM用）

1 360〜1 460（EバンドWDM用）

1 460〜1 530（SバンドWDM用）

1 530〜1 565（CバンドWDM用）

1 565〜1 625（LバンドWDM用）

1 625〜1 675（UバンドWDM用）

最大入力光パワーc) mW

試験波長：公称波長

注a) 図1の一定水蒸気量曲線を含む閉曲線で囲まれる領域は，屋内環境条件での使用温度範囲に対する湿

度範囲を示す。

b) この使用波長範囲はITU-T Recommendation G.Sup39に示されている。この内容は，要求事項ではな

く，推奨値である。実際の使用波長範囲は，製造業者が指定する。

c) 使用波長範囲がCバンドWDM用及びLバンドWDM用の場合に適用する。それ以外の使用波長範囲

の場合は，受渡当事者間の協定による。

5

C 5925-5：2020

注a) 温度30 ℃〜60 ℃の一定水蒸気量曲線は，温度30 ℃かつ相対湿度85 %の条件下と同じ水蒸気量をもつ

温度及び相対湿度を示す。

図1−温度及び湿度を考慮した環境条件

5

光学特性

シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスの光学特性に関する試験方法，

試験条件及び要求性能は，表2及び表3に基づき，光ファイバピッグテール形のデバイスに適用する。コ

ネクタ形部品については，IEC 61753-021-2に規定のコネクタ性能を満足しなければならない。

各チャネルの公称波長は，ITU-T Recommendation G.692及びITU-T Recommendation G.694.1に適合し

なければならない。また，カスタム設計に基づくデバイスついては，受渡当事者間の取決めによる。チャ

ネルを波長間隔で指定するデバイスにおいては，周波数を真空中での波長に換算する。

各項目の要求性能は，表1の定格で規定する使用温度範囲及び使用波長範囲の入力光に対する最小値及

び最大値を，満足しなければならない。

供試品が温度コントローラ付きである場合，コントローラは，製造業者が指定した設定値に設定しなけ

ればならない。

6

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表2−ガウス形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形

中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験

項目

挿入損失

試験方法

試験条件

最小値

最大値

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

・挿入損失は，チャネル周波数範囲

にわたる全ての偏光状態に対する

最大値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.05 dB以下とする。

チャネル数

N≦24の場合：

・チャネル均一性は，チャネル周波

数範囲にわたる全ての偏光状態に

対する最大値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.05 dB以下とする。

チャネル均一性 DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

要求性能

チャネル数

N＞24の場合：

チャネル数

N≦24の場合：

チャネル数

N＞24の場合：

1 dB帯域幅

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

・帯域幅は，全ての偏光状態にわた

る最小値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.01Δf 以下とする。

3 dB帯域幅

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

・帯域幅は，全ての偏光状態にわた

る最小値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.01Δf 以下とする。

通過帯域リップ

ル

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

・通過帯域リップルは，チャネル周

波数範囲にわたる挿入損失の最大

変化で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.05 dB以下とする。

隣接チャネルク

ロストーク

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

・隣接チャネルクロストークは，分

波器だけに適用する。

・隣接チャネルクロストークは，全

ての偏光状態及びチャネル周波数

範囲にわたる最大値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.1 dB以下とする。

7

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表2−ガウス形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形

中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験（続き）

項目

試験方法

試験条件

要求性能

最小値

最大値

非隣接チャネル

クロストーク

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

・非隣接チャネルクロストークは，

分波器だけに適用する。

・非隣接チャネルクロストークは，

全ての偏光状態及びチャネル周波

数範囲にわたる最大値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.1 dB以下とする。

トータルチャネ

ルクロストーク

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

・トータルチャネルクロストーク

は，分波器だけに適用する。

・トータルチャネルクロストーク

は，全ての偏光状態にわたる最大値

で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.1 dB以下とする。

チャネル数

N≦40の場合：

チャネル数

N＞40の場合：

偏光依存性損失

光損失の偏光依存性

測定

・PDLは，チャネル周波数範囲にわ

たる最大値で定める。

・PDLは，全ての入出力組合せにわ

たり適用する。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.05 dB以下とする。

偏波モード分散

偏波モード分散測定

（JIS C 61300-3-32に

記載のJME法）

・PMDは，チャネル周波数範囲に

わたる最大値で定める。

・PMDは，全ての入出力組合せに

わたり適用する。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.05 ps以下とする。

波長分散（CD）　群遅延，波長分散及び

位相リップルの測定

・CDは，チャネル周波数範囲にわ

たる最大値で定める。

・CDは，全ての入出力組合せにわ

たり適用する。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，1 ps以下とする。

の場合：

の場合：

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表2−ガウス形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形

中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験（続き）

項目

試験方法

試験条件

要求性能

最小値

最大値

反射減衰量

反射減衰量測定

・試験に供しない全てのポートは，

測定に影響を与える反射を避ける

ために，終端する。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，1 dB以下とする。

ディレクティビ

ティ

波長選択性のない光

ブランチングデバイ

スのディレクティビ

ティ測定

・試験に供しない全てのポートは，

測定に影響を与える反射を避ける

ために，終端する。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・ディレクティビティは，阻止の関

係にある端子対の全ての組合せに

対して測定する。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，1 dB以下とする。

最大入力光パワ

ー

最大光パワー測定

試験波長：公称波長

光パワー保持時間：各光パワーレベ　試験中及び試験前後の挿入損失

ルで30 min

は，この表に規定する最大値以下

温度：30 ℃±2 ℃

とし，かつ，試験前後及び試験中

相対湿度：（85±2）%

の反射減衰量は，この表に規定す

・挿入損失の測定では，使用波長範　る最小値以上とする。さらに，試

囲において，測定の不確かさa) は，

験中及び試験後の挿入損失の変化

0.05 dB以下とする。

は，±0.3 dB以内とする。

・反射減衰量の測定では，使用波長

範囲において，測定の不確かさa)

は，1 dB以下とする。

・受渡当事者間の協定によって，他

の波長における試験を実施しても

よい。

注記　光ファイバピッグテール長を2.0 m以上と規定しているのは，クラッドモード及び高次モードを除去するた

めである。

注a) 測定の不確かさUは，一定の信頼の水準（例えば，95 %）において，測定結果が分布すると期待される区間

（−U，＋U）を与える量である。

9

C 5925-5：2020

表3−フラットトップ形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形

中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験

項目

挿入損失

チャネル均一

性

試験方法

試験条件

最小値

最大値

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

・挿入損失は，チャネル周波数範囲

にわたる全ての偏光状態に対する

最大値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.05 dB以下とする。

チャネル数

N≦24の場合：

・チャネル均一性は，チャネル周波

数範囲にわたる全ての偏光状態に

対する最大値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.05 dB以下とする。

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

要求性能

チャネル数

N＞24の場合：

チャネル数

N≦24の場合：

チャネル数

N＞24の場合：

1 dB帯域幅

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

・帯域幅は，全ての偏光状態にわた

る最小値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.01Δf 以下とする。

3 dB帯域幅

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

・帯域幅は，全ての偏光状態にわた

る最小値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.01Δf 以下とする。

通過帯域リッ

プル

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

・通過帯域リップルは，チャネル周

波数範囲にわたる挿入損失の最大

変化で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.05 dB以下とする。

隣接チャネル

クロストーク

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

・隣接チャネルクロストークは，分

波器だけに適用する。

・隣接チャネルクロストークは，全

ての偏光状態及びチャネル周波数

範囲にわたる最大値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.1 dB以下とする。

10

C 5925-5：2020

表3−フラットトップ形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形

中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験（続き）

項目

試験方法

試験条件

要求性能

最小値

最大値

非隣接チャネ

ルクロストー

ク

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

・非隣接チャネルクロストークは，

分波器だけに適用する。

・非隣接チャネルクロストークは，

全ての偏光状態及びチャネル周波

数範囲にわたる最大値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.1 dB以下とする。

トータルチャ

ネルクロスト

ーク

DWDMデバイスの振

幅透過特性測定

・トータルチャネルクロストーク

は，分波器だけに適用する。

・トータルチャネルクロストーク

は，全ての偏光状態にわたる最大値

で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.1 dB以下とする。

チャネル数

N≦40の場合：

偏光依存性損

失（PDL）

光損失の偏光依存性

・PDLはチャネル周波数範囲にわた

測定

る最大値で定める。

・PDLは全ての入出力組合せにわた

り適用する。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.05 dB以下とする。

偏波モード分

散（PMD）

偏波モード分散測定

（JIS C 61300-3-32に

記載のJME法）

・PMDはチャネル周波数範囲にわ

たる最大値で定める。

・PMDは，全ての入出力組合せに

わたり適用する。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，0.05 ps以下とする。

波長分散（CD）　群遅延，波長分散及び

位相リップルの測定

・CDはチャネル周波数範囲にわた

る最大値で定める。

・CDは，全ての入出力組合せにわ

たり適用する。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，1 ps以下とする。

の場合：

チャネル数

N＞40の場合：

の場合：

11

C 5925-5：2020

表3−フラットトップ形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形

中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験（続き）

項目

試験方法

試験条件

要求性能

最小値

最大値

反射減衰量

反射減衰量測定

・試験に供しない全てのポートは，

測定に影響を与える反射を避ける

ために，終端する。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，1 dB以下とする。

ディレクティ

ビティ

波長選択性のない光

ブランチングデバイ

スのディレクティビ

ティ測定

・試験に供しない全てのポートは，

測定に影響を与える反射を避ける

ために，終端する。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は，2.0 m以上とする。

・ディレクティビティは，阻止の関

係にある端子対の全ての組合せに

対して測定する。

・使用波長範囲において，測定の不

確かさa) は，1 dB以下とする。

最大入力光パ

ワー

最大光パワー測定

試験波長：公称波長

光パワー保持時間：各光パワーレベ　試験中及び試験前後の挿入損失

ルで30 min

は，この表に規定する最大値以下

温度：30 ℃±2 ℃

とし，かつ，試験前後及び試験中

相対湿度：（85±2）%

の反射減衰量は，この表に規定す

・挿入損失の測定では，使用波長範　る最小値以上とする。さらに，試

囲において，測定の不確かさa) は，

験中及び試験後の挿入損失の変化

0.05 dB以下とする。

は，±0.5 dB以内とする。

・反射減衰量の測定では，使用波長

範囲において，測定の不確かさa)

は，1 dB以下とする。

・受渡当事者間の協定によって，他

の波長における試験を実施しても

よい。

注記　光ファイバピッグテール長を2.0 m以上と規定しているのは，クラッドモード及び高次モードを除去するため

である。

注a) 測定の不確かさUは，一定の信頼の水準（例えば，95 %）において，測定結果が分布すると期待される区間

（−U，＋U）を与える量である。

6

耐環境性及び耐久性

屋内環境条件で使用するための耐環境性及び耐久性の試験方法，試験条件及び要求性能は，表4による。

耐環境性試験及び耐久性試験に供する供試品の光ファイバピッグテール長は，2.0 m以上とする。

12

C 5925-5：2020

表4−シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスの耐環境性及び耐久性

項目

試験方法

試験条件

要求性能

耐寒性

低温試験

温度：0 ℃±2 ℃

（JIS C 61300-2-17）　暴露時間：96 h

挿入損失は，試験前後に測定する。

前処理：試験前に，供試品は，室温環境中に

2 h以上放置する。

後処理：試験後に，供試品は，室温環境中に

2 h以上放置する。

試験前後の挿入損失及び反

射減衰量は，表2又は表3に

規定する要求性能を満足す

る。試験後の挿入損失の変化

は，周囲条件下で±0.5 dB以

内とする。

耐熱性

高温試験

温度：60 ℃±2 ℃

（JIS C 61300-2-18）　暴露時間：96 h

挿入損失は，試験前後に測定する。

前処理：試験前に，供試品は，室温環境中に

2 h以上放置する。

後処理：試験後に，供試品は，室温環境中に

2 h以上放置する。

試験前後の挿入損失及び反

射減衰量は，表2又は表3に

規定する要求性能を満足す

る。試験後の挿入損失の変化

は，周囲条件下で±0.5 dB以

内とする。

耐湿性（定常

状態）

高温高湿試験（定常

温度：30 ℃±2 ℃

状態）

相対湿度：（85±2）%

（JIS C 61300-2-19）　暴露時間：96 h

挿入損失は，試験中及び試験前後に測定する。

試験中は，1 h以下の間隔で測定する。

前処理：試験前に，供試品は，室温環境中に

2 h以上放置する。

後処理：試験後に，供試品は，室温環境中に

2 h以上放置する。

試験前後の挿入損失及び反

射減衰量は，表2又は表3に

規定する要求性能を満足す

る。試験後及び試験中の挿入

損失の変化は，周囲条件下で

±0.5 dB以内とする。

温度サイク

ル

温度サイクル試験

高温：60 ℃±2 ℃

（JIS C 61300-2-22）　低温：0 ℃±2 ℃

高温保持時間：1 h

低温保持時間：1 h

温度変化の割合：1 ℃/min

サイクル数：5

挿入損失は，試験中及び試験前後に測定し，

試験中は，10 min以下の間隔で測定する。

前処理：試験前に，供試品は，室温環境中に

2 h以上放置する。

後処理：試験後に，供試品は，室温環境中に

2 h以上放置する。

試験前後の挿入損失及び反

射減衰量は，表2又は表3に

規定する要求性能を満足す

る。試験後及び試験中の挿入

損失の変化は，周囲条件下で

±0.5 dB以内とする。

耐振性

正弦波振動試験

試験前後の挿入損失及び反

射減衰量は，表2又は表3に

規定する要求性能を満足す

る。試験後及び試験中の挿入

損失の変化は，周囲条件下で

±0.5 dB以内とする。

振動範囲：10 Hz〜55 Hz

掃引速度：1 oct/min

振動軸：直交3軸

掃引サイクル数：15回（10 Hzから55 Hzに

上げ10 Hzに戻して1サイクルとする。）

振動振幅：0.75 mm

挿入損失は，試験中及び試験前後に測定し，

試験中は10 min以下の間隔で測定する。

実装方法：供試品は実装ジグに強固に実装す

る。

13

C 5925-5：2020

表4−シングルモード光ファイバピッグテール形

中規模1×N DWDMデバイスの耐環境性及び耐久性（続き）

項目

試験方法

試験条件

要求性能

光ファイバ

クランプ強

度（軸方向引

張り）

光ファイバコード

クランプ強度試験

（軸方向引張り）

引張力：光ファイバコードに対して5 N/sの

変化率で10 N±1 N。光ファイバ心線に対し

て0.5 N/sの変化率で5 N±0.5 N。光ファイバ

素線に対して0.5 N/sの変化率で2 N±0.2 N。

引張力を加える位置：供試品の端から0.3 m

引張力持続時間：10 Nの場合120 s。2 N又は

5 Nの場合60 s

挿入損失は，試験前後に測定する。

引張力が軸方向引張りとなるよう，供試品は

試験台にしっかりと固定する。

試験前後の挿入損失及び反

射減衰量は，表2又は表3に

規定する要求性能を満足す

る。試験後の挿入損失の変化

は，周囲条件下で±0.5 dB以

内とする。

耐衝撃性

衝撃試験

波形：正弦半波

ピーク加速度：

5 000 m/s2（質量0.125 kg以下の場合）

2 000 m/s2（質量0.125 kgを超え0.225 kg

以下の場合）

500 m/s2（質量0.225 kgを超え1 kg以下

の場合）

持続時間：1 ms

軸数：3軸（互いに直交）

衝撃回数：直交する3軸で，1軸当たり2方

向，1方向当たり2回の計12回

挿入損失は，試験前後に測定する。

光ファイバクラン

荷重c)及び保持時間：光ファイバコードの場

プ強度試験（横方向

合1 Nで1 h。光ファイバ心線の場合0.2 Nで

引張り）

（IEC 61300-2-42）　力を加える位置：供試品の端から0.3 m

荷重c)方向：互いに直交する2方向

挿入損失は，試験前後に測定する。

光ファイバクラン

荷重c)：光ファイバコードに対して2 N

プ強度試験（繰返し

曲げ角度：±90°

曲げ）

サイクル数：30

（JIS C 61300-2-44）　挿入損失は，試験前後に測定する。

試験前後の挿入損失及び反

射減衰量は，表2又は表3に

規定する要求性能を満足す

る。試験後の挿入損失の変化

は，周囲条件下で±0.5 dB以

内とする。

光ファイバ

クランプ強

度（横方向引

張り）a) b)

光ファイバ

クランプ強

度（繰返し曲

げ）

試験前後の挿入損失及び反

射減衰量は，表2又は表3に

規定する要求性能を満足す

る。試験後の挿入損失の変化

は，周囲条件下で±0.5 dB以

内とする。

試験前後の挿入損失及び反

射減衰量は，表2又は表3に

規定する要求性能を満足す

る。試験後の挿入損失の変化

は，周囲条件下で±0.5 dB以

内とする。

注a) この試験は，光ファイバコード及び光ファイバ心線ピッグテールを備えたシングルモード光ファイバピッグ

テール形中規模1×N DWDMデバイスに適用する。

b) 光受動部品に接続する光ファイバへの横方向引張力は，部品の設計で許容する互いに直交する2方向に印加

することが望ましい。例えば，光ファイバ取付部よりも外側にベースプレートが張り出した部品の場合，そ

の方向に力を印加しなくてもよい。

c) ここでは，“荷重”は力の意味で用いている。

7

試料

試料は，JIS C 6835のSSMA形シングルモード光ファイバに接続できなければならない。

14

C 5925-5：2020

8

試験報告書

製造業者又は販売業者は，試験を実施し，合格した証拠として使用者又は購入業者が受入検査に利用す

ることができるように，試験報告書及びそれを裏付けるデータを使用者又は購入業者に提供する。

試験報告書には，光学特性及び機械的強度特性に対しては試験条件及び性能値を，耐環境性及び耐久性

に対しては試験条件，試料数及び合格判定数を記載する。

9

表示

シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスには，次の事項を表示する。た

だし，個々の製品に表示することが困難な場合は，包装に表示してもよい。

a) 形名（製造業者の指定による。）

b) 製造業者名又はその略号

c) 製造年月若しくは製造ロット番号，又はそれらの略号

d) チャネル番号識別（識別方法は製造業者の仕様によって指定する。）

10 包装

包装は，輸送中及び保管中に，振動，衝撃などによる製品の破損又は品質の低下のおそれがないように

行う。また，短期間に劣化するおそれがある材料を含む場合には，安全管理及び保管環境条件に関する注

意及び要求事項とともに，有効期限を包装に表示する。

11 安全

光伝送システム又は光伝送装置に用いる場合，出力端子から人体へ影響を及ぼす光の放射があり得る。

そのため，製造業者は，システム設計者及び使用者に対して，安全性に関する十分な情報及び確実な使用

方法を取扱説明書などに明示しなければならない。

参考文献

IEC 60793-1-42，Optical fibres−Part 1-42: Measurement methods and test procedures−Chromatic dispersion

IEC 61753-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Performance standard−Part 1:

General and guidance

ITU-T Recommendation G.671，Transmission characteristics of optical components and subsystems

15

C 5925-5：2020

附属書JA

（参考）

JISと対応国際規格との対比表

JIS C 5925-5:2020 光伝送用WDMデバイス−第5部：シングルモード光ファイ

バピッグテール形中規模1×N DWDMデバイス

(I)JISの規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと

の評価及びその内容

(II)国際

(III)国際規格の規定

規格番号

箇条番号

及び題名

3 用語及び

定義

内容

用語及び定義を規

定。

4 定格

定格を規定。

5 光学特性　光学特性の試験方

法，試験条件及び要

求性能を規定。

箇条

番号

内容

JISとほぼ同じ。

JISとほぼ同じ。

箇条ごと

の評価

追加

(V)JISと国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

技術的差異の内容

次の用語の定義を追加した。

・チャネル周波数範囲

国際規格の見直し時に，提案を行

う。

追加

製品規格に必須の規定事項。

国際規格で性能規格を制定すると

きに提案を行う。

変更

・受渡当事者間での取決めを追加し

た。

・試験項目でない項目（チャネル数

及びチャネル周波数範囲）を削除し

た。

・PMDの測定の不確かさの数値及

び単位を修正した。

・最大入力光パワーの温度及び湿度

の試験条件を変更した。

国際規格の見直し時に，提案を行

う。

16

C 5925-5：2020

内容

耐環境性及び耐久

性に対する試験方

法，試験条件及び要

求性能を規定。

箇条

番号

内容

JISとほぼ同じ。

箇条ごと

の評価

変更

技術的差異の内容

耐寒性，耐熱性，耐湿性（定常状態），　耐寒性，耐湿性（定常状態）及び

温度サイクル，耐振性，耐衝撃性及　温度サイクルの試験条件について

び光ファイバクランプ強度（横方向　は，我が国の環境条件に合わせ，

引張り）の試験条件を変更した。ま

それ以外の試験条件はIEC

た，光ファイバクランプ強度（繰返

61753-1と整合するように試験条

し曲げ）試験を追加した。

件を変更した。

また，試験中の挿入損失測定の必

要性を検討し，不要な場合には測

定を行わないこととした。

いずれも，国際規格の見直し時に，

提案を行う。

試料に関する内容を規定した。

国際規格の見直し時に，提案を行

う。

試料に関する内容

を規定。

8 試験報告

書

9 表示

試験報告書を規定。

表示項目を規定。

追加

試験報告書に記載する項目につい

て追記した。

製品規格に必須の規定事項。

10 包装

包装及び保管上の

注意に関する内容

を規定。

追加

製品規格に必須の規定事項。

国際規格の見直し時に，提案を行

う。

11 安全

安全に関する内容

を規定。

追加

製品規格に必須の規定事項。

サンプル数及び試験の

グルーピング方法を規

定。

削除

サンプル数及び試験のグルーピン

グ方法を削除した。

国際規格の見直し時に，提案を行

う。

IEC 61753-1との整合性を考慮し，

サンプル数及び試験のグルーピン

グ方法は規定しない。

JISとほぼ同じ。

追加

(V)JISと国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

7 試料

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと

の評価及びその内容

追加

国際規格の見直し時に，提案を行

う。

箇条番号

及び題名

6耐環境性

及び耐久性

(II)国際

(III)国際規格の規定

規格番号

(I)JISの規定

17

C 5925-5：2020

JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 61753-081-2:2014，MOD

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。

− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。

− MOD ··············· 国際規格を修正している。