JIS C 8147-2-2 : 2011 ランプ制御装置－第２－２部：直流又は交流電源用低電圧電球用電子トランスの個別要求事項

C 8147-2-2：2011

目

次

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 1

3 用語及び定義 ··················································································································· 3

4 一般的要求事項 ················································································································ 4

5 試験上の一般的注意事項 ···································································································· 4

6 分類······························································································································· 4

7 表示······························································································································· 5

7.1 強制表示 ······················································································································ 5

7.2 該当する場合に提供する情報 ··························································································· 5

8 充電部との偶発接触からの保護 ··························································································· 5

9 端子······························································································································· 6

10 保護接地 ······················································································································· 6

11 耐湿性及び絶縁性 ··········································································································· 6

12 耐電圧 ·························································································································· 6

13 安定器巻線の熱耐久性試験 ······························································································· 6

14 故障状態 ······················································································································· 6

15 トランス温度上昇 ··········································································································· 6

15.1 通常動作 ····················································································································· 6

15.2 異常動作 ····················································································································· 6

16 異常状態 ······················································································································· 7

17 構造 ····························································································································· 7

18 沿面距離及び空間距離 ····································································································· 7

19 ねじ，通電部及び接続部 ·································································································· 7

20 耐熱性，耐火性及び耐トラッキング性 ················································································ 8

21 耐食性 ·························································································································· 8

附属書A（規定）導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験 ··························· 9

附属書B（規定）熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項 ················································ 9

附属書C（規定）過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項 ·········································· 9

附属書D（規定）熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法················································ 9

附属書E（規定）tw試験での4 500以外の定数Sの使用 ······························································· 9

附属書F（規定）風防容器 ····································································································· 10

附属書G（参考）パルス電圧の値の由来の説明 ········································································· 10

附属書H（規定）試験 ·········································································································· 10

附属書I（規定）白熱電球用独立形SELV直流又は交流入力電子トランスの個別追加要求事項 ············ 11

（1）

C 8147-2-2：2011 目次

ページ

附属書JA（規定）追加の安全性要求事項 ················································································· 27

附属書JB（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 28

（2）

C 8147-2-2：2011

まえがき

この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電球

工業会（JELMA）及び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正す

べきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって，JIS C 8147-2-2:2005は改正され，この規格に置き換えられた。

また，令和2年10月20日，産業標準化法第17条又は第18条の規定に基づく確認公示に際し，産業標

準化法の用語に合わせ，規格中“日本工業規格”を“日本産業規格”に改めた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 8147の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 8147-1 第1部：通則及び安全性要求事項

JIS C 8147-2-1 第2-1部：始動装置の個別要求事項（グロースタータを除く）

JIS C 8147-2-2 第2-2部：直流又は交流電源用低電圧電球用電子トランスの個別要求事項

JIS C 8147-2-3 第2-3部：交流電源用蛍光灯電子安定器の個別要求事項

JIS C 8147-2-8 第2-8部：蛍光灯安定器の個別要求事項

JIS C 8147-2-9 第2-9部：放電灯安定器個別要求事項（蛍光灯安定器を除く）

JIS C 8147-2-10 第2-10部：管形冷陰極放電ランプ（ネオン管）の高周波動作用電子インバータ及び

変換器の個別要求事項

JIS C 8147-2-11 第2-11部：照明器具用のその他の電子回路の個別要求事項

JIS C 8147-2-12 第2-12部：直流又は交流電源用放電灯電子安定器の個別要求事項（蛍光灯を除く）

JIS C 8147-2-13 第2-13部：直流又は交流電源用LEDモジュール用制御装置の個別要求事項

（3）

日本産業規格

JIS

C 8147-2-2：2011

ランプ制御装置−第2-2部：直流又は交流電源用

低電圧電球用電子トランスの個別要求事項

Lamp controlgear-Part 2-2: Particular requirements for d.c. or a.c. supplied

electronic step-down convertors for filament lamps

序文

この規格は，2006年に第1.2版として発行されたIEC 61347-2-2を基とし，技術的内容を変更して作成

した日本産業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて，附属書JBに示す。また，附属書JAは対応国際規格にはない事項である。

適用範囲

この規格は，JIS C 7527に規定するハロゲン電球用及びその他の白熱電球用として，250 V以下の直流

電源，及び／又は1 000 V以下の50 Hz若しくは60 Hzの交流電源で用い，電源周波数と異なる周波数で

実効値が50 V以下の定格出力電圧，又は導体間若しくは導体と接地との間が502V以下の非平滑直流電

圧で用いる電子トランスの個別安全要求事項について規定する。

注記1 50 V定格出力電圧の制限は，JIS C 0366のバンドIに従っている。

過熱保護手段付き電子トランスの個別要求事項を，附属書Cに規定する。

設備内の配線の一部をなしている，据付けの独立形SELV電子トランスの個別要求事項を，附属書Iに

規定する。

性能要求事項については，IEC 61047による。

照明器具の一部をなすプラグイン電子トランスは，器具内用電子トランスとして照明器具規格の追加要

求事項によって規定している。

注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 61347-2-2:2006，Lamp controlgear−Part 2-2: Particular requirements for d.c. or a.c. supplied

electronic step-down convertors for filament lamps（MOD）

なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”

ことを示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 1102（規格群）　直動式指示電気計器

C 8147-2-2：2011

注記　対応国際規格：IEC 60051（all parts），Direct acting indicating analogue electrical measuring

instruments and their accessories（MOD）

JIS C 3215-0-1 巻線個別規格−第0部：一般特性−第1節：エナメル銅線

JIS C 4003 電気絶縁−熱的耐久性評価及び呼び方

注記　対応国際規格：IEC 60085，Electrical insulation−Thermal evaluation and designation（MOD）

JIS C 5101-14 電子機器用固定コンデンサ−第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデン

サ

注記　対応国際規格：IEC 60384-14:2005，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14:

Sectional specification: Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection

to the supply mains（IDT）

JIS C 6065 オーディオ，ビデオ及び類似の電子機器−安全性要求事項

注記　対応国際規格：IEC 60065，Audio, video and similar electronic apparatus−Safety requirements

（MOD）

JIS C 6575（規格群）　ミニチュアヒューズ

注記　対応国際規格：IEC 60127 (all parts)，Miniature fuses（MOD）

JIS C 7527 ハロゲン電球（自動車用を除く）−性能規定

注記　対応国際規格：IEC 60357，Tungsten halogen lamps(non-vehicle) −Performance specifications

（MOD）

JIS C 8105-1:2010 照明器具−第1部：安全性要求事項通則

JIS C 8105-2-6 照明器具−第2-6部：変圧器内蔵白熱灯器具に関する安全性要求事項

注記　対応国際規格：IEC 60598-2-6，Luminaires−Part 2: Particular requirements−Section 6: Luminaires

with built-in transformers for filament lamps（MOD）

JIS C 8147-1 ランプ制御装置−第1部：通則及び安全性要求事項

注記　対応国際規格：IEC 61347-1，Lamp controlgear−Part 1: General and safety requirements（MOD）

JIS C 8269-2 低電圧ヒューズ−第2部：専門家用ヒューズの追加要求事項（主として工業用のヒュー

ズ）

注記　対応国際規格：IEC 60269-2，Low-voltage fuses−Part 2: Supplementary requirements for fuses for

use by authorized persons (fuses mainly for industrial application)−Examples of standardized

systems of fuses A to J（IDT）

JIS C 8269-2-1 低電圧ヒューズ−第2-1部：専門家用ヒューズの追加要求事項（主として工業用のヒ

ューズ）−第I章〜第V章：専門家用標準ヒューズの例

注記　対応国際規格：IEC 60269-2-1:1998，Low-voltage fuses−Part 2-1: Supplementary requirements for

fuses for use by authorized persons (fuses mainly for industrial application)−Section I to IV:

Examples of standardized fuses（IDT）。この対応国際規格は，2006年に廃止され，IEC 60269-2

に置き換えられた。

JIS C 8303 配線用差込接続器

JIS C 8358 電気器具用差込接続器

JIS C 61558-2-6 変圧器，電源装置，リアクトル及びこれに類する装置の安全性−第2-6部：一般用

安全絶縁変圧器の個別要求事項

IEC/TR 60083，Plugs and socket-outlets for domestic and similar general use standardized in member countries

C 8147-2-2：2011

of IEC

IEC 60269-3:1987，Low-voltages fuses−Part 3: Supplementary requirements for fuses for use by unskilled

persons(fuses mainly for household and similar applications)

IEC 60269-3-1:1994，Low-voltages fuses−Part 3-1: Supplementary requirements for fuses for use by unskilled

persons (fuses mainly for household and similar applications)−Section I to IV

注記　この規格は，2006年に廃止され，IEC 60269-3に置き換えられた。

IEC 60320 (all parts)，Appliance couplers for household and similar general purposes

IEC 60906 (all parts)，IEC system of plugs and socket-outlets for household and similar purposes

IEC 60906-1，IEC system of plugs and socket-outlets for household and similar purposes−Part 1: Plugs and

socket-outlets 16 A 250 V a.c.

IEC 61047，DC or AC supplied electronic step-down convertors for filament lamps−Performance

requirements

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 8147-1の箇条3（用語及び定義）によるほか，次による。

3.1

電子トランス［electric step-down convertor (convertor)］

電源と一つ以上のハロゲン電球又はその他の白熱電球との間に挿入したユニットで，一般に高周波数で，

ランプにその定格電圧を供給するもの。このユニットは，一つ以上の分離した構成部品から成り，調光，

力率の改善及び無線障害を抑制するための手段を含む。

3.2

直流又は交流電源用電子トランス（d.c. or a.c. supplied convertor）

一つ又は複数の白熱電球を，一般に高周波数で点灯させるための安定化素子を含む電子トランス。

3.3

安全特別低電圧（SELV）同等の電子トランス［safety extra-low voltage (SELV)-equivalent convertor］

SELVと同等の出力電圧で一つ又は複数の白熱電球を点灯させるための器具内用又は組合せ電子トラン

ス。

注記　この規格の目的のために，8.1及び8.2に適合するSELV同等の電子トランスは，電撃に対して

SELVと同等な保護をもたらすものとみなす。

3.4

独立形SELV電子トランス（independent SELV convertor）

JIS C 61558-2-6に規定する，安全絶縁変圧器などの手段によって，入力電源から絶縁してSELV出力を

供給する電子トランス。

3.5

組合せ電子トランス（associated convertor）

組み込んだり又は組み込まないで，特定器具又は機器に供給するように設計し，特定器具又は機器とと

もにだけ用いるように特別に設計した電子トランス。

3.6

据付け電子トランス（stationary convertor）

固定した電子トランス又は容易に場所を移動できない電子トランス。

C 8147-2-2：2011

3.7

プラグイン電子トランス（plug-in convertor）

電源への接続手段として一体式プラグを備えた外郭に内蔵した電子トランス。

3.8

定格出力電圧（rated output voltage）

電子トランスに指定した，定格入力電圧，定格周波数及び一定力率における出力電圧。

3.9

半抵抗現象（half-resistance effect）

電子トランスの過負荷の原因となる可能性のある，結晶化によって起こるフィラメントの部分的短絡又

はフィラメントの変形によるランプ寿命の末期に起きる現象。

3.10

アーク放電（arcing）

20 V以上の電圧でランプ内に発生する可能性がある現象で，電子トランスの過負荷の原因となる可能性

がある。

一般的要求事項

一般的要求事項は，JIS C 8147-1の箇条4（一般的要求事項）によるほか，次による。

独立形SELV電子トランスは，附属書Iの要求事項に従わなければならない。これには，外部ケースの

絶縁抵抗，耐電圧，沿面距離及び空間距離を含む。

試験上の一般的注意事項

試験上の一般的注意事項は，JIS C 8147-1の箇条5（試験上の一般的注意事項）によるほか，次による。

試料数

次の数の試料を試験用として提出しなければならない。

− 箇条6〜箇条12及び箇条15〜箇条21の試験用に1ユニット

− 箇条14の試験用に1ユニット（製造業者と協議の上，必要に応じて，追加ユニット又は構成部品を追

加してもよい。）

製造業者によって宣言していない場合，試験は，出力線長20 cm又は200 cmのケーブルを接続して最も

好ましくない条件下で実施する。2本のツイスト線，又はケーブルH03VV-を用いることができる。導体の

断面積は，定格電力によって選定し，通常使用時の電流密度は，5 A/mm2を超えてはならない。

分類

電子トランスは，JIS C 8147-1の箇条6（分類）の要求事項に規定する取付方法，及び次の事項に従って，

分類する。

電撃に対する保護

− SELV同等又は絶縁電子トランス（このタイプの電子トランスは，強化絶縁を用いた二巻線変圧器の

代わりに，使用することができる。JIS C 8105-2-6参照）

− 非絶縁（単巻）電子トランス

− 独立形SELV電子トランス

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表示

7.1

強制表示

器具一体形電子トランス以外の電子トランスは，JIS C 8147-1の7.2（表示の耐久性及び判読性）の要求

事項に従って，次の事項をはっきりと容易に消えない方法で表示しなければならない。

− JIS C 8147-1の7.1（表示する項目）のa)〜f)及びk)〜m)

− 定格出力電圧

− 定格出力電力又は定格出力電力範囲

7.2

該当する場合に提供する情報

7.1の強制表示のほかに，該当する場合には，次の情報を電子トランスに表示するか，又は製造業者のカ

タログ若しくは類似の試料に記載しなければならない。

− JIS C 8147-1の7.1のh)，i) 及びj)

− 電子トランスに主電源に接続する巻線がある場合，その旨を記載する。

− 該当する場合にはSELV同等の電子トランスである旨を記載する。

− 出力電線長が20 cmから200 cmまでの間にない場合，これを許容する旨を記載する。

− 適合電球の定格電圧の記載。

充電部との偶発接触からの保護

充電部との偶発接触からの保護は，JIS C 8147-1の箇条10（充電部との偶発接触からの保護）によるほ

か，次による。

8.1

SELV同等の電子トランスの場合，接近の可能性がある部分は，二重絶縁又は強化絶縁によって，充

電部から絶縁していなければならない。

JIS C 6065の8.6及び13.1（一般事項）を適用する。

8.2

SELV同等の電子トランスの出力回路は，次の場合には露出端子でもよい。

− 負荷状態で定格出力電圧が25 Vrmsを超えない。

− 無負荷出力電圧が，33 Vrms，ピーク値332 V又は平滑されていない直流332 Vを超えない。

適合性は，電子トランスを定格周波数の定格入力電圧に接続して，定常状態になったときに，出力電圧

を測定して判定する。負荷状態での試験では，定格出力電圧において定格出力を与える抵抗を，電子トラ

ンスに負荷する。

二つ以上の定格入力電圧のある電子トランスでは，各定格入力電圧に対して要求事項を適用する。

注記 25 Vrmsの制限は，JIS C 60364-4-41に基づいている。

定格出力電圧が25 Vを超える電子トランスは，絶縁した端子をもっていなければならない。

SELV同等出力と一次回路との間にコンデンサを接続する場合，JIS C 5101-14の表2（クラスYのコン

デンサの分類）及び表3（サンプリング計画　安全性を要求する試験）に規定する，一つのY1コンデンサ，

又は直列接続した同じ値の二つのY2コンデンサを用いなければならない。

各コンデンサは，JIS C 6065の14.2（コンデンサ及びRCユニット）の要求事項に適合しなければなら

ない。

SELV同等出力と一次回路との間に抵抗を接続する場合，同じ値をもつ直列の二つの抵抗を用いなけれ

ばならない。

一次二次分離トランスを橋絡するために，その他の部品，例えば，抵抗などが必要な場合には，JIS C 6065

の14.（部品）を用いなければならない。

C 8147-2-2：2011

8.3

総静電容量が0.5 μFを超えるコンデンサを組み込んだ電子トランスは，定格電圧の電源から電子ト

ランスを切り離した1分間後に，電子トランス接続端の電圧が50 Vを超えない構造でなければならない。

端子

端子は，JIS C 8147-1の箇条8（端子）による。

10 保護接地

保護接地は，JIS C 8147-1の箇条9（保護接地）による。

11 耐湿性及び絶縁性

耐湿性及び絶縁性は，JIS C 8147-1の箇条11（耐湿性及び絶縁性）によるほか，次による。

SELV同等の電子トランスは，互いに接続しない入力端子と出力端子との間は，十分絶縁していなけれ

ばならない。

二重絶縁又は強化絶縁の場合，絶縁抵抗は4 MΩ以上でなければならない。

12 耐電圧

耐電圧は，JIS C 8147-1の箇条12（耐電圧）によるほか，次による。

SELV同等の電子トランスにおける分離トランス巻線の絶縁は，JIS C 6065の14.3.2（一般）による。

13 安定器巻線の熱耐久性試験

安定器巻線の熱耐久性試験は，JIS C 8147-1の箇条13（安定器巻線の熱耐久性試験）の要求事項は，適

用しない。

14 故障状態

故障状態は，JIS C 8147-1の箇条14（故障状態）によるほか，次による。

･･･

の表示のある電子トランスは，附属書Cによる。さらに，故障状態下で動作させたとき，電子トラ

ンスの出力電圧は，定格出力電圧の115 %を超えてはならない。

15 トランス温度上昇

SELV同等の電子トランスの分離トランスの巻線は，JIS C 6065の7.1（一般事項）に従って試験しなけ

ればならない。ただし，熱電対法で測定する場合は，規定温度から10 ℃減じた値で判定する。

15.1 通常動作

通常動作では，JIS C 6065の表3（機器の各部の許容温度上昇）の通常動作状態の値を適用しなければ

ならない。

15.2 異常動作

箇条16の異常状態及び箇条14の故障状態での動作では，JIS C 6065の表3の故障状態の値を適用しな

ければならない。

JIS C 6065の表3の通常動作状態及び故障状態の温度上昇値は，最大周囲温度35 ℃に基づいている。

試験は，ケース温度をtcにして行うので，関係する周囲温度を測定し，JIS C 6065の表3の値を各々変

更する。当該温度上昇が関連絶縁材のクラスの許容値よりも高い場合には，材料の特性によって変化する。

C 8147-2-2：2011

許容温度上昇は，JIS C 4003の推奨に基づいている。JIS C 6065の表3に規定する材料は，例として取り

上げている。JIS C 4003に規定する以外の材料を用いる場合，最大温度は，耐えることが証明されている

温度を超えてはならない。

通常動作で電子トランスがtcになるような条件の下で，試験を行わなければならない。

− ℃のケース温度を得るような周囲温度において，附属書Fに規定する試験槽の中

注記　試験は，tc05

で，通常状態において熱平衡するように電子トランスを動作させて，実施することができる。

モールドトランスでは，熱電対を装備した特別に準備した試料を試験のために提出する必要がある。

16 異常状態

電子トランスは，異常状態で動作させたときに安全を損なってはならない。

さらに，電子トランスを故障状態で動作させたとき，出力電圧は定格出力電圧の115 %を超えてはなら

ない。

適合性は，定格入力電圧の90 %と110 %との間の電圧で，次の試験を行って判定する。

製造業者の指示（指定がある場合には，放熱手段を含める。）に従って電子トランスを動作させて，次の

各状態で1時間置く。

a) ランプを挿入しない。

b) 電子トランスが設計の対象としている形式のランプ数を2倍にして，出力端子に並列に接続する。

c) 電子トランスの出力端子を短絡する。電子トランスを二つ以上のランプの動作用に設計した場合には，

一つのランプを接続する出力端子の1対を，順に短絡する。

a)〜c)に規定する試験中及び試験終了後に，電子トランスは，安全を損なうような欠陥を呈したり，煙，

可燃性ガスなどを発生したりしてはならない。

試験後，電子トランスが周囲温度に戻ったとき，直流約500 Vで測定した絶縁抵抗は，1 MΩ未満にな

ってはならない。

電子トランスから遊離したガスが，可燃性であるかどうか検査するために，高周波パルス発生器による

試験をする。

非完全にエンクローズした電子トランスの部品の温度は，製造業者が指定した値を超えてはならない。

17 構造

構造は，JIS C 8147-1の箇条15（構造）によるほか，次による。

出力回路のコンセントは，IEC/TR 60083，IEC 60906の規格群，JIS C 8303及びJIS C 8358に適合する

プラグを差し込めないようにする。また，出力回路のコンセントに差し込むことのできるプラグを，IEC/TR

60083，IEC 60906の規格群，JIS C 8303及びJIS C 8358に適合するコンセントに接続できないようにする。

適合性は，目視及び手による試験によって判定する。

18 沿面距離及び空間距離

沿面距離及び空間距離は，箇条14で特に規定がない場合，JIS C 8147-1の箇条16（沿面距離及び空間距

離）による。

19 ねじ，通電部及び接続部

ねじ，通電部及び接続部は，JIS C 8147-1の箇条17（ねじ，通電部及び接続部）による。

C 8147-2-2：2011

20 耐熱性，耐火性及び耐トラッキング性

耐熱性，耐火性及び耐トラッキング性は，JIS C 8147-1の箇条18（耐熱性，耐火性及び耐トラッキング

性）による。

21 耐食性

耐食性は，JIS C 8147-1の箇条19（耐食性）による。

C 8147-2-2：2011

附属書A

（規定）

導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験

JIS C 8147-1の附属書A（導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験）による。

附属書B

（規定）

熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項

JIS C 8147-1の附属書B（熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項）は適用しない。

附属書C

（規定）

過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項

JIS C 8147-1の附属書C（過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項）による。

附属書D

（規定）

熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法

JIS C 8147-1の附属書D（熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法）による。

附属書E

（規定）

tw試験での4 500以外の定数Sの使用

JIS C 8147-1の附属書E（tw試験での4 500以外の定数Sの使用）の要求事項は，50/60 Hzの周波数で動

作する巻線だけに適用する。

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附属書F

（規定）

風防容器

JIS C 8147-1の附属書F（風防容器）による。

附属書G

（参考）

パルス電圧の値の由来の説明

JIS C 8147-1の附属書G（パルス電圧の値の由来の説明）は適用しない。

附属書H

（規定）

試験

JIS C 8147-1の附属書H（試験）による。

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附属書I

（規定）

白熱電球用独立形SELV直流又は交流入力電子トランスの

個別追加要求事項

注記　この附属書は，JIS C 61558-2-6などから部分的に引用している。

I.1

一般

この附属書は，最大25 AのクラスIII照明器具用SELV入力として使用するための独立形電子トランス

について規定する。この附属書は，JIS C 61558-2-6に規定する一般用安全絶縁変圧器に対する関連要求事

項から成る。

I.2

用語及び定義

この附属書で用いる主な用語及び定義は，次による。

I.2.1

耐短絡電子トランス（short-circuit proof convertor）

電子トランスが過負荷又は短絡したときに温度上昇が規定限界を超えず，過負荷を取り除いた後でも機

能することのできる電子トランス。

I.2.2

非本質耐短絡電子トランス（non-inherently short-circuit proof convertor）

電子トランスが過負荷又は短絡したときに，回路を開放するか，又は入力回路若しくは出力回路の電流

を減少させる保護装置を組み込んだ耐短絡電子トランス。

注記　保護装置の例には，ヒューズ，過負荷引外し，温度ヒューズ，サーマルリンク，温度過昇防止

装置，PTC抵抗及び自動停止機械式器具がある。

I.2.3

本質耐短絡電子トランス（inherently short-circuit proof convertor）

保護装置をもたず，過負荷又は短絡したときに，温度が規定限界を超えず，過負荷又は短絡を除去した

後にも継続して機能する耐短絡電子トランス。

I.2.4

フェールセーフ電子トランス（fail-safe convertor）

異常使用後に，機能しなくなるが，使用者及び周囲に危険を及ぼさない電子トランス。

I.2.5

非耐短絡電子トランス（non-short-circuit proof convertor）

電子トランスの中に組み込んでいない保護装置によって，過度の温度から保護するように設計した電子

トランス。

I.2.6

高周波トランス（HF-transformer）

電源周波数とは異なる周波数で動作する電子トランスの部品。

C 8147-2-2：2011

I.3

分類

独立形電子トランスの分類は，次による。

I.3.1

感電保護による分類

− クラスI電子トランス

− クラスII電子トランス

I.3.2

短絡保護又は異常使用に対する保護による分類

− 非本質耐短絡電子トランス

− 本質耐短絡電子トランス

− フェールセーフ電子トランス

− 非耐短絡電子トランス

I.4

表示

記号を用いる場合には，表I.0Aの記号を用いる。

表I.0A−表示記号及び内容

表示記号

内容

入力

出力

直流

中性線

単相

ヒューズリンク（時間−電流特性の記号追加）

定格最大周囲温度

フレーム又は鉄心の端子

安全絶縁電子トランス

フェールセーフ電子トランス

非耐短絡電子トランス

耐短絡電子トランス（本質又は非本質）

最後の三つの記号は，絶縁電子トランス又は安全絶縁電子トランス用の記号とともに用いることができ

る。

例　クラスII構造用の記号の寸法は，外部正方形の1辺の長さが，内部正方形の1辺の長さの約2倍

になっていなければならない。外部正方形の辺の長さは5 mm以上とし，電子トランスの最大寸

法が15 cmを超えなければ，記号の寸法を減少させることができ，外部正方形の1辺の長さは3 mm

以上でなければならない。

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I.5

感電保護

I.5.1

8.2に規定する条件の下で許容していない場合，出力回路と本体又は保護接地回路（ある場合）と

の間は，接続してはならない。

適合性は，目視によって判定する。

I.5.2

入力回路及び出力回路は互いに電気的に分離しており，その他の金属部品を通して，直接的又は間

接的に入力回路と出力回路とが接続する可能性がないような構造でなければならない。

“回路”という表現には，電子トランスの内部高周波トランスの巻線（ある場合）も含める。

特に，次の事柄を防止するために予防措置を講じなければならない。

− 入力巻線若しくは出力巻線又はその高周波トランスの巻線の過度の変位

− 内部回路又は外部接続電線の過度の変位

− 電線が切断したり，接続が緩んだりした場合の回路部分，又は内部配線の過度の変位

− 電線，ねじ，ワッシャなどが緩んだり遊離したりした場合の，高周波トランスの巻線の接続などを含

む，入力回路と出力回路との間の絶縁物の任意の部分での橋絡

二つの独立した固定部が同時に緩むことは，想定しない。

電子トランスに対する適合性は，I.5.2.1〜I.5.2.5を考慮した目視によって判定し，電子トランスのきょ

う（筐）体に対しては，JIS C 8105-1の4.13（機械的強度）の試験によって適合性を判定する。

I.5.2.1

高周波トランスの入力巻線と出力巻線との間の絶縁は，I.5.2.4の要求事項に従っていない場合，

二重絶縁又は強化絶縁としなければならない。

さらに，次の要求事項を適用する。

− クラスII電子トランスの場合，入力回路と本体との間，及び出力回路と本体との間の絶縁は，二重又

は強化絶縁としなければならない。

− クラスI電子トランスの場合，入力回路と本体との間の絶縁は，基礎絶縁とし，出力回路と本体との

間の絶縁は，付加絶縁としなければならない。

I.5.2.2

本体に接続していない中間金属部分（例えば，高周波トランスの鉄心など）が，高周波トランス

の入力巻線と出力巻線との間にある場合には，中間金属部を介する入力巻線と出力巻線との間の絶縁は，

二重絶縁又は強化絶縁としなければならない。クラスII電子トランスの場合，高周波トランスの中間金属

部を介する入力巻線と本体，及び出力巻線と本体との間の絶縁は，二重絶縁又は強化絶縁としなければな

らない。

中間金属部と高周波トランスの入力巻線又は出力巻線との間の絶縁は，いずれも，関連回路電圧に対し

て定格付けられた少なくとも基礎絶縁としなければならない。

二重絶縁又は強化絶縁によって巻線の一つから分離した中間部は，高周波トランスのその他の巻線に接

続しているものとみなす。

I.5.2.3

絶縁にセレーションテープを使用した場合には，二つの隣接する層でのセレーションのリスクを

減らすために，一つ以上の層を追加しなければならない。

I.5.2.4

固定接続のクラスI電子トランスの場合，高周波トランスの入力巻線と出力巻線との間の絶縁は，

次の条件を満たした場合，二重絶縁又は強化絶縁の代わりに，基礎絶縁に保護遮蔽板を加えたもので構成

することができる。

この箇条では，“巻線”という表現には内部回路を含めない。

a) 入力巻線と保護遮蔽板との間の絶縁は，基礎絶縁（入力電圧定格）の要求事項を満足しなければなら

ない。

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b) 保護遮蔽板と出力巻線との間の絶縁は，基礎絶縁（出力電圧定格）の要求事項を満足しなければなら

ない。

c) 金属遮蔽板は，特別な場合を除き，遮蔽板に隣接した巻線の一つの少なくとも全幅に伸びる金属はく

（箔）又は巻線遮蔽板で構成していなければならない。また，巻線遮蔽板は，巻線間に隙間がなく密

に巻いていなければならない。

d) 短絡による渦電流損を防止するために，金属遮蔽板は，その両端が同時に磁気鉄心に接触しないよう

な位置に配置しなければならない。

e) 金属遮蔽板及びその引出線は，絶縁破壊が起こった場合に，遮蔽板を破壊する前に過負荷装置が確実

に回路を開放するように，十分な断面積がなければならない。

引出線は，金属遮蔽板にはんだ付けするか，又は同等以上の信頼のできる方法で固定しなければなら

ない。

I.5.2.5

高周波変圧器の各巻線の最後に巻いた線は，適切な手段（例えば，テープ，適切な接着剤など）

によって，留めておかなければならない。

つばなしボビンを用いる場合には，各層の各端の巻線は，適切な手段によって留めておかなければなら

ない。例えば，各層の端の巻線を越えて突き出す適切な絶縁材料を挟み込むことである。さらに，次の方

法もある。

− 巻線は，硬質焼入れ又は冷間硬化剤で含浸して，介在する空間を実質的に塞ぎ，端の巻線を効果的に

密封する。

− 巻線は，絶縁材によって一緒に保持する。二つの独立した固定物が同時に緩むことは，想定していな

い。

電子トランスの適合性は，I.5.2.1〜I.5.2.5を考慮し，箇条11，箇条12及び箇条I.8によって確認する。

電子トランスのきょう（筐）体の適合性は，JIS C 8105-1の4.13の試験によって判定する。

I.5.3

入力回路及び出力回路は，コンデンサ，抵抗器，オプトカプラなどの構成部品によって橋絡しても

よい。

I.5.3.1

コンデンサ及び抵抗器は，8.2に適合しなければならない。

I.5.3.2

オプトカプラについては，検討中である。

I.6

I.6.1

温度上昇

電子トランス及びその支持部は，通常使用において過度の温度に達してはならない。

適合性は，I.6.2の試験によって判定する。さらに，次の要求事項を巻線に適用する。

I.6.1.1

製造業者がいずれの資料の材料を用いているか，また，定格最大周囲温度taの値も明示していな

い場合，測定した温度上昇値が表I.1のクラスA材料の値を超えない場合には，I.6.3の試験は行わない。

ただし，測定した温度上昇が表I.1のクラスA材料の値を超える場合には，電子トランスの動作部品（磁

気鉄心及び巻線）でI.6.3の試験を行う。加熱槽の温度は，taの値を考慮して，表I.2に従って選択する。

表I.2から選択する温度上昇値は，測定した温度上昇値の次に高い値とする。

I.6.1.2

製造業者がいずれの資料の材料を用いているかは明示していないが，taの値を明示し，かつ，測

定した温度上昇値が表I.1のクラスA材料の値を超えない場合には，taの値を考慮して（I.6.2参照），I.6.3

の試験は行わない。

ただし，taの値を考慮して，測定した温度上昇値が表I.1のクラスA材料の値を超える場合には，電子

トランスの動作部品（磁気鉄心及び巻線）でI.6.3の試験を行う。加熱槽の温度は，taの値を考慮して，表

C 8147-2-2：2011

I.2に従って選択する。表I.2から選択する温度上昇値は，計算した温度上昇値の次に高い値とする。

I.6.1.3

製造業者が，用いる材料のクラスを明示しているが，taの値を明示していない場合，測定温度上

昇が表I.1に規定する関連値を超えない場合には，I.6.3の試験は行わない。

ただし，測定した温度上昇値が表I.1に規定する値を超える場合には，当該電子トランスはこの箇条の

要求事項に適合しないとみなす。

I.6.1.4

製造業者が用いる材料のクラス及びtaの値を明示しており，測定した温度上昇値が表I.1の関連

する値を超えない場合には，taの値を考慮し，I.6.3の試験は行わない。

ただし，taの値を考慮して，測定した温度上昇値が表I.1に規定する値を超える場合には，当該電子トラ

ンスは，この箇条の要求事項に適合しないとみなす。

I.6.2

温度上昇は，定常状態を確立したときに，次の条件の下で決める。

試験及び測定は，試験結果に影響を及ぼさないような大きさをもつ通風のない場所で行う。電子トラン

スの定格taが50 ℃を超える場合には，試験中の部屋の温度は定格taの5 ℃以内とし，できるだけ定格ta

としなければならない。

可搬形電子トランスは，つや消し黒色塗装した合板支持部の上に置き，据付け電子トランスは，通常使

用する場合と同様に，つや消し黒色塗装した合板支持部の上に取り付ける。支持部は，厚さが約20 mmで，

支持部上の試料の正射影の寸法の200 mm以上の寸法でなければならない。

電子トランスは，定格入力電圧を印加し，出力電圧が定格出力となる抵抗を負荷とし，交流電流に対し

ては定格力率とする。

入力電圧が6 %だけ増加する点を除いて，調整は行わない。

組合せ電子トランスは，関連する器具又は機器の仕様書に指定する通常の使用条件で，器具又はその他

の機器を動作させる。器具又は他の機器の設計上，電子トランスを無負荷で動作することができる場合に

は，無負荷状態で試験を繰り返す。

巻線の温度上昇は，抵抗法，又は試験中の部分の温度への影響が最小となるように選択して配置した熱

電対によって，測定する。この場合には，特別に用意した試料を提出する必要がある。

巻線の温度上昇を測定する場合，温度の読取りに影響を及ぼさないよう試料から離れた周囲の温度を測

定する。この測定箇所では，大気温度は試験中に10 Kを超えて変化してはならない。

試験中，次の条件を満足しなければならない。

− ta表示のない電子トランスの場合，温度上昇は，表I.1に規定する値を超えてはならない。

− ta表示のある電子トランスの場合，温度上昇とtaとの和は，表I.1に規定する値と25 ℃との和を超え

てはならない。

例：巻線の許容温度上昇

a) 電子トランスta＝+35 ℃及びクラスA材料の場合

Δt＋35≦75＋25

Δt≦65 K

b) 電子トランスta＝−10 ℃及びクラスE材料の場合

Δt＋(−10)≦90＋25

Δt≦125 K

また，電気接続が緩んだり，沿面距離及び空間距離がI.11に規定する値未満に減少しないようにする。

シール剤が流れ出したり，過負荷保護装置が動作したりしないようにする。

C 8147-2-2：2011

表I.1−通常使用時の温度上昇値

部品

温度上昇

巻線絶縁が次の場合の巻線

（巻線に接するボビン及びラミネーション）

− クラスA材料a)

− クラスE材料a)

− クラスB材料a)

− クラスF材料a)

− クラスH材料a)

− 他の材料b)

注記　将来，この分類はtw表示によって置き換えられる（要求事項は検討中）。

注a) 材料分類はJIS C 4003及びJIS C 3215-0-1に従う。

b) JIS C 4003に規定するクラスA，E，B，F及びH以外の材料を用いる場合

には，I.6.3の試験に耐えなければならない。

表I.1に規定する値は，通常は25 ℃を超えないが，時折35 ℃に達する，周囲温度に基づいている。

巻線温度はJIS C 4003に基づいているが，これらの試験では，温度は平均値であり，最も高い箇所の値

ではないことを考慮し，調整してある。

この試験の直後に，試料は，試験電圧を入力巻線及び出力巻線だけに印加して，I.8.3に規定する耐電圧

試験に耐えなければならない。

クラスI電子トランスの場合，I.8.3に規定する関連値を超える電圧が，その他の絶縁物に印加しないよ

うに注意をしなければならない。

測定は巻線ごとに行い，試験終了時の巻線の抵抗値は，電源を切った後できるだけ早く抵抗値を測定す

ることが望ましい。また，電源を切った直後の抵抗値を確定するために，時間に対する抵抗値の曲線が描

けるよう短い時間間隔で抵抗値を測定するのが望ましい。

二つ以上の出力巻線又はタップ付き出力巻線のある電子トランスは，最大温度上昇を示した数値を採用

する。

連続使用状態以外の電子トランスの試験状態は，関連する箇条に規定する。

巻線の温度上昇の値は，次の式によって求める。

−

∆

(

)(

−

)

ここに，

Δt： t2を基準とした温度上昇値（K）

R1：　温度t1での試験開始時の抵抗値（Ω）

R2：　定常状態に達したときの試験終了時の抵抗値（Ω）

t1：　試験開始時の室温（℃）

t2：　試験終了時の室温（℃）

x：　巻線材料による定数。銅の場合，x＝234.5

アルミの場合，x＝229

試験開始時，巻線は室温でなければならない。

I.6.3

試験

該当する場合（I.6.1参照），電子トランスの動作部品（磁気鉄心及び巻線）は，耐熱試験，加湿処理及

び振動試験から成る繰返し試験を行い，各繰返し試験後に測定を行う。

試料数は，箇条5に規定する。三つの追加試料が必要となる。試料は，10回の繰返し試験を行う。

C 8147-2-2：2011

I.6.3.1

耐熱試験

耐熱試験は，絶縁物の種類によって異なるが，試料を表I.2に規定する時間及び温度の加熱槽の中に入

れる。

加熱槽の温度は，±3 ℃の範囲内に維持しなければならない。

表I.2−1繰返し試験当たりの試験温度及び試験時間

単位　日

絶縁システムの温度上昇a)

試験温度

I.7の試験だけに指定

された一時的な分類

注a) 周囲温度が25 ℃で，時折35 ℃に達する環境での値。

I.6.3.2

加湿処理

加湿処理は，JIS C 8147-1の箇条11（耐湿性及び絶縁性）に従って，2日間（48時間）の加湿処理を行

う。

I.6.3.3

振動試験

試験試料は，巻線の軸に垂直に，1時間の振動試験を行う。最大加速度は，定格入力周波数で1.5 gとす

る。

I.6.3.4

測定

各繰返し試験後に，I.8.1に従って，絶縁抵抗及び耐電圧を測定する。耐熱試験後，試料は，加湿処理を

行う前に周囲温度に冷却してよい。

I.8.3による巻線試験を定格入力電圧の1.2倍以上の試験電圧で行う点を除き，I.8による耐電圧試験の試

験電圧は，規定値の35 %まで下げ，試験時間を2倍にしなければならない。無負荷電流又は無負荷入力の

抵抗成分が，最初の測定中に得た値から30 %を超えて異なる場合には，試料は巻線試験に適合していない

とみなす。全10回の繰返し試験全てが完了した後で，一つ以上の試料が不合格になった場合には，その電

子トランスは耐久性試験に不合格とみなす。

巻線の線間の絶縁破壊によって一つの試料が不合格になった場合は，耐久性試験に不合格とみなさない。

残り二つの試料で試験を続行することができる。

I.7

I.7.1

短絡及び過負荷保護

電子トランスは，通常の使用中に起こり得る短絡及び過負荷によって危険になってはならない。

C 8147-2-2：2011

適合性は，目視検査及び定格入力電圧の1.06倍，又は非本質耐短絡電子トランスの場合は，定格入力電

圧の0.94〜1.06倍の間の任意の入力電圧値において，電子トランスの位置を変更することなく，I.6.2によ

る試験の直後に次の試験を行い，判定する。

− 本質耐短絡電子トランスの場合，I.7.2の試験による。

− 非本質耐短絡電子トランスの場合，I.7.3の試験による。

− 再設定及び交換できない非自己復帰温度過昇防止装置を備えた電子トランスの場合，フェールセーフ

タイプとして扱い，I.7.5の試験による。

− 非耐短絡電子トランスの場合，I.7.4の試験による。

− フェールセーフ電子トランスの場合，I.7.5の試験による。

− 整流器と組み合わせた電子トランスの場合，I.7.2又はI.7.3の試験を2回行う。最初は整流器の片方

の側を短絡して行い，2回目は整流器の他方の側を短絡して行う。

− 二つ以上の出力巻線又はタップ付き出力巻線のある高周波トランスの場合，最大温度上昇を示した数

値を結果として用いる。同時に負荷を加える巻線全てに，定格出力で負荷をかけ，次の規定に従って，

選択した出力巻線を短絡させるか，又は過負荷を加える。

I.7.2，I.7.3及びI.7.4の試験では，温度上昇は，表I.3に規定する値を超えてはならない。

表I.3−短絡又は過負荷状態下における温度上昇の最大値

絶縁分類

最大温度上昇 K

保護のタイプ：

本質的に保護した巻線

保護装置によって保護した巻線：

− 最初の1時間の間，又は63 Aを超える定格電

流をもつヒューズでは，最初の2時間の間a)

− 最初の1時間後，ピーク値b)

− 最初の1時間後，算術平均値b)

外部きょう（筐）体（テストフィンガによって触

れることのできるもの）

巻線のゴム絶縁

巻線のPVC絶縁

支持部（すなわち，電子トランスによって被った

松合板上の任意の箇所）

注a) I.7.3.3の試験後に，電子トランスの熱慣性によって，これらの値を超える場合がある。

b) I.7.3.3の試験には適用しない。

I.7.2

本質耐短絡電子トランスは，定常状態になるまで出力巻線を短絡して試験する。

I.7.3

非本質耐短絡電子トランスは，I.7.3.1〜I.7.3.5の規定に従って試験する。

I.7.3.1

出力端子を短絡する。定格入力電圧の0.94倍〜1.06倍の間の入力電圧を印加した場合，温度上昇

が表I.3に規定する値を超える前に，組み込んだ過負荷保護装置が動作しなければならない。

I.7.3.2

JIS C 8269-2若しくはIEC 60269-3に規定するヒューズ，又は技術的に同等なヒューズによって

保護した場合，電子トランスには，時間Tの間，保護ヒューズリンクの定格電流として電子トランス上に

表示した電流のk倍の電流を流して負荷を加える。ここで，k及びTは表I.4による。

C 8147-2-2：2011

表I.4−保護ヒューズの定格電流

速断形の半導体保護用gGの保護ヒュ

ーズの定格電流Inとして表示した値

未熟練者が使用する円筒形ヒューズgGタイプB（IEC 60269-3-1）及び認定技術者が使用す

るボルト接続用ヒューズ（JIS C 8269-2-1）では，In＜16 Aにおいてkの値は1.6である。

定格電流16 Aにおいて未熟練者が使用するDタイプのヒューズ（IEC 60269-3-1）では，k

の値は1.9である。

I.7.3.3

JIS C 6575の規格群に規定する小形ヒューズ又は技術的に同等なヒューズによって保護する場合

には，電子トランスは，ヒューズ定格電流値の2.1倍の電流を30分間流して，負荷を加える。

I.7.3.4

ヒューズ以外の過負荷保護装置によって保護する場合には，装置を動作させる最小電流値の0.95

倍の電流を流して，定常状態に達するまで負荷を加える。

I.7.3.5

I.7.3.2及びI.7.3.3の試験では，ヒューズリンクをインピーダンスの無視できるリンクで置き換え

る。

I.7.3.4の試験の場合，周囲温度で，試験電流は，定格引外し電流の1.1倍で開始し，過負荷保護装置が

動作しない電流値を得るまで，2 %ずつ徐々に減少させる。

温度ヒューズを用いる場合には，一つの試料の試験電流を5 %ずつ増加させる。増加させた後に，電子

トランスは定常状態に達しなければならない。これを，温度ヒューズリンクが切れるまで継続する。切れ

たときの電流値を記録する。試験は，記録した値の0.95倍の電流を用いて，その他の試料で繰り返す。

I.7.4

非耐短絡電子トランスは，I.7.3に規定するように負荷を加える。製造業者によって指定された保

護装置を，関連する入力回路又は出力回路に取り付ける。

製造業者によって指定された正しい保護装置を入力回路又は出力回路に取り付けて，最も望ましくない

通常使用状態の下で，電子トランスの設計上の機器又は回路形式に対して最も望ましくない負荷状態で試

験する。望ましくない負荷状態の例には，連続的，断続的又は一時的使用がある。

I.7.5

フェールセーフ電子トランス

I.7.5.1

三つの追加試料を次の試験だけに用いる。その他の試験に用いた電子トランスは，この試験に用

いない。

三つの各試料を，厚さ20 mmのつや消し黒色塗装した合板の表面上で通常の使用状態で取り付ける。各

電子トランスは，定格一次電圧の1.06倍の電圧で動作させ，I.6.2の試験で最大の温度上昇を示した出力巻

線に，最初に定格出力電流の1.5倍（これができない場合は，得た最大出力電流）の負荷をかけ，定常状

態となるか，又は故障するまで（いずれか先に生じるまで）動作させる。

電子トランスが故障した場合には，試験中及び試験後に，I.7.5.2の基準に適合しなければならない。

電子トランスが故障しない場合には，定常状態に達する時間を記録し，次に選択した出力巻線を短絡す

る。この試験は，電子トランスが故障するまで継続する。この部分の試験では，各試料の動作時間は，定

常状態に達するために必要な時間以内とし，かつ，5時間を超えてはならない。

電子トランスは，危険もなく安全に故障して，試験中及び試験後に，I.7.5.2の基準に適合しなければな

C 8147-2-2：2011

らない。

I.7.5.2

I.7.5.1の試験中はいつでも，次の事項を満足しなければならない。

− テストフィンガと接触することのある電子トランスきょう（筐）体の任意部分の温度上昇は，150 K

を超えてはならない。

− 合板支持部の温度上昇は，いかなる部分でも100 Kを超えてはならない。

− 電子トランスは，炎，溶融物質，絶縁材料の白熱粒子又は燃焼落下物を放出してはならない。

I.7.5.1の試験後，及び周囲温度まで冷却した後では，次の事項を満足しなければならない。

− 電子トランスは絶縁耐力試験に耐えなければならない。試験電圧は，一次と二次との間及び一次と本

体との間だけに対して，表I.6に規定する値の35 %とする。

− きょう（筐）体は（ある場合），テストフィンガ（JIS C 0920参照）で露出した充電部に接触できる孔

があってはならない。疑わしい場合には，充電部に40 V以上の電圧の電気的接触指示装置を接触させ

て明らかにする。

一つの試料が試験に不合格になった場合には，当該試験全体が不合格とみなす。

I.8

I.8.1

絶縁抵抗及び耐電圧

電子トランスの絶縁抵抗及び耐電圧は，十分でなければならない。

適合性は，箇条11，箇条12，I.8.2及びI.8.3の試験によって判定する。試験は，取り外した部品を再度

取り付けた後に，加湿状態，又は試料を規定温度にした部屋の中で，箇条11の試験の直後に行う。

I.8.2

絶縁抵抗は，約500 Vの直流電圧を印加して測定し，測定は電圧印加の1分間後に行う。

絶縁抵抗は，表I.5に規定する値を下回ってはならない。

表I.5−絶縁抵抗値

試験対象の絶縁

I.8.3

絶縁抵抗

充電部と本体との間

− 基礎絶縁

− 強化絶縁

入力回路と出力回路との間

基礎絶縁だけによって充電部から分離されたクラスII電

子トランスの金属部と本体との間

絶縁材のきょう（筐）体の内面に接触する金属はく（箔）

と，外面に接触する金属はく（箔）との間

I.8.2の試験の直後に，絶縁物には，定格周波数において実質的に正弦波の電圧を1分間，印加す

る。試験電圧の値及び印加箇所は，表I.6による。

C 8147-2-2：2011

表I.6−試験電圧

動作電圧a)

試験電圧の印加

50以下

100以上

200未満

200以上

450以下

入力回路の充電部と出力回路の充電部との間b)

次の間の基礎又は付加絶縁。

a) 異なる極性又は異なる極性になる可能性がある

充電部間（例えば，ヒューズの動作によるもの）

b) 保護接地に接続することを意図した充電部と本

体との間

c) 接触可能な金属部とはめ込みブッシング，コー

ド保護，固定物又は類似物の内側に挿入したフ

レキシケーブル又はコードと同じ直径の金属棒

［若しくはケーブル，コードに巻いた金属はく

（箔）］との間

d) 充電部と中間金属部との間

e) 中間金属部と本体との間

本体と充電部との間の強化絶縁

注a) 動作電圧の中間値に対する試験電圧の値は，表の値の間での補間によって得られる。100 V以上200 V未満及

び200 V以上450 V以下の列は補間は適用しない。

b) 上記要求事項は，I.5.2.4に規定する接地金属遮蔽板によって分離した回路には適用しない。

最初は，規定電圧の半分以下の電圧を印加し，その後，規定電圧まで急激に上昇させる。

試験中にフラッシオーバ又は絶縁破壊が起きてはならない。コロナ現象及び同様な現象は，無視する。

試験に用いる高電圧トランスは，出力端子を短絡したときに200 mA以上の電流を供給することができ

るものでなければならない。回路の過負荷引外しは，100 mA未満の電流で動作してはならない。試験電圧

の実効値を測定するために用いる電圧計は，JIS C 1102の規格群に規定する階級指数2.5でなければなら

ない。

入力回路及び出力回路の間での試験に印加する電圧が，ほかの絶縁に過電圧とならないように注意しな

ければならない。二重絶縁システムが，一次巻線と二次巻線との間（例えば，一次巻線から磁気鉄心まで

の間，磁気鉄心から二次巻線までの間など）に存在することを製造業者が明示している場合には，各絶縁

を別々に試験する。同じことが，一次巻線と本体との間の二重絶縁にも当てはまる。

強化絶縁及び二重絶縁を組み込むクラスII構造では，強化絶縁に印加する電圧が，基礎絶縁又は付加絶

縁に過電圧とならないように注意しなければならない。

I.9

I.9.1

構造

電子トランスの構造は，指定アプリケーションの全ての要求事項に適合し，熱，湿気，水及び衝撃

（機械的及び磁気的）に耐えなければならない。

適合性は，関連試験によって判定する。

I.9.2

外部配線の接続用の入力端子及び出力端子は，これらの端子の係止部の距離が25 mm以上離れて

いなければならない。距離をバリヤによって確保する場合には，バリヤは絶縁材料から成り，電子トラン

スに恒久的に固定しなければならない。

適合性は，検査及び介在する金属部品を無視した測定によって，判定する。

C 8147-2-2：2011

I.10 部品

I.10.1 出力回路のコンセントは，IEC/TR 60083，IEC 60906-1，IEC 60320の規格群，JIS C 8303及びJIS

C 8358に適合するプラグを差し込むことができてはならない。また，出力回路のコンセントに差し込むこ

とのできるプラグは，IEC/TR 60083，IEC 60906-1，IEC 60320の規格群，JIS C 8303及びJIS C 8358に適

合するコンセントに差し込むことができてはならない。

適合性は，検査及び手動試験によって判定する。

I.10.2 安全が明らかでない場合，自動復帰形保護装置を用いてはならない。

適合性は，検査及び電子トランスの出力端子を短絡し，定格入力電圧の1.06倍の電圧で，48時間（2日

間）通電して判定する。

当該試験中には，継続的なアーク放電が起こらず，その他の原因による損傷があってはならない。当該

保護装置は，正常に動作しなければならない。

I.11 沿面距離及び空間距離

沿面距離及び空間距離は，JIS C 8147-1の表3［正弦波交流電圧（50/60 Hz）の場合の最小距離］，及び

表I.7に規定する値を下回ってはならない。

表I.7に規定する沿面距離及び空間距離は，JIS C 8105-1の図24（電源端子の空間距離及び沿面距離の

測定方法）に規定するような入力端子における沿面距離及び空間距離測定の実例を含み，JIS C 8105-1の