2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5101-22-1：2006 (IEC 60384-22-1：2004)
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
これによってJIS C 5101-10-1:1999は廃止され，JIS C 5101-21-1及びJIS C 5101-22-1に置き換えられる。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60384-22-1:2004，Fixed capacitors for
use in electronic equipment ― Part 22-1:Blank detail specification : Fixed surface mount multilayer capacitors of
ceramic dielectric ,Class2 ― Assessment level EZを基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
第1部：品目別通則
第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流
コンデンサ
第2部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ 評価水準E
第3部：品種別通則：固定タンタルチップコンデンサ
第3部：ブランク個別規格：固定タンタルチップコンデンサ評価水準E
第4部：品種別通則：アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ
第4部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ評価水準E
第4部：ブランク個別規格：アルミニウム固体電解コンデンサ評価水準E
第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類1
第8部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類1評価水準E
第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類2
第9部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類2評価水準E
第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン
デンサ
JIS C 5101-11-1 第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直
流コンデンサ評価水準E
第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
評価水準E
第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5101-22-1：2006 (IEC 60384-22-1：2004)
JIS C 5101-14-1 第14部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ評価水準D
第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水
準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水準E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ評価水準E
第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデ
ンサ評価水準E
第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ
ンデンサ
JIS C 5101-17-1 第17部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパ
ルスコンデンサ評価水準E
第18部：品種別通則：固定アルミニウム固体（Mno2）及び非固体電解チップコン
デンサ
JIS C 5101-18-1 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体（Mno2）電解チップコンデン
サ 評価水準E
JIS C 5101-18-2 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ評価水
準E
第20部：品種別通則：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ
直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム
チップ直流コンデンサ評価水準EZ
第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1評価水準
EZ
第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2評価水準
EZ
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5101-22-1：2006 (IEC 60384-22-1：2004)
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 一般事項 ························································································································ 3
1.0 適用範囲 ······················································································································ 3
1.1 推奨する取付方法 ·········································································································· 3
1.2 寸法 ···························································································································· 3
1.3 定格及び特性 ················································································································ 3
1.4 引用規格 ······················································································································ 4
1.5 表示 ···························································································································· 4
1.6 発注情報 ······················································································································ 4
1.7 出荷対象ロットの成績証明書 ··························································································· 4
1.8 追加情報 ······················································································································ 4
1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加若しくはより厳しい要求事項 ··································· 4
2. 検査要求事項 ·················································································································· 4
2.1 手順 ···························································································································· 4
（3）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 5101-22-1：2006
(IEC 60384-22-1：2004)
電子機器用固定コンデンサ―
第22-1部：ブランク個別規格：
表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment ―
Part 22-1:Blank detail specification :
Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric ,Class2
― Assessment level EZ
序文 この規格は，2004年に第1版として発行されたIEC 60384-22-1，Fixed capacitors for use in
electronic equipment ― Part 22-1:Blank detail specification : Fixed surface mount multilayer capacitors of
ceramic dielectric ,Class2 ― Assessment level EZを翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。
ブランク個別規格 ブランク個別規格は，品種別通則JIS C 5101-22の補足規格で，個別規格の様
式及び最小限必要な要求事項を規定したものである。これらの要求を満足しない個別規格は，日本
工業規格に基づいていないものとみなし，そのことを個別規格で記載する。
個別規格は，JIS C 5101-22の1.4（個別規格に規定する事項）に基づいて作成する。
個別規格の最初のページとなるこの規格の2ページの表の片括弧の数字は，指定の位置に記入す
る次の事項と対応している。
個別規格の識別
1) 個別規格を管理する国内の標準化機関の名称
2) 個別規格の日本工業規格番号，発効年及び国内制度で要求される追加事項
3) 品目別通則の日本工業規格番号及び発効年
4) ブランク個別規格の国内規格番号
コンデンサの識別
5) コンデンサの品種についての要約説明
6) 代表的な構造の説明（適用する場合）
参考 コンデンサがプリント配線板用に設計されていない場合には，個別規格でこの欄にその
ことを明記する。
7) 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関する国内規格若しくは国
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2
C 5101-22-1：2006 (IEC 60384-22-1：2004)
際規格の引用。この図は，個別規格の附属書としてもよい。
8) 適用範囲若しくは適用グループの範囲及び／又は評価水準
9) 重要な特性に関する参照データ
例 電子情報技術産業協会
例 電子機器用固定コンデンサ
第1部：品目別通則
個別規格番号
例 JIS C 5101-22-1（ブランク個別規格番号）
表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
外形図（表1参照）
（第三角法）
（規定寸法内であれば，外形は異なってもよい。）
構造の説明
評価水準: EZ
この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は，品質
認証電子部品一覧表(QPL)に示されている。*
注*
この記載は，IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合に適用する。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3
C 5101-22-1：2006 (IEC 60384-22-1：2004)
1. 一般事項
1. 適用範囲 この規格は，JIS C 5101-22を品種別通則とするブランク個別規格で，電子機器用の
表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水準EZについて規定する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide21に基づき，IDT（一致している），
MOD（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60384-22-1:2004,Fixed capacitors for use in electronic equipment ― Part 22-1:Blank
detail specification : Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric ,Class 2 ―
Assessment level EZ (IDT)
1.1
推奨する取付方法（実装する場合）
［JIS C 5101-22の1.4.2（取付け）参照］
1.2
寸法
表 1 外形寸法記号及び寸法
外形寸法記号
備考1.
1.3
寸法（ミリメートル）
外形寸法記号がない場合は，表1は削除し，寸法は表2に記載して，それを表1とする。
寸法は，最大寸法又は公称寸法とその許容差で表す。
定格及び特性
定格静電容量範囲
(表2による。)
定格静電容量許容差
定格電圧
(表2による。)
カテゴリ電圧（適用する場合）
(表2による。)
耐候性カテゴリ
定格温度
カテゴリ温度（適用する場合）
誘電正接
絶縁抵抗
静電容量温度特性
…％
表 2 外形寸法と定格電圧及び定格静電容量との組合せ
定格電圧
カテゴリ電圧 (1)
定格静電容量
（pF，nF及び／又はμF）
注(1) 定格電圧と異なる場合。
外形寸法
外形寸法
外形寸法
外形寸法
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4
C 5101-22-1：2006 (IEC 60384-22-1：2004)
1.4
引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部
を構成する。これらの引用規格のうちで，発効年又は発行年を付記してあるものは，記載の年の版
だけがこの規格の規定を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。
JIS C 5101-1:1998 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
備考 IEC 60384-1:1999 Fixed capacitors for use in electronic equipment − Part 1: Generic
specificationからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
参考 JIS C 5101-1:1998は，原国際規格IEC 60384-1:1999，Fixed capacitors for use in electronic
equipment ‒ Part 1: Generic specificationの最新版として制定されておらず，該当する事
項の項番は，JIS C 5101-1の該当事項とものと一致しない場合がある。
JIS C 5101-22:2005 電子機器用固定コンデンサ−第22部：品種別通則：表面実装用固定積層
磁器コンデンサ種類2
備考 IEC 60384-22:2004 Fixed capacitors for use in electronic equipment ― Part 22: Sectional
specification: Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric, Class 2からの
引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 9015-1:1999 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対する
AQL指標型抜取検査方式
備考 IEC 60410:1973 Sampling plans and procedures for inspection by attributeからの引用事
項は，この規格の該当事項と同等である。
1.5
表示 適用する場合，コンデンサ及び包装への表示は，JIS C 5101-22の1.6（表示）による。
備考 コンデンサ及び包装への表示は，個別規格で規定する。
1.6
発注情報 この規格のコンデンサの発注情報には，少なくとも次の事項を，明りょうな文字
又は記号によって示す。
a) 定格静電容量
b) 定格静電容量許容差
c) 定格電圧
d) 静電容量の温度特性
e) 個別規格の番号及び版又は発行年並びに形式
1.7
出荷対象ロットの成績証明書 要求する，又は要求しない。
1.8
追加情報（非検査目的）
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加若しくはより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合にだけ規定する。
表 3 その他の特性
この表は，JIS C 5101-22への追加，又はより厳しい特性を
規定するために使用する。
2. 検査要求事項
2.1
2.1.1
手順
品質認証の手順は，JIS C 5101-22の3.4（品質認証）による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5
C 5101-22-1：2006 (IEC 60384-22-1：2004)
2.1.2
品質確認検査の試験計画 表4は，サンプリング，周期，厳しさ及び要求性能を示す。検査
ロットの構成は，JIS C 5101-22の3.5.1（検査ロットの構成）による。
表 4 ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画
項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
又
は
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判定
個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
群A検査（ロットごと）
副群A0
4.5.1 静電容量
4.5.3 絶縁抵抗
4.5.4 耐電圧
副群A1
4.4 外観
副群A2
4.4 寸法
（備考5.参照）
規定の許容差による。
周波数：．．．Hz
測定電圧：．．．V r.m.s.
周波数及び測定電圧は，4.5.1によ
る。
方法は，個別規格の規定による。
方法は，個別規格の規定による。
4.5.2 誘電正接
備考1.
100 ％（備考3.参照）
4.5.2による。
4.5.3.3による。
絶縁破壊又はフラッシ
ュオーバがない。
（備考4.
参照）
（備考4.
参照）
4.4.2による。
表示は明りょうで，こ
の規格の1.5による。
この規格の表1によ
る。
試験の項目番号及び要求性能は，JIS C 5101-22及びこの規格の1.による。
この表の記号は，次による。
p＝検査周期（月単位），n＝試料数，c＝許容不適合数，
D＝破壊試験，ND＝非破壊試験，IL＝検査水準
100 ％検査とは，工程で不適合品を取り除いた後に，ppmで示す出荷品質水準を監視するために，抜取り
による副群A0の検査をすべて行うことをいう。100 ％検査での抜取水準は，部品製造業者が設定する。
どのような特性不適合も，不適合として扱い，不適合品のすべてを数える。ppm値は，これらの不適合
品の累計を用いて算出する。また，抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には，このロット
は不合格とする。
試料数（n）は，JIS Z 9015-1に規定する付表1の検査水準（IL）／ロットサイズで割り当てるサンプル
文字に従い，付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
製造業者が，管理限界を超えるコンデンサを取り除くため，寸法測定に統計的工程管理（SPC）又はその
他の仕組みを取り入れている場合は，この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6
C 5101-22-1：2006 (IEC 60384-22-1：2004)
表 4 ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画（続き）
項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
試験条件
（備考1.参照）
又
は
群B検査（ロットごと）
副群B1
4.5.5 インピーダンス
（適用する場合）
（適用する場合）
4.10 はんだ付け性
試料数及び合格判定
個数
（備考2.参照）
（備考4.
参照）
要求性能
（備考1.参照）
周波数： 100 kHz
個別規格の規定によ
る。
周波数： 100 kHz
個別規格の規定によ
る。
方法は，個別規格の規定による。
4.10.3 最終測定
外観
4.10.3による。
4.17 表示の耐溶剤性
（適用する場合）
（備考6.参照）
溶剤：．．．
溶剤の温度：．．．
表示は明りょうであ
る。
副群B2
4.6 静電容量の
温度特性
（備考7.参照）
方法1
ラビングの材料：脱脂綿
後処理：．．．
特殊な前処理は，4.1による。
（備考4.
参照）
備考6. この試験は，コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で実施してもよい。
この副群は，誘電体材料の調合ロットごとに実施した場合は省略してもよい。
ΔC/C：4.6.3による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7
C 5101-22-1：2006 (IEC 60384-22-1：2004)
表 4 ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画（続き）
項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
群C検査（定期的）
試験条件
（備考1.参照）
又
は
副群C1
4.15 端子強度
（適用する場合）
試料数及び合格判定
個数
（備考2.参照）
（備考8.
参照）
試験Ua1 力：2.5 N
試験Ub 方法1
力：2.5 N
曲げ回数：1回
外観
特殊な前処理は，4.1による。
静電容量
方法は，個別規格の規定による。
後処理：24 h±2 h
外観
静電容量
溶剤：．．．
溶剤の温度：．．．
4.9.1 初期測定
4.9 はんだ耐熱性
4.9.5 最終測定
4.16 部品の耐溶剤性
（適用する場合）
要求性能
（備考1.参照）
損傷がない。
4.9.5による。
4.9.5による。
個別規格の規定によ
る。
方法2
後処理：．．．
副群C2
4.8 耐プリント板曲げ
性
（備考9.参照）
4.8.1 初期測定
4.8.2 最終測定
副群C3
4.3 取付け
（備考10.参照）
たわみ量：．．．
曲げ回数：．．．
（備考8.
参照）
個別規格の規定によ
る。
静電容量
静電容量（プリント板を曲げた状
態で）
外観
基板材質：．．．
外観
静電容量
誘電正接
絶縁抵抗
耐電圧
損傷がない。
4.4.2による。
規定の許容差による。
4.5.2による。
4.5.3.3による。
絶縁破壊又はフラッシ
ュオーバがない。
備考8. 不適合品が1個発生した場合，新しい試料によって副群のすべての試験を再度行い，新たな不適合品が発
生しないとき合格とする。再試験の間，製品の出荷は継続してもよい。
個別規格にアルミナ基板だけに装着することを規定してあるコンデンサには適用しない。
10. 取付後に発見された取付けに起因する不適合品は，判定の計算には入れてはならない。これらの不適合品
は，予備試料と交換する。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5101-22-1：2006 (IEC 60384-22-1：2004)
表 4 ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画（続き）
項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
副群C3.1
4.7 固着性
（備考11.参照）
4.11.2 初期測定
試験条件
（備考1.参照）
又
は
4.11 温度急変
試料数及び合格判定
個数
（備考2.参照）
外観
要求性能
（備考1.参照）
（備考8.
参照）
損傷がない。
特殊な前処理は，4.1による。
静電容量
TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度
5サイクル
t1の時間＝30 min
4.11.5 最終測定
4.12 一連耐候性
4.12.2 初期測定
4.12.3 高温
後処理：24 h±2 h
外観
静電容量
損傷がない。
ΔC/C は4.11.5による。
特殊な前処理は，4.1による。
静電容量
温度：カテゴリ上限温度
時間：16 h
4.12.4 温湿度サイクル
（12＋12時間サイクル），
最初のサイクル
4.12.5 低温
4.12.6 温湿度サイクル
（12＋12時間サイクル），
残りのサイクル
4.12.7 最終測定
温度：カテゴリ下限温度
時間：2 h
外観
損傷がない。
後処理：24 h±2 h
外観
副群C3.2
4.13 高温高湿（定常）
4.13.2 初期測定
4.13.5 最終測定
静電容量
損傷がなく表示は明り
ょうである。
ΔC/C は4.12.7による。
誘電正接
絶縁抵抗
4.12.7による。
4.12.7による。
特殊な前処理は，4.1による。
静電容量
後処理：24 h±2 h
外観
（備考8.
参照）
静電容量
損傷がなく表示は明り
ょうである。
ΔC/C は4.13.5による。
誘電正接
絶縁抵抗
4.13.5による。
4.13.5による。
備考11. 板端子をもつコンデンサには適用しない。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5101-22-1：2006 (IEC 60384-22-1：2004)
表 4 ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画（続き）
項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
副群C3.3
4.14 耐久性
（備考8.
参照）
特殊な前処理は，4.1による。
時間：．．．h
温度：．．．℃
電圧：．．．V
静電容量
後処理：24 h±2 h
外観
4.14.5 最終測定
要求性能
（備考1.参照）
静電容量
損傷がなく表示は明り
ょうである。
ΔC/C は4.14.5による。
誘電正接
絶縁抵抗
4.14.5による。
4.14.5による。
時間：．．．h
温度：85 ℃±2 ℃
湿度：(85±3)％
絶縁抵抗
後処理：24h±2h
絶縁抵抗
4.18.4 最終測定
副群C4
4.6 静電容量の
温度特性
試料数及び合格判定
個数
（備考2.参照）
4.14.2 初期測定
副群C3.4
4.18 加速耐湿性
（定常状態）
（適用する場合）
4.18.1 初期測定
試験条件
（備考1.参照）
又
は
4.18.1による。
4.18.4による。
特殊な前処理は，4.1による。
（備考8.
参照）
（備考8.
参照）
ΔC/C は4.6.3による。
