2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5101-3-1：2010 (IEC 60384-3-1：2006)
目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般事項 ························································································································· 2
1.0 適用範囲 ······················································································································ 2
1.1 推奨する取付方法 ·········································································································· 2
1.2 寸法 ···························································································································· 2
1.3 定格及び特性 ················································································································ 3
1.4 引用規格 ······················································································································ 4
1.5 表示 ···························································································································· 5
1.6 発注情報 ······················································································································ 5
1.7 出荷対象ロットの成績証明書···························································································· 5
1.8 追加情報（非検査目的） ································································································· 5
1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項 ········································· 5
2 検査要求事項 ··················································································································· 5
2.1 手順 ···························································································································· 5
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5101-3-1：2010 (IEC 60384-3-1：2006)
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報
技術産業協会 (JEITA) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を改
正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格であ
る。
これによって，JIS C 5101-3-1:1998は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5101-1 第1部：品目別通則
JIS C 5101-2 第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン
デンサ
JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-3 第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体 (MnO2) 電解コンデンサ
JIS C 5101-3-1 第3-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体 (MnO2) 電解コンデンサ
評価水準EZ
JIS C 5101-4 第4部：品種別通則：アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1 第4-1部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-4-2 第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体 (MnO2) 電解コンデンサ−評価水準
EZ
JIS C 5101-8 第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-9 第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-11 第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ
ンサ
JIS C 5101-11-1 第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直
流コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-13 第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-14 第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
（2）
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C 5101-3-1：2010 (IEC 60384-3-1：2006)
JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
JIS C 5101-15 第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-16 第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17 第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン
デンサ
JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-18 第18部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解コン
デンサ
JIS C 5101-18-1 第18-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解コン
デンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-18-2 第18-2部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ
−評価水準EZ
JIS C 5101-20 第20部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル
ム直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ
ィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-21 第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水
準EZ
JIS C 5101-22 第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水
準EZ
JIS C 5101-23 第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル
ム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-24 第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ−評価水準EZ
（3）
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C 5101-3-1：2010 (IEC 60384-3-1：2006)
JIS C 5101-25 第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ
JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-26 第26部：品種別通則：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ（予定）
JIS C 5101-26-1 第26-1部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ 評価水準EZ（予定）
（4）
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日本工業規格
JIS
C 5101-3-1：2010
(IEC 60384-3-1：2006)
電子機器用固定コンデンサ−
第3-1部：ブランク個別規格：
表面実装用固定タンタル固体 (MnO2)
電解コンデンサ 評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment−
Part 3-1: Blank detail specification−
Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with
manganese dioxide solid electrolyte−Assessment level EZ
序文
この規格は，2006年に第2版として発行されたIEC 60384-3-1を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
ブランク個別規格
この規格は，品種別通則JIS C 5101-3の補足規格で，個別規格の様式及び最小限必要な要求事項を規定
したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は，日本工業規格に基づいていないものとみな
し，そのことを個別規格に記載する。
個別規格は，JIS C 5101-3の1.4（個別規格に規定する事項）に基づいて作成する。
個別規格の最初のページとなるこの規格の2ページの表に記載してある括弧内の数字は，指定の位置に
記入する次の事項と対応している。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内標準化機構又は国際電気標準会議 (IEC) の名称
(2) 個別規格の国内規格番号，西暦年及び国内制度で要求される追加事項又はIEC規格番号，版及び西
暦年
(3) 品目別通則の日本工業規格番号及び西暦年又はIEC規格番号，版及び西暦年
(4) ブランク個別規格の国内規格番号又はIEC規格番号
コンデンサの識別
(5) コンデンサの品種についての要約説明
(6) 代表的な構造の説明（適用する場合）
注記 コンデンサがプリント配線板用に設計されていない場合には，個別規格のこの欄にそのこ
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2
C 5101-3-1：2010 (IEC 60384-3-1：2006)
とを明記する。
(7) 互換性の上で，重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関する国内又は国際規格の引用。
この図は，個別規格の附属書としてもよい。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び／又は評価水準
(9) 重要な特性に関する参照データ
例 社団法人電子情報技術産業協会
個別規格番号
例 電子機器用固定コンデンサ
第1部：品目別通則
例 JIS C 5101-3-1（ブランク個別規格番号）
個別規格の名称
例 表面実装用固定タンタル固体 (MnO2)
電解コンデンサ 形状1
構造の説明
評価水準：EZ
外形図（表1参照）
（第三角法）
（規定寸法内であれば，外形は異なってもよい。）
注記 (1)〜(8)：個別規格の識別及びコンデンサの識別を参照。
この個別規格で認証されたコンデンサの詳細な内容は，品質認証書 (Qualification approval certificate)
に示されている。*
注* この記載は，IEC電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。
(9)
注記 (9)：コンデンサの識別を参照。
1
一般事項
1.0
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-3を品種別通則とするブランク個別規格で，表面実装用固定タンタル固体
(MnO2) 電解コンデンサの評価水準EZについて規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-3-1:2006，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 3-1: Blank detail
specification: Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with manganese dioxide solid
electrolyte−Assessment level EZ (IDT)
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
1.1
推奨する取付方法
推奨する取付方法は，コンデンサの端子によって取り付ける［JIS C 5101-3の1.4.2（取付け）及び4.3
（取付け）による。］。
1.2
寸法
外形寸法記号及び寸法は，表1による。
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C 5101-3-1：2010 (IEC 60384-3-1：2006)
表1−外形寸法記号及び寸法
単位 mm
外形寸法記号
寸法
注記1 外形寸法記号がない場合は，この表1を削除し，寸法を表2に記載して，それを表1とする。
注記2 寸法は，最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。
1.3
定格及び特性
定格及び特性は，次による。
公称静電容量範囲（表2による。）
公称静電容量許容差
定格電圧（表2による。）
カテゴリ電圧（適用する場合）（表2による。）
耐候性カテゴリ
定格温度
静電容量の温度変動（表3による。）
損失角の正接 (tan δ)（表3による。）
漏れ電流（表3による。）
インピーダンス（個別規格に規定がある場合）（表4による。）
等価直列抵抗 (ESR)（個別規格に規定がある場合）（表5による。）
サージ電圧
表2−外形寸法に関連する公称静電容量及び定格電圧
定格電圧
カテゴリ電圧a)
公称静電容量
外形寸法記号
注a) 定格電圧と異なる場合。
外形寸法記号
外形寸法記号
外形寸法記号
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4
C 5101-3-1：2010 (IEC 60384-3-1：2006)
表3−高温及び低温での特性
最大値
静電容量変化率
漏れ電流
損失角の正接 (tan δ)
TA ：カテゴリ下限温度
TB ：カテゴリ上限温度
TR ：定格温度
注a) カテゴリ電圧で測定。
表4−100 kHzでのインピーダンス（個別規格に規定がある場合）
外形寸法記号
インピーダンスの最大値
表5−100 kHzでの等価直列抵抗 (ESR)（個別規格に規定がある場合）
定格電圧UR
公称静電容量
1.4
等価直列抵抗 (ESR) の最大値
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）は適用しない。
JIS C 0806-3:2010 自動実装部品の包装−第3部：表面実装部品の連続テープによる包装
注記 対応国際規格：IEC 60286-3:2007，Packaging of components for automatic handling−Part 3:
Packaging of surface mount components on continuous tapes (IDT)
JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1:2008，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
Generic specification (IDT)
JIS C 5101-3:2010 電子機器用固定コンデンサ−第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体
(MnO2) 電解コンデンサ
注記 対応国際規格：IEC 60384-3:2006，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 3:
Sectional specification: Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with manganese dioxide
solid electrolyte (IDT)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5
C 5101-3-1：2010 (IEC 60384-3-1：2006)
1.5
表示
コンデンサの本体及び包装への表示は，JIS C 5101-3の1.6（表示）による。
コンデンサの本体及び包装への表示の詳細は，個別規格に規定する。
1.6
発注情報
この規格に基づくコンデンサの発注情報は，明りょうな文字又は記号によって，少なくとも次の項目を
含む。
a) 公称静電容量
b) 公称静電容量許容差
c) 定格電圧
d) 個別規格に記載の番号及び発行年並びにコンデンサの種類
e) 包装形態（バルク包装又はテーピング包装とし，テーピング包装の場合は，JIS C 0806-3による。）
1.7
出荷対象ロットの成績証明書
成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。
注記 顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。
1.8
追加情報（非検査目的）
注記 検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は，表6による。
注記 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合に規定する。
表6−その他の特性
この表は，JIS C 5101-3の規定への追加又はより厳しい特性を規定するために使用する。
2
検査要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証の手順
品質認証の手順は，JIS C 5101-3の3.4（品質認証試験）による。
2.1.2
品質確認検査の試験計画
品質確認検査の試験計画（表7）は，抜取方法，周期，厳しさ及び要求性能を表す。検査ロットの構成
は，JIS C 5101-3の3.5.1（検査ロットの構成）による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6
C 5101-3-1：2010 (IEC 60384-3-1：2006)
表7−品質確認検査の試験計画−評価水準EZ
細分箇条番号
及び試験項目a)
群A検査
（ロットごと）
副群A0
4.19 大電流サージc)
又は
試料数及び
合格判定数b)
試験条件a)
要求性能a)
保護抵抗：1 000 Ω
4.5.1 漏れ電流
0.02 CNUR μA/(μF×V) 又は，
1 μAのうちいずれか大きい値
以下。
詳細は，この規格の表3による。
4.5.2 静電容量
周波数：... Hz
バイアス：... V
規定する許容差以内
4.5.3 損失角の正接
周波数：... Hz
バイアス：... V
等級1≦0.08
等級2≦0.12
等級3≦0.24
詳細は，この規格の表3による。
4.5.4 インピーダンスc)
周波数：100 kHz
この規格の表4による。
4.5.5 等価直列抵抗
周波数：100 kHz
この規格の表5による。
副群A1
4.4 外観
4.4.2による。表示は，明りょう
とする。
この規格の1.5の規定による｡
4.4 寸法（詳細）
群B検査
（ロットごと）
副群B1
4.7 はんだ付け性d)
この規格の表1による。
方法：...
温度及び浸せき時間...
又は
温度プロファイル...
4.7.2 最終測定
外観
4.18 表示の耐溶剤性c)
溶剤：...
溶剤の温度：...
方法：1
ラビング材料：綿毛
後処理時間：...
4.7.2による。表示は，明りょう
とする。
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C 5101-3-1：2010 (IEC 60384-3-1：2006)
表7−品質確認検査の試験計画−評価水準EZ（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
群C検査（定期的）
副群C1
4.6.1 初期測定
又は
方法：... d)
4.6.3 最終測定
静電容量
損失角の正接 (tan δ)
副群C2
4.9 耐プリント板曲げ
性e)
4.3 取付け
溶剤：... d)
溶剤の温度：... d)
方法：2
後処理時間：... d)
外観
4.9.3 最終測定
副群C3
要求性能a)
静電容量
損失角の正接 (tan δ)
4.6 はんだ耐熱性
4.17 部品の耐溶剤性c)
試料数及び
合格判定数b)
試験条件a)
個別規格の規定による。
4.6.3による。
静電容量（プリント板を
曲げた状態）
曲げ深さD：... mm d)
曲げ回数：... d)
外観
外観に損傷がない。
外観
外観に損傷がない。
漏れ電流
0.02 CNUR μA/(μF×V) 又は，
1 μAのうちいずれか大きい値
以下
静電容量
個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan δ)
個別規格の規定による。
インピーダンスc)
又は等価直列抵抗
この規格の表4による。
この規格の表5による。
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C 5101-3-1：2010 (IEC 60384-3-1：2006)
表7−品質確認検査の試験計画−評価水準EZ（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
副群C3.1
4.8 固着性
又は
試料数及び
合格判定数b)
試験条件a)
外観
要求性能a)
外観に損傷がない。
4.10.1 初期測定
行わない（副群C3での
測定値を用いる。）。
4.10 温度急変
TA：カテゴリ下限温度
TB：カテゴリ上限温度
回数：5回
試験時間t1：30 min
後処理時間：1 h〜2 h
4.10.3 最終測定
漏れ電流
4.5.1による。
静電容量
副群C3の測定値に対して
｜∆C/C｜は，次による。
形状1：≦5 %
形状2：≦10 %
損失角の正接 (tan δ)
4.5.3による。
4.11 一連耐候性
（形状1に適用）
4.11.1 初期測定
行わない。
4.11.2 高温
温度：カテゴリ上限温度
試験時間：16 h
4.11.3 温湿度サイクル
（試験Db），最初の
サイクル
4.11.4 低温
温度：カテゴリ下限温度
試験時間：2 h
4.11.5 温湿度サイクル
（試験Db），残りの
サイクル
後処理時間：1 h〜2 h
4.11.6 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表示は，明
りょうとする。
漏れ電流
4.5.1による。
静電容量
副群C3の測定値に対して
損失角の正接 (tan δ)
4.5.3の規定値に対して1.2倍以
下
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C 5101-3-1：2010 (IEC 60384-3-1：2006)
表7−品質確認検査の試験計画−評価水準EZ（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
副群C3.2
4.12 高温高湿（定常）
（形状1に適用）
又は
試料数及び
合格判定数b)
試験条件a)
要求性能a)
後処理時間：1 h〜2 h
4.12.1 初期測定
行わない（副群C3での
測定値を用いる。）。
4.12.3 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表示は明り
ょうとする。
漏れ電流
4.5.1による。
静電容量
副群C3の測定値に対して
損失角の正接 (tan δ)
4.5.3の規定値に対して1.2倍以
下
副群C3.3
4.15 耐久性
試験時間：2 000 h
試験温度：... ℃ d)
（適用する温度）
印加電圧：... V d)
後処理時間：1 h〜2 h
4.15.1 初期測定
行わない（副群C3での
測定値を用いる。）。
4.15.3 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表示は，明
りょうとする。
漏れ電流
4.5.1の規定値の2倍以下
静電容量
個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan δ)
4.5.3の規定値の1.5倍以下
インピーダンスc)
又は等価直列抵抗
個別規格の規定による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5101-3-1：2010 (IEC 60384-3-1：2006)
表7−品質確認検査の試験計画−評価水準EZ（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
副群C3.4
4.13 高温及び低温特
性
又は
試料数及び
合格判定数b)
試験条件a)
要求性能a)
コンデンサを各温度段
階測定する。
段階1：20 ℃
漏れ電流
4.5.1による。
静電容量
比較用の値
損失角の正接 (tan δ)
4.5.3による。
段階2：カテゴリ下限温
度
静電容量
個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan δ)
個別規格の規定による。
段階3：20 ℃
漏れ電流
4.5.1による。
静電容量
段階1の測定値に対して
損失角の正接 (tan δ)
4.5.3による。
段階4：85 ℃
漏れ電流
0.2 CNUR μA/(μF×V) 又は
10 μAのうちいずれか大きい
値以下
静電容量
個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan δ)
個別規格の規定による。
段階5：125 ℃
（適用する場合）
漏れ電流
0.25 CNUR μA/(μF×V) 又は
10 μAのうちいずれか大きい
値以下
静電容量
個別規格の規定による。
損失角の正接 (tan δ)
個別規格の規定による。
段階6：20 ℃
漏れ電流
段階3による。
静電容量
段階3による。
損失角の正接 (tan δ)
段階3による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5101-3-1：2010 (IEC 60384-3-1：2006)
表7−品質確認検査の試験計画−評価水準EZ（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
副群C3.5A
4.14 サージ
又は
試料数及び
合格判定数b)
試験条件a)
要求性能a)
サイクル数：1 000回
温度：... ℃ d)
印加電圧：1.3 UR
及び／又は1.3 UC
保護抵抗：1 000 Ω
充電時間：30 s
放電時間：5 min 30 s
4.14.0A 初期測定
行わない（副群C3での
測定値を用いる。）。
4.14.2 最終測定
漏れ電流
4.5.1による。
静電容量
副群C3の測定値に対して
損失角の正接 (tan δ)
4.5.3による。
副群C3.5B
4.16 逆電圧c)
試験時間：逆極性に
125 h，... V d) をカテゴ
リ上限温度で，引き続
いて正極に125 hカテ
ゴリ電圧をカテゴリ
上限温度で印加する。
4.16.1 初期測定
行わない（副群C3での
測定値を用いる。）。
4.16.3 最終測定
漏れ電流
4.5.1による。
静電容量
副群C3の測定値に対して
損失角の正接 (tan δ)
4.5.3の規定値に対して1.15倍以
下
注記 対応国際規格の明らかな誤記のため，大電流サージの細分箇条番号を，4.21から4.19に，また，4.4 外観の
要求性能を，“この規格の4.5の規定による｡”から“この規格の1.5の規定による｡”に変更した。
注a) 試験の項目番号及び要求性能は，JIS C 5101-3の細分箇条及びこの規格の箇条1による。
b) この表の記号は，次による。
p：周期（月単位），n：試料数，c：合格判定数（許容不適合数）
D：破壊試験，ND：非破壊試験，IL：検査水準
c) 個別規格に規定がある場合に適用する。
d) 個別規格の規定による。
e) 個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには，適用しない。
